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光子 光子の波長

光子 光子の波長は全部で 500 項標準に関連している。

光子 光子の波長 国際標準分類において、これらの分類：光ファイバー通信、 光学および光学測定、 医療機器、 光学機器、 電灯および関連器具、 分析化学、 餌、 教育する、 電気通信特殊測定器、 製図、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 燃料、 プラスチック、 金属材料試験、 農林、 語彙、 無駄、 通信システム、 砂糖、砂糖製品、でん粉、 非金属鉱物、 金属鉱石、 非鉄金属、 ガラス、 石油製品総合、 犯罪予防、 粒度分析、スクリーニング、 地上サービスおよび修理設備、 グラフィックシンボル、 文字記号、 検査医学、 水質、 写真撮影のスキル、 総合電子部品、 ブラックメタル、 人体健康器具、 トランス、リアクトル、インダクタ、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 太陽工学、 繊維製品、 原子力工学、 航空機と宇宙船の統合、 化学製品、 塗料成分、 熱処理、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 表面処理・メッキ。


Professional Standard - Machinery, 光子 光子の波長

British Standards Institution (BSI), 光子 光子の波長

  • BS EN 61280-1-3:2010 光ファイバー通信サブシステムの試験手順 一般的な通信サブシステム 中心波長とスペクトル幅の測定
  • BS EN IEC 61280-1-3:2021 光ファイバ通信サブシステムの試験手順 一般的な通信サブシステムの中心波長、スペクトル幅、付加スペクトル特性の測定
  • BS EN ISO 7944:1998 光学および光学機器 基準波長
  • PD ISO/TR 16743:2013 光学システムおよび光学コンポーネントの特性を評価するための光学およびフォトニクス波面センサー
  • BS EN ISO 14880-2:2006 光学とフォトニクス。 マイクロレンズアレイ。 波面収差試験方法
  • BS ISO 14594:2003 微小電子ビーム分析、電子検出微量分析、波長分散分光法の実験パラメータ決定のガイド。
  • BS ISO 14594:2014 微小電子ビーム分析、電子検出微量分析、波長分散分光法の実験パラメータ決定のガイド。
  • 20/30421199 DC BS EN IEC 61280-1-3 光ファイバー通信サブシステムの試験手順 パート 1-3 一般的な通信サブシステムの中心波長、スペクトル幅、および追加のスペクトル特性の測定
  • BS EN 62129-1:2016 波長校正・光周波数測定器、スペクトルアナライザ
  • BS EN 62099:2001 光ファイバ波長スイッチの一般仕様
  • BS ISO 10110-14:2008 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびデバイスの図面の準備 波面変形許容差
  • BS ISO 10110-14:2018 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの準備図 波面変形の変動
  • BS ISO 20473:2007 光学とフォトニクス.スペクトルバンド
  • BS EN ISO 14880-2:2007 光学およびフォトニクス 顕微鏡対物レンズシリーズ 波面収差の試験方法
  • BS EN 61280-2-2:2005 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順、デジタル システム、オプティカル アイ ダイアグラム、波形、および消光比の測定
  • BS PD ISO/TR 20811:2017 光学およびフォトニクス レーザーおよびレーザー関連機器 レーザー誘発分子汚染試験
  • PD ISO/TR 20811:2017 光学レーザーおよびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器のレーザー誘起分子汚染試験
  • BS EN ISO 14880-3:2006 光学・フォトニクス 顕微鏡シリーズ 波面収差とは異なる光学特性の検査方法
  • BS EN 62129-2:2011 波長/光周波数測定器の校正 マイケルソン干渉計 単波長計
  • BS ISO 9211-2:2010 光学およびフォトニクス、光学コーティング、光学特性
  • BS EN ISO 15902:2005 光学とフォトニクス、回折光学、語彙
  • BS ISO 9211-1:2010 光学とフォトニクス、光学コーティング、定義
  • BS EN ISO 15902:2020 光学およびフォトニクス回折光学用語集
  • BS ISO 9211-1:2018 光学およびフォトニクス光学コーティング用語集
  • BS ISO 22489:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • BS ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • BS EN 61280-2-2:2012 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順、デジタル システム、光学アイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • BS EN IEC 61280-4-3:2022 光ファイバ通信サブシステムのテスト プログラムがインストールされたパッシブ光ネットワークの減衰と光リターン ロスの測定
  • 23/30425940 DC BS ISO 14594 マイクロビーム分析、電子プローブマイクロ分析、波長分散分光法の実験パラメーターを決定するためのガイド
  • BS PD IEC/TS 62129-3:2014 波長・光周波数測定器の校正 光周波数コムを使用した光周波数計
  • BS ISO 12123:2018 光学およびフォトニクス 光学ガラス原板仕様
  • BS PD ISO/TR 18231:2016 鉄鉱石 波長分散型蛍光X線分析装置 精度の測定
  • PD ISO/TR 18231:2016 鉄鉱石の精密測定波長分散型蛍光X線分析装置
  • BS ISO 11938:2013 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散分光法を使用した元素マッピングの分析方法。
  • BS ISO 9211-3:2008 光学およびフォトニクス、光学コーティング、環境耐久性
  • 20/30377825 DC BS ISO 23364 光学およびフォトニクス用バルク吸収フィルター
  • BS ISO 11938:2012 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分散型分光法を用いた元素マップ解析法
  • BS EN 61280-2-9:2003 光ファイバー通信サブシステムの基本的なテスト手順 デジタル システムのテスト手順 高密度波長分割多重システムの光信号対雑音比の測定
  • BS EN 61280-2-9:2002 光ファイバー通信サブシステムの基本的なテスト手順 デジタル システムのテスト手順 高密度波長分割多重システムの光信号対雑音比の測定
  • BS EN 61280-2-2:2008 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム オプティカル アイ ダイアグラム、波形、および消衰係数の測定
  • BS ISO 25297-1:2012 光学およびエレクトロニクス 光学データの電子交換 NODIF 情報モデル
  • BS EN 60793-1-44:2002 光ファイバー、測定方法と試験手順、カットオフ波長
  • BS EN IEC 60793-1-44:2023 光ファイバーの測定方法と試験手順 カットオフ波長
  • BS EN ISO 14596:2007 波長分散型蛍光X線分析法による石油製品中の硫黄分の定量
  • PD CEN/TR 10377:2023 波長分散型蛍光 X 線分光分析のための標準的なルーチンメソッドの作成のためのガイド
  • BS EN 62788-1-4:2016 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順 封止材料 光透過率の測定と日射加重光子透過率、黄変指数、および UV カットオフ波長の計算
  • 23/30464250 DC BS EN ISO 14880-2 光学およびフォトニクス用マイクロレンズアレイ パート 2: 波面収差試験方法
  • BS EN ISO 14880-1:2019 光学およびフォトニクス マイクロレンズアレイ用語集
  • BS ISO 8036:2006 光学およびフォトニクス、顕微鏡、光学顕微鏡用浸漬液
  • BS EN 13506:2002 水質 原子蛍光分光光度法による水銀の測定
  • BS EN 13506:2002*BS 6068-2.74:2002 水質 原子蛍光分光光度法による水銀の測定
  • BS EN 62788-1-4:2016+A1:2020 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順 封止材の光透過率の測定と太陽光加重光子透過率、黄色度、UV カットオフ波長の計算
  • BS ISO 21501-3:2007 粒度分布測定 単一粒子光干渉法 消滅型液体媒介粒子計数器
  • BS EN ISO 11145:2016 光学とフォトニクス、レーザーとレーザー関連機器、語彙と表記
  • BS EN ISO 11145:2008 光学とフォトニクス、レーザーとレーザー関連機器、語彙と表記
  • BS EN ISO 11145:2018 光学レーザーおよびフォトニクスレーザー、レーザー関連機器の用語と記号
  • BS EN 61202-1:2000 光ファイバ用絶縁体 一般仕様

