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圧電セラミックスマルチ電極

圧電セラミックスマルチ電極は全部で 428 項標準に関連している。

圧電セラミックスマルチ電極 国際標準分類において、これらの分類:非鉄金属製品、 造船と海洋構造物の一体化、 バルブ、 非鉄金属、 コンデンサ、 セラミックス、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 フィルター、 医療機器、 産業用オートメーションシステム、 抵抗器、 総合電子部品、 断熱材、 絶縁流体、 電子機器用機械部品、 語彙、 絶縁、 電気工学総合、 接着剤および接着製品、 分析化学、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 ワイヤーとケーブル、 電気機器部品、 情報技術の応用、 電子管、 道路車両装置。


Group Standards of the People's Republic of China, 圧電セラミックスマルチ電極

  • T/ZZB 1912-2020 積層チップセラミックコンデンサ電極ニッケル粉
  • T/CECA 70-2022 球状圧電セラミックトランスデューサ
  • T/CECA 86-2023 鉛フリー圧電セラミックアトマイザー
  • T/ZQBJXH 033-2023 チップ積層セラミックコンデンサフィルムスクリーン印刷機
  • T/CECA 26-2019 圧電セラミックス電気音響部品の信頼性試験方法
  • T/CECA 41-2020 積層圧電セラミックアクチュエータの一般仕様
  • T/CECA 49-2021 周波数制御および選択用の圧電デバイスセラミックパッケージベース
  • T/SCS 000010-2021 海洋地震探査における固体ストリーマ受振器用の圧電セラミック部品

Professional Standard-Ships, 圧電セラミックスマルチ電極

  • CB/T 3794-1997 圧電セラミックス電極の接合強度試験方法
  • CB/T 3794-2014 圧電セラミックス材料の性能試験方法 電極接合強度試験
  • CB 1218-1993 水中音響に一般的に使用される圧電セラミック部品
  • CB 1125-1998 水中音響用途向けの圧電セラミック材料の仕様
  • CB/Z 165-1979 圧電磁器材料の等静圧電ひずみ定数dHの測定方法
  • CB/Z 166-1979 圧電セラミックスの体積抵抗率ρvの測定方法
  • CB/Z 162-1979 圧電セラミックスの線膨張係数a1の測定方法
  • CB/T 4314-2013 実用的な水中音響圧電セラミック部品の性能パラメータの測定および計算方法
  • CB/T 1194-1988 実用的な水中音響圧電セラミック部品の性能パラメータの測定および計算方法

Defense Logistics Agency, 圧電セラミックスマルチ電極

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 圧電セラミックスマルチ電極

  • YS/T 611-2006 PTCセラミックス用電極スラリー
  • YS/T 611-2023 正の温度係数を持つセラミック電極スラリー

Professional Standard - Electron, 圧電セラミックスマルチ電極

  • SJ 1775-1981 セラミック金属封止電極
  • SJ 2967-1988 電子機器用圧電セラミックス周波数弁別器 詳細仕様書 JT6.5MD型圧電セラミックス周波数弁別器
  • SJ 2963-1988 電子機器用圧電セラミックトラップ 詳細仕様 XT6.5MBタイプ 圧電セラミックトラップ
  • SJ 2957-1988 電子機器用圧電セラミックフィルタの仕様 テレビオーディオ中間周波回路用圧電セラミックフィルタ
  • SJ 2961-1988 電子機器用圧電セラミックトラップの仕様 テレビ、ビデオ吸収回路用圧電セラミックトラップ
  • SJ 2965-1988 電子機器用圧電セラミックス周波数弁別器の仕様 テレビオーディオ中間周波識別回路用圧電セラミックス周波数弁別器
  • SJ/T 10709-1996 圧電セラミックブザーの一般仕様
  • SJ/T 11139-1997 電子機器用圧電セラミックフィルタの詳細仕様 LT455Wタイプ圧電セラミックフィルタ 評価レベルE
  • SJ 2959-1988 電子機器用圧電セラミックフィルタ詳細仕様 LT6.5MB用圧電セラミックフィルタ評価レベルE
  • SJ 2966-1988 電子機器用圧電セラミックス周波数弁別器の詳細仕様書 テレビオーディオ中間周波弁別回路用圧電セラミックス周波数弁別器
  • SJ/T 10636-1995 電子機器用圧電セラミックフィルタ仕様 FMラジオ機器用圧電セラミックフィルタ(認証取得可能)
  • SJ 2956-1988 電子機器用圧電セラミックフィルタの一般規格
  • SJ 2964-1988 電子機器用圧電セラミックス周波数弁別器一般規格
  • SJ 2960-1988 電子機器用圧電セラミックトラップ一般仕様書
  • SJ 2958-1988 電子機器用圧電セラミックフィルタの詳細仕様空白 テレビ音声中間周波回路用圧電セラミックフィルタの評価レベルE
  • SJ/T 10011-1991 電子機器用圧電セラミック発振子の詳細仕様 XZT500タイプ圧電セラミック発振子 評価レベルE(認定可能)
  • SJ/Z 9159-1987 高度な電気機械結合圧電セラミックスの動的測定ガイドライン
  • SJ/T 10321-1992 圧電セラミックス点火器の性能試験方法
  • SJ/T 10184-1991 圧電セラミック振動子のモデル命名方法
  • SJ 51511/2-1994 LT10.7Mタイプ圧電セラミックフィルタの詳細仕様
  • SJ 51511/1-1994 LT1.84Mタイプ圧電セラミックフィルタの詳細仕様
  • SJ 51511/3-1994 LT455型圧電セラミックフィルタの詳細仕様
  • SJ/T 9571.5-1995 圧電セラミックブザーの品質等級基準
  • SJ/T 10010-1991 電子機器用圧電セラミックフィルタの詳細仕様 LT465K-2タイプ 圧電セラミックフィルタ 評価レベルE(認定可能)
  • SJ 2962-1988 電子機器用圧電セラミックトラップの詳細仕様空白 テレビ映像吸収回路用圧電セラミックトラップの評価レベルE
  • SJ/T 10634-1995 電子機器用圧電セラミックフィルタ詳細仕様書なし 周波数変調無線機器用圧電セラミックフィルタ 評価レベルE(認定可能)
  • SJ/T 10008-1991 電子機器用圧電セラミックフィルタの詳細仕様 LT13.2M型キャリアマシン用バンドパス型圧電セラミックフィルタ 評価レベルE(認定可能)
  • SJ/T 9571.1-1995 低周波圧電セラミック共振子の品質等級基準
  • SJ/T 9571.2-1995 テレビの音声中間周波回路に使用される圧電セラミックフィルターの品質評価基準
  • SJ/T 9571.3-1995 テレビオーディオの中間周波周波数弁別回路に使用される圧電セラミック周波数弁別器の品質等級基準
  • SJ/T 11743.4.2-2019 周波数制御と選択のための圧電および誘電体デバイスの用語 第 4-2 部:材料 圧電セラミックス
  • SJ/T 10175-1991 半導体集積回路用積層セラミックデュアルインラインエンクロージャ 詳細仕様
  • SJ/T 9571.4-1995 テレビのビデオ吸収回路に使用される圧電セラミックトラップの品質等級基準
  • SJ/T 10007-1991 電子機器用圧電セラミックフィルタの詳細仕様 キャリアマシン用LT48B~LT116B、LT68D~LT80D、LT120D~LT124D、LT124B~LT172Bタイプのバンドパス型圧電セラミックフィルタ 評価レベルE(認定可能)
  • SJ/Z 9160-1987 圧電セラミック共振子と周波数制御および選択用の共振子
  • SJ/T 11469-2014 圧電セラミックス材料の性能試験方法 せん断圧電ひずみ定数d15の準静的試験
  • SJ/T 11371-2007 能力認定手続きに基づいて品質評価された電子機器用圧電セラミックトランスの仕様
  • SJ/T 10009-1991 電子機器用圧電セラミックフィルタの詳細仕様 LT300B、LT348B、LT396I、LT411.86B、LT420I、LT440B~LT652B、LT1.116MD、LT1.364MD、LT1.612MD、LT1.860M、LT2.108M、LT2.3567M バンドパスタイプキャリアマシン用圧電セラミックフィルタ 評価レベルE(認定可能)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 圧電セラミックスマルチ電極

