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フェムト秒レーザーパラメータ測定

フェムト秒レーザーパラメータ測定は全部で 112 項標準に関連している。

フェムト秒レーザーパラメータ測定 国際標準分類において、これらの分類:オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 放射線測定、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 電子管、 語彙、 光ファイバー通信、 半導体ディスクリートデバイス、 電子表示装置、 太陽工学。


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • GB/T 7257-2013 ヘリウム・ネオンレーザーパラメータ測定法
  • GB/T 15175-2012 固体レーザーの主要パラメータの測定方法
  • GB/T 15175-1994 固体レーザーの主要パラメータの試験方法
  • GB/T 41572-2022 パルスレーザー時間領域における主要パラメータの測定方法
  • GB/T 22181.21-2008 プラズマディスプレイ装置 第2-1部:光学パラメータの測定方法
  • GB/T 22181.22-2008 プラズマディスプレイデバイス 第 2-2 部:光電子パラメータの測定方法

RU-GOST R, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • GOST R 51106-1997 インジェクションレーザー、レーザーヘッド、レーザーダイオードマトリックス、レーザーダイオード、パラメータの測定方法
  • GOST 25678-1983 パルスレーザーエネルギー測定器の種類基本パラメータ基本パラメータの測定方法
  • GOST 25677-1983 パルスレーザー放射光電測定コンバータ 基本パラメータ 測定方法
  • GOST 25373-1982 レーザータイプの基本パラメータを測定するための技術要件
  • GOST 25312-1982 測定用の熱および熱電レーザー変換器の種類と基本パラメータ。 測定方法
  • GOST R 50737-1995 レーザーパッシブスイッチの測定方法とパラメータの評価
  • GOST 24714-1981 レーザー照射パラメータの測定方法に関する通則
  • GOST 25370-1982 測定用光増倍管 基本パラメータ 基本パラメータ測定方法
  • GOST 25811-1983 レーザー出力の平均パワータイプを測定するための基本的なパラメータ測定方法を指します。
  • GOST 8.357-1979 ГСИ. レーザー放射パラメータ測定装置. エネルギー範囲、スペクトル範囲、時間範囲
  • GOST 8.444-1981 ГСИ. パルスレーザー放射コンバーターの動的パラメータを測定するための標準測定機器、校正方法とツール
  • GOST 21815.0-1986 電気光学コンバーターパラメトリックパラメータおよび光学パラメータの測定に関する一般要件
  • GOST 25368-1982 パルスレーザー光の高出力測定ツール 種類と基本パラメータ 測定方法
  • GOST 24453-1980 レーザー放射のパラメータおよび特性の大きさに関する測定用語、定義、およびアルファベット記号
  • GOST 11612.0-1981 光電子増倍管 電気的および光学的技術パラメータの測定方法
  • GOST 28953-1991 移動放電用の感光性機器、パラメータの測定方法
  • GOST 17772-1988 半導体光検出器および受光器、光電パラメータの測定および特性の決定方法
  • GOST 8.198-1985 国家測定均一性保証システム パルスレーザー放射粉末および波長 0.4 ~ 10.6um のレーザー検出器の動的パラメーターの試験方法 国家特別基準および同盟全体の識別表
  • GOST 17038.5-1979 電離線シンチレーション検出器、検出器のシンチレーションパラメータを決定するための光電増倍管のスペクトル定数の測定方法
  • GOST R 59607-2021 光学およびフォトニクス 半導体光検出器 光電子および受光デバイス 光電子パラメータの測定および特性の決定方法
  • GOST 19868-1974 電離放射線の半導体検出器用分光器用リニアアンプ パラメトリック測定法
  • GOST R 59606-2021 光学およびフォトニクス 第 2 世代および次世代の光検出器デバイスの光電パラメータの測定および特性評価方法

ES-UNE, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • UNE-EN ISO 12005:2022 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザービームパラメータ試験方法 偏光
  • UNE-EN ISO 11670:2004/AC:2005 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パラメータの試験方法 ビーム位置の安定性

Professional Standard - Electron, フェムト秒レーザーパラメータ測定

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • GJB 894-1990 軍用レーザー放射パラメータ試験
  • GJB 8361-2015 軍用レーザー出力エネルギー試験装置のパラメータ試験方法
  • GJB 894A-1999 軍用レーザー放射パラメータ試験方法
  • GJB 3489-1998 ソーラーシミュレーターの光学パラメータ測定法
  • GJB 3489A-2019 ソーラーシミュレーターの光学パラメータ測定法