RU-GOST R, 光子 光子の波長

  • GOST R 50314-1992 光学系、基準波長
  • GOST R ISO 7944-2013 光学および光学機器 基準波長
  • GOST R 59739-2021 光学およびフォトニクス光学コーティングの分類
  • GOST R 53203-2008 石油製品 - 波長散乱蛍光X線分析法による硫黄の定量
  • GOST ISO 14596-2016 石油製品 波長分散型蛍光X線分析法による硫黄分の測定
  • GOST R 59420-2021 光学部品の表面欠陥の光学およびフォトニクスによる視覚的制御
  • GOST R 59734-2021 光学およびフォトニクス金属材料のレーザークラッドプロセスフロー
  • GOST R 59735-2021 光学およびフォトニクス レーザー硬化肉盛材 フラックス入りワイヤの仕様
  • GOST R 59736-2021 金属製品の光学およびフォトニクスレーザーマーキングプロセス

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 光子 光子の波長

Danish Standards Foundation, 光子 光子の波長

  • DS/EN 61280-1-3:2010 光ファイバ通信サブシステムの試験手順 第 1-3 部：ユニバーサル通信サブシステムの中心波長とスペクトル幅の測定
  • DS/EN ISO 7944:1999 光学および光学機器の基準波長
  • DS/EN IEC 61280-1-3:2021 光ファイバ通信サブシステムの試験手順「パート1-3：通信サブシステム全般」 中心波長、スペクトル幅、付加スペクトル特性の測定
  • DS/EN 62099:2001 光ファイバー波長スイッチの一般仕様
  • DS/EN ISO 15902:2005 光学およびフォトニクス回折光学用語集
  • DS/EN ISO 14880-2:2007 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 2: 波面収差の試験方法
  • DS/EN 61280-2-2:2013 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順パート 2-2: デジタル システムのアイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • DS/EN ISO 14880-3:2006 光学およびフォトニクス マイクロレンズアレイ パート 3: 波面収差以外の光学特性の試験方法
  • DS/EN ISO 14596:2007 波長分散型蛍光X線分析法による石油製品中の硫黄分の定量
  • DS/EN ISO 11145:2008 光学およびフォトニクス レーザーおよびレーザー関連機器の用語と記号
  • DS/EN ISO 17852:2008 原子蛍光分析による水質中の水銀の測定
  • DS/EN 62129-2:2011 波長・光周波数測定器の校正 その2：マイケルソン干渉計単波長計
  • DS/EN ISO 13695:2004 光学レーザーおよびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器のレーザースペクトル特性の試験方法
  • DS/EN 62788-1-4:2020 太陽電池モジュールに使用される材料の測定手順「その1-4：封止材料」 光透過率の測定と日射加重光子透過率、黄色度、紫外線カットオフ波長の計算