  • KS C 6450-2005 高耐圧セラミックコンデンサ
  • KS C 6450-1987 高耐圧セラミックコンデンサ
  • KS C 6450-1987(2004) 高電圧セラミックコンデンサ用
  • KS C 6489-2002 電子機器用固定積層チップセラミックコンデンサ
  • KS C IEC 60642-2:2018 圧電セラミック共振子ユニット - パート 2: 圧電セラミック共振子ユニットの使用に関するガイドライン
  • KS C IEC 60642-2-2023 圧電セラミック振動子ユニット 第 2 部: 圧電セラミック振動子ユニットの使用に関するガイドライン
  • KS C 6451-1989(2004) ディスク型酸化亜鉛セラミックバリスタ
  • KS C 6451-1989 ディスク型酸化亜鉛セラミックバリスタ
  • KS C IEC 60483:2016 高度な電気機械結合圧電セラミックスの動的測定ガイド
  • KS C IEC 60483-2016(2021) 高度な電気機械結合圧電セラミックスの動的測定ガイド
  • KS L 1640-2021 電流遮断技術を使用してセラミックベースの電気化学セルの分極を測定する試験方法
  • KS C IEC 60642-3:2002 圧電セラミック発振子 第3部:規格概要
  • KS C IEC 60642-3-2002(2022) 圧電セラミック振動子その3:規格概要
  • KS C IEC 60642-3-2002(2017) 圧電セラミック共振子パート 3: 標準プロファイル
  • KS D 1661-2005 圧電セラミックス(PZT)粉末の鉛定量法、EDTA滴定法
  • KS C 6384-10-2001(2011) 電子機器用固定コンデンサ 第10部 サブ仕様:積層セラミックチップ固定コンデンサ
  • KS C IEC 62155:2005 定格電圧が 1000V を超える電気機器用の中空加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体
  • KS C IEC 60368-2-2:2018 圧電フィルタの品質評価 第 2 部:圧電フィルタの使用ガイドライン 第 2 部:圧電セラミックフィルタ
  • KS C IEC 60368-2-2-2023 圧電フィルタの品質評価 第 2 部: 圧電フィルタ ユーザーガイド セクション 2 圧電セラミック フィルタ
  • KS C IEC 62155:2020 定格電圧が 1000 V を超える電気機器に使用する中空の加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体
  • KS C IEC 60384-21-2015(2020) 電子機器用固定コンデンサ - パート 21: 表面実装固定グレード セラミック誘電体を備えた積層コンデンサのサブ仕様 1
  • KS C IEC 60384-22:2021 電子機器用固定コンデンサ 第22部:セラミック誘電体表面実装積層固定コンデンサの規格
  • KS C IEC 60384-22-2009(2015) 電子機器用固定コンデンサ パート 22: サブ仕様: クラス 2 セラミック誘電体表面実装積層固定コンデンサ
  • KS C IEC 60384-22:2009 電子機器用固定コンデンサ パート 22: サブ仕様 クラス 2 セラミック誘電体の表面実装固定積層コンデンサ。
  • KS C IEC 60384-21:2008 電子機器用固定コンデンサ パート 21: サブ仕様: クラス 1 セラミック誘電体の表面実装固定積層コンデンサ
  • KS C IEC 60384-21:2013 電子機器用固定コンデンサ パート 21: クラス 1 セラミック誘電体の表面実装固定積層コンデンサのサブ仕様

