ZH
RU
EN
ES

低い磁場周波数

低い磁場周波数は全部で 75 項標準に関連している。

低い磁場周波数 国際標準分類において、これらの分類：半導体ディスクリートデバイス、鉱山機械、電動牽引装置、電磁両立性 (EMC)、発電所総合、土木機械、農業機械、工具、設備、建設機械、放射線防護、金属材料試験、通信網、放射線測定、電気、磁気、電気および磁気測定、無線通信。

Professional Standard - Electron, 低い磁場周波数

SJ 1974-1981 CS1型低周波電界効果半導体管
SJ 1975-1981 CS2型低周波電界効果半導体管
SJ 1976-1981 CS3型低周波電界効果半導体管
SJ 1990-1981 CS20型低周波電界効果半導体管
SJ 1991-1981 CS21型低周波電界効果半導体管
SJ 1992-1981 CS22型低周波電界効果半導体管
SJ 1989-1981 CS19型低周波電界効果半導体管
SJ 1986-1981 CS13型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1988-1981 CS15型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1984-1981 CS11型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1987-1981 CS14型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1983-1981 CS10型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1985-1981 CS12型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1994-1981 CS24型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 2002-1981 CS32型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 2003-1981 CS33型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 2001-1981 CS31型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1995-1981 CS25型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1997-1981 CS27型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1998-1981 CS28型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 2000-1981 CS30型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 2004-1981 CS34型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1993-1981 CS23型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1996-1981 CS26型低周波低雑音電界効果半導体管
SJ 1999-1981 CS29型低周波低雑音電界効果半導体管

Professional Standard - Aerospace, 低い磁場周波数

QJ 2699-1995 低周波磁界感度試験方法

Professional Standard - Coal, 低い磁場周波数

MT/T 975-2006 鉱山用超低周波電界透視の技術条件

Professional Standard - Railway, 低い磁場周波数

TB/T 3351-2014 EMUにおける低周波磁場の限界と測定方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 低い磁場周波数

GB/Z 18039.6-2005 電磁両立性環境さまざまな環境における低周波磁界
GB/T 30140-2013 低周波磁界における磁性材料のシールド効果の測定方法

Professional Standard - Electricity, 低い磁場周波数

DL/T 1332-2014 変流器の励磁特性の現場低周波試験方法の測定ガイドライン

RU-GOST R, 低い磁場周波数

GOST 16526-1970 農道工事用自走式車輪機械現場低周波振動試験方法

AT-ON, 低い磁場周波数

ONORM S 1119-1994 低周波の電場と磁場。周波数範囲 0 Hz ～ 30 kHz における個人保護のための暴露許容限界

British Standards Institution (BSI), 低い磁場周波数

BS IEC 61000-2-7:1998 電磁両立性 (EMC)、環境、さまざまな環境における低周波磁界
DD ENV 50166-1-1995 人は電磁場の影響を受ける低周波（0Hz～10KHz）
BS EN 62226-1:2005 低周波および中周波の電場または磁場への曝露人体の誘導電流密度および内部電場の計算方法一般原理
BS EN 62226-2-1:2005 低周波および中周波の電場または磁場の中にいる場合人体に誘導される電流密度および内部電場の計算方法磁場の中にいる場合 2次元モデル
BS EN 62226-3-1:2007 低周波および中周波の電場または磁場への曝露人体の電流密度および誘導内部電場の計算方法磁場への曝露解析および二次元数値モデル

Standard Association of Australia （SAA）, 低い磁場周波数

AS/NZS IEC/TR 61000.2.7:2009 電磁両立性 (EMC) 環境さまざまな環境における低周波磁界

Danish Standards Foundation, 低い磁場周波数

DS/ENV 50166-1:1995 人体は低周波電磁場（0 Hz ～ 10 kHz）にさらされています。
DS/IEC/TR 61000-2-7:1998 電磁両立性 (EMC) パート 2: 環境セクション 7: さまざまな環境における低周波磁界