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 光子 光子の波長

  • EN 61280-1-3:2010 光ファイバ通信サブシステムの試験手順 第 1-3 部：ユニバーサル通信サブシステムの中心波長とスペクトル幅の測定
  • EN IEC 63013:2019/A2:2024 LED パッケージ - 長期的な光束、放射光束、光子束維持予測
  • EN 62099:2001 光ファイバー波長スイッチ 一般仕様 IEC 62099:2001
  • EN 62129-1:2016 波長・光周波数測定器の校正 その1：スペクトルアナライザ
  • EN 61280-2-2:2012 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム オプティカル アイ ダイアグラム、波形、および消光比の測定
  • EN IEC 61280-4-3:2022 光ファイバ通信サブシステムのテスト手順パート 4-3: 設置されたパッシブ光ネットワークの減衰と光リターンロスの測定

ES-UNE, 光子 光子の波長

  • UNE-EN 61280-1-3:2010 光ファイバ通信サブシステムの試験手順 第 1-3 部：ユニバーサル通信サブシステムの中心波長とスペクトル幅の測定
  • UNE-EN IEC 61280-1-3:2021 光ファイバ通信サブシステムの試験手順 第 1-3 部：一般的な通信サブシステムの中心波長、スペクトル幅、追加スペクトル特性の測定
  • UNE-EN 62099:2001 光ファイバー波長スイッチの一般仕様
  • UNE-EN ISO 15902:2020 光学およびフォトニクス回折光学用語集
  • UNE-EN 61280-2-2:2012/AC:2015 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順パート 2-2: デジタル システムのアイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • UNE-EN 61280-2-2:2012 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順パート 2-2: デジタル システムのアイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • UNE-EN 62129-1:2016 波長・光周波数測定器の校正 その1：スペクトルアナライザ
  • UNE-EN 62129-2:2011 波長・光周波数測定器の校正 その2：マイケルソン干渉計単波長計
  • UNE-EN ISO 11145:2018 光学およびフォトニクス レーザーおよびレーザー関連機器の用語と記号
  • UNE-EN IEC 61280-4-3:2022 光ファイバ通信サブシステムのテスト手順パート 4-3: 設置されたパッシブ光ネットワークの減衰と光リターンロスの測定

