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光電流をテストする方法

光電流をテストする方法は全部で 156 項標準に関連している。

光電流をテストする方法 国際標準分類において、これらの分類:光ファイバー通信、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 電灯および関連器具、 航空宇宙用電気機器およびシステム、 電気工学総合、 総合電子部品、 半導体ディスクリートデバイス、 船内機器および計器類、 消防、 ワイヤーとケーブル、 通信機器の部品および付属品、 金属材料試験、 断熱材、 半導体材料、 無駄、 分析化学、 原子力工学、 潤滑剤、工業用油および関連製品、 セラミックス。


British Standards Institution (BSI), 光電流をテストする方法

  • BS EN IEC 60794-1-404:2022 光ファイバケーブルの一般仕様 光ケーブルの基本試験手順 電気試験方法 電流温度試験方法 H4
  • BS EN 2591-6315:2001 電気および光接続部品の試験方法 - 光学部品の流体抵抗
  • 20/30429082 DC BS EN IEC 60794-1-404 光ファイバーケーブル パート 1-404 一般仕様書 基本的な光ケーブル試験手順 電気試験方法 電流温度試験方法 H4
  • BS IEC 60747-5-16:2023 半導体デバイス - オプトエレクトロニクスデバイス 発光ダイオード GaNベースの発光ダイオード 光電流スペクトルに基づくフラットバンド電圧試験方法
  • BS IEC 60747-5-11:2019 半導体デバイス、光電子デバイス、発光ダイオード、発光ダイオードの放射電流および非放射電流の試験方法
  • PD IEC TS 63106-2:2022 太陽光発電変換装置の試験におすすめのシミュレータ 直流電力シミュレータ
  • PD IEC TS 63106-1:2020 太陽光発電変換装置の試験におすすめのシミュレータ 交流電力シミュレータ
  • 21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16 半導体デバイス パート 5-16 光電子デバイス 発光ダイオード 光電流スペクトルに基づくフラットバンド電圧試験方法
  • BS EN 2591-315:2015 航空宇宙シリーズの電気および光学接続コンポーネントの試験方法 流体抵抗
  • BS PD IEC TS 63106-1:2020 太陽光発電変換装置を試験するためのシミュレーターです。 提案。 AC電源シミュレーター
  • BS EN 60811-302:2012 電気ケーブルおよび光ファイバーケーブル 非金属材料の試験方法 電気試験 23 0dC および 100°C でのフィラーの DC 抵抗率の測定
  • 18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11 半導体デバイス パート 5-11 光電子デバイス 発光ダイオード 発光ダイオード 放射電流および非放射電流の試験方法
  • 17/30345518 DC BS ISO 2100-6315 電気および光学接続を備えた航空宇宙部品の試験方法 パート 6315 光学部品の流体抵抗
  • 17/30345167 DC BS ISO 2100-202 電気および光接続用の航空宇宙部品の試験方法 パート 202: 定格電流での接触抵抗
  • BS EN 60811-511:2012 電気ケーブルおよび光ケーブル 非金属材料の試験方法 機械試験 ポリエチレン化合物の溶液流動指数の測定
  • 17/30345317 DC BS ISO 2100-315 電気接続および光接続を備えた航空宇宙部品の試験方法 パート 315 流体抵抗
  • BS EN 60811-511:2012+A1:2017 電力ケーブルおよび光ファイバーケーブルの非金属材料の試験方法 - 機械試験 ポリエチレンおよびポリプロピレン化合物のメルトフローインデックスの測定
  • 17/30345185 DC BS ISO 2100-208 電気接続および光接続を備えた航空宇宙コンポーネントの試験方法パート 208。 定格電流による温度上昇
  • 17/30345416 DC BS ISO 2100-428 電気および光接続用の航空宇宙部品の試験方法 パート 428: 電流が圧着端子ラグを通過するときの正弦波振動
  • 17/30345203 DC BS ISO 2100-217 電気および光接続用の航空宇宙部品の試験方法 パート 217: 端子ラグおよびシリーズ コネクタの指定電流での電圧降下
  • BS EN 15979:2011 セラミック原料および基礎材料の試験 DC アーク励起発光分析による炭化ケイ素粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直流測定。
  • 17/30345206 DC BS ISO 2100-218 電気および光接続用の航空宇宙部品の試験方法 パート 218: 温度と電流サイクルによる端子ラグおよびシリーズ コネクタの劣化

