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IEC 60749 23

IEC 60749 23は全部で 6 項標準に関連している。

IEC 60749 23 国際標準分類において、これらの分類：半導体ディスクリートデバイス。

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, IEC 60749 23

• EN 60749-23:2004 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命 IEC 60749-23-2004

Lithuanian Standards Office , IEC 60749 23

• LST EN 60749-23-2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 23: 高温動作寿命 (IEC 60749-23:2004)
• LST EN 60749-23-2004/A1-2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 23: 高温動作寿命 (IEC 60749-23:2004/A1:2011)

German Institute for Standardization, IEC 60749 23

• DIN EN 60749-23:2011 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温ライフサイクル (IEC 60749-23-2004 + A1-2011)、ドイツ語版 EN 60749-23-2004 + A1-2011

International Electrotechnical Commission (IEC), IEC 60749 23

• IEC 60749-23:2011 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温での動作寿命。
• IEC 60749-23:2004 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 23: 高温動作寿命

その他：   IEC60749, iec 60749, IEC 61851 23, iec+60749, IEC 60749 26, iec23, iec60749+, IEC 60749-23, ++++iec 60749, IEC 60749-20, iec+60749-20, iec60749 23, IEC 60749 23, iec61851-23-23, iec60749-23, iec+60749+, IEC 60749 10, iec-60749, IEC 60749 12, IEC 60749-23-2004.