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SEM電子顕微鏡走査

SEM電子顕微鏡走査は全部で 122 項標準に関連している。

SEM電子顕微鏡走査 国際標準分類において、これらの分類：空気の質、光学機器、光学および光学測定、分析化学、語彙、教育する、長さと角度の測定、犯罪予防、熱力学と温度測定、電子表示装置、表面処理・メッキ、建材。

RU-GOST R, SEM電子顕微鏡走査

GOST ISO 16000-27-2017 室内空気その27 SEM（走査型電子顕微鏡）による表面に付着した繊維粉塵の定量（直接法）
GOST R 8.594-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム走査型電子顕微鏡
GOST R 8.636-2007 国家測定均一性保証制度走査型電子顕微鏡校正方法
GOST 8.594-2009 国家測定均一性保証制度走査型電子顕微鏡識別方法

Association Francaise de Normalisation, SEM電子顕微鏡走査

NF ISO 16000-27:2014 室内空気 - パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面堆積繊維状粉塵の測定 (直接法)
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面繊維脱落の測定 (直接法)
NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法
NF A91-108:1995 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
NF EN ISO 9220:2022 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
NF X21-010:2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
NF T25-111-4:1991 炭素繊維 - テクスチャーと構造 - パート 4: 走査型電子顕微鏡によるフラクトグラフィー

German Institute for Standardization, SEM電子顕微鏡走査

DIN ISO 16000-27:2014-11 室内空気その27：表面に付着した繊維状粉塵のSEM（走査型電子顕微鏡）による測定（直接法）
DIN ISO 16000-27:2014 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面繊維脱落の測定 (直接法) (ISO 16000-27-2014)
DIN EN ISO 9220:2022-05 金属皮膜 - 皮膜厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡
DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法
DIN EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

International Organization for Standardization (ISO), SEM電子顕微鏡走査

ISO 16000-27:2014 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面降下繊維粉塵の測定 (直接法)
ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。
ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
ISO 9220:2022 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
ISO 9220:1988 金属皮膜膜厚測定走査型電子顕微鏡
ISO 22493:2014 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法
ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
ISO 19749:2021 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定

British Standards Institution (BSI), SEM電子顕微鏡走査

12/30228339 DC BS ISO 16000-27 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面沈降繊維状粉塵の測定 (直接法)
18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
18/30344520 DC BS ISO 21466 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡 CD-SEM 限界寸法の評価方法
BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
BS EN ISO 9220:1989 金属皮膜皮膜厚さ測定走査型電子顕微鏡法
BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
BS EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定
BS ISO 22493:2014 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属コーティングのコーティング厚さの測定走査型電子顕微鏡
BS ISO 19749:2021 ナノテクノロジーでは走査型電子顕微鏡を使用して粒子サイズと形状分布を測定します

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM電子顕微鏡走査

JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理
JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, SEM電子顕微鏡走査

JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様

Professional Standard - Machinery, SEM電子顕微鏡走査

JB/T 6842-1993 走査型電子顕微鏡検査方法
JB/T 5384-1991 走査型電子顕微鏡。技術的条件

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, SEM電子顕微鏡走査

JJG(教委) 11-1992 走査型電子顕微鏡の校正手順
JJG 550-1988 走査型電子顕微鏡のパイロット校正手順

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, SEM電子顕微鏡走査

GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM電子顕微鏡走査

KS D ISO 22493-2012(2017) マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡用語集
KS D ISO 22493:2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
KS I 0051-1999(2019) 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS M 0044-1999 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS D ISO 22493:2012 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語
KS I 0051-1999 走査型電子顕微鏡検査法の一般原則
KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
KS D ISO 16700-2013(2018) マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像倍率校正ガイド
KS D ISO 9220:2009 金属被覆、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡観察
KS D ISO 9220-2009(2022) 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
KS D ISO 9220-2009(2017) 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定

KR-KS, SEM電子顕微鏡走査

KS D ISO 22493-2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
KS D ISO 16700-2023 マイクロビーム分析用走査型電子顕微鏡画像倍率校正ガイド
KS C ISO 19749-2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定

