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分光測定

分光測定は全部で 49 項標準に関連している。

分光測定 国際標準分類において、これらの分類：オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 光学および光学測定、 語彙、 太陽工学、 光ファイバー通信、 放射線測定、 分析化学、 写真撮影のスキル、 光学機器。

US-FCR, 分光測定

• FCR FED HANDBOOK 72-1960 物理的および生物学的用途のための中性子束とスペクトルの測定

RU-GOST R, 分光測定

• GOST 11612.7-1983 光電子増倍管、光束によって生成されるアノード電流ノイズの光とスペクトルの測定方法

German Institute for Standardization, 分光測定

• DIN 5030-5:1987 発光スペクトル測定 発光スペクトル測定用物理検出器 用語、特性値、選定基準
• DIN 5030-5:2019-08 放射線分光法物理検出器の用語、特性量、放射線スペクトル測定の選択基準
• DIN EN 60904-8:1998 太陽光発電デバイス パート 8: 太陽光発電デバイスのスペクトル応答の測定
• DIN 5030-1:1985 放射線のスペクトル測定、用語、量、特性パラメータ
• DIN 5030-3:2021 放射線スペクトル絶縁のスペクトル測定 定義と特性
• DIN 5030-3:1984 放射線のスペクトル測定、スペクトル分離、定義と特徴
• DIN 4522-4:1993-04 写真レンズ、分光透過率の測定方法
• DIN 5030-2:1982 放射線のスペクトル測定 放射線源 選択基準
• DIN 50990:2018-12 コーティングの厚さの測定 金属層の領域依存の品質は、分光測定法によって決定されます

American Society for Testing and Materials (ASTM), 分光測定

• ASTM E1021-95(2001) 太陽電池の分光感度測定の試験方法
• ASTM E1021-95 太陽電池の分光感度測定の試験方法
• ASTM E1021-06 光電子デバイスのスペクトル応答を測定するための標準試験方法
• ASTM E958-93(2005) 紫外可視分光光度計の実用的なスペクトル帯域幅の測定
• ASTM E2729-09(2015) 分光測光測定の帯域差調整の標準的な方法

International Commission on Illumination (CIE), 分光測定

• CIE 63-1984 光源の分光放射測定（E）
• CIE 202-2011 検出器、放射計、光度計のスペクトル応答測定

Illuminating Engineering Society of North America, 分光測定

• IESNA LM-58-2013 光源の分光放射測定法の承認方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 分光測定

• GB/T 26179-2010 光源の分光放射測定
• GB/T 6495.8-2002 太陽光発電デバイス パート 8: 太陽光発電デバイスの分光応答の測定

International Electrotechnical Commission (IEC), 分光測定

• IEC 60904-8:1995 光電子デバイス パート 8: 光電子デバイスのスペクトル応答の測定に関するガイドライン
• IEC 60904-8:1998 太陽光発電デバイス パート 8: 太陽光発電デバイスの分光応答の測定
• IEC 62805-1:2017 太陽電池（PV）ガラスの測定方法 その1：全ヘイズとヘイズの分光分布の測定

American National Standards Institute （ANSI), 分光測定

• ANSI/TIA/EIA 455-115-1996 ステップインデックスマルチモードファイバのスペクトル減衰測定
• ANSI/ASTM E1021:1995 太陽電池の分光感度測定方法
• ANSI/TIA/EIA 78A-1990 シングルモード光ファイバのスペクトル減衰低減測定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 分光測定

• JIS C 8915:1998 結晶太陽電池およびモジュールのスペクトル応答を測定する方法
• JIS C 8944:2009 多接合太陽電池の分光感度測定方法
• JIS B 7081:2017 光学およびフォトニクス 平面光学素子からの積分散乱の分光測定方法
• JIS B 7107:1997 写真、写真レンズ、ISO分光透過率の測定

TIA - Telecommunications Industry Association, 分光測定

• EIA/TIA-455-46A-1990 FOTP-46 長尺グレーデッドインデックス光ファイバのスペクトル減衰測定
• TIA/EIA-455-115-1996 FOTP-115 ステップインデックスマルチモード光ファイバのスペクトル減衰測定
• TIA-455-46A-1990 FOTP-46 長いグレーデッドインデックス光ファイバーのスペクトル減衰測定 (EIA-455-46 の改訂版)
• EIA/TIA-455-78A-1990 FTOP-78 シングルモードファイバのスペクトル減衰測定
• EIA-455-78-1987 FTOP-78 シングルモードファイバのスペクトル減衰測定

AT-ON, 分光測定

• ONORM S 5250-2-2000 放射能測定の計算統計。 分光測定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 分光測定

• KS C IEC 60904-8:2005 太陽光発電デバイス パート 8: 太陽光発電デバイスのスペクトル応答の測定
• KS C IEC 60904-8:2015 太陽光発電デバイス パート 8: 太陽光発電デバイスのスペクトル応答の測定
• KS C IEC 60904-8-2015(2020) 太陽光発電デバイス - パート 8: 太陽光発電 (PV) デバイスのスペクトル応答測定

Association Francaise de Normalisation, 分光測定

• NF C57-328*NF EN 60904-8:2014 光電子機器 パート 8: 光電子機器の分光感度の測定
• NF C57-328:1999 光電子機器 パート 8: 光電子機器の分光感度の測定

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 分光測定

• EN 60904-8:1998 太陽光発電デバイス パート 8: 太陽光発電 (PV) デバイスのスペクトル応答の測定

Danish Standards Foundation, 分光測定

• DS/EN 60904-8:1999 太陽光発電装置パート 8: 太陽光発電 (PV) 装置のスペクトル応答測定

Professional Standard - Machinery, 分光測定

• JB/T 8248.1-1999 写真レンズの分光透過率の測定方法

KR-KS, 分光測定

• KS B 5426-2023 写真レンズの分光透過率の測定方法

British Standards Institution (BSI), 分光測定

• BS EN 62805-1:2017 太陽電池（PV）ガラスの測定方法 全ヘイズおよびヘイズ分光分布の測定

VN-TCVN, 分光測定

• TCVN 5732-1993 原油 原子吸光分析によるバナジウム含有量の測定。
• TCVN 5383-1991 原油 原子吸光分析によるニッケル含有量の測定。

その他：   分光測定, ラマン分光測定の測定, 蛍光スペクトルの測定, レーザーのスペクトルを測定する方法, 測定システムのスペクトル応答, 分光測定, スペクトルの測定方法, スペクトルの測定, スペクトルの測定, 分光色測定, 赤外スペクトルの測定, スペクトルはどのように測定されますか?, 透過スペクトルの測定, スペクトルの波長の測定方法, 光ファイバーのスペクトルの測定, スペクトルはどのように測定されますか?, スペクトル測定の原理, 分光測定方法, スペクトルの測定原理, 光のスペクトルを測定する方法.