Professional Standard - Electron, 光電流をテストする方法

  • SJ 2214.10-1982 半導体フォトダイオードおよび三極管の光電流のテスト方法
  • SJ 2354.3-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードの暗電流の試験方法
  • SJ 2215.10-1982 半導体フォトカプラの直流電流伝達率の試験方法
  • SJ 2355.3-1983 半導体発光素子の試験方法 逆電流試験方法
  • SJ 1873-1981 ガスレーザーの最適動作電流の試験方法
  • SJ 2214.3-1982 半導体フォトダイオードの暗電流試験方法
  • SJ 2214.8-1982 半導体フォトトランジスタの暗電流試験方法
  • SJ 20613-1996 AC薄膜エレクトロルミネセンスマトリックスディスプレイデバイスの試験方法
  • SJ 2215.3-1982 半導体フォトカプラ(ダイオード)の順電流試験方法
  • SJ 2215.4-1982 半導体フォトカプラ(ダイオード)の逆電流試験方法
  • SJ 2215.9-1982 半導体フォトカプラ(トランジスタ)の逆方向遮断電流の試験方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 光電流をテストする方法

  • ASTM F448-18 定常状態の一次光電流を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM F448-99(2005) 定常状態の生の光電流を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM F448-99 定常状態の生の光電流を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM F448-11 定常状態の一次光電流を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM C1111-98 誘導結合プラズマ原子発光分光法による廃水流中の元素測定の試験方法
  • ASTM F391-96 定常状態の表面光起電力測定による外部半導体の少数キャリア拡散長の決定のための標準試験方法
  • ASTM C1111-10(2015) 誘導結合プラズマ原子発光分光法による廃水流中の元素を測定するための標準的な試験方法
  • ASTM C1517-16 直流アーク発光分光法による金属ウランまたは化合物中の金属不純物を測定するための標準試験方法
  • ASTM C1517-09 DC アーク発光分光法による金属ウランまたは化合物中の金属不純物を測定するための標準試験方法
  • ASTM C1517-02 DC アーク発光分光法による金属ウランまたは化合物中の金属不純物を測定するための標準試験方法
  • ASTM E2371-21a DC プラズマおよび誘導結合プラズマ原子発光分光法によるチタンおよびチタン合金の分析のための標準試験方法 (性能ベースの試験方法)
  • ASTM E2371-21 DC プラズマおよび誘導結合プラズマ原子発光分光法によるチタンおよびチタン合金の分析のための標準試験方法 (性能ベースの試験方法)
  • ASTM D6595-00 回転ディスク電極発光分光法による使用済み潤滑油または使用済み作動油中の不純物を定量するための標準試験方法
  • ASTM D6595-16 回転ディスク電極発光分光法による使用済み潤滑油または使用済み作動油中の摩耗金属および汚染物質を測定するための標準試験方法