Association Francaise de Normalisation, 光子 光子の波長

  • NF S10-020*NF EN ISO 7944:1998 光学および光学機器の基準波長
  • NF EN ISO 7944:1998 光学および光学機器 - 基準波長
  • NF C93-807-1-3*NF EN IEC 61280-1-3:2021 光ファイバ通信サブシステムの試験手順 第 1-3 部：一般的な通信サブシステムの中心波長、スペクトル幅、追加スペクトル特性の測定
  • NF C93-807-1-3*NF EN 61280-1-3:2013 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 1-3: 一般的な通信サブシステム 中心波長とスペクトル幅の測定
  • NF EN IEC 61280-1-3:2021 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 1-3: 汎用電気通信サブシステムの中心波長、スペクトル幅、およびスペクトル特性の補足測定
  • NF X21-002:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散分光法の実験パラメータ決定のガイド。
  • NF EN 61280-2-10:2006 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-10: デジタル システムにおけるレーザー送信機の時間分解波長変動とアルファ係数の測定
  • NF C93-807-2-10*NF EN 61280-2-10:2006 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-10: デジタル システム レーザー送信機の時間分解レーザー波長変化とアルファ係数の測定
  • NF T01-032:1976 分子吸光分光光度法、光学管
  • NF X21-003:2006 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分布定量分析ガイド X線分光分析
  • NF C93-918*NF EN 62099:2001 光ファイバ波長スイッチの一般仕様
  • NF EN 62099:2001 光ファイバー波長スイッチ – 一般仕様
  • NF S11-700*NF ISO 20473:2007 光学とフォトニクス.スペクトルバンド
  • NF ISO 20473:2007 光学とフォトニクス - スペクトルバンド
  • NF X21-013*NF ISO 11938:2012 マイクロビーム分析、電子プローブマイクロ分析（EPMA）、波長分散分光法を用いた元素マッピング分析法。
  • NF EN ISO 14880-2:2007 光学およびフォトニクス - マイクロレンズアレイ - パート 2: 波面収差試験方法
  • NF S10-133*NF EN ISO 15902:2020 光学およびフォトニクス回折光学用語集
  • NF EN ISO 15902:2020 光学とフォトニクス - 回折光学 - 語彙
  • NF S10-008-14*NF ISO 10110-14:2018 光学およびフォトニクスにおける光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成パート 14: 波面変形許容値
  • NF ISO 10110-14:2018 光学およびフォトニクス - 光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成 - パート 14: 波面歪み耐性
  • NF S10-008-14:2007 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面の準備 パート 14: 波面変形許容差
  • NF X21-006:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法によるバルクサンプルの定量点分析。
  • NF ISO 12123:2019 光学とフォトニクス。 光学ガラス原料仕様
  • NF C93-846-2*NF EN 62129-2:2011 波長・光周波数測定器の校正 その2：マイケルソン干渉計単波長計
  • NF C93-807-2-9*NF EN 61280-2-9:2009 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順、パート 2-9: デジタル システム、高密度波長分割多重システムの光信号対雑音比の測定
  • NF S10-132-3*NF EN ISO 14880-3:2006 光学およびフォトニクス、マイクロレンズアレイ、パート 3: 波面収差以外の光学特性の試験方法。
  • NF C93-807-2-2*NF EN 61280-2-2:2012 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順パート 2-2: デジタル システムのアイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • NF EN ISO 14880-3:2006 光学およびフォトニクス - マイクロレンズアレイ - パート 3: 波面収差以外の光学特性の試験方法
  • NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 波長・光周波数測定器の校正 その1：スペクトルアナライザ
  • NF ISO 9211-2:2010 光学およびフォトニクス - 光学コーティング - パート 2: 光学特性
  • NF X11-672:1996 粒子サイズ分析相関光量子分光法
  • NF EN ISO 17852:2008 水質水銀投与量原子蛍光分析法
  • NF S10-005-1*NF ISO 9211-1:2018 光学およびフォトニクス光学コーティング パート 1: 用語集
  • NF ISO 9211-1:2018 光学とフォトニクス - 光処理 - パート 1: 語彙
  • NF EN ISO 11145:2018 Optical and Photonic Lasers and Laser Equipment Association の語彙と記号
  • NF M07-080*NF EN ISO 14596:2007 波長分散型蛍光X線分析法による石油製品中の硫黄分の定量
  • XP A06-379*XP CR 10299:1999 波長分散型蛍光 X 線分光分析のための標準的なルーチンメソッドの作成のためのガイド
  • NF M07-080:1998 石油製品 硫黄分の測定 波長分散型蛍光X線分析装置
  • NF EN ISO 14597:1999 石油製品 - バナジウムとニッケルの量 - 波長分散型蛍光 X 線分析。
  • NF EN ISO 14596:2007 波長分散型蛍光X線分析法による石油製品中の硫黄分の定量
  • NF C93-807-2-2:2005 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム オプティカル アイ ダイアグラムの波形と消光比の測定
  • NF EN 61280-2-2:2012 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システムの光学アイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • T01-040:1982 分析分光法 火炎放射、原子吸光、および原子蛍光の用語集
  • NF S10-105:2006 光学とフォトニクス、レーザーとレーザー関連機器、語彙と表記
  • NF S10-105:2008 光学とフォトニクス、レーザーとレーザー関連機器、語彙と表記
  • NF S10-008-8:2010 光学とフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成 パート 8: 表面テクスチャ 粗さとうねり
  • NF C93-807-2-2:2008 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム フォトアイ パターン、波形、および消衰係数の測定
  • NF EN IEC 61280-4-3:2022 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 4-3: パッシブ光ネットワークにおける設置損失と光リターンロスの測定
  • NF T90-139*NF EN ISO 17852:2008 原子蛍光分光光度法による水中の水銀含有量の測定

