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誘電損失および誘電率試験

誘電損失および誘電率試験は全部で 119 項標準に関連している。

誘電損失および誘電率試験 国際標準分類において、これらの分類:プリント回路およびプリント回路基板、 通信機器の部品および付属品、 断熱材、 非金属鉱物、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 採掘と発掘、 電気、磁気、電気および磁気測定、 ゴム、 絶縁流体、 コンデンサ、 総合電子部品、 絶縁、 ワイヤーとケーブル、 電子および通信機器用の電気機械部品。


Professional Standard - Electron, 誘電損失および誘電率試験

  • SJ/T 11043-1996 電子ガラスの高周波誘電損失および比誘電率の試験方法
  • SJ/T 1147-1993 コンデンサ用有機膜の誘電正接及び比誘電率の試験方法
  • SJ 20512-1995 マイクロ波大損失固体材料の複素誘電率および複素透磁率の試験方法
  • SJ/T 10143-1991 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法 リエントリーキャビティ法

Group Standards of the People's Republic of China, 誘電損失および誘電率試験

  • T/CSTM 00990-2023 ミリ波周波数帯における誘電率および誘電正接の試験方法 擬似光共振器法
  • T/CSTM 00985-2023 低損失誘電体プレートの複素誘電率をテストするための独立した円筒共振空洞法

British Standards Institution (BSI), 誘電損失および誘電率試験

  • BS IEC 61196-1-125:2022 同軸通信ケーブルの電気試験方法 誘電体の等価誘電率および等価損失率試験
  • BS EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • BS EN 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
  • BS EN IEC 63185:2021 平衡ディスク共振器法による低損失誘電体基板の複素誘電率測定
  • 21/30435996 DC BS IEC 61196-1-125 同軸通信ケーブル パート 1-125 電気的試験方法 誘電体の等価誘電率および等価散逸損失試験
  • 18/30373795 DC BS EN 63185. 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための平衡ディスク共振器法
  • BS EN 60512-25-2:2002 電子機器用コネクタ 試験および測定 試験 25b. 減衰 (挿入損失) セクション 2: 減衰 (挿入損失)
  • BS EN IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 比誘電率と損失係数 高周波 (1MHz ~ 300MHz) AC モード

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 誘電損失および誘電率試験

  • GB/T 5594.4-2015 電子部品用構造用セラミック材料の性能試験方法 第4部 誘電率及び誘電正接の試験方法
  • GB/T 1693-2007 加硫ゴムの誘電率及び誘電正接の求め方
  • GB/T 5597-1999 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法
  • GB 7265.1-87 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法 摂動法
  • GB 7265.1-1987 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法 摂動法
  • GB/T 21216-2007 絶縁性液体のコンダクタンスとキャパシタンスを測定して誘電損率を求める試験方法
  • GB 7265.2-1987 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法「オープンキャビティ」法
  • GB/T 11297.9-2015 焦電材料の誘電正接tanδの試験方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 誘電損失および誘電率試験

  • ASTM D2149-13 固体セラミック誘電体の誘電率(誘電率)および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D1082-17 マイカの誘電損失率及び誘電率(誘電率)の標準試験方法
  • ASTM D150-18 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率(誘電率)の標準試験方法
  • ASTM D150-87 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率(誘電率)の標準試験方法
  • ASTM D2149-97(2004) 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率(誘電率)と損失係数の試験方法
  • ASTM D2149-97 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率(誘電率)と損失係数の試験方法
  • ASTM D3380-22 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率(誘電率)と誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D2149-13(2021) 周波数 10 MHz、温度 500°C における固体誘電体の誘電率と誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D3380-90(1995)e1 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率(誘電率)と誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D150-98(2004) 固体電気絶縁材料(定誘電体)の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
  • ASTM D150-98 固体電気絶縁材料(定誘電体)の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
  • ASTM D3380-14 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率(誘電率)および電気正接の標準試験方法
  • ASTM D924-99e1 電気絶縁性液体の誘電正接(または力率)および誘電率(誘電率)の標準試験方法
  • ASTM D924-99e2 電気絶縁性液体の誘電正接(または力率)および誘電率(誘電率)の標準試験方法
  • ASTM D924-23 電気絶縁性液体の誘電正接(または力率)および比誘電率(誘電率)の標準試験方法
  • ASTM D1082-00(2011) マイカの誘電正接および誘電率の標準試験方法
  • ASTM D924-08 電気絶縁性液体の損失係数(または力率)と誘電率(誘電率)の標準試験方法
  • ASTM D924-15 電気絶縁性液体の誘電正接(または力率)および誘電率(誘電率)の標準試験方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 誘電損失および誘電率試験