Association Francaise de Normalisation, 光電流をテストする方法

  • NF C93-850-1-404*NF EN IEC 60794-1-404:2022 光ファイバーケーブル パート 1-404: 一般仕様 基本的な光ファイバーケーブルの試験手順 電気試験方法 電流温度試験、方法 H4
  • NF EN IEC 60794-1-404:2022 光ファイバーケーブル パート 1-404: 一般仕様 光ファイバーケーブルの基本試験手順 電気試験方法 温度電流試験方法 H4
  • NF EN 3909:2016 航空宇宙シリーズ - 電気および光学部品およびアセンブリの試験流体および試験方法
  • NF EN 2591-6315:2002 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 6315: 光学コンポーネントの流体抵抗
  • NF EN 2591-202:1994 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート B2: 公称電流での接触抵抗
  • NF EN 2591-214:2013 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 214: 落雷、電圧および電流パルスに対する耐性
  • NF EN 2591-315:2016 航空宇宙シリーズ電気および光接続コンポーネントの試験方法パート 315: 流体抵抗
  • NF C32-011-302*NF EN 60811-302:2012 電気ケーブルおよび光ケーブル 非金属材料の試験方法 パート 302: 電気試験 23°C および 100°C での充填コンパウンドの DC 抵抗率の測定
  • NF EN 60811-302:2012 電気および光ケーブル - 非金属材料の試験方法 - パート 302: 電気試験 - 23 oC および 100 oC でのフィラーの DC 抵抗率の測定
  • NF EN 2591-428:2002 航空宇宙シリーズ電気および光学接続部品の試験方法パート 428: 圧着端子の正弦波振動と電流
  • NF C61-739-11/A1*NF EN 50539-11/A1:2017 低電圧サージ保護装置 DC を含む特定用途向けのサージ保護装置 パート 11: 太陽光発電用途における SPD の要件とテスト
  • NF EN 60811-511:2012 ケーブルと光ファイバー。 非金属材料の試験方法。 パート 511: 機械的テスト。 ポリエチレンブレンドのメルトフローインデックスの測定
  • NF C32-011-511/A1*NF EN 60811-511/A1:2017 電気ケーブルおよび光ファイバーケーブルの非金属材料の試験方法 パート 511: 機械試験 ポリエチレンおよびポリプロピレン化合物のメルトフローインデックスの測定
  • NF EN 2591-220:2006 航空宇宙シリーズ - 電気および光接続アセンブリ - 試験方法 - パート 220: 温度と電流サイクルによる接点と導体の劣化
  • NF EN 2591-218:2002 航空宇宙シリーズ電気および光接続コンポーネントのテスト方法パート 218: 温度と電流サイクルによる端子と延長部分の劣化
  • NF B41-105*NF EN 15979:2011 セラミック原料および基礎材料の検査、直流アーク励起分光計 (OES) による炭化ケイ素粉末および粒子中の不純物の質量分率の直接測定

ES-UNE, 光電流をテストする方法

  • UNE-EN IEC 60794-1-404:2022 光ファイバーケーブル パート 1-404: 一般仕様 基本的な光ファイバーケーブルの試験手順 電気的試験方法 電流温度試験方法 H4
  • UNE-EN 3909:2016 航空宇宙シリーズの電気および光学部品およびサブアセンブリの試験流体および試験方法
  • UNE-EN 3745-411:2018 航空宇宙シリーズ 航空機用光ファイバーおよびケーブルの試験方法 パート 411: 流体抵抗
  • UNE-EN 2591-6315:2001 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 6315: 光学コンポーネントの流体抵抗
  • UNE-EN 2591-214:2012 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 214: 落雷、電流および電圧パルス
  • UNE-EN 2591-315:2015 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 315: 流体抵抗
  • UNE-EN 60811-511:2012/A1:2018 電力ケーブルおよび光ファイバーケーブルの非金属材料の試験方法 パート 511: 機械試験 ポリエチレンおよびポリプロピレン化合物のメルトフローインデックスの測定
  • UNE-EN 2591-428:2002 航空宇宙シリーズ電気および光学接続部品の試験方法パート 428: 通電中の圧着端子ラグの正弦波振動
  • UNE-EN 2591-220:2005 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 220: 電流および温度サイクルによる接点/導体接合部の劣化
  • UNE-EN 2591-217:2002 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 217: 端子ラグおよびプッシュイン コネクタの指定電流での電圧降下
  • UNE-EN 2591-218:2002 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 218: 温度と電流サイクルによる端子ラグおよびシリーズ コネクタの劣化

Group Standards of the People's Republic of China, 光電流をテストする方法

  • T/CSA 048-2019 一般照明用発光ダイオードの電流・温度可変光電特性試験方法

AT-OVE/ON, 光電流をテストする方法

  • OVE EN IEC 60794-1-404:2021 光ファイバーケーブル パート 1-404: 一般仕様 基本的な光ファイバーケーブルの試験手順 電気的試験方法 電流温度試験、方法 H4 (IEC 86A/2100/CDV) (英語版)

