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SEM走査型電子顕微鏡分析法

SEM走査型電子顕微鏡分析法は全部で 74 項標準に関連している。

SEM走査型電子顕微鏡分析法 国際標準分類において、これらの分類：長さと角度の測定、 光学機器、 分析化学、 教育する、 語彙、 空気の質、 鉄鋼製品、 光学および光学測定、 犯罪予防。


American Society for Testing and Materials (ASTM), SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • ASTM F1372-93(2012) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
  • ASTM F1372-93(2005) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
  • ASTM F1372-93(1999) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
  • ASTM F1372-93(2020) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
  • ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
  • ASTM E3309-21 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析法 (SEM/EDS) による法医学準備済み銃撃残渣 (pGSR) 分析の報告に関する標準ガイド
  • ASTM E280-98(2004)e1 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E2809-22 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E2142-08 走査型電子顕微鏡を使用した鉄中の介在物を等級分けおよび分類するための標準的な試験方法
  • ASTM E2142-08(2015) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
  • ASTM E2142-08(2023) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法

International Organization for Standardization (ISO), SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。
  • ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
  • ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
  • ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法
  • ISO 16000-27:2014 室内空気 パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面降下繊維粉塵の測定 (直接法)
  • ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド

British Standards Institution (BSI), SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 CD-SEM 限界寸法の評価方法
  • BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析 走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
  • BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
  • BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
  • 12/30228339 DC BS ISO 16000-27 室内空気 パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面沈降繊維状粉塵の測定 (直接法)
  • BS ISO 21222:2020 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の測定手順

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法
  • GB/T 33838-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭度評価法

Professional Standard - Education, SEM走査型電子顕微鏡分析法

Professional Standard - Petroleum, SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • SY/T 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY/T 5162-1997 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

国家能源局, SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • SY/T 5162-2021 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM走査型電子顕微鏡分析法

KR-KS, SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • KS D ISO 22493-2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
  • KS D ISO 16700-2023 マイクロビーム分析用走査型電子顕微鏡画像倍率校正ガイド
  • KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

Professional Standard - Machinery, SEM走査型電子顕微鏡分析法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • GB/T 18295-2001 石油およびガス貯留層からの砂岩サンプルの走査型電子顕微鏡による分析方法
  • GB/T 17361-2013 マイクロビーム分析を用いた堆積岩中の自生粘土鉱物の同定のための走査型電子顕微鏡とエネルギー分光計法
  • GB/T 18907-2013 マイクロビーム解析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡、選択電子回折分析法
  • GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
  • GB/T 19267.6-2003 犯罪手法における微量証拠の物理的および化学的検査 パート 6; 走査電子顕微鏡法
  • GB/T 25189-2010 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡エネルギー分光計の定量分析パラメータの決定方法

Association Francaise de Normalisation, SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
  • XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法
  • NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 室内空気 パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面繊維脱落の測定 (直接法)
  • NF ISO 16000-27:2014 室内空気 - パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面堆積繊維状粉塵の測定 (直接法)
  • NF T25-111-4:1991 炭素繊維 - テクスチャーと構造 - パート 4: 走査型電子顕微鏡によるフラクトグラフィー

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM走査型電子顕微鏡分析法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定 パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
  • JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法 その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡

SE-SIS, SEM走査型電子顕微鏡分析法

RU-GOST R, SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • GOST ISO 16000-27-2017 室内空気 その27 SEM（走査型電子顕微鏡）による表面に付着した繊維粉塵の定量（直接法）
  • GOST R 8.636-2007 国家測定均一性保証制度 走査型電子顕微鏡 校正方法
  • GOST 8.594-2009 国家測定均一性保証制度 走査型電子顕微鏡 識別方法

German Institute for Standardization, SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • DIN ISO 16000-27:2014-11 室内空気 その27：表面に付着した繊維状粉塵のSEM（走査型電子顕微鏡）による測定（直接法）
  • DIN ISO 16000-27:2014 室内空気 パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面繊維脱落の測定 (直接法) (ISO 16000-27-2014)
  • DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法

ES-UNE, SEM走査型電子顕微鏡分析法

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM走査型電子顕微鏡分析法

  • DB44/T 1527-2015 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭性評価法

  走査型電子顕微鏡による分析方法, 走査型電子顕微鏡による分析方法, 分析用走査型電子顕微鏡分析法の一般原則, 走査型電子顕微鏡 SEM 分析, SEM走査型電子顕微鏡分析法.

 



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