ZH
RU
EN
ES

クロマトグラフィーピークのピーク幅

クロマトグラフィーピークのピーク幅は全部で 36 項標準に関連している。

クロマトグラフィーピークのピーク幅 国際標準分類において、これらの分類：絶縁流体、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 原子力工学、 光ファイバー通信、 半導体ディスクリートデバイス、 分析化学、 非鉄金属、 プラスチック、 食用油脂、油糧種子。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), クロマトグラフィーピークのピーク幅

• KS C 2375-2006(2021) ガスクロマトグラフィーピーク形状比較法によるポリ塩化ビフェニルの定量
• KS C 2375-2006(2016) ポリ塩化ビフェニルのガスクロマトグラフピーク形状の比較分析方法
• KS C 2375-2006 比較ピークモードによるガスクロマトグラフィーによるポリ塩化ビフェニル (PCB) の分析方法
• KS M 1915-2009 工業用無水フタル酸の試験方法 β1,4-ナフトキノン含有量の定量 βピーク比色法

Professional Standard - Electron, クロマトグラフィーピークのピーク幅

• SJ 2355.7-1983 半導体発光素子の試験方法 発光ピーク波長およびスペクトル半値幅の試験方法
• SJ 2658.12-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法 発光ピーク波長およびスペクトル半値幅の試験方法
• SJ/T 2658.12-2015 半導体赤外発光ダイオードの測定方法 - 第 12 部: ピーク発光波長と分光放射帯域幅

International Organization for Standardization (ISO), クロマトグラフィーピークのピーク幅

• ISO/CD 6863 同位体希釈質量分析 (IDMS) 用のプルトニウムとウランのスパイクの準備
• ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピーク フィッティングの最小レポート要件
• ISO 20903:2019 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - ピーク強度と結果報告時に必要な情報を決定するために使用される方法
• ISO 20903:2006 表面化学分析、スパイラル電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度を決定する方法、および結果を報告する際に必要な情報を使用する方法。
• ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子エネルギー分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果の報告に必要な情報

American National Standards Institute （ANSI), クロマトグラフィーピークのピーク幅

• ANSI/TIA/EIA 492CAAB-2000 クラス IVa 低ピーク危険分散ドリフトフリー シングルモード光ファイバの詳細仕様
• ANSI/TIA-492CAAB-2000 低水量ピークのクラスIVa分散非変位シングルモード光ファイバの詳細仕様

American Society for Testing and Materials (ASTM), クロマトグラフィーピークのピーク幅

• ASTM E827-07 オージェ電子分光計のピークを使用して元素を識別するための標準的な手法
• ASTM E827-95 オージェ電子分光法のピークによって元素を識別するための標準的な手法
• ASTM E827-02 オージェ電子分光法のピークによって元素を識別するための標準的な手法
• ASTM C1871-22 熱イオン化質量分析法を使用した二峰性法によるウラン同位体組成を決定するための標準試験法
• ASTM C1871-18a 熱イオン化質量分析法を使用したバイスパイク法を使用してウラン同位体組成を決定するための標準試験方法
• ASTM C1871-18 熱イオン化質量分析法を使用したバイスパイク法を使用してウラン同位体組成を決定するための標準試験方法

TIA - Telecommunications Industry Association, クロマトグラフィーピークのピーク幅

• TIA/EIA-492CAAB-2000 低ウォーターピークを備えたクラスIVa分散非変位シングルモード光ファイバの詳細仕様

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, クロマトグラフィーピークのピーク幅

• GB/T 41073-2021 表面化学分析の基本要件 電子エネルギー分光法 X 線光電子分光法ピーク フィッティング レポート
• GB/T 24981.1-2020 希土類長残光性蛍光体の試験方法その1：主発光ピークと色度座標の決定

British Standards Institution (BSI), クロマトグラフィーピークのピーク幅

• BS ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピーク フィッティングの最小レポート要件
• BS ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
• BS ISO 20903:2019 表面化学分析 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 ピーク強度の決定方法と結果報告時に必要な情報

(U.S.) Telecommunications Industries Association , クロマトグラフィーピークのピーク幅

• TIA-492CAAB-2000 低水ピークにおけるクラス Iva 分散フリーマイグレーションシングルモード光ファイバーの詳細仕様

European Telecommunications Standards Institute (ETSI), クロマトグラフィーピークのピーク幅

• ETSI TR 103 365-2016 超広帯域技術 (UWB) を使用した短距離デバイス (SRD)、UWB デバイスの時間領域ベースのピーク電力測定 (V1.1.1)

ETSI - European Telecommunications Standards Institute, クロマトグラフィーピークのピーク幅

• TR 103 365-2016 超広帯域技術 (UWB) を使用した短距離デバイス (SRD)、UWB デバイスの時間領域ベースのピーク電力測定 (V1.1.1)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, クロマトグラフィーピークのピーク幅

• GB/T 14634.2-2010 ランプ用希土類三原色蛍光体の試験方法その2：主発光ピークと色度特性の測定
• GB/T 24981.1-2010 希土類長残光性蛍光体の試験方法その1：主発光ピークと色度座標の決定
• GB/T 28893-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報

IN-BIS, クロマトグラフィーピークのピーク幅

• IS 6059-1971 開水路の堰や水路を通る液体流量測定の推奨事項 – 頂部幅が制限された自由排出堰

Group Standards of the People's Republic of China, クロマトグラフィーピークのピーク幅

• T/JCMS 0007-2022 制御された堆肥化条件下でのポリ乳酸生分解性材料の最終好気性生分解能力を決定するためのテラヘルツ広域スペクトルピーク面積の計算方法

Association Francaise de Normalisation, クロマトグラフィーピークのピーク幅

• NF X21-058:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定に使用される方法および結果の報告に必要な情報

Guangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, クロマトグラフィーピークのピーク幅

• DB45/T 1453-2016 ガスクロマトグラフィーによるハマヒルのオレイン酸含有量の測定

その他：   クロマトグラフィーのピークは特に広い, クロマトグラフのピーク幅, クロマトグラフのピーク幅が非常に広い, ガスクロマトグラフィーのピーク幅, クロマトグラフのピーク幅, ピーク幅クロマトグラフィー, スペクトルピークの半値幅, クロマトグラフのピーク半値幅, 回折ピークの半値幅, 山頂が広すぎる, クロマトグラフィーにおける半値幅, クロマトグラフの半値幅, ガスクロマトグラフィーのピーク幅, クロマトグラフィーピークのピーク幅, ピーク幅時間, クロマトグラフのピーク半値幅, クロマトグラフの半値幅, 合成ピークの半値幅, クロマトグラフのピーク幅 半値幅, クロマトグラフのピーク幅 半値幅.