U.S. Military Regulations and Norms, 圧電セラミックスマルチ電極

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 圧電セラミックスマルチ電極

  • GB/T 3389.1-1996 強電圧セラミックスの語彙
  • GB/T 15156-2015 圧電セラミックトランスデューサ素子の一般仕様
  • GB/T 15156-1994 圧電セラミックトランスデューサ素子の一般仕様
  • GB/T 16304-1996 圧電セラミックスの電界ひずみ特性の試験方法
  • GB 11320-1989 圧電セラミック材料の性能試験方法 低機械品質係数圧電セラミック材料の特性試験
  • GB/T 3388-2002 圧電セラミックス材料のモデル命名方法
  • GB/T 16528-1996 バリスタ用酸化亜鉛系セラミックス材料
  • GB/T 2413-1980 圧電セラミックスの体積密度の測定方法
  • GB/T 2413-1981 圧電セラミックスの体積密度の測定方法
  • GB 2413-1981 圧電セラミックスの体積密度の測定方法
  • GB 2413-1980 圧電セラミックスの体積密度の測定方法
  • GB/T 15750-1995 圧電セラミック材料の経年劣化性能の試験手順
  • GB/T 15155-1994 フィルタ用圧電セラミック材料の一般技術条件
  • GB/T 16304-2008 圧電セラミックス材料の性能試験方法、電界ひずみ特性試験
  • GB/T 6427-1999 圧電セラミック振動子の周波数および温度安定性試験方法
  • GB/T 3389.2-1999 圧電セラミックス材料の性能試験方法 圧電縦ひずみ定数 d33 の静的試験
  • GB/T 15750-2008 圧電セラミックス材料の性能試験方法、経時変化特性試験
  • GB/T 3389-2008 圧電セラミックス材料の性能試験方法 性能パラメータ試験
  • GB 11309-1989 圧電セラミックス材料の性能試験方法 圧電縦ひずみ定数d33の準静的試験
  • GB/T 42003-2022 越境電子商取引商品の多言語分類・ネーミング セラミックス製品
  • GB/T 3389.3-2001 圧電セラミックス材料の性能試験方法 キュリー温度Tc試験
  • GB/T 11387-2008 圧電セラミックス材料の性能試験方法 静的曲げ強さの試験
  • GB/T 2414.1-1998 圧電セラミックス材料の性能試験方法 ディスク径方向伸縮振動モード
  • GB/T 3389.5-1995 圧電セラミックス材料の性能試験方法 ディスク厚さ 伸縮振動モード
  • GB 11310-1989 自由誘電率温度特性試験に対する圧電セラミックス材料の性能試験方法
  • GB/T 3389.6-1997 圧電セラミックス材料の性能試験方法 長方形せん断厚させん断振動モード
  • GB/T 2414.2-1998 圧電セラミックス材料の性能試験方法 薄片の横方向長さ伸縮振動モード

Military Standards (MIL-STD), 圧電セラミックスマルチ電極

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 圧電セラミックスマルチ電極

  • ECA IS-36-1987 積層チップコンデンサ(セラミック誘電体)
  • ECA CB-11-1986 積層セラミックチップコンデンサの表面実装ガイドライン
  • ECA 483-1981 高周波積層セラミックコンデンサの実効直列抵抗および静電容量の試験方法

ECIA - Electronic Components Industry Association, 圧電セラミックスマルチ電極

  • IS-36-1987 チップコンデンサ積層体(セラミック誘電体)
  • EIA-521-A-2013 積層セラミックコンデンサ アプリケーションガイド 電気的
  • 595-1993 積層セラミックチップコンデンサの外観および機械的検査
  • EIA-595-A-2009 積層セラミックチップコンデンサの外観および機械的検査
  • CB-11-1986 積層セラミックチップコンデンサの表面実装ガイドライン
  • EIA-970-2013 低インダクタンス積層セラミックチップコンデンサの高周波特性試験手順
  • EIA-198-3-10-2015 多層 (モノリシック) パッケージ化されていないセラミック誘電体表面実装低インダクタンス チップ コンデンサおよび多端子低インダクタンス コンデンサ
  • EIA-60384-21-2014 電子機器用固定コンデンサ パート 21: セラミック誘電体クラス 1 を使用した固定表面実装多層コンデンサのサブ仕様
  • EIA-60384-22-2014 電子機器用固定コンデンサパート 22: セラミック誘電体クラス 2 を使用した固定表面実装多層コンデンサのサブ仕様
  • 483-1981 高周波における積層セラミックコンデンサの実効直列抵抗 (ESR) および静電容量の標準試験方法 (1982 年 2 月編集訂正)

International Electrotechnical Commission (IEC), 圧電セラミックスマルチ電極

  • IEC 60642-2:1994 圧電セラミック共振器 パート 2: 圧電セラミック共振器ユーザーガイド
  • IEC 60483:1976 高度な電気機械結合圧電セラミックスの動的測定ガイドライン
  • IEC TR 61088:1991 超音波圧電セラミック振動子の特性と測定
  • IEC 60642-3:1992 圧電セラミック発振子その3:規格概要
  • IEC 60368-2-2:1996 圧電フィルタ パート 2: 圧電フィルタ ユーザー ガイド セクション 2: 圧電セラミック フィルタ
  • IEC 60384-10:1989 電子機器用固定コンデンサ 第10部 サブ仕様:積層セラミックチップ固定コンデンサ
  • IEC TS 61994-4-2:2003 周波数制御および選択のための圧電および誘電デバイス 用語集 パート 4-2: 圧電材料および誘電材料 圧電セラミックス
  • IEC TS 61994-4-2:2011 周波数制御および選択のための圧電および誘電デバイス 用語集 パート 4-2: 圧電材料および誘電材料 圧電セラミックス
  • IEC 62155:2003 定格電圧が 1000V を超える電気機器用の中空加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体
  • IEC 60384-10/AMD2:2000 電子機器用固定コンデンサ 第 10 部:サブ仕様:積層セラミックチップ固定コンデンサ 第 2 版
  • IEC 60384-10/AMD1:1993 電子機器用固定コンデンサ 第 10 部:サブ仕様:積層セラミックチップ固定コンデンサ 第 1 版
  • IEC TS 62371:2008 定格電圧1000Vを超える電気機器用の中空加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体の特性
  • IEC 49/855/CD:2009 周波数制御および選択のための圧電および誘電デバイス 用語集 パート 4-2: 圧電材料および誘電材料 圧電セラミックス
  • IEC 49/910/CD:2010 周波数制御、選択、検出のための圧電、誘電、静電デバイスおよび関連材料 用語 パート 4-2: 圧電材料および誘電材料 圧電セラミックス
  • IEC 60384-21:2019 RLV 電子機器用固定コンデンサ 第 21 部:クラス 1 セラミック誘電体表面実装積層固定コンデンサのサブ仕様
  • IEC 60384-22:2004 電子機器用固定コンデンサ パート 22: サブ仕様: クラス 2 セラミック誘電体の表面実装固定積層コンデンサ
  • IEC 60384-21:2004 電子機器用固定コンデンサ パート 21: サブ仕様: クラス 1 セラミック誘電体の表面実装固定積層コンデンサ
  • IEC 60384-21:2011 電子機器用固定コンデンサ パート 21: サブ仕様: クラス 1 セラミック誘電体の表面実装固定積層コンデンサ
  • IEC 60384-22:2011 電子機器用固定コンデンサ パート 22: サブ仕様: クラス 2 セラミック誘電体の表面実装固定積層コンデンサ
  • IEC 60384-21:2019 電子機器用固定コンデンサ - パート 21: 断面仕様 - セラミック誘電体クラス 1 を使用した固定表面実装積層コンデンサ
  • IEC 60384-10-1:1989 電子機器用固定コンデンサ 第10-1部:無記入 詳細仕様:積層セラミックチップ固定コンデンサ 評価レベルE
  • IEC 60384-22/COR1:2004 電子機器で使用する固定コンデンサ パート 22: サブ仕様: セラミック誘電体を使用した固定表面実装多層コンデンサ クラス 2 正誤表 1 (バージョン 1.0)
  • IEC 60384-22:2019 電子機器用固定コンデンサ - パート 22: 細分化仕様: セラミック誘電体クラス 2 の固定表面実装積層コンデンサ
  • IEC 36C/172/DTS:2007 IEC/TS 62371、第 1.0 版: 定格電圧が 1000 V を超える電気機器用の中空加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体の特性