Danish Standards Foundation, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • DS/EN ISO 12005:2003 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パラメータの試験方法 偏光
  • DS/EN ISO 11670/AC:2005 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パラメータの試験方法 ビーム位置の安定性
  • DS/EN ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パラメータの試験方法 ビーム位置の安定性
  • DS/EN 62341-6-1:2011 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1: 光学および光電子パラメーターの測定方法
  • DS/ISO 1878:1989 表面仕上げの幾何学的パラメータを測定および評価するための機器および装置の分類

German Institute for Standardization, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • DIN EN ISO 12005:2022-11 レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザービームパラメータの試験方法 - 偏光
  • DIN EN ISO 11670:2003-10 レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザービームパラメータの試験方法 - ビーム位置の安定性
  • DIN EN ISO 12005:2021 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法 偏光 (ISO/DIS 12005:2021)
  • DIN EN 62341-6-1:2011-07 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1: 光学パラメータおよび電気光学パラメータの測定方法

British Standards Institution (BSI), フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • BS EN ISO 12005:2022 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パラメータの試験方法 偏光
  • 21/30406472 DC BS EN ISO 12005 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法 偏光
  • BS EN 62341-6-1:2011 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ、光学および光電子パラメータの測定方法
  • BS EN 60904-3:2016 光電子デバイス:基準スペクトル照明データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電設備の測定原理
  • BS EN 60904-3:2008 光電子デバイス:基準スペクトル照明データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電設備の測定原理

Association Francaise de Normalisation, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • NF EN ISO 12005:2022 レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザービームパラメータのテスト方法 - 偏光
  • NF EN ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法 ビーム照準の安定性
  • E11-016:1987 測長器フリンジカウンティング、レーザー光源干渉計
  • NF EN IEC 60444-6:2021 水晶振動子パラメータの測定 パート 6: 励起レベル依存 (DNE) 測定
  • NF C93-805-1-3:2006 光アンプ 試験方法 パート 1-3: 光パワーパラメータとゲインパラメータ 光パワー測定方法
  • NF C93-805-1-3*NF EN IEC 61290-1-3:2021 光アンプの試験方法 パート 1-3: 光パワー パラメータとゲイン パラメータ 光パワーの測定方法
  • NF C96-541-6-1*NF EN 62341-6-1:2011 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1: 光学パラメータおよび光電子パラメータの測定方法。
  • NF EN 62341-6-1:2011 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ - パート 6-1: 光学パラメータおよび電気光学パラメータの測定方法
  • NF C93-807-2-10*NF EN 61280-2-10:2006 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-10: デジタル システム レーザー送信機の時間分解レーザー波長変化とアルファ係数の測定
  • NF C57-323:2008 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理

GOSTR, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • GOST 24469-1980 レーザー放射パラメータを測定するための機器の一般的な技術要件
  • GOST IEC 62341-6-1-2016 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1 光学および光電子パラメータの測定方法

Group Standards of the People's Republic of China, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • T/GDCKCJH 021-2020 単一周波数ファイバーレーザーの主要パラメータの測定方法
  • T/GDCKCJH 022-2020 超短パルスファイバーレーザーの主要パラメータの測定方法

Professional Standard - Machinery, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • JB/T 9491-1999 ヘリウムネオンレーザーの主要パラメータの試験方法
  • JB/T 6249-1992 ヘリウム・カドミウムレーザーの主要パラメータの試験方法
  • JB/T 9489-1999 アルゴンイオンレーザーの主要パラメータ試験方法
  • JB/T 6250.1-1992 YAG連続レーザーの主要パラメータの試験方法
  • JB/T 6250.2-1992 YAGパルスレーザーの主要パラメータの試験方法
  • JB/T 5748-1991 ルビーレーザーの主要パラメータの試験方法
  • JB/T 5749-1991 ネオジムガラスレーザーの主要パラメータ試験方法
  • JB/T 9490-1999 炭酸ガスレーザーの主要パラメータの試験方法
  • JB/T 9490-2013 炭酸ガスレーザーの主要パラメータの試験方法

AT-ON, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • OENORM EN ISO 12005:2021 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法 偏光 (ISO/DIS 12005:2021)

European Committee for Standardization (CEN), フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • prEN ISO 12005:2021 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法 偏光 (ISO/DIS 12005:2021)

Hunan Provincial Standard of the People's Republic of China, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • DB43/T 1776-2020 高エネルギー連続ファイバーレーザーの主要パラメータの試験方法