International Organization for Standardization (ISO), 光子 光子の波長

  • ISO/CD 7944 光学および光学機器の基準波長
  • ISO 7944:1998 光学および光学機器の基準波長
  • ISO/DIS 7944:2023 光学および光学機器 - 基準波長
  • ISO 7944:1984 光学および光学機器 基準波長
  • ISO 17470:2004 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。
  • ISO/TR 16743:2013 光学とフォトニクス: 波面センサーを使用した光学システムと光学コンポーネントの特性評価
  • ISO 14594:2003 微小電子ビーム分析、電子検出微量分析、波長分散分光法の実験パラメータ決定のガイド。
  • ISO 14594:2014 微小電子ビーム分析、電子検出微量分析、波長分散分光法の実験パラメータ決定のガイド。
  • ISO/FDIS 6760-1:2024 光学とフォトニクス
  • ISO/CD 19741:2023 光学とフォトニクス
  • ISO/PRF 10109:2024 光学とフォトニクス
  • ISO 9211-1:2024 光学とフォトニクス
  • ISO 9211-3:2024 光学とフォトニクス
  • ISO 9211-2:2024 光学とフォトニクス
  • ISO 20473:2007 光学とフォトニクス.スペクトルバンド
  • ISO 9022-11:2015 光学とフォトニクス、環境試験方法、パート 11: カビの発生
  • ISO 14594:2003/Cor 1:2009 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散分光法による実験パラメータ決定ガイド、技術訂正事項 1
  • ISO/DIS 14594 マイクロビーム分析「電子プローブ微量分析」 波長分散分光法 実験パラメータ決定ガイド
  • ISO 21094:2008 光学とフォトニクス、フォトニクス システム、暗視装置の仕様
  • ISO/TR 20811:2017 光学およびフォトニクス レーザーおよびレーザー関連機器 レーザー誘発分子汚染のテスト
  • ISO 7944:1998/Cor 1:2009 光学および光学機器、基準波長、技術訂正事項 1
  • ISO 22489:2006 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
  • ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
  • ISO 15902:2004 光学とフォトニクス、回折光学、語彙
  • ISO 15902:2019 光学とフォトニクス - 回折光学 - 語彙
  • ISO 23364:2021 光学とフォトニクス、体積吸収フィルター
  • ISO 14880-2:2006 光学とフォトニクス 顕微鏡対物レンズシリーズ 第 2 部: 波面収差の試験方法
  • ISO/DIS 14880-2 光学およびフォトニクス「マイクロレンズアレイ」パート 2: 波面収差の試験方法
  • ISO/TR 18231:2016 鉄鉱石 波長分散型蛍光X線分析装置 精度測定
  • ISO 10110-14:2007 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面の準備 パート 14: 波面変形許容差
  • ISO 10110-14:2018 光学とフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面の準備 パート 14: 波面変形許容差
  • ISO 11938:2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散分光法を使用した元素マッピングの分析方法。
  • ISO 13321:1996 粒子サイズ分析相関光子分光法
  • ISO 12123:2018 光学とフォトニクス - オリジナル光学ガラスの仕様
  • ISO 9211-2:2010 光学およびオプトエレクトロニクス、光学コーティング、パート 2: 光学特性
  • ISO 11145:2006 光学とフォトニクス、レーザーとレーザー装置、語彙と表記法
  • ISO 11145:2016 光学とフォトニクス、レーザーとレーザー装置、語彙と表記法
  • ISO/DIS 9211-2 光学およびフォトニクス「光学コーティング」パート 2: 光学特性
  • ISO 14880-3:2006 光学とフォトニクス 顕微鏡対物レンズシリーズ 第 3 部：波面収差以外の光学特性の試験方法
  • ISO/DIS 14880-3 光学およびフォトニクス「マイクロレンズアレイ」第 3 部: 波面収差以外の光学特性の試験方法
  • ISO 17852:2006 水質、水銀測定、原子蛍光分析
  • ISO 8036:2006 光学およびフォトニクス、顕微鏡、光学顕微鏡用液浸液
  • ISO/DIS 9211-1 光学およびフォトニクス「光学コーティング」パート 1: 語彙
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  • GB/T 17593-1998 繊維重金属イオン検出法 原子吸光光度法
  • GB/T 32266-2015 原子蛍光分析装置の性能測定方法
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  • GB/T 11446.5-1997 電子グレード水中の微量金属の原子吸光分光光度試験法
  • GB/T 11446.5-2013 電子グレード水中の微量金属の原子吸光分光光度試験法
  • GB/T 9771.6-2008 通信用シングルモード光ファイバ 第6部：広い波長範囲にわたる光伝送用非零分散シングルモード光ファイバの特性
  • GB/T 26332.8-2022 光学およびフォトニクス光学フィルム パート 8: レーザー光学フィルムの基本要件

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  • KS D ISO 14594:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散分光実験パラメータ決定ガイド
  • KS B ISO 21094:2011 光学とフォトニクス、フォトニクス システム、暗視装置の仕様
  • KS D ISO 22489:2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
  • KS B ISO 15902:2013 光学とフォトニクス、回折光学、語彙
  • KS B ISO 15902:2008 光学とフォトニクス、回折光学、語彙
  • KS B ISO 15902:2018 光学とフォトニクス - 回折光学 - 語彙
  • KS B ISO 10110-14-2010(2020) 光学およびフォトニクス用の光学部品およびシステムの図面の作成 パート 14: 波面変形許容差
  • KS B ISO 14880-2:2013 光学とフォトニクス 顕微鏡対物レンズシリーズ 第 2 部: 波面収差の試験方法
  • KS B ISO 14880-2:2008 光学とフォトニクス 顕微鏡対物レンズシリーズ 第 2 部: 波面収差の試験方法
  • KS B ISO 14880-2:2018 光学およびフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 2: 波面収差の試験方法
  • KS M ISO 6955:2011 分光法、火炎発光法、原子吸光法、原子蛍光法。
  • KS M ISO 14596:2009 石油製品 硫黄分の測定 波長分散型蛍光X線分析装置
  • KS B ISO 11145:2001 光学とフォトニクス、レーザーとレーザー装置、語彙と表記法
  • KS B ISO 11145:2015 光学とフォトニクス、レーザーとレーザー装置、語彙と表記法
  • KS C IEC 61280-2-2:2022 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム オプティカル アイ ダイアグラム、波形、および消光比の測定
  • KS I ISO 17852:2011 水質、水銀測定、原子蛍光分析
  • KS C 7619-1979(2017) ミラー測光、プロジェクタースポットライト
  • KS M ISO 6955-2016(2021) 分析分光法 火炎放射、原子吸光、原子蛍光の語彙
  • KS M ISO 6955:2016 分析分光法 火炎放射、原子吸光、原子蛍光の語彙
  • KS B 8400-1-2010 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザー変位測定干渉計の試験方法 第 1 部: 安定した連続波レーザー波長の試験方法
  • KS B 8400-1-2015 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザー変位測定干渉計の試験方法 第 1 部: 安定した連続波レーザー波長の試験方法
  • KS C 7631-1998(2020) 蛍光灯電子スターター
  • KS M ISO 14596-2009(2019) 波長分散型蛍光X線分析法による石油製品中の硫黄分の定量
  • KS I ISO 17852-2011(2021) 水質、水銀の測定、原子蛍光分析
  • KS C IEC 61280-2-2-2007(2017) 光ファイバー通信サブシステムの基本的なテスト手順 パート 2-2: デジタル システムのオプティカル アイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • KS C 7631-1998 蛍光灯電子スターター