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 圧電セラミックスマルチ電極

  • ECA EIA-521-A-2013 積層セラミックコンデンサ アプリケーションガイド 電気的
  • ECA 521-1993 積層セラミックコンデンサのアプリケーションガイド。
  • ECA 595-1993 積層セラミックチップコンデンサの外観検査および機械検査
  • ECA EIA-970-2013 低インダクタンス積層セラミックチップコンデンサの高周波特性試験手順
  • ECA EIA-198-3-10-2015 多層(モノリシック)、パッケージ化されていない、セラミック誘電体、表面実装低インダクタンス チップ コンデンサおよび多端子低インダクタンス コンデンサ
  • ECA EIA-60384-22-2014 電子機器用固定コンデンサ パート 22: セラミック誘電体を使用した固定表面実装積層コンデンサ、クラス 2
  • ECA EIA-60384-21-2014 電子機器用固定コンデンサ パート 21: セラミック誘電体を使用した固定表面実装積層コンデンサ、クラス 1

International Organization for Standardization (ISO), 圧電セラミックスマルチ電極

  • ISO 19622:2018 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、先端工業用セラミックス) 直接準静的法による圧電セラミックスの圧電定数d33の測定方法
  • ISO 17859:2015 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、先端工業用セラミックス)、高電界下での圧電ひずみの測定方法
  • ISO 5712:2022 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンスト工業用セラミックス)独立電源用圧電共振デバイスの発電特性の測定方法
  • ISO 21819-2:2018 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、先端産業用セラミックス) 高負荷条件下における圧電特性 第2部 高振動レベルにおける電気的過渡応答法
  • ISO 21819-1:2018 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、先端工業用セラミックス) 高負荷条件下での圧電特性 第1部 高温条件下での共振反共振法

British Standards Institution (BSI), 圧電セラミックスマルチ電極

  • BS ISO 19622:2018 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス) 圧電セラミックスの圧電定数d33を直接準静的に求める方法
  • BS ISO 17859:2015 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、先端工業用セラミックス)、高電界下での圧電ひずみの測定方法
  • BS ISO 5712:2022 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス)独立電源型圧電共振デバイスの発電特性の測定方法
  • 21/30430322 DC BS ISO 5712 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス) 独立電源圧電共振デバイスの発電特性の測定方法
  • BS EN 60368-2-2:1999 圧電フィルタ 圧電フィルタのユーザーガイド 圧電セラミックフィルタ
  • BS ISO 21819-2:2018 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス) 高負荷条件下での圧電特性 高振動下での電気的過渡応答法
  • BS DD IEC/TS 61994-4-2:2011 周波数制御および選択のための圧電および誘電デバイス 用語集 圧電材料および誘電材料 圧電セラミックス
  • BS ISO 21819-1:2018 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス) 高負荷条件下での圧電特性 高温条件下での共振反共振方式
  • BS EN 50324-1:2002 セラミック材料およびコンポーネントの圧電特性 用語と定義
  • BS EN 50324-2:2002 セラミック材料およびコンポーネントの圧電特性。 測定方法。 低消費電力。
  • BS EN 50324-3:2002 セラミック材料および部品の圧電特性、測定方法、高出力
  • DD IEC/TS 61994-4-2:2011 周波数制御、選択、検出のための圧電、誘電、静電デバイスおよび関連材料の用語集 圧電材料および誘電材料 圧電セラミックス
  • BS EN 62155:2003 定格電圧が 1000V を超える電気機器用の中空加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体
  • DD IEC/TS 62371:2008 定格電圧1000Vを超える電気機器用の中空加圧および常圧セラミックおよびガラス絶縁体の特性
  • BS EN 60384-21:2004 電子機器用固定コンデンサ サブ仕様:セラミック誘電体表面実装積層固定コンデンサ(クラス1)
  • BS EN 60384-21:2005 電子機器用固定コンデンサのサブ仕様: セラミック誘電体を使用した表面実装積層固定コンデンサ、クラス 1
  • BS EN 60384-22:2005 電子機器用固定コンデンサの仕様 クラス2 セラミック誘電体を使用した表面実装型積層固定コンデンサ
  • BS EN 60384-21:2012 電子機器用固定コンデンササブ仕様: セラミック誘電体の表面実装積層固定コンデンサ、クラス 1
  • BS EN 60384-22:2012 電子機器用固定コンデンサ サブ仕様 クラス 2 セラミック誘電体の表面実装積層固定コンデンサ。
  • BS DD IEC/TS 62371:2008 定格電圧1000Vを超える電気機器用の中空加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体の特性
  • BS EN IEC 60384-22:2019 電子機器用固定コンデンサの断面規格 セラミック誘電体固定面実装積層コンデンサ クラス2
  • BS EN IEC 60384-21:2019 電子機器用固定コンデンサの断面規格 セラミック誘電体固定面実装積層コンデンサ クラス1
  • BS EN 132102:1997 詳細仕様欄なし 積層セラミック表面実装固定コンデンサ 評価グレード DZ
  • BS EN 60384-22:2004 電子機器用固定コンデンサ パート 22: サブ仕様 クラス 2 セラミック誘電体の表面実装積層固定コンデンサ。
  • 23/30453858 DC BS EN IEC 60384-21 電子機器用固定コンデンサ パート 21 部品仕様 セラミック誘電体固定表面実装積層コンデンサ クラス 1

