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小角X線散乱

小角X線散乱は全部で 4 項標準に関連している。

小角X線散乱 国際標準分類において、これらの分類:粒度分析、スクリーニング、 長さと角度の測定。


International Organization for Standardization (ISO), 小角X線散乱

  • ISO 17867:2020 粒子径分析、小角X線散乱(SAXS)
  • ISO 20804:2022 小角X線散乱(SAXS)による多孔質系および粒子系の比表面積の決定

British Standards Institution (BSI), 小角X線散乱

RU-GOST R, 小角X線散乱

  • GOST R 8.698-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度 ナノ粒子および膜の空間パラメータ 小角X線散乱回折装置を用いた測定方法




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