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 低い磁場周波数

KS X 4651-1-2014(2019) 情報技術 - 磁界ネットワーク - 低周波数帯域 - パート 1: 物理層の要件
KS C IEC 61000-2-7-2007(2017) 電磁両立性パート 2-7: さまざまな環境における低周波磁場
KS X 4651-2-2014 情報技術「磁界ネットワーク」「低周波数帯域」パート 2: MAC 層の要件
KS X 4651-2-2014(2019) 情報技術 - 磁界ネットワーク - 低周波数帯域 - パート 2: MAC 層の要件
KS C IEC 61000-2-7-2007(2022) 電磁両立性 (EMC) - パート 2-7: 環境 - さまざまな環境における低周波磁場
KS C 0304-1-2009 超低周波磁界における磁界遮蔽率試験方法
KS X 4651-1-2014 情報技術「磁界ネットワーク」「低周波帯域」パート 1: 物理層の要件
KS C IEC 62226-1:2008 低周波および中周波の電場または磁場への曝露人体の誘導電流密度と内部電場の計算方法パート 1: 一般
KS C IEC 62226-2-1-2008(2018) 低周波および中周波の電場または磁場に曝露された人体の誘導電流密度および内部電場の計算方法第2-1部：磁場曝露の2次元モデル
KS C IEC 61000-2-7:2007 電磁両立性 (EMC) パート 2: 環境セクション 7: さまざまな環境における低周波磁界
KS C IEC 61786:2008 人体が曝露される低周波電界および磁界の測定について機器に対する特別な要件と測定に関するガイダンス
KS C IEC 61786-2008(2018) 人との接触に関連する低周波磁界および電界の測定機器に関する特別な要件と測定ガイダンス
KS C IEC 62226-2-1:2008 低周波および中周波の電場または磁場の中にある場合人体に誘導される電流密度と内部電場の計算方法その2-1: 磁場の中にある場合 2次元モデル

Association Francaise de Normalisation, 低い磁場周波数

NF EN 62226-1:2005 低周波および中周波の電場または磁場にさらされた後の人体内の誘導電流密度および誘導電場の計算方法パート 1: 概要
NF C99-115-1*NF EN 62226-1:2005 低周波および中周波の電場または磁場にさらされた人体に誘導される電流密度および内部電場の計算方法 - パート 1: 一般原則
NF EN 62226-3-1/A1:2017 低周波および中周波の電場または磁場への曝露 - 人体における誘導電流密度および誘導電場の計算方法 - パート 3-1: 電場への曝露 - モデル...
NF EN 62226-3-1:2008 低周波および中周波の電場または磁場への曝露 - 人体における誘導電流密度および誘導電場の計算方法 - パート 3-1: 電場への曝露 - モデル...
NF EN 62226-2-1:2005 低周波および中周波の電場または磁場への曝露 - 人体内の誘導電流密度および誘導電場の計算方法 - パート 2-1: 磁場への曝露 - モデル...
NF C99-115-2-1*NF EN 62226-2-1:2005 低周波および中周波の電場または磁場の中にある場合人体に誘導される電流密度と内部電場の計算方法その2-1: 磁場の中にある場合 2次元モデル

Indonesia Standards, 低い磁場周波数

SNI IEC 61786:2011 測定機器に対する特別な要件と、人体が低周波電場および磁場にさらされる場合の測定ガイドライン

German Institute for Standardization, 低い磁場周波数

DIN EN 62226-1:2005 低周波および中周波の電場または磁場への曝露人体の誘導電流密度と内部電場の計算方法パート 1: 一般
DIN EN 62226-2-1:2005 低周波および中周波の電界または磁界への曝露人体に誘導される電流密度および内部電界の計算方法第2-1部：磁界中の存在二次元モデル

KR-KS, 低い磁場周波数

KS C IEC 62226-1-2008(2023) 低周波および中周波の電場または磁場にさらされた後の人体の誘導電流密度と内部電場の計算方法 - パート 1: 一般原則
KS C IEC 61786-2008(2023) 低周波磁界および電界への人体曝露に関する測定機器の特別要件と測定ガイドライン

AENOR, 低い磁場周波数

UNE 21000-2-7:2002 IN 電磁両立性 (EMC) パート 2: 環境セクション 7: さまざまな環境における低周波磁界

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 低い磁場周波数

EN 62226-1:2005 低周波および中周波の電界または磁界への曝露人体の電流密度および誘導内部電界の計算方法パート 1: 一般原則 IEC 62226-1:2004

International Electrotechnical Commission (IEC), 低い磁場周波数

IEC 61786:1998 人体が低周波電場および磁場にさらされる場合の測定機器に関する特別な要件と測定ガイダンス
IEC TR 61000-2-7:1998 電磁両立性 (EMC) パート 2: 環境セクション 7: さまざまな環境における低周波磁界
IEC 62226-2-1:2004 低周波および中周波の電場または磁場の中にある場合人体に誘導される電流密度と内部電場の計算方法その2-1: 磁場の中にある場合 2次元モデル

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 低い磁場周波数

JIS C 1910:2004 人体への暴露に対する低周波磁界および電界の測定機器および測定ガイダンスに対する特別な要件

International Telecommunication Union (ITU), 低い磁場周波数

ITU-R P.684-5-2009 約 150 kHz 未満の周波数における電界強度の予測
ITU-R P.684-2016 約 150 kHz 未満の周波数における電界強度の予測

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, 低い磁場周波数

ITU-R P.684-7-2016 約 150 kHz 未満の周波数における電界強度の予測
ITU-R P.684-2-2001 約 150 kHz 未満の周波数における電界強度の予測