ZH
RU
EN
ES

ピンフォトダイオード

ピンフォトダイオードは全部で 14 項標準に関連している。

ピンフォトダイオード 国際標準分類において、これらの分類：オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 プリント回路およびプリント回路基板。

ES-UNE, ピンフォトダイオード

• UNE-EN 120006:1992 BDS: 光ファイバー用途向けの PIN フォトダイオード

Professional Standard - Electron, ピンフォトダイオード

• SJ 50033/102-1995 GD218タイプ InGaAs/InP PINフォトダイオード 詳細仕様
• SJ 20644.1-2001 半導体光電子デバイスの詳細仕様 GD3550Y型PINフォトダイオード
• SJ 20644.2-2001 半導体光電子デバイスの詳細仕様 GD101型PINフォトダイオード
• SJ/T 2354-2015 PIN、アバランシェフォトダイオードのテスト方法
• SJ/T 2354-2015/0352 PIN、アバランシェフォトダイオードのテスト方法
• SJ 2354.5-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオード静電容量のテスト方法
• SJ 2354.3-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードの暗電流の試験方法
• SJ 2354.6-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオードの応答性のテスト方法
• SJ 2354.1-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオードの光電パラメータのテスト方法 一般原理
• SJ 2354.4-1983 PINとアバランシェフォトダイオードの順方向電圧降下の試験方法

SE-SIS, ピンフォトダイオード

• SIS SS CECC 20006-1988 詳細な仕様については空白です。 光ファイバー用途向けのPINフォトダイオード

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ピンフォトダイオード

• GB/T 18904.5-2003 半導体デバイス パート 12-5; オプトエレクトロニクス デバイス、光ファイバー システムまたはサブシステムで使用するピグテール付きまたはピグテールなしのピン フォトダイオードの空白の詳細仕様

International Electrotechnical Commission (IEC), ピンフォトダイオード

• IEC 60747-12-5:1997 半導体デバイス パート 12-5: 光ファイバ システムまたはオプトエレクトロニクス デバイスのサブシステムで使用するピグテール付き/ピグテールなしの PIN フォトダイオードの空白の詳細仕様

その他：   フォトダイオード, ピン, ピン検出器, ピン検出器, ピン+検出器, シリコンフォトダイオード, ++++シリコンフォトダイオード, ピンフォトダイオード, 13 5 ピン, フォトダイオードのパラメータ, ねじ付きピン, フォトダイオードアレイ, ピンカッピング装置の試験範囲, フォトダイオード電圧, 端子耐圧, ピンフェット, ピンダイオードコンデンサ, インチの外国ピン, 厳しいピン, ピンフォトダイオードの暗電流.