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  • JIS C 61280-1-3:2010 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 中心波長とスペクトル幅の測定
  • JIS K 0190:2010 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。
  • JIS C 6187-2:2014 光波長計 パート 2: 校正
  • JIS C 6187:1999 光波長計の試験方法
  • JIS C 61280-2-9:2010 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 高密度に波長を区別した多層システムの光信号対雑音比の測定
  • JIS B 7079:2015 光学とフォトニクス、スペクトルバンド
  • JIS C 61280-1-3:2017 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 1-3: 中心波長とスペクトル幅の測定
  • JIS C 6187-1:2016 光波長計 第 1 部: 試験方法
  • JIS C 61280-2-2:2010 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: 光学アイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • JIS C 61280-2-2:2017 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: 光学アイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • JIS K 0189:2013 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法の実験パラメータの決定。
  • JIS K 0116:1995 原子発光分光光度法の一般規則
  • JIS B 7080-2:2015 光学とフォトニクス、光学コーティング、パート 2: 光学特性
  • JIS G 1258:1999 鋼、誘導結合プラズマを用いた原子発光分光分析
  • JIS B 7080-1:2015 光学とフォトニクス、光学コーティング、パート 1: 定義

German Institute for Standardization, 光子 光子の波長

未注明发布机构, 光子 光子の波長

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  • BS EN 61280-2-2:2012(2015) 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順パート 2-2: デジタル システム - オプティカル アイ ダイアグラム、波形、および消光比の測定

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  • IEC 61280-1-3:2021 RLV 光ファイバ通信サブシステムの試験手順 第 1-3 部：一般的な通信サブシステムの中心波長、スペクトル幅、追加スペクトル特性の測定
  • IEC 63013:2017+AMD1:2021+AMD2:2023 CSV LEDパッケージの長期的な発光、放射、光子束の維持
  • IEC 63013:2017/AMD2:2023 修正 2 LED パッケージの長期発光、放射、および光子束の維持
  • IEC 61280-1-3:2010 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 1-3: 一般的な通信サブシステム 中心波長とスペクトル幅の測定
  • IEC 61280-1-3:1998 光ファイバー通信サブシステムの基本的なテスト手順 パート 1-3: 一般的な通信サブシステムのテスト手順 中心波長とスペクトル幅の測定
  • IEC 61280-2-9:2002 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-9: 高密度波長弁別多層システムの光信号対雑音比測定のためのデジタル システム
  • IEC 61280-2-9:2009 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-9: デジタル システム 密な波長の識別 多層システムの光信号対雑音比の測定
  • IEC 61280-2-2:2008 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム 光学アイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • IEC 61280-2-2:2005 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム 光学アイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • IEC 61280-2-2:2012 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム 光学アイ ダイアグラム、波形、消光比の測定

IX-IX-IEC, 光子 光子の波長

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  • ASTM E388-72(1998) 蛍光分光計のスペクトル帯域幅と波長精度を決定するための標準的な方法
  • ASTM E388-04(2023) 蛍光分光計の波長精度とスペクトル帯域幅の標準試験方法
  • ASTM E388-04 スペクトル帯域幅蛍光分光計の波長精度の標準試験方法
  • ASTM E388-04(2015) 蛍光分光計の波長精度とスペクトル帯域幅の標準試験方法
  • ASTM E1621-13 波長分散型蛍光X線分析法による元素分析のスタンダードガイド
  • ASTM G178-16 ロングパスフィルターまたは分光技術を使用した材料活性化スペクトル (露光源波長に対する感度) の測定の標準的な手法
  • ASTM E1172-87(2003) 波長拡散型X線分析装置の説明と仕様

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  • T/NAIA 091-2021 マイクロ波分解原子蛍光分光法による軽油中の水銀の測定
  • T/CSTM 00197-2021 分子蛍光分光法によるグラフェン量子ドットの青色発光相対蛍光量子収率の測定
  • T/NAIA 0223-2023 マイクロ波分解原子蛍光測光法による工業用硫黄中の水銀含有量の測定
  • T/ZNZ 183-2023 ジャガイモアミロースとアミロペクチンの二波長分光光度法の測定
  • T/CHEAA 0020-2021 家庭用フォトン美容器
  • T/ZZB 042-2015 拡張された波長範囲を備えた非分散シフトシングルモードファイバ
  • T/CVIA 86-2021 レーザーディスプレイ用波長変換デバイスの技術仕様
  • T/CASAS 026-2023 炭化珪素の少数キャリア寿命測定のためのマイクロ波光伝導減衰法
  • T/QAS 062-2021 原子蛍光分析による塩水中のセレンの定量
  • T/QAS 061-2021 原子蛍光分析による塩水中の水銀の測定
  • T/CSBM 0012-2021 波長分散型蛍光X線分析法を用いた生体医用材料中の元素の定量
  • T/ZZB 1373-2019 7N光電子グレードの超高純度アンモニア