AENOR, 光電流をテストする方法

  • UNE 208001-30:2002 片口蛍光灯および両口蛍光灯の電子安定器からの電磁放射の試験方法
  • UNE-EN 2591-209:1996 航空宇宙シリーズの電気および光接続のテスト方法の要素パート 209: 電流温度ディレーティング
  • UNE-EN 2591-202:1996 航空宇宙シリーズ要素の電気接続および光接続の試験方法パート 202: 接触抵抗と定格電流
  • UNE-EN 2591-208:1996 航空宇宙シリーズ要素の電気接続および光接続の試験方法 パート 208: 定格電流による温度上昇
  • UNE-EN 60811-302:2012 電気および光ケーブル - 非金属材料の試験方法 - パート 302: 電気試験 - 23°C および 100°C での充填コンパウンドの DC 抵抗率の測定
  • UNE-EN 60811-511:2012 電気および光ファイバーケーブルの非金属材料の試験方法 パート 511: 機械的試験 ポリエチレンコンパウンドのメルトフローインデックスの測定

German Institute for Standardization, 光電流をテストする方法

  • DIN EN 3909:2016-10 航空宇宙シリーズ - 電気および光学部品およびサブアセンブリの試験流体および試験方法
  • DIN EN 2591-209:1998 航空宇宙、光電子コネクタ、試験方法、パート 209: 現在の温度負荷低減値の決定
  • DIN EN 2591-202:1998-03 航空宇宙シリーズ - 電気および光接続コンポーネント、試験方法 - パート 202: 定格電流での接触抵抗
  • DIN EN 2591-315:2016-01 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 315: 流体抵抗
  • DIN EN 2591-208:1998-03 航空宇宙シリーズ - 電気および光接続コンポーネント、試験方法 - パート 208: 定格電流による温度上昇
  • DIN EN 3745-411:2019-02 航空宇宙シリーズ - 航空機用光ファイバーおよびケーブル - 試験方法 - パート 411: 流体抵抗
  • DIN 50440:1998 半導体プロセス材料の検査 シリコン単結晶のキャリア寿命測定 光導電法によるマイクロジェットの複合キャリア寿命測定
  • DIN EN 2591-218:2003 航空宇宙シリーズ、光電子接続コンポーネント、試験方法、パート 218: 端子ラグおよび機械接続の温度電流サイクル試験の経年劣化
  • DIN EN 2591-220:2006-08 航空宇宙シリーズ - 電気および光接続コンポーネント - 試験方法 - パート 220: 電流と温度のサイクルによる接点/導体接合部の劣化
  • DIN EN 60811-302:2012 電気および光ケーブル. 非金属材料の試験方法. パート 302: 電気試験. 23°C および 100°C における充填コンパウンドの DC 抵抗率の測定 (IEC 60811-302-2012); ドイツ語版 EN 60811-302- 2012年
  • DIN EN 15979:2011 セラミック原料および基礎材料の試験 DC アーク励起発光分析による炭化ケイ素粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定、ドイツ語版 EN 15979-2011
  • DIN 51088:2007 セラミック原料および基本材料の試験 発光分光分析および DC アークでの励起による、炭化ケイ素粉末および粒状炭化ケイ素中の金属微量不純物の質量分率の測定。

RU-GOST R, 光電流をテストする方法

  • GOST R IEC 60331-23-2003 火災条件下での電気および光ケーブルのテスト 回線の完全性 パート 23: 手順と要件 電気データ光ケーブル
  • GOST R IEC 60331-25-2003 火災条件下での電気および光ケーブルのテスト ラインの完全性 パート 25: 手順と要件 パイプライン ケーブル
  • GOST IEC 60811-302-2015 電気および光ケーブル. 非金属材料の試験方法. パート 302. 電気試験. 23 °C および 100 °C での充填コンパウンドの DC 抵抗率の測定
  • GOST R IEC 60331-21-2003 火災条件下での電気および光ファイバーケーブルの試験 回線の完全性 パート 21: 手順と要件 定格電圧 0.6/1.0 kV のケーブル
  • GOST IEC 60811-511-2015 電気および光ケーブル、非金属材料の試験方法、パート 511、機械試験、ポリエチレン化合物の溶液流動指数の測定