工业和信息化部, 圧電セラミックスマルチ電極

  • SJ/T 10709-2016 圧電セラミック電気音響部品の一般仕様
  • QC/T 1153-2021 自動車締結用接続ボルトの軸力試験用超音波圧電セラミックディスク法

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 圧電セラミックスマルチ電極

American National Standards Institute (ANSI), 圧電セラミックスマルチ電極

  • ANSI/EIA 521:1993 電気用途積層セラミックコンデンサのアプリケーションガイド
  • ANSI/EIA 521-A:2013 積層セラミックコンデンサ応用ガイド 電子機器
  • ANSI/EIA 970:2013 低インダクタンス多層セラミック積層板の高周波特性試験手順
  • ANSI/EIA 595-A:2009 積層セラミックチップコンデンサの外観検査および機械検査
  • ANSI/EIA 483:1981 高周波積層セラミックコンデンサの実効直列抵抗および静電容量の試験方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 圧電セラミックスマルチ電極

  • JIS R 1684:2008 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンスト工業用セラミックス) 電流遮断技術を用いた固体酸化物型電気化学セルの単セル電極の試験方法
  • JIS R 1682:2007 ファインセラミックスの強電界下における圧電応力試験方法
  • JIS R 1696:2014 直接準静的法による圧電セラミックスの圧電定数d33の試験方法
  • JIS R 1761:2016 固体酸化物形燃料電池用多孔質セラミックスのガス透過性試験方法
  • JIS C 5101-10:1999 電子機器用固定コンデンサ 第10部:サブ仕様:積層セラミックチップ固定コンデンサ
  • JIS C 5101-21:2021 電子機器用固定コンデンサ パート21:サブ仕様 クラス1セラミック誘電体表面実装積層コンデンサ
  • JIS C 5101-22:2021 電子機器用固定コンデンサ パート 22: サブ仕様 クラス 2 セラミック誘電体表面実装積層コンデンサ
  • JIS C 5101-22:2006 電子機器用固定コンデンサ パート 22: サブ仕様: クラス 2 セラミック誘電体の表面実装固定積層コンデンサ
  • JIS C 5101-21:2006 電子機器用固定コンデンサ パート 21: サブ仕様: クラス 1 セラミック誘電体の表面実装固定積層コンデンサ
  • JIS C 5101-21:2014 電子機器用固定コンデンサ パート 21: サブ仕様 クラス 1 セラミック誘電体の表面実装固定積層コンデンサ。
  • JIS C 5101-22:2014 電子機器用固定コンデンサ パート 22: サブ仕様 クラス 2 セラミック誘電体の表面実装固定積層コンデンサ。
  • JIS C 5101-10-1:1999 電子機器用固定コンデンサ パート10:無記入 詳細仕様:積層セラミックチップ固定コンデンサ 評価クラスE

KR-KS, 圧電セラミックスマルチ電極

  • KS C IEC 60642-2-2018(2023) 圧電セラミック振動子ユニット 第2部:圧電セラミック振動子ユニットの使用上の注意
  • KS C IEC 60642-2-2018 圧電セラミック共振子ユニット - パート 2: 圧電セラミック共振子ユニットの使用に関するガイドライン
  • KS C IEC 60483-2016 高い電気機械結合を有する圧電セラミックスの動的測定のガイド
  • KS C IEC 60368-2-2-2018 圧電フィルタの品質評価 第 2 部:圧電フィルタの使用ガイドライン 第 2 部:圧電セラミックフィルタ
  • KS C IEC 60368-2-2-2018(2023) 圧電フィルタの品質評価 第 2 部: 圧電フィルタの使用上の注意 第 2 部: 圧電セラミックフィルタ
  • KS C IEC 62155-2020 定格電圧が 1000 V を超える電気機器に使用する中空の加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体
  • KS C IEC 60384-22-2021 電子機器用固定コンデンサ 第22部:セラミック誘電体表面実装積層固定コンデンサの規格

Professional Standard - Medicine, 圧電セラミックスマルチ電極

Professional Standard - Electricity, 圧電セラミックスマルチ電極

  • DL/T 2341-2021 セラミック静電容量式圧力センサー
  • DL/T 1761-2017 発電所用多空洞セラミック複合断熱材の技術仕様
  • DL/T 2229-2021 35kV 以下の高電圧セラミック静電容量センサーの技術仕様

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 圧電セラミックスマルチ電極

  • GJB 1511-1992 圧電セラミックフィルタの一般仕様
  • GJB 1511A-2012 圧電セラミックフィルタの一般仕様
  • GJB 1973-1994 積層セラミックコンデンサ用クラス2セラミック誘電体粉末の規格
  • GJB 1940A-2012 高耐圧積層セラミック固定コンデンサの一般仕様

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 圧電セラミックスマルチ電極

  • CNS 13198-1993 電子機器用固定積層セラミックチップコンデンサ

RU-GOST R, 圧電セラミックスマルチ電極

  • GOST 21281-1982 圧電セラミックフィルター 基本パラメータ
  • GOST 13871-1978 電圧1000V以下用のセラミックがいし 一般仕様
  • GOST R 52034-2008 1000Vを超える電圧に対応するセラミック対応絶縁体。 一般仕様
  • GOST R 52034-2003 1000Vを超える電圧用のセラミック対応絶縁体 一般仕様
  • GOST 9984-1985 1000 Vを超える電圧用のセラミックサポート絶縁体の一般仕様
  • GOST 1232-1982 電圧 1 ~ 35 kV 用のセラミックおよびガラス針絶縁体 一般仕様
  • GOST R 50296-1992 電子機器用固定コンデンサ 第10部 サブ仕様:固定積層セラミックチップコンデンサ
  • GOST 21011.6-1978 高電圧整流ダイオード フィラメント電圧多重スイッチング試験方法
  • GOST 5862-1979 セラミック絶縁体と 1000 V を超える電圧の適用範囲 一般仕様
  • GOST R 50297-1992 電子機器に使用される固定コンデンサ 第10部:サブ仕様:固定積層セラミックチップコンデンサ 評価レベルE

SE-SIS, 圧電セラミックスマルチ電極

  • SIS SS CECC 32100-1989 標準以下。 固定積層セラミックチップコンデンサ
  • SIS SS CECC 32101-1989 詳細な仕様については空白です。 固定積層セラミックチップコンデンサ
  • SIS SS IEC 383:1984 インシュレータ。 定格電圧が 1000 ボルトを超える架空送電線用のセラミックまたはガラス材料の絶縁体

