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電子顕微鏡走査

電子顕微鏡走査は全部で 23 項標準に関連している。

電子顕微鏡走査 国際標準分類において、これらの分類：塗料成分、空気の質、光学機器、語彙、光学および光学測定。

British Standards Institution (BSI), 電子顕微鏡走査

18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子顕微鏡走査

ASTM D605-82(1996)e1 走査型電子顕微鏡による作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
ASTM D6059-96(2011) 走査型電子顕微鏡による作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
ASTM E2090-00 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
ASTM E2090-12 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法

International Organization for Standardization (ISO), 電子顕微鏡走査

ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子顕微鏡走査

KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
KS D ISO 22493-2012(2017) マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡用語集
KS D ISO 22493:2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
KS D ISO 22493:2012 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語

Association Francaise de Normalisation, 電子顕微鏡走査

NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

KR-KS, 電子顕微鏡走査

KS D ISO 22493-2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子顕微鏡走査

JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 電子顕微鏡走査

JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様

Professional Standard - Machinery, 電子顕微鏡走査

JB/T 6842-1993 走査型電子顕微鏡検査方法
JB/T 5384-1991 走査型電子顕微鏡。技術的条件

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 電子顕微鏡走査

JJG(教委) 11-1992 走査型電子顕微鏡の校正手順

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