AT-ON, 光電流をテストする方法

  • ONORM EN 2591-B9-1994 航空宇宙シリーズ。 電気コネクタと光コネクタ。 テスト方法。 パート B9: 現在の温度低下の決定
  • ONORM EN 2591-B2-1994 航空宇宙シリーズ。 電気接続と光接続のテスト方法。 パート B2: 定格電流接触抵抗
  • ONORM EN 2591-B5-1994 航空宇宙シリーズ。 電気接続と光接続のテスト方法。 パート B5: エンクロージャの連続電流束
  • ONORM EN 2591-B3-1994 航空宇宙シリーズ。 電気コネクタと光コネクタ。 テスト方法。 パート B3: マイクロボルトレベルの連続電流束
  • ONORM EN 2591-B8-1994 航空宇宙シリーズ。 電気接続と光接続のテスト方法。 パート B8: 定格電流の変化による温度上昇

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 光電流をテストする方法

  • KS C IEC 60811-302:2016 電気ケーブルおよび光ファイバーケーブル - 非金属材料の試験方法 - パート 302: 電気試験 - 充填コンパウンドの 23°C および 100°C での直流抵抗率の測定
  • KS C IEC 60811-511:2018 電気ケーブルおよび光ファイバーケーブル - 非金属材料の試験方法 - パート 511: 機械試験 - ポリエチレン化合物のメルトフローインデックスの測定
  • KS C IEC 60811-302-2016(2021) 電気ケーブルおよび光ケーブル用の非金属材料の試験方法 - パート 302: 23°C および 100°C での電気試験用充填コンパウンドの DC 抵抗率の測定

KR-KS, 光電流をテストする方法

  • KS C IEC 60811-302-2016 電気ケーブルおよび光ファイバーケーブル - 非金属材料の試験方法 - パート 302: 電気試験 - 充填コンパウンドの 23°C および 100°C での直流抵抗率の測定
  • KS C IEC 60811-511-2018 電気ケーブルおよび光ファイバーケーブル - 非金属材料の試験方法 - パート 511: 機械試験 - ポリエチレン化合物のメルトフローインデックスの測定
  • KS C IEC 60811-511-2018(2023) 電気ケーブルおよび光ケーブル 非金属材料の試験方法 パート 511: 機械試験 ポリエチレンコンパウンドのメルトフローインデックスの測定

National Electrical Manufacturers Association(NEMA), 光電流をテストする方法

  • NEMA 410-2004 電子蛍光安定器を使用した照明制御および開閉装置の性能試験

Danish Standards Foundation, 光電流をテストする方法

  • DS/EN 2591-6315:2002 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 6315: 光学コンポーネントの流体抵抗
  • DS/EN 60811-302:2012 電気および光ケーブル - 非金属材料の試験方法 - パート 302: 電気試験 - 23°C および 100°C での充填コンパウンドの DC 抵抗率の測定
  • DS/EN 60811-511:2012 電気および光ファイバーケーブルの非金属材料の試験方法 パート 511: 機械的試験 ポリエチレンコンパウンドのメルトフローインデックスの測定
  • DS/EN 2591-428:2002 航空宇宙シリーズ電気および光学接続部品の試験方法パート 428: 電流通過時の圧着端子ラグの正弦波振動
  • DS/EN 2591-220:2005 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 220: 電流と温度のサイクルによる接点/導体接合部の劣化
  • DS/EN 2591-218:2002 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 218: 温度と電流サイクルによる端子ラグおよびインライン コネクタの劣化

Lithuanian Standards Office , 光電流をテストする方法

  • LST EN 2591-6315-2002 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 6315: 光学コンポーネントの流体抵抗
  • LST EN 60811-302-2012 電気ケーブルおよび光ファイバーケーブルの非金属材料の試験方法 パート 302: 23°C および 100°C での電気試験用の充填コンパウンドの DC 抵抗率の測定 (IEC 60811-302:2012)
  • LST EN 60811-511-2012 電気ケーブルおよび光ファイバーケーブルの非金属材料の試験方法 パート 511: 機械試験 ポリエチレン化合物のメルトフローインデックスの測定 (IEC 60811-511:2012)
  • LST EN 2591-428-2005 航空宇宙シリーズ電気および光学接続部品の試験方法パート 428: 電流通過時の圧着端子ラグの正弦波振動
  • LST EN 2591-220-2006 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 220: 電流と温度のサイクルによる接点/導体接合部の劣化
  • LST EN 2591-218-2003 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 218: 温度と電流サイクルによる端子ラグおよびインライン コネクタの劣化

