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ビーム解析

ビーム解析は全部で 59 項標準に関連している。

ビーム解析 国際標準分類において、これらの分類：語彙、光学機器、分析化学、文字セットとメッセージエンコーディング。

International Organization for Standardization (ISO), ビーム解析

ISO 15932:2013 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、語彙
ISO 23833:2013 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析 (EPMA)、用語集
ISO 23833:2006 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析 (EPMA)、用語集
ISO 22029:2012 マイクロビーム解析、スペクトルデータ交換用のEMSA/MAS標準ファイルフォーマット
ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
ISO 13067:2011 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、平均粒径測定
ISO 14595:2003 マイクロビーム分析、電子検出微量分析、校正標準 (CRM) の仕様ガイド。
ISO 14595:2014 マイクロビーム分析、電子検出微量分析、校正標準 (CRM) の仕様ガイド。
ISO 24173:2009 マイクロビーム解析後方散乱電子回折を使用した指向性測定ガイド
ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法
ISO 19463:2018 マイクロビーム分析、電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)、品質保証手順を実行するためのガイドライン。
ISO 15632:2021 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
ISO 15632:2012 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
ISO 14595:2003/Cor 1:2005 マイクロビーム分析、電子検出微量分析、校正標準 (CRM) の仕様ガイド、技術訂正事項 1
ISO 17470:2004 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。
ISO 15632:2002 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
ISO 16592:2006 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、検量線法による鋼の炭素含有量の決定のガイド。
ISO 16592:2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、検量線法による鋼の炭素含有量の決定のガイド。
ISO 14594:2003/Cor 1:2009 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散分光法による実験パラメータ決定ガイド、技術訂正事項 1
ISO 22309:2011 マイクロビーム分析エネルギー分散分光法 (EDS) を使用した原子番号 11 (Na) 以上の元素の定量分析
ISO 22489:2006 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
ISO 25498:2018 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
ISO 29301:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡法、周期構造を持つ標準物質の画像倍率を校正する方法。
ISO 29301:2010 マイクロビーム分析分析透過型電子顕微鏡法周期構造を持つ標準物質の画像倍率を校正する方法

Association Francaise de Normalisation, ビーム解析

NF X21-010:2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
NF X21-009:2008 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析 (EPMA)、用語集
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 マイクロビーム分析のための電子後方散乱回折方向測定のガイド
NF X21-001:2006 マイクロビーム分析、電子検出微量分析、校正標準 (CRM) の仕様ガイド。
NF X21-008:2012 マイクロビーム分析半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
NF X21-002:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散分光法の実験パラメータ決定のガイド。
NF X21-003:2006 マイクロビーム分析電子プローブ微量分析波長分布定量分析ガイド X線分光分析
NF X21-007:2008 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、検量線法による鋼中の炭素含有量の決定のガイド。
NF X21-013*NF ISO 11938:2012 マイクロビーム分析、電子プローブマイクロ分析（EPMA）、波長分散分光法を用いた元素マッピング分析法。
NF X21-006:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法によるバルクサンプルの定量点分析。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), ビーム解析

KS D ISO 22493:2012 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語
KS D ISO 16592:2011 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、検量線法による鋼中の炭素含有量の決定のガイド。
KS D ISO 15632:2012 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
KS D ISO 22309:2011 マイクロビーム分析エネルギー分散分光法 (EDS) を使用した原子番号 11 (Na) 以上の元素の定量分析
KS D ISO 22489:2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。

British Standards Institution (BSI), ビーム解析

BS ISO 23833:2013 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析 (EPMA)、用語集
BS ISO 22029:2013 マイクロビーム解析、スペクトルデータ交換用のEMSA/MAS標準ファイルフォーマット
BS ISO 13067:2011 マイクロビーム分析、反射電子回折、平均粒径測定
BS ISO 14595:2003 マイクロビーム分析、電子検出微量分析、認定標準物質の仕様ガイド。
BS ISO 14595:2014 マイクロビーム分析、電子検出微量分析、認定標準物質の仕様ガイド。
BS ISO 16592:2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、検量線法による鋼中の炭素含有量の決定のガイド。
BS ISO 22309:2011 ビーム分析エネルギー分散分光法 (EDS) を使用した原子番号 11 (ナノ) 以上の元素の定量分析
BS ISO 22489:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
BS ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
BS ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
BS ISO 29301:2010 マイクロビーム分析、分析透過型電子顕微鏡、周期構造を持つ標準物質を使用して画像倍率を校正する方法。

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), ビーム解析

JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
JIS K 0190:2010 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。

German Institute for Standardization, ビーム解析

DIN ISO 13067:2015 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、平均粒径測定 (ISO 13067-2011)
DIN ISO 24173:2013 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折を使用した指向性測定のガイドライン (ISO 24713-2009)
DIN ISO 15632:2015 マイクロビーム分析半導体検出器を備えたエネルギー発散 X 線分光計の機器仕様 (ISO 15632-2012)
DIN ISO 16592:2015 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、検量線法による鋼の炭素含有量の決定ガイド (ISO 16592-2012)
DIN ISO 22309:2015 マイクロビーム分析エネルギー分散分光法 (EDS) による原子番号 11 (Na) 以上の元素の定量分析 (ISO 22309-2011)