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オーズと

オーズとは全部で 28 項標準に関連している。

オーズと 国際標準分類において、これらの分類：環境を守ること、 電気工学総合、 総合電子部品、 道路車両装置、 分析化学、 セラミックス、 語彙。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), オーズと

• KS C IEC 62321-4-2014(2019) 電気製品中の特定物質の定量 - パート 4: Cv-Aas Cv-Afs Icp-Oes および Icp-Ms によるポリマー、金属および電子機器中の水銀
• KS C IEC 62321-5-2014(2019) 電気製品中の特定物質の定量 - パート 5: AAS AFS ICP-OES および ICP-MS によるポリマーおよびエレクトロニクス中の鉛、カドミウム クロム カドミウムおよび金属中の鉛

British Standards Institution (BSI), オーズと

• BS EN 62321-4:2014 電気製品に含まれる特定の物質の測定 CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、ICP-MS 法によるポリマー、金属、電子機器中の水銀の測定

Association Francaise de Normalisation, オーズと

• NF C05-100-4/A1*NF EN 62321-4/A1:2017 電気製品中の特定物質の定量 パート 4: CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、および ICP-MS によるポリマー、金属および電子製品中の水銀の定量
• NF EN 62321-4/A1:2017 電気製品中の特定物質の定量 - パート 4: CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、および ICP-MS によるポリマー、金属および電子製品中の水銀
• NF EN 62321-4:2014 電気製品中の特定物質の定量 - パート 4: CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、および ICP-MS によるポリマー、金属および電子製品中の水銀
• NF EN 62321-5:2014 電気製品中の特定物質の定量 パート 5: AAS、AFS、ICP-OES、および ICP-MS によるポリマーおよび電子製品中のカドミウム、鉛、クロム、および金属中のカドミウムと鉛の定量
• NF B41-106*NF EN 15591:2016 セラミックスおよび基礎材料の試験 誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP OES) および電熱蒸発法 (ETV) による、炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定

International Electrotechnical Commission (IEC), オーズと

• IEC 62321-4:2013 電気技術製品中の特定物質の測定 パート 4: CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、および ICP-MS によるポリマー、金属および電子機器中の水銀の測定
• IEC 62321-4:2013+AMD1:2017 CSV 電気製品中の特定物質の定量 パート 4: CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、および ICP-MS によるポリマー、金属および電子製品中の水銀の定量
• IEC 62321-4:2017 電気用品中の特定物質の測定 パート 4: CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、および ICP-MS 法によるポリマー、金属、電子機器中の水銀の測定
• IEC 62321-4:2013/AMD1:2017 電気製品中の特定物質の定量 パート 4: CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、および ICP-MS によるポリマー、金属および電子機器中の水銀の定量 修正 1
• IEC 62321-5:2013 電気製品中の特定物質の測定 パート 5: 原子吸光光度法 (AAS)、原子蛍光分析法 (AFS)、誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP-OES)、および誘導結合プラズマ質量分析法 (ICP-MS) による特定物質の測定ポリマーやエレクトロニクス中のカドミウム、鉛、クロム、および金属中のカドミウム、鉛

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, オーズと

• GB/T 39560.4-2021 電気および電子製品中の特定物質の定量 パート 4: CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、および ICP-MS によるポリマー、金属および電子部品中の水銀の定量
• GB/T 39560.5-2021 電子および電気製品中の特定物質の定量 パート 5: AAS、AFS、ICP-OES、および ICP-MS 法によるポリマーおよび電子部品中のカドミウム、鉛、クロム、および金属中のカドミウムおよび鉛の定量

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, オーズと

• EN 62321-4:2014 電気製品中の特定物質の定量 パート 4: CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、および ICP-MS を使用したポリマー、金属、電子製品中の水銀の定量
• EN 62321-5:2014 電気製品中の特定物質の定量 パート 5: AAS、AFS、ICP-OES、および ICP-MS を使用したポリマーおよび電子製品中のカドミウム、鉛、クロム、および金属中のカドミウムと鉛の定量

ES-UNE, オーズと

• UNE-EN 62321-4:2014 電気製品中の特定物質の定量 パート 4: CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、および ICP-MS によるポリマー、金属および電子製品中の水銀の定量
• UNE-EN 62321-4:2014/A1:2017 電気製品中の特定物質の定量 パート 4: CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES、および ICP-MS によるポリマー、金属および電子製品中の水銀の定量
• UNE-EN 62321-5:2014 電気製品に含まれる特定物質の定量 パート 5: AAS、AFS、ICP-OES、および ICP-MS によるポリマーおよび電子製品に含まれるカドミウム、鉛、クロム、および金属に含まれるカドミウムと鉛の定量

Danish Standards Foundation, オーズと

• DS/EN 15991:2011 セラミックスおよび基礎材料の試験 誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP OES) および電熱蒸発法 (ETV) による、炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定

Lithuanian Standards Office , オーズと

• LST EN 15991-2011 セラミックスおよび基礎材料の試験 誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP OES) および電熱蒸発法 (ETV) による、炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定

German Institute for Standardization, オーズと

• DIN 51008-1:2004 発光分光分析 (OES) スパークおよび低電圧放電システムの用語
• DIN 51457:2023-11 セラミック原料およびセラミック材料の試験 誘導結合プラズマ (ICP OES) および電熱発光分析による、粉末、粒状およびバルクグラファイト中の微量不純物の質量分率の直接測定
• DIN 51096:2008 セラミック原料および基礎材料の試験、誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP OES) および電熱蒸留器 (ETV) を使用した、炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定
• DIN 51008-2:2001-12 直接読み取り分光計 (OES) パート 2: 火炎およびプラズマ システムの用語

American Society for Testing and Materials (ASTM), オーズと

• ASTM UOP389-04 ウェットアッシングとICP-OESによる油中の微量金属の検出
• ASTM UOP972-01 ICP-OES を使用した酢酸中のアルミニウム、シリコン、銀の分析

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