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共鳴空洞

共鳴空洞は全部で 21 項標準に関連している。

共鳴空洞 国際標準分類において、これらの分類：原子力工学、 総合電子部品、 プリント回路およびプリント回路基板、 通信機器の部品および付属品、 電気、磁気、電気および磁気測定、 物理学、化学、 電子管、 半導体ディスクリートデバイス、 セラミックス。


Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, 共鳴空洞

  • DB34/T 3241-2018 超伝導サイクロトロン共鳴空洞の自動学習法
  • DB34/T 3767-2020 超電導サイクロトロン高周波共鳴空洞の技術管理要件
  • DB34/T 3240-2018 超電導サイクロトロン共鳴空洞電圧分布試験方法

Association Francaise de Normalisation, 共鳴空洞

  • NF EN 62562:2011 低損失誘電体板の複素誘電率を測定するための共振空洞法

PL-PKN, 共鳴空洞

  • PN T06561-1971 マイクロ波測定器。 共振器波長計。 一般的な要件とテスト

U.S. Air Force, 共鳴空洞

Group Standards of the People's Republic of China, 共鳴空洞

  • T/CSTM 01011-2023 ミリ波帯で材料の誘電特性を試験するためのオープン共焦点共振空洞法
  • T/CSTM 00750-2022 ミリ波帯で材料の誘電特性を試験するための開放半球共振空洞法
  • T/CSTM 00985-2023 低損失誘電体プレートの複素誘電率をテストするための独立した円筒共振空洞法
  • T/CSTM 01011E-2023 ミリ波帯で材料の誘電特性を試験するためのオープン共焦点共振空洞法

British Standards Institution (BSI), 共鳴空洞

  • BS EN 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
  • BS PD IEC/TS 62607-6-4:2016 ナノ加工の重要な制御特性 グラフェンは共振空洞を使用して表面コンダクタンスを測定します
  • PD IEC/TS 62607-6-4:2016 表面コンダクタンスを測定する共鳴空洞を使用したグラフェンのナノ加工の重要な制御特性

International Electrotechnical Commission (IEC), 共鳴空洞

  • IEC 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
  • IEC TS 62607-6-4:2016 ナノ加工、主要な制御特性、パート 6-4: グラフェン、共振空洞を使用した表面コンダクタンス測定

Professional Standard - Electron, 共鳴空洞

  • SJ/T 10867-1996 コイル管の電気的特性の試験方法 共振空洞の無負荷品質係数 Q の試験方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 共鳴空洞

  • KS C IEC TS 62607-6-4:2022 ナノ加工、重要な制御特性、パート 6-4: グラフェン、共振空洞を使用した表面コンダクタンス測定。

KR-KS, 共鳴空洞

  • KS C IEC TS 62607-6-4-2022 ナノ加工、重要な制御特性、パート 6-4: グラフェン、共振空洞を使用した表面コンダクタンス測定。

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 共鳴空洞

  • JIS R 1660-2:2004 ファインセラミックスのミリ波周波数領域における誘電特性の測定方法 第2部：開放空洞共振器法

IEC - International Electrotechnical Commission, 共鳴空洞

  • TS 62607-6-4-2016 ナノファブリケーション「主要な制御特性」パート 6-4: グラフェン「共振空洞を使用した表面コンダクタンス測定 (バージョン 1.0)」

German Institute for Standardization, 共鳴空洞

  • DIN EN 62810:2015 円筒共振器法を使用した低損失誘電体ロッドの複素誘電率の測定 (IEC 62810-2015)、ドイツ語版 EN 62810-2015

  共鳴空洞, マイクロ波共振器, 共振空洞法による損失角の決定, 共鳴空洞法誘電率, 共鳴空洞法.

 



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