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透過二次回折
透過二次回折は全部で 75 項標準に関連している。
透過二次回折 国際標準分類において、これらの分類:光学機器、 光学および光学測定、 分析化学、 化学製品、 塗料成分、 半導体材料、 原子力工学、 無機化学、 音響および音響測定、 有機化学、 空気の質、 ゴムやプラスチックの原料、 テレビ放送とラジオ放送、 非破壊検査、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 無線通信、 燃料、 医療機器、 交通機関、 振動・衝撃(人関係)。
Professional Standard - Agriculture, 透過二次回折
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 透過二次回折
工业和信息化部, 透過二次回折
Professional Standard - Nuclear Industry, 透過二次回折
International Organization for Standardization (ISO), 透過二次回折
British Standards Institution (BSI), 透過二次回折
- BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
- BS ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
- BS EN ISO 13833:2013 固定発生源の排出 バイオマス(生命に必要)と化石由来の二酸化炭素の比率の測定 放射性炭素のサンプリングと測定
- BS ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
- BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深さプロファイリング 単層膜および多層膜の X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析の深さプロファイリング X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、単イオンおよび二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
Association Francaise de Normalisation, 透過二次回折
Professional Standard - Chemical Industry, 透過二次回折
IX-IX-IEC, 透過二次回折
American Society for Testing and Materials (ASTM), 透過二次回折
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 透過二次回折
Professional Standard - Petrochemical Industry, 透過二次回折
RU-GOST R, 透過二次回折
International Telecommunication Union (ITU), 透過二次回折
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 透過二次回折
KR-KS, 透過二次回折
国家广播电影电视总局, 透過二次回折
ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, 透過二次回折
European Committee for Standardization (CEN), 透過二次回折
German Institute for Standardization, 透過二次回折
Canadian Standards Association (CSA), 透過二次回折
AT-ON, 透過二次回折
Professional Standard - Construction Industry, 透過二次回折
Danish Standards Foundation, 透過二次回折