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ケルビンテストの原理

ケルビンテストの原理は全部で 6 項標準に関連している。

ケルビンテストの原理 国際標準分類において、これらの分類：集積回路、マイクロエレクトロニクス、 体積、質量、密度、粘度の測定、 塗料とワニス、 皮革技術、 非破壊検査。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ケルビンテストの原理

• GB/T 14028-1992 半導体集積回路のアナログスイッチ試験方法の基本原理
• GB 14028-2018 半導体集積回路のアナログスイッチ試験方法の基本原理

German Institute for Standardization, ケルビンテストの原理

• DIN SPEC 91143-2:2012-09 新しいレオロジー試験法 パート 2: チキソトロピー 時間依存の構造変化の測定 基本原理と実験室間試験、ドイツ語および英語のテキスト
• DIN EN ISO 26082-1:2012 革. 汚れを判定するための物理的および機械的試験. パート 1: 摩擦 (成形) 法 (ISO 26082-1-2012). ドイツ語版 EN ISO 26082-1-2012
• DIN EN 15856:2010 非破壊検査 音響放射 周囲が液体で満たされた金属の内壁の腐食を検出するための AE 検査法の一般原則 ドイツ語版 EN 15856-2010

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., ケルビンテストの原理

• IEEE 1326-1993 情報技術標準オープン システム インターコネクト (OSI) 抽象データ処理適合性テスト方法アプリケーション プログラミング インターフェイス (API) (言語に依存しない) (IEEE Computer Society Document)

その他：   ケルビンプローブ試験, 試験原理, ケルビンテストの原理, ケルビンの仕組み, ケルビンテストの原理, ケルビンテストの原理, ケルビンテストの原理, ケルビンテストの高精度, ケルビン試験装置, ケルビン接続原理, ケルビン接続原理, ケルビンクリップ原理, 半導体ケルビン試験原理, ケルビン試験条件, 半導体ケルビン試験, ケルビンテストのインポート, スキャニングケルビン原理, ケルビンテスター, ケルビンテストライン, 半導体ケルビン試験原理.