ZH
RU
EN
ES

X線回折装置のパラメータ

X線回折装置のパラメータは全部で 76 項標準に関連している。

X線回折装置のパラメータ 国際標準分類において、これらの分類：光学および光学測定、金属材料試験、放射線防護、労働安全、労働衛生、非破壊検査、分析化学、化学製品、金属の生産、非金属鉱物、長さと角度の測定、放射線測定、電子管、教育する、無機化学。

Professional Standard - Machinery, X線回折装置のパラメータ

JB/T 11144-2011 X線回折装置
JB/T 9400-1999 X線回折装置技術的条件
JB/T 9400-2010 X線回折装置の技術的条件
JB/T 9399-1999 X線分析装置主要パラメータシリーズ
JB/T 9399-2010 X線分析装置主要パラメータシリーズ
JB/T 8387-2010 工業用非破壊検査装置用X線管の主なパラメータ
JB/T 8387-1996 工業用探傷用X線管の主なパラメータ
JB/T 7808-2010 非破壊検査装置工業用X線探傷器主要パラメータシリーズ
JB/T 7808-1995 工業用X線探傷機主要パラメータシリーズ

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, X線回折装置のパラメータ

JJG 629-2014 多結晶X線回折装置の校正手順
JJG 629-1989 多結晶X線回折装置の校正手順
JJG(地质) 1014-1990 多結晶X線回折装置の校正手順

Professional Standard - Nuclear Industry, X線回折装置のパラメータ

EJ/T 553-1991 粉末X線回折法による鉱物単位胞パラメータの決定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線回折装置のパラメータ

GB 16355-1996 X線回折装置および蛍光分析装置の放射線防護基準
GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法選択された機器の性能パラメーターの表現
GB/Z 41399-2022 非破壊検査装置工業用X線デジタル画像処理装置
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 線量計および線量率計の校正とそのエネルギー応答の決定のための X 線およびガンマ基準放射線パート 4: 低エネルギー X 線基準放射線場におけるサイト線量計および個人線量計の校正
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 線量計および線量率計の校正とそのエネルギー応答の決定のための X 線およびガンマ基準放射線パート 4: 低エネルギー X 線基準放射線場におけるサイト線量計および個人線量計の校正
GB/T 12162.4-2010 線量計および線量率計の校正とそのエネルギー応答の決定のための X 線およびガンマ基準放射線パート 4: 低エネルギー X 線基準放射線場におけるサイト線量計および個人線量計の校正
GB/T 19421.1-2003 層状結晶性二ケイ酸ナトリウムの試験方法デルタ相の定性分析層状結晶性二ケイ酸ナトリウム X 線回折法
GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, X線回折装置のパラメータ

YB/T 5337-2006 金属格子定数の決定方法 X線回折装置法
YB/T 5338-2006 X線回折法を用いた鋼中の残留オーステナイトの定量
YB/T 5336-2006 X線回折法を用いたハイス中の炭化物相の定量分析

Professional Standard - Energy, X線回折装置のパラメータ

NB/SH/T 6015-2020 X線回折法によるZSM-23モレキュラーシーブの単位胞パラメータの決定
NB/SH/T 6033-2021 X線回折法によるZSM-22モレキュラーシーブの単位格子パラメータの決定
NB/SH/T 0339-2021 X線回折法を用いたフォージャサイト型ゼオライトの単位格子パラメータの決定

工业和信息化部, X線回折装置のパラメータ

YB/T 5338-2019 X線回折装置による鋼中のオーステナイトの定量法

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, X線回折装置のパラメータ

GBZ 115-2002 X線回折装置および蛍光分析装置の衛生保護基準

RU-GOST R, X線回折装置のパラメータ

GOST 22091.0-1984 線装置 - パラメータ測定の一般要件
GOST R 8.698-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度ナノ粒子および膜の空間パラメータ小角X線散乱回折装置を用いた測定方法
GOST 28258-1989 X線放射計の種類、基本パラメータおよび技術的要件
GOST 17489-1972 X線ビデオ管基本パラメータと寸法
GOST R 52125-2003 密封された放射性核種X線源、パラメータ測定方法
GOST 25113-1986 工業用探傷用X線装置基本パラメータ

