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電子顕微鏡真空

電子顕微鏡真空は全部で 80 項標準に関連している。

電子顕微鏡真空 国際標準分類において、これらの分類：空気の質、光学および光学測定、分析化学、光学機器、計測学と測定の総合、語彙、溶接、ロウ付け、低温溶接、教育する、犯罪予防、電子部品および部品、オプトエレクトロニクス、レーザー装置、総合電子部品。

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子顕微鏡真空

ASTM D5755-03 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
ASTM D5755-09 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
ASTM D5755-09(2014)e1 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
ASTM D5756-02 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト質量濃度の間接分析のための標準試験方法
ASTM D5756-95 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト質量濃度の間接分析のための標準試験方法
ASTM D5755-95 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト構造値濃度の間接分析のための標準的な試験方法
ASTM D5755-02 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト構造値濃度の間接分析のための標準的な試験方法
ASTM D5756-02(2008) 微小真空サンプリングの標準試験方法と透過型電子顕微鏡による粉塵中のアスベストブロックの表面負荷の間接分析

Professional Standard - Machinery, 電子顕微鏡真空

JB/T 5480-1991 電子顕微鏡用絞り
JB/T 5481-1991 電子顕微鏡用フィラメント
JB/T 9352-1999 透過型電子顕微鏡検査方法
JB/T 6842-1993 走査型電子顕微鏡検査方法
JB/T 5383-1991 透過型電子顕微鏡の技術条件
JB/T 5384-1991 走査型電子顕微鏡。技術的条件
JB/T 5584-1991 透過型電子顕微鏡倍率試験方法
JB/T 5585-1991 透過型電子顕微鏡分解能試験方法
JB/T 5586-1991 透過型電子顕微鏡の分類と基本パラメータ

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子顕微鏡真空

JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理
JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡

International Organization for Standardization (ISO), 電子顕微鏡真空

ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析分析電子顕微鏡法透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
ISO 15932:2013 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、語彙
ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
ISO 25498:2018 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
ISO 13794:1999 間接転写電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
ISO 10312:1995 直接転写電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
ISO 19214:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡による糸状結晶の顕著な成長方向の決定方法

British Standards Institution (BSI), 電子顕微鏡真空

BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析分析電子顕微鏡法透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
BS ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
BS ISO 13794:1999 周囲空気アスベスト繊維の測定間接転写電子顕微鏡法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子顕微鏡真空

KS D ISO 22493-2012(2017) マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡用語集
KS D ISO 22493:2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
KS D ISO 22493:2012 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語
KS I 0051-1999(2019) 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS M 0044-1999 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS I 0051-1999 走査型電子顕微鏡検査法の一般原則
KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
KS I ISO 10312:2008 周囲空気アスベスト繊維の測定直接透過型電子顕微鏡法
KS I ISO 13794:2008 周囲空気アスベスト繊維の測定間接転写電子顕微鏡法
KS I ISO 10312-2008(2018) 直接透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定

KR-KS, 電子顕微鏡真空

KS D ISO 22493-2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙

Association Francaise de Normalisation, 電子顕微鏡真空

NF ISO 15932:2014 マイクロビーム分析分析電子顕微鏡の用語
NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 電子顕微鏡真空

JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様

Group Standards of the People's Republic of China, 電子顕微鏡真空

T/CSTM 00162-2020 透過型電子顕微鏡の校正方法

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 電子顕微鏡真空

JJG(地质) 1016-1990 透過型電子顕微鏡の校正手順
JJG(教委) 11-1992 走査型電子顕微鏡の校正手順
JJG(教委) 12-1992 透過型電子顕微鏡の校正手順
JJG 550-1988 走査型電子顕微鏡のパイロット校正手順

Professional Standard - Education, 電子顕微鏡真空

JY/T 011-1996 透過型電子顕微鏡法の一般原理
JY/T 0581-2020 透過型電子顕微鏡分析法の通則
JY/T 0584-2020 走査型電子顕微鏡分析法の一般原則
JY/T 010-1996 分析走査型電子顕微鏡法の一般原理

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 電子顕微鏡真空

GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子顕微鏡真空

GB 7667-1996 電子顕微鏡 X線漏洩線量
GB 7667-2003 電子顕微鏡 X線漏洩線量
GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用

Association of German Mechanical Engineers, 電子顕微鏡真空

DVS 2803-1974 顕微鏡下での電子ビーム溶接（調査）

Professional Standard - Public Safety Standards, 電子顕微鏡真空

GA/T 1662-2019 法医学科学珪藻検査技術仕様書マイクロ波分解-真空濾過-顕微鏡法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電子顕微鏡真空

GB/T 35098-2018 マイクロビーム解析透過電子顕微鏡法透過電子顕微鏡法植物ウイルスの形態の同定

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 電子顕微鏡真空

IPC J-STD-035-1999 非気密パッケージ電子部品用の音響顕微鏡
IPC TM-650 2.6.22-1995 プラスチック封止電子部品用の音響顕微鏡

RU-GOST R, 電子顕微鏡真空

GOST 21006-1975 電子顕微鏡、用語、定義、およびアルファベット記号

Professional Standard - Petroleum, 電子顕微鏡真空

SY/T 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
SY/T 5162-1997 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
SY 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 電子顕微鏡真空

DB31/T 297-2003 走査型電子顕微鏡の倍率校正方法
DB31/T 315-2004 透過型電子顕微鏡の倍率校正方法

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 電子顕微鏡真空

JEDEC J-STD-035-1999 非密閉型電子部品用音波顕微鏡

International Electrotechnical Commission (IEC), 電子顕微鏡真空

IEC PAS 62191:2000 非気密封止された電子部品の音響顕微鏡検査

国家能源局, 電子顕微鏡真空

SY/T 5162-2021 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法