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光線散乱

光線散乱は全部で 24 項標準に関連している。

光線散乱 国際標準分類において、これらの分類：粒度分析、スクリーニング、 長さと角度の測定、 語彙、 分析化学、 表面処理・メッキ、 原子力工学。

British Standards Institution (BSI), 光線散乱

• BS ISO 17867:2015 粒子径分析、小角X線散乱
• BS ISO 17867:2020 粒子径分析 小角 X 線散乱 (SAXS)
• DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線散乱
• BS DD ISO/TS 13762:2002 粒子径分析 小角X線散乱法
• BS ISO 23484:2023 小角X線散乱(SAXS)による粒子濃度の測定
• 22/30441138 DC BS ISO 23484 小角 X 線散乱 (SAXS) による粒子濃度の測定
• BS ISO 20804:2022 小角X線散乱(SAXS)による多孔質系および粒子系の比表面積の決定
• 21/30372607 DC BS ISO 20804 小角 X 線散乱 (SAXS) による多孔質および粒子システムの比表面積の決定
• BS EN ISO 3543:2001 金属および非金属コーティングの厚さ測定ベータ線後方散乱法

International Organization for Standardization (ISO), 光線散乱

• ISO 17867:2015 粒子径分析、小角X線散乱
• ISO 17867:2020 粒子径分析、小角X線散乱(SAXS)
• ISO/FDIS 23484 小角X線散乱(SAXS)による粒子濃度の測定
• ISO 23484:2023 小角X線散乱(SAXS)による粒子濃度の測定
• ISO 20804:2022 小角X線散乱(SAXS)による多孔質系および粒子系の比表面積の決定
• ISO 3543:2000 金属および非金属コーティングの厚さ測定のためのベータ線後方散乱法

Group Standards of the People's Republic of China, 光線散乱

• T/CSCM 05-2020 小角X線散乱による繊維内の細孔分布の測定

German Institute for Standardization, 光線散乱

• DIN 51418-1:2008 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (XRF) パート 1: 定義と基本原理
• DIN 51418-1:1996 X 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) パート 1: 定義と基本原理
• DIN 51418-2:2015 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
• DIN 51418-2:1996 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
• DIN 51418-2 Bb.1:2000 線測光、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (XRF)、パート 2: 測定、校正、結果の評価の定義と基本原理、追加情報と計算例

RU-GOST R, 光線散乱

• GOST R 8.698-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度 ナノ粒子および膜の空間パラメータ 小角X線散乱回折装置を用いた測定方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 光線散乱

• GB/T 25451-2010 重水炉原子力発電所における燃料要素の膜厚測定のためのベータ線後方散乱法
• GB/T 20018-2005 金属・非金属皮膜の膜厚測定 β線後方散乱法

その他：   X線散乱, 後方散乱光線, 散乱X線装置, 散乱+X線+装置, X線散乱, X線小角散乱, X線散乱装置, 小角X線散乱, 光線散乱装置, 光線散乱技術, 角光線散乱, 光線散乱, 線散乱スペクトル, 小角光線散乱, 光線散乱装置, 光線散乱, X線散乱, 散乱線, X線散乱, 光線散乱の原理.