IN-BIS, 圧電セラミックスマルチ電極

  • IS 12825-1989 電子ブザー用圧電セラミック部品 仕様
  • IS 11519-1985 スクイズ式電子ガスライター用圧電セラミックカートリッジ仕様
  • IS 7410 Pt.2-1975 圧電フィルタ ユーザーガイド 第Ⅱ部 圧電セラミックフィルタ
  • IS 11014 Pt.4-1989 圧電セラミック材料規格 第4部 Type 5H
  • IS 11514-1985 インパクト式電子ガスライター用圧電セラミックカートリッジの仕様
  • IS 11014 Pt.2-1984 圧電セラミック材料の規格 第 2 部 タイプ 1 およびタイプ 5
  • IS 11014 Pt.3-1985 圧電セラミックス材料仕様書 第 3 部 タイプ 4 および 8
  • IS 11299-1984 圧電セラミック材料および部品の選択と使用に関するガイドライン
  • IS 11013-1984 ガスライター用圧電セラミック部品(衝撃式・押し出し式)仕様
  • IS 11658-1986 圧電セラミック圧力センサー - ダイナミックタイプの一般要件と試験方法
  • IS 11014 Pt.1-1984 圧電セラミック材料の規格 第 1 部 一般的な側面と測定方法

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, 圧電セラミックスマルチ電極

German Institute for Standardization, 圧電セラミックスマルチ電極

  • DIN IEC 60483:1988 高電気機械結合圧電セラミックスの動的測定のガイドライン
  • DIN 40686-6:1983 電気用ファインセラミック部品の表面、高圧・低圧絶縁体
  • DIN EN 60368-2-2:1999-08 圧電フィルタ パート 2: 圧電フィルタ ユーザー ガイド パート 2: 圧電セラミック フィルタ
  • DIN EN 60368-2-2:1999 圧電フィルタ パート 2: 圧電フィルタの使用説明 セクション 2: 圧電セラミック フィルタ
  • DIN IEC 60483:1988-04 高電気機械結合圧電セラミックスの動的測定ガイド; IEC 60483 1976 年版と同じ
  • DIN EN 62155:2004 定格電圧が 1000V を超える電気機器用の中空加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体
  • DIN 40686-6:1983-08 電気工学用の高密度セラミック部品の表面、高電圧および低電圧の絶縁体
  • DIN EN IEC 60384-22:2019-09 電子機器用固定コンデンサ パート 22: セラミック誘電体固定表面実装積層コンデンサのサブ仕様 クラス 2
  • DIN EN IEC 60384-21:2019-09 電子機器用固定コンデンサ パート 21: セラミック誘電体固定表面実装積層コンデンサ クラス 1 のサブ仕様
  • DIN IEC 60642-3:1993-09 圧電セラミック共振子、パート 3: 標準概要、IEC 60642-3:1992 と同じ
  • DIN IEC/TS 61994-4-2:2012-05*DIN SPEC 41994-4-2:2012-05 周波数制御、選択、検出のための圧電、誘電、静電デバイスおよび関連材料の用語集 第 4-2 部:圧電および誘電材料 圧電セラミックス
  • DIN EN 60384-21:2017 電子機器で使用するための固定コンデンサ パート 21: セラミック誘電体用の特定の仕様を備えた固定表面実装多層コンデンサ、クラス 1 (IEC 40/2542/CD:2017)
  • DIN EN 132102:1997 詳細仕様空白:平面実装型積層セラミック固定コンデンサ 品質評価グレードDZ

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, 圧電セラミックスマルチ電極

  • QC 300701/US 0007 ISSUE 1-1991 電気機器の使用仕様: 詳細仕様: 2 X 1 モールド ケース 多層セラミック誘電体固定コンデンサ ラジアル リード
  • QC 300601/US 0005 ISSUE 1-1991 電気機器使用仕様:詳細仕様:セラミック誘電体クラス1Bモールドケース積層セラミック固定コンデンサ用ラジアルリード
  • QC 300701/US 0006 ISSUE 1-1991 電気機器の使用仕様: 詳細仕様: 2 X 1 プラスチックケース 多層セラミック誘電体固定コンデンサ アキシャルリード
  • PQC 68-1985 サブ仕様: 高周波 (HF) 圧電セラミック共振子
  • QC 301901/ JP 0004-1993 固定積層セラミックチップコンデンサ 評価レベルE
  • PQC 45/US 0005-1985 電子機器使用仕様書 詳細仕様書:セラミック誘電体固定コンデンサ2
  • QC 301901/ JP 0005-1993 電子部品固定用積層セラミックチップコンデンサ 評価レベルE
  • QC 301901/ JP 0006-1993 電子部品固定用積層セラミックチップコンデンサ 評価レベルE
  • QC 300601/US 0004 ISSUE 1-1991 電気機器使用仕様書詳細仕様書 クラス1Bモールドケース積層セラミック誘電体固定コンデンサ用アキシャルリード
  • PQC 65-1985 電子機器用圧電セラミック振動子の一般規格
  • PQC 56-1985 電子機器用圧電セラミックフィルタの一般規格
  • PQC 61-1985 テレビ音声IF回路用圧電セラミックフィルター仕様
  • PQC 63-1985 サブ仕様:通信機器用圧電セラミックフィルタ
  • PQC 57-1985 サブ仕様: FMラジオ用圧電セラミックフィルタ
  • PQC 66-1985 サブ仕様: 低周波(LF)用圧電セラミック共振子
  • PQC 62/ JP 0002-1993 テレビ音声中間周波回路用圧電セラミックフィルタ 評価レベルE
  • QC 301901/US 0002 ISSUE 1-1990 電気機器用コンデンサの詳細仕様:固定積層セラミックチップコンデンサ サブクラス1B
  • QC 301901/US 0001 ISSUE 1-1990 電気機器用コンデンサの詳細仕様:固定積層セラミックチップコンデンサ サブクラス2R1
  • PQC 59-1985 サブ仕様: AMラジオ用圧電セラミックフィルタ
  • QC 301901/ JP 0002-1987 電子部品用固定積層セラミックチップコンデンサの評価レベルE詳細仕様書
  • QC 301901/ JP 0003-1992 電子部品用固定積層セラミックチップコンデンサの評価レベルE詳細仕様書
  • QC 301901/ JP 0001-1987 電子部品用固定積層セラミックチップコンデンサの評価レベルE詳細仕様書
  • QC 301901/ SG 000-1990 電子部品用固定積層セラミックチップコンデンサの評価レベルE詳細仕様書
  • PQC 62/ JP 0001-1987 詳細仕様:テレビ評価クラスEの音声IF回路用圧電セラミックフィルタ
  • PQC 62-1985 ブランク 詳細仕様:テレビ評価クラスEの音声IF回路用圧電セラミックフィルタ
  • PQC 67/SG 0001-1990 詳細仕様:低周波(LF)用圧電セラミック発振子 評価クラスE
  • PQC 69/ JP 0002-1990 詳細仕様:高周波(HF)用圧電セラミック発振子 評価クラスE
  • PQC 67/ JP 0001-1987 詳細仕様:低周波(LF)用圧電セラミック発振子 評価クラスE
  • PQC 69/ JP 0001-1987 詳細仕様:高周波(HF)用圧電セラミック発振子 評価クラスE
  • QC 300701/US 0003 ISSUE 2-1991 電気機器用固定コンデンサ: 詳細仕様: 固定コンデンサ 多層セラミック誘電体クラス 2R1 絶縁被覆アキシャルリード
  • QC 300701/US 0002 ISSUE 2-1991 電気機器用固定コンデンサ: 詳細仕様: 固定コンデンサ 多層セラミック誘電体クラス 2R1 絶縁被覆ラジアルリード
  • QC 300701/US 0004 ISSUE 2-1991 電気機器用固定コンデンサ: 詳細仕様: 固定コンデンサ 多層セラミック誘電体 2E6 クラスコンフォーマル絶縁被覆ラジアルリード
  • QC 300601/US 0002-1988 電子機器用固定コンデンサ: 詳細仕様: 固定コンデンサ 多層セラミック誘電体 クラス 1B 絶縁被覆ラジアルリード
  • QC 300601/US 0001-1987 電子機器用固定コンデンサ: 詳細仕様: 固定コンデンサ、多層セラミック誘電体クラス 1B 絶縁被覆アキシャル リード
  • QC 300701/US 0001 ISSUE 2-1991 電子機器用固定コンデンサ: 詳細仕様: 固定コンデンサ、多層セラミック誘電体クラス 2E6 絶縁被覆アキシャル リード
  • PQC 64/JP 0002-1991 詳細仕様:通信機器評価クラスE用圧電セラミックフィルタ
  • PQC 69-1985 ブランク 詳細仕様: 高周波 (HF) 評価クラス E 用圧電セラミック発振子
  • PQC 67-1985 ブランク 詳細仕様:低周波(LF)用圧電セラミック発振子評価クラスE

