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光学濃度の測定方法

光学濃度の測定方法は全部で 98 項標準に関連している。

光学濃度の測定方法 国際標準分類において、これらの分類：非破壊検査、天文学、測地学、地理学、半導体材料、分析化学、写真撮影のスキル、光学および光学測定、空気の質、検査・修理・試験設備、オプトエレクトロニクス、レーザー装置、計測学と測定の総合、石油およびガス産業の機器、プラスチック、ガラス、語彙、印刷技術、金属材料試験、長さと角度の測定、非鉄金属、太陽工学、放射線測定。

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), 光学濃度の測定方法

SMPTE RP 15-1997 白黒写真濃度測定用の濃度計の校正
SMPTE ST 2065-2-2012 アカデミープリント濃度 (APD) スペクトル応答、参照測定機器およびスペクトル計算

RU-GOST R, 光学濃度の測定方法

GOST 22091.14-1986 X線装置 X線エネルギー束密度（光束密度）測定方法
GOST R 50005-1992 レーザーおよびソリッドステートレーザーヘッド局所的なピークエネルギー (パワー) 密度の測定方法
GOST R 8.830-2013 測定の一貫性を確保するための国家システムオプトエレクトロニクス材料の光学密度測定方法
GOST 25917-1983 レーザー.放射エネルギー（パワー）密度の相対分布の測定方法
GOST 8.588-2006 国家測定均一性保証制度、材料光学濃度測定方法の国家審査手順
GOST 8.559-1993 測定の一貫性を確保するための国家システムの透過光における物質の光学密度の測定方法に関する国家検証プログラム
GOST R ISO 13694-2010 光学および光学機器レーザーおよびレーザー関連機器レーザー光のパワー（エネルギー）密度分布の試験方法
GOST 8.500-1984 測定の一貫性を確保するための国家システム材料の光学密度測定方法に関する国家検証プログラム
GOST R 8.829-2013 測定の一貫性を確保するための国家システムポリマーシートおよびフィルムの光学濃度（透過係数）およびヘイズの測定方法
GOST 8.197-2005 ГСИ. 0.04 ～ 0.25 μm の波長範囲で光放射強度スペクトル密度を測定するための国家特別ベンチマークおよび全ソ連校正システム。
GOST 8.197-1986 ГСИ 0.04 ～ 0.25 μm の波長範囲で光放射強度スペクトル密度を測定するための国家特別基準機器および全ソ連校正システム
GOST 8.473-1982 ГСИ. パルス X 線放射線エネルギー曝露線量、曝露線量平均パワー、平均線ビームおよび平均線ビーム密度を測定するための国家特別ベンチマークおよび国家校正システム
GOST 8.557-2007 測定の均一性を保証する国家システム波長範囲 0.2 ～ 50.0 μm (散乱および従来型) におけるスペクトル、統合および低減された従来型透過率および光学濃度を保証するための国家認定手順
GOST 8.557-1991 測定の均一性を保証するための国家システム 0.2 ～ 50.0 μm の波長範囲 (散乱および従来型) におけるスペクトル、統合および低減された従来型透過率および光学濃度を保証するための国家資格手順
GOST R 8.780-2012 国家測定一貫性保証システムエネルギー、エネルギー分布密度、パルス幅、0.3～2.0mの波長範囲のレーザー波長測定方法に関する国家検証プログラム

PL-PKN, 光学濃度の測定方法

PN C99464-03-1992 写真撮影のスキル。密度測定光条件
PN-EN 62788-1-4-2017-02/A1-2021-07 E 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-4: 封止材の光透過率の測定と太陽光加重光子透過率、黄色度、UV カットオフ波長の計算
PN-EN 62788-1-6-2017-08/A1-2021-02 E 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順第 1-6 部：封止材エチレン酢酸ビニルの硬化度試験方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 光学濃度の測定方法

GB/T 15638-1995 地図印刷の光学濃度測定仕様
GB/T 11501-2008 写真撮影、濃度測定、その 3: スペクトル条件
GB/T 32282-2015 陰極蛍光顕微鏡による窒化ガリウム単結晶の転位密度の測定
GB/T 43313-2023 共焦点微分干渉法を使用した炭化ケイ素研磨ウェーハの表面品質とマイクロチューブ密度の検査
GB/T 23649-2009 印刷技術、プロセス制御、印刷に使用される反射濃度計の光学的、幾何学的、および計測学的要件。