工业和信息化部, 光電流をテストする方法

  • YS/T 679-2018 外部半導体における少数キャリア拡散長を測定するための表面光起電力法

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 光電流をテストする方法

  • EN IEC 60794-1-309:2023 光ファイバーケーブル - パート 1-309: 一般仕様 - 基本的な光ファイバーケーブルのテスト手順 - ケーブルコンポーネントのテスト方法 - 充填またはフラッディング化合物の漏れと蒸発、方法 G9
  • EN 60811-511:2012 電気および光ファイバーケーブルの非金属材料の試験方法 パート 511: 機械的試験 ポリエチレンコンパウンドのメルトフローインデックスの測定
  • EN 50539-11:2013 低電圧サージ保護装置 DC を含む特定用途向けのサージ保護装置 パート 11: 太陽光発電用途における SPD の要件とテスト (修正 A1: 2014 を含む)

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, 光電流をテストする方法

  • PREN 3745-411-2006 航空宇宙シリーズ 航空機用光ファイバーおよびケーブルの試験方法 パート 411: 流体抵抗 (P 1 版)
  • PREN 3745-411-2017 航空宇宙シリーズ 航空機サービス用光ファイバーおよびケーブルの試験方法 パート 411: 流体抵抗 (エディション P 2)
  • PREN 2591-FC15-1993 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート FC15 光学コンポーネントの流体抵抗 (P 1 版)
  • PREN 2591-214-1998 電気的および光学的に接続された航空宇宙コンポーネントのテスト方法 - パート 214: 雷電流および電圧パルス (バージョン 8E1)
  • PREN 2591-214-2000 航空宇宙シリーズ 電気接続および光接続の試験方法の要素 パート 214: 雷電流および電圧パルス (P 1 版)
  • PREN 2591-B2-1992 航空宇宙シリーズ要素 電気接続および光接続の試験方法のパート B2 定格電流での接触抵抗 (第 1 版)
  • PREN 2591-B8-1992 航空宇宙シリーズ電気および光接続試験方法要素 B8 部分定格電流による温度上昇 (第 1 版)
  • PREN 2591-C15-1992 航空宇宙シリーズ電気および光接続試験方法要素パート C15 流体抵抗 (問題 1)
  • PREN 2591-315-2014 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 315: 流体抵抗 (P 1 版)
  • PREN 2591-B18-1993 航空宇宙シリーズ コンポーネント B18 電気接続および光接続の試験方法におけるラグおよびプッシュイン コネクタの部分電流循環
  • PREN 2591-D28-1993 航空宇宙シリーズの電気および光学接続の試験方法要素パート D28 ラグおよびプッシュイン コネクタに流れる電流の正弦波振動
  • PREN 2591-428-1995 航空宇宙シリーズ電気および光接続試験方法要素パート 428: 圧着端子ラグを通過する電流の正弦波振動 (P 1 版)
  • PREN 2591-217-1995 航空宇宙シリーズ電気接続および光接続の試験方法の要素パート 217: 端子ラグおよびプッシュイン コネクタの指定電流での電圧降下 (P 1 版)
  • PREN 2591-220-2000 航空宇宙シリーズ 電気接続および光接続の試験方法の要素 パート 220: 電流および温度サイクルによる接点/導体接合部の劣化 (P 1 版)
  • PREN 2591-218-1995 航空宇宙シリーズ 電気接続および光接続の試験方法の要素 パート 218: 温度および電流サイクルによる端子ラグおよびプッシュイン コネクタの劣化 (P 1 版)

European Committee for Standardization (CEN), 光電流をテストする方法

  • EN 2591-214:2012 航空宇宙シリーズ 電気接続および光接続の要素 試験方法 - パート 214: 雷電流および電圧パルス
  • EN 15979:2011 セラミック原料および基礎材料の試験 DC アーク励起発光分析による炭化ケイ素粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直流測定。

CEN - European Committee for Standardization, 光電流をテストする方法

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CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 光電流をテストする方法

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International Electrotechnical Commission (IEC), 光電流をテストする方法

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Professional Standard - Non-ferrous Metal, 光電流をテストする方法

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