Professional Standard - Education, SEM電子顕微鏡走査

JY/T 0584-2020 走査型電子顕微鏡分析法の一般原則
JY/T 010-1996 分析走査型電子顕微鏡法の一般原理

American Society for Testing and Materials (ASTM), SEM電子顕微鏡走査

ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
ASTM E2382-04(2020) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナおよびチップ関連のアーティファクトに関する標準ガイド
ASTM E2382-04 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムのガイド
ASTM F1372-93(1999) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
ASTM F1372-93(2020) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
ASTM E2382-04(2012) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムの標準ガイド
ASTM E986-97 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E986-04(2017) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
ASTM E986-04 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E986-04(2010) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E280-98(2004)e1 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E2809-22 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM F1372-93(2012) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
ASTM F1372-93(2005) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E766-98(2008)e1 走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様
ASTM C1723-16(2022) 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM C1723-10 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM C1723-16 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM E766-14(2019) 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
ASTM E3309-21 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析法 (SEM/EDS) による法医学準備済み銃撃残渣 (pGSR) 分析の報告に関する標準ガイド
ASTM E766-14e1 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法

Professional Standard - Petroleum, SEM電子顕微鏡走査

SY/T 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
SY/T 5162-1997 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
SY 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM電子顕微鏡走査

DB31/T 297-2003 走査型電子顕微鏡の倍率校正方法

国家能源局, SEM電子顕微鏡走査

SY/T 5162-2021 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

Group Standards of the People's Republic of China, SEM電子顕微鏡走査

T/SPSTS 032-2023 走査型電気化学顕微鏡の一般仕様
T/QGCML 1940-2023 走査電子顕微鏡その場高温機械試験装置
T/SPSTS 030-2023 走査型電子顕微鏡を使用したグラフェン材料のシートサイズ測定

Professional Standard - Commodity Inspection, SEM電子顕微鏡走査

SN/T 4388-2015 革の識別走査型電子顕微鏡および光学顕微鏡

Professional Standard - Judicatory, SEM電子顕微鏡走査

SF/T 0139-2023 土壌検査走査型電子顕微鏡・X線エネルギー分析

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM電子顕微鏡走査

DB32/T 3459-2018 グラフェンフィルムの微小領域の被覆率をテストするための走査型電子顕微鏡法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM電子顕微鏡走査

GB/T 18295-2001 石油およびガス貯留層からの砂岩サンプルの走査型電子顕微鏡による分析方法
GB/T 23414-2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語
GB/T 19267.6-2003 犯罪手法における微量証拠の物理的および化学的検査パート 6; 走査電子顕微鏡法

SE-SIS, SEM電子顕微鏡走査

SIS SS-ISO 9220:1989 金属コーティング。膜厚測定。走査型電子顕微鏡法
SIS SS CECC 00013-1985 基本仕様。半導体チップの走査型電子顕微鏡観察

European Committee for Standardization (CEN), SEM電子顕微鏡走査

EN ISO 9220:2022 金属被覆、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡観察
EN ISO 9220:1994 金属被覆コーティング厚さ測定走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220-1988)
EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
prEN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

Danish Standards Foundation, SEM電子顕微鏡走査

DS/EN ISO 9220:1995 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
DS/ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します

ES-UNE, SEM電子顕微鏡走査

UNE-EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定方法

Professional Standard - Public Safety Standards, SEM電子顕微鏡走査

GA/T 1939-2021 法医学現在点検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1938-2021 法医学金属検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1937-2021 法医学ゴム検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析

AENOR, SEM電子顕微鏡走査

UNE-EN ISO 9220:1996 走査型電子顕微鏡による金属コーティングのコーティング厚さの測定 (ISO 9220:1988)

Lithuanian Standards Office , SEM電子顕微鏡走査

LST EN ISO 9220:2001 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)

AT-ON, SEM電子顕微鏡走査

OENORM EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)