Professional Standard - Electron, 光学濃度の測定方法

SJ/T 11489-2015 低転位密度リン化インジウム研磨ウェーハのピット密度の測定方法
SJ/T 11490-2015 低転位密度ガリウム砒素研磨ウェーハのピット密度の測定方法

German Institute for Standardization, 光学濃度の測定方法

DIN 58963-2:1983-11 測光用光学セル、高精度長方形分光測光セル、寸法、要件
DIN 58963-2:1983 測光測定用フォトセル高精度長方形分光測光吸収セル寸法、要件
DIN EN ISO 13694:2019-06 光学およびフォトニクス - レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザー光のパワー（エネルギー）密度分布の試験方法
DIN EN ISO 13694:2019 光学レーザーおよびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパワー（エネルギー）密度分布の試験方法（ISO 13694:2018）
DIN EN 15042-1:2006-06 コーティングの厚さの測定と表面波の特性評価パート 1: レーザー誘起表面音響波によるフィルムの弾性定数、密度、および厚さの測定に関するガイド
DIN 53131-3:2010-11 インクジェットメディアの用紙テストパート 3: 印刷画質の光学除去、光学濃度、光学三刺激値、ドット画像干渉
DIN EN 15042-1:2006 表面波によるコーティングの厚さ測定と表面特性評価パート 1: レーザー誘起表面弾性波法を使用した個々のフィルム層の弾性定数、密度、および厚さを決定するためのガイドライン
DIN 53383-2:1983 プラスチックの検査オーブンでの老化による酸化安定性の試験高密度ポリエチレン (PE-HD)、赤外分光法によるカルボニル含有量の測定

International Organization for Standardization (ISO), 光学濃度の測定方法

ISO 5-3:2009 写真撮影、濃度測定、その 3: スペクトル条件
ISO 5-3:1995 写真濃度測定パート 3: スペクトル条件
ISO 5-3:1984 写真技術、濃度測定、その 3: スペクトル条件
ISO 13694:2018 光学およびフォトニクス - レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザー光のパワー（エネルギー）密度分布の試験方法
ISO 14981:2000 印刷技術プロセス制御用の反射濃度計の光学的、幾何学的、および計測学的条件
ISO 16531:2013 表面化学分析深さプロファイリング原子発光分光法 (AES) および光電子分光法 (XPS) における深さプロファイリングのためのイオンビーム補正および電流または電流密度の関連測定方法。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 光学濃度の測定方法

KS A ISO 5-3:2011 写真撮影、濃度測定、その 3: スペクトル条件
KS R ISO 11614:2001 ディーゼル煙濃度の測定と煙濃度（光吸収係数）の測定。
KS A ISO 5-3-2011(2016) 写真および地図作成技術における密度測定パート 3: スペクトル条件
KS A ISO 5-3-2011(2021) 写真および地図作成技術における密度測定パート 3: スペクトル条件
KS B ISO 13694-2015(2020) 光学および光学機器 - レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザー光出力試験方法[エネルギー]密度分布
KS D 8310-2001(2016) 陽極酸化アルミニウムおよびアルミニウム合金陽極酸化皮膜の単位面積質量（表面密度）の求め方（重量法）および陽極酸化皮膜の厚さの求め方（分光顕微鏡による非破壊測定）

British Standards Institution (BSI), 光学濃度の測定方法

BS ISO 5-3:2010 写真および印刷技術における濃度測定のスペクトル条件
BS ISO 5-3:2009 写真および印刷技術、濃度測定、スペクトル条件
BS ISO 5-3:1996 写真技術、濃度測定、その 3: スペクトル条件
BS EN ISO 13694:2018 光学・フォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パワー（エネルギー）密度分布の試験方法
BS EN 15042-1:2006 コーティングの厚さ測定と表面うねりの特性評価レーザー誘起表面弾性波法を使用した膜の弾性定数、密度、厚さの決定のガイド
BS EN 62788-1-4:2016+A1:2020 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順封止材の光透過率の測定と太陽光加重光子透過率、黄色度、UV カットオフ波長の計算
BS EN 62788-1-6:2017+A1:2020 太陽光発電モジュールに使用される材料の測定手順、シーリング材、エチレン酢酸ビニルの硬化度を測定するための試験方法。
BS ISO 16531:2013 表面化学分析、深さプロファイリング、光電子分光法 (XPS) および原子発光分光法 (AES) の深さプロファイリングにおけるイオンビーム校正および電流または電流密度の関連測定方法。