Lithuanian Standards Office , フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • LST EN ISO 11670:2004 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法 ビーム位置の安定性 (ISO 11670:2003)
  • LST EN ISO 11670:2004/AC:2005 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法 ビーム位置安定性 (ISO 11670:2003/Cor.1:2004)

AENOR, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • UNE-EN ISO 11670:2004 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法 ビーム位置の安定性 (ISO 11670:2003)

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • IEEE Std 2065-2020 産業用ファイバーレーザーのパラメータ要件とテスト方法に関する IEEE ガイド
  • IEEE P2065/D5, Sep 2020 IEEE が承認した産業用ファイバーレーザーのパラメータ要件とテスト方法に関するガイドライン草案

Association of German Mechanical Engineers, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • DVS 3203-2-1988 CO2 レーザービーム溶接プロジェクトの品質保証 - 溶接パラメータの検出

CZ-CSN, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • CSN 35 8850 Cast.3-1987 フォトカプラ。 主要パラメータの測定方法
  • CSN 35 6535-1983 電子測定器。 連続プロセススペクトラムアナライザ。 パラメータの命名
  • CSN 25 2300-1972 機器および装置の分類または表面仕上げの幾何学的パラメータの測定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • KS C 6822-2000(2010) ファイバアンプの測定パート 2: パワーパラメータの測定方法
  • KS C IEC 62341-6:2007 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1: 光学パラメータおよび光電子パラメータの測定方法
  • KS C IEC 62341-6-1:2020 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ - パート 6-1: 光学および電気光学パラメーターの測定方法
  • KS C IEC 60904-3-2010(2020) 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理

International Electrotechnical Commission (IEC), フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • IEC 62341-6-1:2017 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1: 光学パラメータおよび光電子パラメータの測定方法
  • IEC 62341-6-1:2009 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1: 光学パラメータおよび光電子パラメータの測定方法
  • IEC 62341-6-3:2017/COR1:2019 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1: 光学および光電子パラメーターの測定方法
  • IEC 62341-6-1:2022 RLV 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1: 光学パラメータおよび電気光学パラメータの測定方法
  • IEC 62341-6-1:2017 RLV 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1: 光学パラメータおよび電気光学パラメータの測定方法
  • IEC 62341-6-1:2022 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1: 光学および光電子パラメーターの測定方法
  • IEC 61290-2-3:1998 光ファイバ増幅器の基本仕様 第2-3部 光パワーパラメータの測定方法 光パワーメータ
  • IEC 60904-3:2019 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理
  • IEC 60904-3:2019 RLV 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理
  • IEC 61290-3:2000 光ファイバ増幅器基本仕様 第3部 雑音の数値パラメータの測定方法
  • IEC 61290-6-1:1998 光ファイバ増幅器基本仕様 第6-1部 ポンプ漏れパラメータの測定方法 光分波器
  • IEC 61290-2-1:1998 光ファイバ増幅器の基本仕様 第2-1部 光パワーパラメータの測定方法 光スペクトラムアナライザ
  • IEC 61290-1-3:1998 光ファイバ増幅器の基本仕様 第1-3部 利得パラメータの測定方法 光パワーメータ

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • DB44/T 1528.2-2015 裸眼立体ディスプレイその2:光電子パラメータ測定法
  • DB44/T 1528.1-2015 裸眼立体ディスプレイその1:光学パラメータの測定方法

KR-KS, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • KS C IEC 62341-6-1-2020 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ - パート 6-1: 光学および電気光学パラメーターの測定方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • JIS C 6122-4-1:2013 光アンプ、テスト方法、パート 4-1: 過渡パラメータ、二波長法を使用したゲインパラメータの測定
  • JIS C 6122-4-2:2013 ファイバアンプの試験方法 パート 4-2 過渡パラメータ ブロードバンドソース法を使用したゲインパラメータの測定

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • EN 62341-6-1:2011 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイ パート 6-1: 光学および光電子パラメーターの測定方法
  • EN 60904-3:2008 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理

International Organization for Standardization (ISO), フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • ISO 1878:1974 表面仕上げの幾何学的パラメータを測定および評価するための機器および装置の分類
  • ISO 1878:1983 表面仕上げの幾何学的パラメータを測定および評価するための機器および装置の分類

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, フェムト秒レーザーパラメータ測定

  • EN 60904-3:1993 太陽光発電デバイス パート 3: 基準分光放射照度データを使用した地上太陽光発電 (PV) 太陽光発電デバイスの測定原理




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