Professional Standard - Commodity Inspection, 圧電セラミックスマルチ電極

European Standard for Electrical and Electronic Components, 圧電セラミックスマルチ電極

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 圧電セラミックスマルチ電極

  • EN 132101:1996 詳細仕様は空白 固定積層セラミックコンデンサ
  • EN 132100:1996 サブ仕様: 固定積層セラミック表面実装コンデンサの評価グレード EZ および DZ
  • EN IEC 60384-21:2019 電子機器用固定コンデンサ パート 21: セラミック誘電体クラス 1 を使用した固定表面実装多層コンデンサのサブ仕様
  • EN IEC 60384-22:2019 電子機器用固定コンデンサパート 22: セラミック誘電体クラス 2 を使用した固定表面実装多層コンデンサのサブ仕様
  • EN 60384-21:2004 電子機器用固定コンデンサ パート 21: サブ仕様 クラス 1 のセラミック誘電体を使用した表面実装用の積層固定コンデンサ
  • EN 60384-22:2004 電子機器用固定コンデンサ パート 22: サブ仕様 クラス 2 のセラミック誘電体を使用した表面実装用積層固定コンデンサ

CZ-CSN, 圧電セラミックスマルチ電極

  • CSN 34 8041-1982 セラミック絶縁体。 10 ~ 35 kV の電圧に対応する磁器ブッシング。 スキル要件
  • CSN 72 5015-1982 電気材料やセラミックスの検査。 圧縮強度の定義
  • CSN 34 8007-1982 セラミック絶縁体。 1000V耐圧の円筒形磁器がいしです。 スキル要件
  • CSN 34 8042-1982 セラミック絶縁体。 35 kV 電圧の磁器ブッシング。 合否基準。 試験方法
  • CSN 34 8032-1982 セラミック絶縁体。 電圧が 1000 V を超える円筒形磁器がいしの合格基準。 実験方法
  • CSN 34 8032 Za-1989 チェコ国家規格 34 8032 * /ST SEV2314-80 セラミック絶縁体。 電圧が 1000 V を超えるセラミックブラケットに関する規則。 試験方法
  • CSN 34 8008-1986 セラミック絶縁体。 10 ~ 35 kV の電圧に対応する屋内用円筒形磁器がいし。 基本パラメータと寸法

JP-JEITA, 圧電セラミックスマルチ電極

  • JEITA RCX 2326-2007 電子機器用固定コンデンサ 表面実装型積層セラミックコンデンサ クラス2A
  • JEITA RC 2322A-2007 電子機器用固定コンデンサの詳細仕様:表面実装型積層セラミックコンデンサの寸法図

RO-ASRO, 圧電セラミックスマルチ電極

  • STAS 5851-1980 15V電圧デバイスを備えたセラミック絶縁体。 サイズ
  • STAS 11200/88-1979 グラフィックシンボル。 圧電ピックアップ、クリスタルまたはセラミックの図記号

HU-MSZT, 圧電セラミックスマルチ電極

  • MSZ 263/7-1987 高電圧絶縁 10 ~ 35 kV 線路用セラミックがいし

Danish Standards Foundation, 圧電セラミックスマルチ電極

  • DS/EN 60368-2-2:2000 圧電フィルタ パート 2: 圧電フィルタ ユーザー ガイド セクション 2: 圧電セラミック フィルタ
  • DS/EN 62155:2004 定格電圧が 1000V を超える電気機器用の中空加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体
  • DS/EN 50324-1:2002 セラミック材料およびコンポーネントの圧電特性 パート 1: 用語と定義
  • DS/EN 60384-22:2012 電子機器用固定コンデンサ パート 22: セラミック誘電体を使用した固定表面実装積層コンデンサ、クラス 2
  • DS/EN 60384-21:2012 電子機器用固定コンデンサ パート 21: セラミック誘電体を使用した固定表面実装積層コンデンサ、クラス 1
  • DS/EN 50324-2:2002 セラミック材料およびコンポーネントの圧電特性 パート 2: 低消費電力の測定方法
  • DS/EN 50324-3:2002 セラミック材料および部品の圧電特性 第 3 部: 測定方法 ハイパワー

