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SEM環境

SEM環境は全部で 58 項標準に関連している。

SEM環境 国際標準分類において、これらの分類:光学および光学測定、 空気の質、 光学機器、 長さと角度の測定、 分析化学、 塗料成分、 塗料とワニス、 電子表示装置、 情報技術の応用、 金属材料試験、 繊維、 表面処理・メッキ、 電磁両立性 (EMC)、 建材、 非鉄金属。


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM環境

  • GB/T 28873-2012 ナノ粒子の生体形態効果に対する環境走査型電子顕微鏡検出法の一般原理
  • GB/T 16594-1996 走査型電子顕微鏡によるミクロンレベルの長さの測定方法
  • GB/T 17722-1999 走査型電子顕微鏡による金属キャップ層の厚さの測定方法
  • GB/T 16594-2008 走査型電子顕微鏡によるミクロンスケールの長さの測定方法に関する一般規則
  • GB/T 20307-2006 走査型電子顕微鏡によるナノスケール長さの測定方法の一般規則
  • GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/Z 18039.1-2019 電磁両立性環境 電磁環境の説明と分類
  • GB/T 30834-2014 鋼中の非金属介在物の評価と統計走査型電子顕微鏡法
  • GB/T 36422-2018 走査型電子顕微鏡法による化学繊維の微細形態と直径の測定
  • GB/T 30834-2022 鋼中の非金属介在物の評価と統計走査型電子顕微鏡法

International Organization for Standardization (ISO), SEM環境

  • ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
  • ISO 14966:2019 周囲空気 無機繊維粒子の濃度数値測定 走査型電子顕微鏡法
  • ISO 14966:2002 周囲空気 無機繊維粒子の濃度数値測定 走査型電子顕微鏡法
  • ISO 14966:2002/cor 1:2007 周囲空気 無機繊維粒子の数値濃度の測定 走査型電子顕微鏡法 技術訂正事項 1
  • ISO 9220:2022 金属皮膜 皮膜厚さの測定 走査型電子顕微鏡法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM環境

British Standards Institution (BSI), SEM環境

  • BS ISO 14966:2002 周囲空気 無機繊維粒子の濃度数値測定 走査型電子顕微鏡法
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966 周囲空気中の無機繊維粒子の数値濃度の測定 走査型電子顕微鏡
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
  • PD ISO/TR 12773-2:2009 ビジネス要件環境スキャンによる健全性概要レコードの取得
  • BS EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定
  • BS PD IEC/TR 61000-2-5:2017 電磁両立性 (EMC)、環境、電磁環境の説明と分類
  • PD IEC/TR 61000-2-5:2017 電磁両立性 (EMC) 環境電磁環境の説明と分類

American National Standards Institute (ANSI), SEM環境

  • ANSI/ASTM D6059:2001 走査型電子顕微鏡を使用して作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカーの濃度を測定する方法

Association of German Mechanical Engineers, SEM環境

  • VDI 3492-2004 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡
  • VDI 3492-2013 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡
  • VDI 3866 Blatt 5-2004 走査型電子顕微鏡による技術製品中のアスベストの測定
  • VDI 3866 Blatt 5-2017 走査型電子顕微鏡による技術製品中のアスベストの測定

American Society for Testing and Materials (ASTM), SEM環境

  • ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
  • ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
  • ASTM D605-82(1996)e1 走査型電子顕微鏡による作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D6059-96(2011) 走査型電子顕微鏡による作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
  • ASTM E986-97 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM E986-04(2017) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
  • ASTM E766-98(2008)e1 走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様
  • ASTM C1723-16(2022) 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
  • ASTM C1723-10 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
  • ASTM C1723-16 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
  • ASTM E766-14(2019) 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, SEM環境

  • GB/T 35097-2018 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、エネルギー分光法による周囲空気中のアスベストおよびその他の無機繊維粒子の計数濃度の測定
  • GB/T 38783-2020 貴金属複合材料の皮膜厚さを測定するための走査型電子顕微鏡法

Group Standards of the People's Republic of China, SEM環境

  • T/CSTM 00229-2020 走査型電子顕微鏡とエネルギー分光法による塗料中のグラフェン材料の測定
  • T/CSTM 00346-2021 鋼中の介在物の自動分類と統計走査型電子顕微鏡分光法

Danish Standards Foundation, SEM環境

KR-KS, SEM環境

SE-SIS, SEM環境

Association Francaise de Normalisation, SEM環境

RU-GOST R, SEM環境

  • GOST R 8.594-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム 走査型電子顕微鏡

German Institute for Standardization, SEM環境

ES-UNE, SEM環境





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