American National Standards Institute （ANSI), X線回折装置のパラメータ

ANSI/ASTM E915:1996 残留応力測定用X線回折装置の検証方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X線回折装置のパラメータ

GB/T 37983-2019 結晶材料X線回折装置回転配向性試験方法

British Standards Institution (BSI), X線回折装置のパラメータ

BS EN 13925-3:2005(2009) 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
BS EN 13925-3:2005 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
BS ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
BS ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X線回折装置のパラメータ

JIS H 7805:2005 X線回折装置を用いた金属結晶の粒径測定方法
JIS K 0162:2010 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線回折装置のパラメータ

ASTM E915-96 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証の試験方法
ASTM E915-16 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証の試験方法
ASTM E915-96(2002) 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証の試験方法
ASTM E1426-14(2019)e1 X線回折技術を使用した残留応力測定のためのX線弾性定数の標準試験方法
ASTM E1426-98 有効弾性パラメータを決定するための残留応力の X 線回折測定の標準試験方法
ASTM E1426-98(2009)e1 有効弾性パラメータを決定するための残留応力の X 線回折測定の標準試験方法
ASTM E915-19 残留応力測定用X線回折装置の校正検証のための標準試験方法
ASTM E915-10 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証のための標準試験方法
ASTM E915-21 残留応力測定用の X 線回折装置の校正と検証の標準的な方法
ASTM E1426-14 X線回折法による残留応力測定におけるX線弾性定数の標準試験方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線回折装置のパラメータ

KS D 0287-2005(2020) 有効弾性パラメータを決定するための残留応力の X 線回折測定の標準試験方法
KS D 0287-2005 X線回折によって測定される残留応力の有効弾性パラメータを決定するための標準的な試験方法
KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析用のX線光電子分光計のいくつかの性能パラメータの説明
KS D ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

German Institute for Standardization, X線回折装置のパラメータ

DIN EN 13925-3:2005 非破壊検査多結晶およびアモルファス材料の X 線回折パート 3: 機器
DIN EN 13925-3:2005-07 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
DIN ISO 15632:2022-09 エネルギー分散型 X 線分光計の仕様と検査のための、選択された機器の性能パラメータのマイクロビーム分析
DIN 6868-16:2019-05 線診断部門における画質保証パート 16: デジタル X 線システムにおける臨床画像処理パラメータの記録

European Committee for Standardization (CEN), X線回折装置のパラメータ

EN 13925-3:2005 非破壊検査多結晶およびアモルファス材料の X 線回折パート 3: 機器

Association Francaise de Normalisation, X線回折装置のパラメータ

NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 非破壊検査多結晶およびアモルファス材料の X 線回折パート 3: 機器
NF M60-522:1998 X線およびガンマ線放射線 - 直接または間接的に読み取るコンデンサコア線量計

Danish Standards Foundation, X線回折装置のパラメータ

DS/EN 13925-3:2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器

Lithuanian Standards Office , X線回折装置のパラメータ

LST EN 13925-3-2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器

Professional Standard - Customs, X線回折装置のパラメータ

HS/T 12-2006 X線回折法によるタルク、亜塩素酸塩、マグネサイト混合相の定量分析

AENOR, X線回折装置のパラメータ

UNE-EN 13925-3:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器

IT-UNI, X線回折装置のパラメータ

UNI 6966-1971 X線回折による多結晶の極性パターンの数の決定

IX-IX-IEC, X線回折装置のパラメータ

IEC TS 62607-6-17:2023 ナノファブリケーションの主要な制御特性パート 6-17: グラフェンベースの材料の秩序パラメーター: X 線回折および透過型電子顕微鏡

International Organization for Standardization (ISO), X線回折装置のパラメータ

ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

Professional Standard - Education, X線回折装置のパラメータ

JY/T 0588-2020 単結晶X線回折装置を用いた低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理
JY/T 008-1996 円単結晶 X 線回折装置を使用した低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理。

Standard Association of Australia （SAA）, X線回折装置のパラメータ

AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明

RO-ASRO, X線回折装置のパラメータ

STAS R 12771-1989 X線およびT線の光子エネルギー応答関数を決定するための線量計および線量率計および基準放射線の校正に関する詳細な手順