ZH
RU
EN
ES

電流密度と比静電容量

電流密度と比静電容量は全部で 40 項標準に関連している。

電流密度と比静電容量 国際標準分類において、これらの分類：コンデンサ、化学製品、映画、断熱材、絶縁流体、電子および通信機器用の電気機械部品、電磁両立性 (EMC)、分析化学、無線通信、半導体材料、放射線測定、鉄鋼製品、タバコ、タバコ製品およびタバコ産業用機器。

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 電流密度と比静電容量

IPC TM-650 5.5.4.10-1998 試料 H - 静電容量と電流密度

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電流密度と比静電容量

ASTM C1039-85(2000) 黒鉛電極のかさ密度、見掛け比重、見掛け気孔率の測定方法
ASTM C1039-85(2005) 黒鉛電極の見掛け気孔率、見掛け比重、嵩密度の試験方法
ASTM C1039-85(2015) 黒鉛電極の見掛け気孔率、見掛け比重、嵩密度の標準試験方法
ASTM C1039-85(2020)e1 黒鉛電極の見掛け気孔率、見掛け比重、嵩密度の標準試験方法
ASTM C1039-85(2010)e1 黒鉛電極の見掛け気孔率、見掛け比重、嵩密度の標準試験方法
ASTM B114-07(2018) シャントおよび精密抵抗シートの温度抵抗定数の標準試験方法

American National Standards Institute （ANSI), 電流密度と比静電容量

ANSI/ASTM C1039:2000 黒鉛電極のかさ密度、見掛け比重、見掛け気孔率の測定方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電流密度と比静電容量

GB/T 37543-2019(英文版) 直流送電線および変電所の全電界強度およびイオン電流密度の測定方法
GB/T 14146-1993 シリコンエピタキシャル層キャリア濃度測定とプローブ容量電圧法
GB/T 17626.17-2005 電磁適合性試験および測定技術 DC 電源入力ポートのリップル耐性試験
GB/T 17626.29-2006 電磁適合性試験および測定技術 DC電源入力ポートにおける電圧低下、瞬断、電圧変動のイミュニティ試験

RU-GOST R, 電流密度と比静電容量

GOST 32411-2013 工業用爆発物、水エマルジョンの静電容量、密度、抵抗の測定方法
GOST 16745-1983 コンデンサ用紙交流 (工業用周波数) および直流電圧における破壊電圧と耐電圧の測定

British Standards Institution (BSI), 電流密度と比静電容量

BS 5550-6.4:1980 カラーテレビフィルムおよび写真テレビ用スライドで使用するための濃度範囲、コントラスト、およびカラーバランスの推奨事項
BS EN 60512-5-2:2002 電子機器用コネクタ試験と測定通電容量試験試験5b 電流温度降下
BS ISO 16531:2020 表面化学分析深さプロファイリング AES および XPS における深さプロファイリングのためのイオンビームアライメント法および関連する電流または電流密度の測定法
BS EN 62226-1:2005 低周波および中周波の電場または磁場への曝露人体の誘導電流密度および内部電場の計算方法一般原理
BS ISO 16531:2013 表面化学分析、深さプロファイリング、光電子分光法 (XPS) および原子発光分光法 (AES) の深さプロファイリングにおけるイオンビーム校正および電流または電流密度の関連測定方法。
19/30399949 DC BS ISO 16531 表面化学分析における深さプロファイリングのためのイオンビームのアライメント方法、および AES および XPS における深さプロファイリングのための電流または電流密度の関連測定方法
BS EN 61000-4-17:1999+A2:2009 電磁両立性 (EMC) テストおよび測定テクノロジ DC 入力電源ポートのリップル耐性テスト

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電流密度と比静電容量

GB/T 37543-2019 DC 送電線と変換所の合成電界強度とイオン電流密度を測定する方法

Defense Logistics Agency, 電流密度と比静電容量

DLA MIL-C-25/6 E-2013 コンデンサ、固定、紙またはプラスチック誘電体、DC (金属ケースに密閉)、モデル CP67 および CP69
DLA MIL-PRF-11693 D (1)-2004 確立された信頼性と確立されていない信頼性密閉された金属オブジェクトにより、従来のコンデンサを介して無線干渉が低減されます
DLA MIL-PRF-83421/2 D-2012 固定金属化プラスチックフィルム誘電体コンデンサ (DC、AC、または DC と AC)、金属ハウジングに密閉、実証済みの信頼性モデル CRH11、CRH12、CRH13 (絶縁)
DLA MIL-PRF-83421 E-2010 コンデンサ、固定、金属化、プラスチックフィルム誘電体（DC、AC、または DC および AC）、金属またはセラミックハウジングに密閉、確立された信頼性、一般仕様
DLA QPL-83421-58 NOTICE 1-2008 固定、金属化、プラスチックフィルム誘電体 (DC、AC、または DC および AC) コンデンサ、金属またはセラミックのケースに密閉、確立された信頼性、一般仕様
DLA QPL-83421-QPD-2008 固定、金属化、プラスチックフィルム誘電体 (DC、AC、または DC および AC) コンデンサ、金属またはセラミックのケースに密閉、確立された信頼性、一般仕様
DLA QPL-83421-QPD-2010 固定、金属化、プラスチックフィルム誘電体 (DC、AC、または DC および AC) コンデンサ、金属またはセラミックのケースに密閉、確立された信頼性、一般仕様

International Organization for Standardization (ISO), 電流密度と比静電容量

ISO 16531:2020 表面化学分析 - 深さ分析 - イオンビームアライメント法および関連する電流または電流密度測定は、AES および XPS での深さ分析に使用されます。
ISO 16531:2013 表面化学分析深さプロファイリング原子発光分光法 (AES) および光電子分光法 (XPS) における深さプロファイリングのためのイオンビーム補正および電流または電流密度の関連測定方法。
ISO 12030:2010 タバコおよびタバコ製品ケースの帯状密度変化率の非破壊検査電離放射線法

PL-PKN, 電流密度と比静電容量

PN E04070-04-1986 電源トランス。試験方法、容器の気密性・強度試験

CZ-CSN, 電流密度と比静電容量

CSN 35 8585 Cast.3-1987 カラーテレビ受像管。白色光スクリーンの輝度の測定方法と白色光アノード電流比の決定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電流密度と比静電容量

KS C IEC 60512-5-2:2003 電子機器用コネクタテストと測定パート 5-2: 電流容量テストテスト 5b: 電流温度降下
KS C IEC 60512-5-2:2014 電子機器用コネクタの試験・測定パート5-2：通電容量試験試験5b 電流温度降下

International Electrotechnical Commission (IEC), 電流密度と比静電容量

IEC 60512-5-2:2002 電子機器用コネクタ試験と測定パート 5-2: 通電容量試験試験 5b: 電流温度降下

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電流密度と比静電容量

JIS C 5402-5-2:2005 電子機器用コネクタ試験と測定パート 5-2: 通電容量試験試験 5b: 電流温度降下

Professional Standard - Electron, 電流密度と比静電容量

SJ 3244.4-1989 ガリウムヒ素およびインジウムリン材料のキャリア濃度プロファイル分布の試験方法電気化学的電圧容量法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 電流密度と比静電容量

GJB 1522-1992 無線周波数干渉を低減する信頼性指標を備えた金属ケース入り AC および DC 貫通コンデンサの一般仕様