American National Standards Institute （ANSI), 光学濃度の測定方法

ANSI PH2.16-1984 写真（感光性）、濃度測定、用語、記号、マーク
ANSI/ASTM E1585:1993 分光法を用いた建築構造物板ガラスの放射線密度の測定・算出方法
ANSI CGATS.4-2011 グラフィックス技術グラフィックス技術の反射光学濃度測定用語、公式、グラフィック要素および手順

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 光学濃度の測定方法

ST 117:2001 ST 117:2001 SMPTE 標準映画フィルム写真音声密度スペクトル拡散密度測定
SMPTE ST 117:2001 ST 117:2001 映画フィルムの「写真音声密度」「スペクトル拡散密度測定」に関する SMPTE 規格
ST 2065-2:2012 ST 2065-2:2012 SMPTE 標準アカデミープリント濃度 (APD) スペクトル感度、基準測定機器およびスペクトル計算
ST 2065-2:2020 ST 2065-2:2020 SMPTE 標準アカデミープリント濃度 (APD) スペクトル感度、基準測定機器およびスペクトル計算
SMPTE ST 2065-2:2020 ST 2065-2:2020 SMPTE 標準アカデミープリント濃度 (APD) スペクトル応答、基準測定機器およびスペクトル計算
SMPTE ST 2065-2:2012 ST 2065-2:2012 SMPTE 標準アカデミー印刷濃度 (APD) スペクトル応答、基準測定機器およびスペクトル計算

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 光学濃度の測定方法

ASHRAE AC-02-8-2-2002 光学密度ベースの測定を煙探知器の指標として使用する

CEN - European Committee for Standardization, 光学濃度の測定方法

EN ISO 13694:2018 光学およびフォトニクスレーザーおよび関連機器レーザーパワー (エネルギー) 密度分布の試験方法

Association Francaise de Normalisation, 光学濃度の測定方法

NF S10-124*NF EN ISO 13694:2018 光学・フォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パワー（エネルギー）密度分布の試験方法
NF EN ISO 13694:2018 光学およびフォトニクス、レーザーおよびレーザー関連機器、レーザー光のパワー（エネルギー）密度分布試験方法
NF EN 61300-2-25:1998 光ファイバー相互接続デバイスおよび受動部品の基本的な試験および測定方法パート 2-25: エンクロージャのシール強度の試験
NF C57-788-1-4*NF EN 62788-1-4:2017 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-4: 封止材の光透過率の測定と太陽光加重光子透過率、黄色度、UV カットオフ波長の計算
NF C57-788-1-4/A1*NF EN 62788-1-4/A1:2020 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-4: 封止材光透過率の測定と太陽光加重光子透過率、黄色度、UV カットオフ波長の計算
NF A91-139-1*NF EN 15042-1:2006 表面波によるコーティングの厚さ測定と表面特性評価パート 1: レーザー誘起表面弾性波法を使用した個々のフィルム層の弾性定数、密度、および厚さを決定するためのガイドライン
NF C57-788-1-6*NF EN 62788-1-6:2017 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-6: エチレン酢酸ビニルの硬化度を決定するためのシーリング材の試験方法
NF C57-788-1-6/A1*NF EN IEC 62788-1-6/A1:2020 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-6: エチレン酢酸ビニルの硬化度を決定するためのシーリング材の試験方法

Danish Standards Foundation, 光学濃度の測定方法

DS/EN ISO 13694:2000 光学および光学機器レーザーおよびレーザー関連機器レーザー光のパワー（エネルギー）密度分布の試験方法
DS/EN 15042-1:2006 コーティングの厚さ測定と表面波表面特性評価パート 1: レーザー誘起表面音響波による膜の弾性定数、密度、および厚さの決定に関するガイド

