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走査型電子顕微鏡SEM
走査型電子顕微鏡SEMは全部で 8 項標準に関連している。
走査型電子顕微鏡SEM 国際標準分類において、これらの分類:長さと角度の測定、 分析化学、 光学機器。
British Standards Institution (BSI), 走査型電子顕微鏡SEM
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
- 18/30344520 DC BS ISO 21466 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 CD-SEM 限界寸法の評価方法
American Society for Testing and Materials (ASTM), 走査型電子顕微鏡SEM
KR-KS, 走査型電子顕微鏡SEM
- KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
International Organization for Standardization (ISO), 走査型電子顕微鏡SEM