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複素誘電率と誘電損失角

複素誘電率と誘電損失角は全部で 66 項標準に関連している。

複素誘電率と誘電損失角 国際標準分類において、これらの分類：採掘と発掘、 通信機器の部品および付属品、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 電気、磁気、電気および磁気測定、 ゴム、 断熱材、 プリント回路およびプリント回路基板、 コンデンサ、 絶縁流体。

Association Francaise de Normalisation, 複素誘電率と誘電損失角

• NF EN 62562:2011 低損失誘電体板の複素誘電率を測定するための共振空洞法
• NF C26-232*NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
• NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
• NF EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための対称ディスク共振器法
• NF C26-296*NF EN 62562:2011 空洞共振器法は、低損失誘電体デバイスの合成誘電率の測定に使用されます。

RU-GOST R, 複素誘電率と誘電損失角

• GOST 25495-1982 岩石の誘電率及び誘電正接角の求め方
• GOST 22372-1977 誘電体材料 周波数帯域100Hz～5MHzにおける誘電率及び誘電正接の測定方法
• GOST 8.358-1979 0.2～1GHzの周波数帯域における比誘電率および誘電正接角の測定方法
• GOST R IEC 62562-2012 測定の一貫性を確保するための国家制度 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
• GOST 8.544-1986 測定の一貫性を確保するための状態システム 比誘電率 固体誘電体の損失正接 9 度 10 から 10 度 Hz までの測定手順 10
• GOST R 8.623-2015 測定の一貫性を確保するための国家システム 固体誘電体の比誘電率と損失係数 マイクロ波周波数の測定手順

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 複素誘電率と誘電損失角

• EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
• EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の合成誘電率測定
• EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法

ES-UNE, 複素誘電率と誘電損失角

• UNE-EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
• UNE-EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
• UNE-EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板の複素誘電率測定のためのバランスディスク共振器法

German Institute for Standardization, 複素誘電率と誘電損失角

• DIN EN 62810:2015-12 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
• DIN EN 62562:2011-10 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
• DIN EN IEC 63185:2022-10 平衡ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定 (IEC 63185:2020)
• DIN EN 63185:2018 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するためのバランスディスク共振器法 (IEC 46F/415/CD:2018)
• DIN EN 62562:2011 空洞共振器法を使用した低損失誘電体プレートの複素誘電率の測定 (IEC 62562-2010)、ドイツ語版 EN 62562-2011
• DIN EN 62810:2015 円筒共振器法を使用した低損失誘電体ロッドの複素誘電率の測定 (IEC 62810-2015)、ドイツ語版 EN 62810-2015

Danish Standards Foundation, 複素誘電率と誘電損失角

• DS/EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
• DS/EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法

British Standards Institution (BSI), 複素誘電率と誘電損失角

• BS EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
• BS EN 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
• BS EN IEC 63185:2021 平衡ディスク共振器法による低損失誘電体基板の複素誘電率測定
• 18/30373795 DC BS EN 63185. 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための平衡ディスク共振器法
• BS IEC 61196-1-125:2022 同軸通信ケーブルの電気試験方法 誘電体の等価誘電率および等価損失率試験
• 21/30435996 DC BS IEC 61196-1-125 同軸通信ケーブル パート 1-125 電気的試験方法 誘電体の等価誘電率および等価散逸損失試験
• BS EN 61189-2-719:2016 電気材料、プリント基板およびその他の相互接続構造およびアセンブリの試験方法 相互接続構造の材料の試験方法 比誘電率および誘電正接値 (500 MHz ～ 10 GHz)

IEC - International Electrotechnical Commission, 複素誘電率と誘電損失角

• PAS 62562-2008 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (バージョン 1.0)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 複素誘電率と誘電損失角

• GB/T 1693-2007 加硫ゴムの誘電率及び誘電正接の求め方
• GB/T 5594.4-2015 電子部品用構造用セラミック材料の性能試験方法 第4部 誘電率及び誘電正接の試験方法

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 複素誘電率と誘電損失角

• IPC TM-650 2.5.5.5C-1998 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験
• IPC TM-650 2.5.5.5B-1995 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験
• IPC TM-650 2.5.5.1B-1986 1MHzにおける絶縁材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（接触電極方式）

Lithuanian Standards Office , 複素誘電率と誘電損失角

• LST EN 62562-2011 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (IEC 62562:2010)
• LST EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)

RO-ASRO, 複素誘電率と誘電損失角

• STAS 2740-1969 電気絶縁材料。 誘電率と誘電損失角の決定
• STAS 12969-1991 熱力学的温度 70 度における固体電気絶縁材料の誘電率と損失正接を決定する方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 複素誘電率と誘電損失角

• ASTM D2149-13 固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）および誘電正接の標準試験方法
• ASTM D2149-97(2004) 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
• ASTM D2149-97 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
• ASTM D150-98(2004) 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
• ASTM D150-98 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
• ASTM D2149-13(2021) 周波数 10 MHz、温度 500°C における固体誘電体の誘電率と誘電正接の標準試験方法
• ASTM D3380-10 ポリマーベースの高周波回路マトリックスの比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法

Group Standards of the People's Republic of China, 複素誘電率と誘電損失角

• T/CSTM 00985-2023 低損失誘電体プレートの複素誘電率をテストするための独立した円筒共振空洞法
• T/CSTM 00990-2023 ミリ波周波数帯における誘電率および誘電正接の試験方法 擬似光共振器法

International Electrotechnical Commission (IEC), 複素誘電率と誘電損失角

• IEC 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
• IEC 63185:2020 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
• IEC PAS 62562:2008 空洞共振器法による低損失誘電体デバイスの合成誘電率測定

Professional Standard - Electron, 複素誘電率と誘電損失角

• SJ/T 1147-1993 コンデンサ用有機膜の誘電正接及び比誘電率の試験方法
• SJ/T 11043-1996 電子ガラスの高周波誘電損失および比誘電率の試験方法
• SJ 20512-1995 マイクロ波大損失固体材料の複素誘電率および複素透磁率の試験方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 複素誘電率と誘電損失角

• KS C 2150-2008(2018) 高周波（500mhz〜10ghz）誘電体膜の誘電率・誘電損失の測定方法
• KS C IEC 60250:2003 電力周波数、可聴周波数、および無線周波数（メーター波長を含む）における電気絶縁材料の誘電率および誘電損失係数を決定するための推奨方法
• KS C 2134-1996(2021) 積層板材と平板材の積層時の損失係数と誘電率の試験方法

PL-PKN, 複素誘電率と誘電損失角

• PN E04403-1986 固体電気絶縁材料。 誘電率・誘電損失率の測定
• PN-EN IEC 63185-2021-08 E 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)

未注明发布机构, 複素誘電率と誘電損失角

• DIN EN IEC 63185:2022 対称ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 複素誘電率と誘電損失角

• GB/T 31838.6-2021 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 第6部：誘電特性（交流法） 比誘電率と誘電損失率（周波数0.1Hz～10MHz）

American National Standards Institute （ANSI), 複素誘電率と誘電損失角

• ANSI/ASTM D150:2011 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性と比誘電率の試験方法

GOSTR, 複素誘電率と誘電損失角

• GOST 8.015-1972 測定の一貫性を確保するための状態システム 9 ～ 10 GHz の周波数帯域における薄板材料からなる固体誘電体の比誘電率と誘電正接の誘電正接を測定する方法

その他：   複素誘電率と誘電損失角.