  • KS C 2150-2008(2018) 高周波(500mhz〜10ghz)誘電体膜の誘電率・誘電損失の測定方法
  • KS C 2135-1996(2021) 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率(誘電率)の試験方法
  • KS C 2150-2008 高周波帯域(500MHz~10GHz)における誘電体膜の誘電率及び誘電損失の測定方法
  • KS C 2135-1996(2016) 固体電気絶縁体の交流損失特性と比誘電率の試験方法
  • KS C 2134-1996 積層体の誘電正接と誘電率の測定
  • KS C IEC 60250:2003 電力周波数、可聴周波数、および無線周波数(メーター波長を含む)における電気絶縁材料の誘電率および誘電損失係数を決定するための推奨方法

Association Francaise de Normalisation, 誘電損失および誘電率試験

  • NF EN 62562:2011 低損失誘電体板の複素誘電率を測定するための共振空洞法
  • NF C26-232*NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • NF EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための対称ディスク共振器法
  • NF C26-296*NF EN 62562:2011 空洞共振器法は、低損失誘電体デバイスの合成誘電率の測定に使用されます。
  • NF EN 60247:2004 絶縁性液体 - 比誘電率、誘電正接(tanδ)、直流抵抗率の測定

PL-PKN, 誘電損失および誘電率試験

  • PN E04403-1986 固体電気絶縁材料。 誘電率・誘電損失率の測定
  • PN E04410-22-1986 電気絶縁ワニス。 テスト方法。 損失係数と誘電率の決定
  • PN-EN IEC 63185-2021-08 E 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 誘電損失および誘電率試験

  • IPC TM-650 2.5.5.5C-1998 Xバンドの誘電率と損失正接(誘電率と誘電正接)のストリップライン試験
  • IPC TM-650 2.5.5.5B-1995 Xバンドの誘電率と損失正接(誘電率と誘電正接)のストリップライン試験
  • IPC TM-650 2.5.5.3C-1987 材料の誘電率(誘電率)と損失正接(誘電正接)(二流体セル法)
  • IPC TM-650 2.5.5.1B-1986 1MHzにおける絶縁材料の誘電率(誘電率)と損失正接(誘電正接)(接触電極方式)

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 誘電損失および誘電率試験

  • EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の合成誘電率測定
  • EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法

ES-UNE, 誘電損失および誘電率試験

German Institute for Standardization, 誘電損失および誘電率試験

  • DIN EN 62810:2015-12 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
  • DIN EN 62562:2011-10 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • DIN EN IEC 63185:2022-10 平衡ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定 (IEC 63185:2020)
  • DIN EN 63185:2018 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するためのバランスディスク共振器法 (IEC 46F/415/CD:2018)
  • DIN 57472-505:1983 ケーブル、導体、コードの試験、誘電正接、誘電損失係数、漏れ率 (VDE 仕様)
  • DIN EN 62562:2011 空洞共振器法を使用した低損失誘電体プレートの複素誘電率の測定 (IEC 62562-2010)、ドイツ語版 EN 62562-2011
  • DIN EN 62810:2015 円筒共振器法を使用した低損失誘電体ロッドの複素誘電率の測定 (IEC 62810-2015)、ドイツ語版 EN 62810-2015

RU-GOST R, 誘電損失および誘電率試験

  • GOST 25495-1982 岩石の誘電率及び誘電正接角の求め方
  • GOST 22372-1977 誘電体材料 周波数帯域100Hz~5MHzにおける誘電率及び誘電正接の測定方法
  • GOST 8.358-1979 0.2~1GHzの周波数帯域における比誘電率および誘電正接角の測定方法
  • GOST R 8.623-2015 測定の一貫性を確保するための国家システム 固体誘電体の比誘電率と損失係数 マイクロ波周波数の測定手順
  • GOST R IEC 62562-2012 測定の一貫性を確保するための国家制度 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • GOST R IEC 61620-2013 絶縁性液体 コンダクタンスとキャパシタンスを測定することによる誘電正接の決定

Danish Standards Foundation, 誘電損失および誘電率試験

  • DS/EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
  • DS/EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
  • DS/EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損率(tanファイ)、直流抵抗率の測定
  • DS/IEC 247:1979 絶縁性液体の比誘電率、誘電正接、直流抵抗率の測定

CZ-CSN, 誘電損失および誘電率試験

  • CSN 72 5041-1973 焼成したセラミック材料の試験。 誘電率と誘電損失率の測定

IEC - International Electrotechnical Commission, 誘電損失および誘電率試験

  • PAS 62562-2008 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (バージョン 1.0)

