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モジュールのテスト方法
モジュールのテスト方法は全部で 30 項標準に関連している。
モジュールのテスト方法 国際標準分類において、これらの分類：半導体材料、 電灯および関連器具、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 光ファイバー通信、 整流器、コンバータ、安定化電源、 半導体ディスクリートデバイス、 送配電網、 電子表示装置、 無線通信。
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, モジュールのテスト方法
Group Standards of the People's Republic of China, モジュールのテスト方法
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, モジュールのテスト方法
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), モジュールのテスト方法
Professional Standard - Machinery, モジュールのテスト方法
CU-NC, モジュールのテスト方法
British Standards Institution (BSI), モジュールのテスト方法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, モジュールのテスト方法
工业和信息化部, モジュールのテスト方法
机械工业部, モジュールのテスト方法
- JB/T 7625.1-1994 サイリスタ モジュールの一般的なテスト方法 アーム ペアおよび逆並列アーム ペア 単相ブリッジおよび三相ブリッジ
- JB/T 7625.3-1994 サイリスタ モジュールの一般的なテスト方法アーム ペアおよび逆並列アーム ペアについては、単相ブリッジおよび三相ブリッジについては 8 を参照してください。
Danish Standards Foundation, モジュールのテスト方法
Association Francaise de Normalisation, モジュールのテスト方法
International Commission on Illumination (CIE), モジュールのテスト方法
Lithuanian Standards Office , モジュールのテスト方法
International Electrotechnical Commission (IEC), モジュールのテスト方法
- IEC 62343-5-1:2009 IEC 62343-5-1、第 1 版: ダイナミック モジュール、テスト方法、パート 5-1: ダイナミック ゲイン ティルティング イコライザー、応答時間の測定
Professional Standard - Post and Telecommunication, モジュールのテスト方法