ES-UNE, 光学濃度の測定方法

UNE-EN ISO 13694:2018 光学・フォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パワー（エネルギー）密度分布の試験方法

Group Standards of the People's Republic of China, 光学濃度の測定方法

T/IAWBS 010-2019 炭化珪素単結晶研磨ウェーハの表面品質およびマイクロチューブ密度検出法 - レーザー散乱検出法
T/IAWBS 012-2019 炭化ケイ素単結晶研磨ウェーハの表面品質とマイクロチューブ密度の試験方法 - 共焦点微分干渉光学法

European Committee for Standardization (CEN), 光学濃度の測定方法

EN ISO 13694:2015 光学およびフォトニクスレーザーおよび関連機器レーザーパワー (エネルギー) 密度分布の試験方法 (ISO 13694:2015)
EN 15042-1:2006 コーティングの厚さ測定と表面うねりの特性評価パート 1: レーザー誘起表面弾性波法を使用した個々のフィルム層の弾性定数、密度、および厚さの決定に関するガイドライン

Lithuanian Standards Office , 光学濃度の測定方法

LST EN ISO 13694:2000 光学および光学機器レーザーおよびレーザー関連機器レーザー光出力（エネルギー）密度分布の試験方法（ISO 13694:2000）
LST EN ISO 13694:2000/AC:2008 光学および光学機器レーザーおよびレーザー関連機器レーザー光出力（エネルギー）密度分布の試験方法（ISO 13694:2000/Cor 1:2005）
LST EN 15042-1-2006 コーティングの厚さ測定と表面波表面特性評価パート 1: レーザー誘起表面音響波による膜の弾性定数、密度、および厚さの決定に関するガイド
LST EN 62788-1-4/A1-2021 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-4: 封止材の光透過率の測定と太陽光加重光子透過率、黄色度、UV カットオフ波長の計算 (IEC 62788-1-4:2016/A)

American Society for Testing and Materials (ASTM), 光学濃度の測定方法

ASTM D7399-18 赤外分光光度法によるポリプロピレン/低密度ポリエチレンブレンド中のポリプロピレンの量を測定するための標準試験方法
ASTM D7399-08 赤外分光光度計を使用したポリプロピレン/低密度ポリエチレンブレンド中のポリプロピレン量の測定のための標準試験方法

International Electrotechnical Commission (IEC), 光学濃度の測定方法

IEC 62788-1-4:2016/AMD1:2020 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-4: 封止材の光透過率の測定と太陽光加重光子透過率、黄色度、UV カットオフ波長の計算
IEC 62788-1-4:2016 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-4: 封止材の光透過率の測定と太陽光加重光子透過率、黄色度、UV カットオフ波長の計算
IEC 62788-1-4:2016+AMD1:2020 CSV 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-4: 封止材の光透過率の測定と太陽光加重光子透過率、黄色度、UV カットオフ波長の計算
IEC 62788-1-6:2017+AMD1:2020 CSV 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-6: シーラントエチレン酢酸ビニルの硬化度を決定するための試験方法。
IEC 62788-1-6:2017/AMD1:2020 修正 1. 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-6: シーラントエチレン酢酸ビニルの硬化度を決定するための試験方法。
IEC 62788-1-6:2017 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順第 1-6 部：封止材エチレン酢酸ビニルの硬化度試験方法

AENOR, 光学濃度の測定方法

UNE-EN 15042-1:2007 コーティングの厚さ測定と表面波表面特性評価パート 1: レーザー誘起表面音響波による膜の弾性定数、密度、および厚さの決定に関するガイド
UNE-EN 62788-1-6:2017 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順第 1-6 部：封止材エチレン酢酸ビニルの硬化度試験方法

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 光学濃度の測定方法

EN 62788-1-4:2016 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順パート 1-4: 封止材の光透過率の測定と太陽光加重光子透過率、黄色度、UV カットオフ波長の計算
EN 62788-1-6:2017 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順第 1-6 部：封止材エチレン酢酸ビニルの硬化度試験方法

BELST, 光学濃度の測定方法

STB 8062-2016 ベラルーシ共和国における測定の均一性を保証する、体系的な指向性透過率、拡散および鏡面反射、光学濃度、色座標および色度係数の測定の検証方法