Professional Standard - Agriculture, 光子 光子の波長

AT-OVE/ON, 光子 光子の波長

  • OVE EN IEC 61280-1-3:2021 光ファイバ通信サブシステムの試験手順 パート 1-3: 一般的な通信サブシステムの中心波長、スペクトル幅および追加スペクトル特性の測定 (IEC 86C/1701/CDV)

GOSTR, 光子 光子の波長

  • GOST R 58568-2019 光学とフォトニクス フォトニクスの用語と定義
  • GOST R 58566-2019 光学およびフォトニクス光学および電子システムのレンズ試験方法
  • GOST R 59088-2020 光学およびフォトニクスファイバーセンサーの分類
  • GOST R 58565-2019 光学およびフォトニクス回折光学の用語と定義
  • GOST R 58373-2019 光学およびフォトニクス レーザーおよびレーザー関連機器の用語と定義

Lithuanian Standards Office , 光子 光子の波長

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  • LST EN ISO 7944:2000/AC:2009 光学および光学機器の基準波長 (ISO 7944:1998/Cor 1:2009)
  • LST EN 62099-2002 光ファイバー波長スイッチの一般仕様 (IEC 62099:2001)
  • LST EN ISO 14880-2:2007 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 2: 波面収差の試験方法 (ISO 14880-2:2006)

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  • UNE-EN ISO 7944:1999 光学および光学機器の基準波長 (ISO 7944:1998)
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  • UNE-EN ISO 14880-2:2007 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 2: 波面収差の試験方法 (ISO 14880-2:2006)

European Committee for Standardization (CEN), 光子 光子の波長

  • EN ISO 7944:1998 光学および光学機器 基準波長 ISO 7944-1998
  • EN ISO 7944:1998/AC:2009 光学および光学機器、修正を含む基準波長 AC、2009
  • EN ISO 15902:2020 光学とフォトニクス、回折光学、語彙
  • EN ISO 14880-2:2006 光学とフォトニクス 顕微鏡対物レンズシリーズ 第 2 部: 波面収差の試験方法
  • EN ISO 11145:1994 光学とフォトニクス、レーザーとレーザー装置、語彙と表記法
  • EN ISO 11145:2001 光学とフォトニクス、レーザーとレーザー装置、語彙と表記法
  • EN ISO 11145:2008 光学とフォトニクス、レーザーとレーザー装置、語彙と表記法
  • EN ISO 14596:2007 石油製品 硫黄分の測定 波長分散型蛍光X線分析装置
  • CEN/TR 10377:2023 波長分散型蛍光 X 線分光分析のための標準的なルーチンメソッドの作成のためのガイド
  • EN 61280-2-2:2005 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2 デジタル システムの光学アイ ダイアグラム、波形、消光比の測定
  • prEN ISO 14880-2 光学およびフォトニクス マイクロレンズ アレイ パート 2: 波面収差の試験方法 (ISO/DIS 14880:2023)

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 光子 光子の波長

  • EN 61280-1-3:1999 光ファイバ通信サブシステムの基本的な試験手順 第1-3部：一般的な通信サブシステムの中心波長およびスペクトル幅測定の試験手順
  • EN 61280-2-2:2008 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム オプティカル アイ ダイアグラム、波形、および消光比の測定
  • EN 61280-2-2:1999 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム オプティカル アイ ダイアグラム、波形、および消光比の測定
  • EN 62129-2:2011 波長・光周波数測定器の校正 その2：マイケルソン干渉計単波長計

Professional Standard - Education, 光子 光子の波長

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 光子 光子の波長

Professional Standard - Commodity Inspection, 光子 光子の波長

  • SN/T 2638.5-2013 マイクロ波分解原子蛍光分析によるマンガン鉱石中のヒ素および水銀元素の定量
  • SN/T 3004-2011 鉄鉱石中の水銀含有量の測定。 マイクロ波分解-冷原子吸光分光光度法
  • SN/T 2765.3-2013 マイクロ波分解原子蛍光分光法を使用した鉄鉱石中のヒ素と水銀含有量の同時測定
  • SN/T 2780-2011 波長分散型蛍光X線分析法によるアルミナ中の鉛、カドミウム、クロムの定量
  • SN/T 2004.1-2005 電気・電子製品中の水銀の測定 パート 1: 原子蛍光分析