Indonesia Standards, 圧電セラミックスマルチ電極

  • SNI 04-6295-2000 セラミック加圧中空碍子高圧開閉装置および制御装置

Association Francaise de Normalisation, 圧電セラミックスマルチ電極

  • NF C93-629-2-2*NF EN 60368-2-2:2000 圧電フィルタ パート 2: 圧電フィルタの使用説明 セクション 2: 圧電セラミック フィルタ
  • NF EN 60368-2-2:2000 圧電フィルタ パート 2: 圧電フィルタ ユーザー ガイド パート 2: 圧電セラミック フィルタ
  • NF C93-133:1987 電子機器部品 タイプ I および II 積層セラミックチップ固定コンデンサ 一般要件
  • NF C64-405*NF EN 62155:2003 定格電圧が 1000V を超える電気機器用の中空加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体
  • NF C26-501-1*NF EN 50324-1:2002 セラミック材料およびコンポーネントの圧電特性 パート 1: 用語と定義
  • NF EN 50324-1:2002 セラミック材料およびコンポーネントの圧電特性 - パート 1: 用語と定義
  • NF C93-112-22*NF EN IEC 60384-22:2019 電子機器用固定コンデンサ パート 22: セラミック誘電体を使用した固定表面実装積層コンデンサ、クラス 2
  • NF C93-112-21*NF EN IEC 60384-21:2019 電子機器用固定コンデンサ パート 21: セラミック誘電体を使用した固定表面実装積層コンデンサ、クラス 1
  • NF EN 60507:2014 AC電力網用の高電圧セラミックおよびガラス絶縁体の人工汚染試験
  • NF C93-112-21:2012 電子機器用固定コンデンサ パート 21: サブ仕様: クラス 1 セラミック誘電体の表面実装積層固定コンデンサ
  • NF C93-112-22:2012 電子機器用固定コンデンサ パート 22: サブ仕様 クラス 2 セラミック誘電体の表面実装積層固定コンデンサ。
  • NF C93-112-21:2005 電子機器用固定コンデンサ パート 21: サブ仕様: クラス 1 セラミック誘電体の表面実装積層固定コンデンサ
  • NF C93-112-22:2005 電子機器用固定コンデンサ パート 22: サブ仕様: クラス 2 セラミック誘電体の表面実装積層固定コンデンサ
  • NF C26-501-2*NF EN 50324-2:2002 セラミック材料および部品の圧電特性 第 2 部: 低電力測定方法
  • NF EN 50324-3:2002 セラミック材料および部品の圧電特性 第 3 部: 測定方法 ハイパワー
  • NF EN 50324-2:2002 セラミック材料およびコンポーネントの圧電特性 - パート 2: 測定方法 - 低消費電力
  • NF EN IEC 60384-21:2019 電子機器用固定コンデンサ - 第 21 部:中間仕様 - 表面実装用固定積層セラミック誘電体コンデンサ、クラス 1
  • NF EN IEC 60384-22:2019 電子機器用固定コンデンサ - 第 22 部:中間仕様 - 表面実装用固定積層セラミック誘電体コンデンサ、クラス 2

ES-UNE, 圧電セラミックスマルチ電極

  • UNE-EN 60368-2-2:1999 圧電フィルタ パート 2: 圧電フィルタ ユーザー ガイド パート 2: 圧電セラミック フィルタ
  • UNE-EN IEC 60384-22:2019 電子機器用固定コンデンサ パート 22: セラミック誘電体固定表面実装積層コンデンサのサブ仕様 クラス 2
  • UNE-EN IEC 60384-21:2019 電子機器用固定コンデンサ パート 21: セラミック誘電体固定面実装積層コンデンサのサブ仕様 クラス 1
  • UNE-EN 50324-1:2002 セラミック材料およびコンポーネントの圧電特性 パート 1: 用語と定義
  • UNE-EN 50324-3:2002 セラミック材料および部品の圧電特性 第 3 部: 測定方法 ハイパワー
  • UNE-EN 50324-2:2002 セラミック材料およびコンポーネントの圧電特性 パート 2: 低消費電力の測定方法

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 圧電セラミックスマルチ電極

  • IPC TM-650 2.6.19-1987 ハイブリッドセラミック多層基板の環境抵抗試験、絶縁抵抗試験

Henan Provincial Standard of the People's Republic of China, 圧電セラミックスマルチ電極

  • DB41/T 1058-2015 定格電圧450/750V以下のセラミックシリコーンゴム絶縁高温耐火電線

AT-ON, 圧電セラミックスマルチ電極

未注明发布机构, 圧電セラミックスマルチ電極

  • BS EN 62155:2003(2004) 定格電圧が 1000V を超える電気機器用の中空加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体
  • BS EN 132101:1997 ブランク 詳細仕様 - 固定積層セラミック表面実装コンデンサ - 評価レベル EZ

Canadian Standards Association (CSA), 圧電セラミックスマルチ電極

  • CSA C62155-06-CAN/CSA-2006 定格電圧が 1000 ボルトを超える電気機器用の中空加圧および非加圧セラミックおよびガラス絶縁体

Standard Association of Australia (SAA), 圧電セラミックスマルチ電極

  • AS IEC 62155:2005 インシュレータ。 電圧が1000Vを超えている。 c 中空の加圧および非加圧セラミックまたはガラス
  • AS 3609:2005 インシュレータ。 電圧が1000Vを超えている。 cセラミックピラーインシュレーター
  • AS/NZS 2947.2:2002 絶縁体 - 架空送電線用のセラミックまたはガラス - 1000 V を超える AC 電圧
  • AS 2947.3:1995 絶縁体 - 架空送電線用のセラミックまたはガラス - 1000 V を超える AC 電圧 - 電気結合
  • IEC 60384-22:2019 RLV 電子機器用固定コンデンサ パート 22: セラミック誘電体固定表面実装積層コンデンサのサブ仕様 クラス 2
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IEC - International Electrotechnical Commission, 圧電セラミックスマルチ電極

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