American National Standards Institute (ANSI), 誘電損失および誘電率試験

  • ANSI/ASTM D150:2018 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率(誘電率)の標準試験方法
  • ANSI/ASTM D150:2011 固体電気絶縁材料(定誘電体)の交流損失特性と比誘電率の試験方法

HU-MSZT, 誘電損失および誘電率試験

  • MSZ 4803/36.lap-1969 絶縁ワニスをテストします。 誘電率と損失係数の決定
  • MSZ 15747/9-1982 セラミック電気切断装置の試験における比誘電率と損失係数の定義

Lithuanian Standards Office , 誘電損失および誘電率試験

  • LST EN 62562-2011 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (IEC 62562:2010)
  • LST EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)
  • LST EN 60247-2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率 (tan) および DC 抵抗率の測定 (IEC 60247:2004)

RO-ASRO, 誘電損失および誘電率試験

  • STAS 2740-1969 電気絶縁材料。 誘電率と誘電損失角の決定

International Electrotechnical Commission (IEC), 誘電損失および誘電率試験

  • IEC 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
  • IEC 63185:2020 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
  • IEC PAS 62562:2008 空洞共振器法による低損失誘電体デバイスの合成誘電率測定
  • IEC 61196-1-125:2022 同軸通信ケーブル 第 1-125 部:電気試験方法 等価誘電率および誘電体の等価誘電率の試験
  • IEC 61620:1998 絶縁性液体のコンダクタンスとキャパシタンスを測定して誘電損率を求める試験方法

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 誘電損失および誘電率試験

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 誘電損失および誘電率試験

  • JIS C 2138:2007 電気絶縁材料、比誘電率、誘電損失率の求め方

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 誘電損失および誘電率試験

  • IPC TM-650 2.5.5.5-1998 リビジョン C、X バンドでの誘電率と損失正接 (誘電率と誘電正接) のストリップライン テスト
  • IPC TM-650.2.5.7.2-2009 材料の誘電率(誘電率)と損失正接(誘電正接)(二液セル法) 改訂 C 1987 年 12 月
  • IPC TM-650 2.5.5.3-1987 材料の誘電率(誘電率)と損失正接(誘電正接)(二液セル法) 改訂 C 1987 年 12 月
  • IPC TM-650-2015 材料の誘電率(誘電率)と損失正接(誘電正接)(二液セル法) 改訂 C 1987 年 12 月
  • IPC TM-650 2.5.5.2-1987 プリント基板材料の誘電率と誘電正接 - クリップ法
  • IPC TM-650 2.5.5.4-1985 プリント基板材料の誘電率と誘電正接 ミクロン法
  • IPC TM-650 2.5.5.9-1998 MHz ~ 1.5 GHz の平行平板、誘電率および損失正接
  • IPC TM-650 2.5.5.1-1986 MHz における絶縁材料の誘電率 (誘電率) および損失正接 (散逸率) (接触電極方式) 改訂 B 1986 年 5 月

KR-KS, 誘電損失および誘電率試験

  • KS C 2150-2008(2023) 高周波領域(500MHz~10GHz)における誘電体膜の誘電率および誘電損失の測定方法

AENOR, 誘電損失および誘電率試験

  • UNE-EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 誘電損失および誘電率試験

  • GB/T 31838.6-2021 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 第6部:誘電特性(交流法) 比誘電率と誘電損失率(周波数0.1Hz~10MHz)

Standard Association of Australia (SAA), 誘電損失および誘電率試験

  • AS 1767.2.2:2008 絶縁性液体の試験方法 比誘電率、誘電正接(tan d)、直流抵抗率の測定

未注明发布机构, 誘電損失および誘電率試験

  • DIN EN IEC 63185:2022 対称ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定
  • BS 7663:1993(2000) シート状または管状の電気絶縁材料の誘電率および誘電正接を測定するための試験方法

Indonesia Standards, 誘電損失および誘電率試験

  • SNI 04-6542-2001 絶縁性液体の比誘電率、誘電正接、直流抵抗率の測定

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 誘電損失および誘電率試験

  • CNS 8787-1988 電気絶縁用熱収縮スリーブの誘電率及び誘電消費率の求め方

IT-UNI, 誘電損失および誘電率試験

  • UNI 4289-1972 プラスチック材料の試験。 関連する誘電率と誘電正接の決定

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 誘電損失および誘電率試験

  • GB/T 34665-2017 モーターコイル・巻線絶縁誘電損率測定方法

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 誘電損失および誘電率試験

  • JJF 1618-2017 絶縁油誘電損失率・体積固有抵抗計の校正仕様書




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