Professional Standard - Military and Civilian Products, 光子 光子の波長

  • WJ 2278-1995 分光光度計の波長校正に使用する干渉フィルターの校正手順

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 光子 光子の波長

KR-KS, 光子 光子の波長

  • KS C IEC 61280-1-3-2003(2023) 光通信サブシステムの基本的な試験手順 - 第 1-3 部：一般的な通信サブシステムの試験手順 - 中心波長とスペクトル幅の測定
  • KS D ISO 14594-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散分光実験パラメータ決定ガイド
  • KS D ISO 14594-2018(2023) マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散分光法による実験パラメータ決定のためのガイド。
  • KS B ISO 15902-2018 光学とフォトニクス - 回折光学 - 語彙
  • KS B ISO 15902-2023 光学およびフォトニクス回折光学用語集
  • KS B ISO 14880-2-2018 光学およびフォトニクス - マイクロレンズ アレイ - パート 2: 波面収差の試験方法
  • KS B ISO 14880-2-2023 光学とフォトニクス、マイクロレンズアレイ、パート 2: 波面収差の試験方法
  • KS B ISO 12123-2023 光学・フォトニクス用光学ガラス原料規格
  • KS C IEC 61280-2-2-2022 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム オプティカル アイ ダイアグラム、波形、および消光比の測定
  • KS M ISO 6955-2016 分析分光法 火炎放射、原子吸光、原子蛍光の語彙
  • KS M ISO 14597-2003(2023) 石油製品-バナジウム、ニッケル含有量の測定-波長分散型蛍光X線分析装置

Standard Association of Australia （SAA）, 光子 光子の波長

  • AS 2563:1996 波長分散型蛍光X線分析装置。 精度測定
  • AS 4392.1:1996 重い鉱物の砂。 波長分散型蛍光X線分析。 チタン鉱石
  • AS 2563:2019 鉄鉱石の精密測定波長分散型蛍光X線分析装置
  • AS 4549.1:1999 粒子サイズ分析。 光子相関分光法
  • AS 4392.2:1997 重い鉱物の砂。 波長分散型蛍光X線分析。 石材
  • AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999 重鉱砂の波長分散型蛍光X線分析によるチタン含有鉱石の分析
  • AS 4392.1:1996/Amdt 1:1996 重鉱砂の波長分散型蛍光X線分析によるチタン含有鉱石の分析
  • AS 2879.7:1997(R2013) 波長分散型蛍光X線分析法による酸化アルミニウム中の微量元素の定量

IETF - Internet Engineering Task Force, 光子 光子の波長

  • RFC 7446-2015 波長交換光ネットワークのルーティングおよび波長割り当て情報モデル
  • RFC 7581-2015 波長交換光ネットワークのルーティングおよび波長割り当て情報のエンコード
  • RFC 7689-2015 波長スイッチ光ネットワーク用のシグナリング拡張

International Telecommunication Union (ITU), 光子 光子の波長

  • ITU-T L.37-2007 光ファイバー（非波長選択）スプリッター
  • ITU-T L.403-2007 光分岐コンポーネント (非波長選択性)
  • ITU-T G.654-2006 カットオフ波長シフトシングルモード光ファイバケーブル15グループの特性検討
  • ITU-T L.301-2000 信号を伝送するファイバーのメンテナンス波長
  • ITU-T G.694.2 RUSSIAN-2003 WDM アプリケーションのスペクトル グリッド: CWDM 波長グリッド
  • ITU-T G.9802 AMD 1-2015 多波長パッシブ光ネットワーク (MW-PON) 修正 1
  • ITU-T G.654 (REV 1)-1993 波長1550mmにおける損失最小のシングルモード光ファイバケーブルの特性（検討15グループ） 6pp

Liaoning Provincial Standard of the People's Republic of China, 光子 光子の波長

  • DB21/T 3245-2020 太陽熱温室におけるナスの長期栽培に係る技術基準

HU-MSZT, 光子 光子の波長

工业和信息化部, 光子 光子の波長

  • YD/T 3128-2016 通信用波長検出に基づくファイバーブラッググレーティング
  • YD/T 4113-2022 波長交換光ネットワーク (WSON) のテスト方法
  • YD/T 3348-2018 カットオフ波長シフトシングルモードファイバ特性
  • YD/T 4022-2022 100Gb/s単一波長光トランシーバモジュール
  • YD/T 3598-2019 波長交換光ネットワーク (WSON) の技術要件
  • YS/T 483-2022 銅及び銅合金の分析方法 蛍光X線分析法（波長分散型）

Professional Standard - Electron, 光子 光子の波長

  • SJ 20642.7-2000 半導体光電子デバイス GR1325J タイプ長波長発光ダイオードアセンブリの詳細仕様
  • SJ 2355.7-1983 半導体発光素子の試験方法 発光ピーク波長およびスペクトル半値幅の試験方法

ZA-SANS, 光子 光子の波長

  • SANS 62099:2002 ファイバー波長選択スイッチ。 一般的なサイズ
  • SANS 61280-2-2:2009 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム オプティカル アイ ダイアグラム、波形、および消光比の測定
  • SANS 61280-2-2:2006 光ファイバー通信サブシステムのテスト手順 パート 2-2: デジタル システム オプティカル アイ ダイアグラム、波形、および消光比の測定

TIA - Telecommunications Industry Association, 光子 光子の波長

  • EIA/TIA-455-170-1989 FOTP-170 シングルモードファイバのケーブルカットオフ波長（送信電力による）

国家质量监督检验检疫总局, 光子 光子の波長

  • SN/T 4658-2016 マイクロ波分解原子蛍光分光法を使用した蛍石中のヒ素と水銀含有量の同時測定

PL-PKN, 光子 光子の波長

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