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薄膜の誘電率測定

薄膜の誘電率測定は全部で 76 項標準に関連している。

薄膜の誘電率測定 国際標準分類において、これらの分類：周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、総合電子部品、コンデンサ、通信機器の部品および付属品、電気、磁気、電気および磁気測定、断熱材、絶縁流体、電気機器部品、ゴム・プラスチック製品、非破壊検査。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 薄膜の誘電率測定

KS C 2150-2008(2018) 高周波（500mhz〜10ghz）誘電体膜の誘電率・誘電損失の測定方法
KS C 2150-2008 高周波帯域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率及び誘電損失の測定方法

KR-KS, 薄膜の誘電率測定

KS C 2150-2008(2023) 高周波領域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率および誘電損失の測定方法

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 薄膜の誘電率測定

IPC TM-650 2.5.5.8-1995 高分子フィルムの低周波誘電率と損失正接

Professional Standard - Electron, 薄膜の誘電率測定

SJ/T 1147-1993 コンデンサ用有機膜の誘電正接及び比誘電率の試験方法
SJ/T 11457.1.3-2021 導波管型誘電体共振器第 1-3 部：総合情報と試験条件 - マイクロ波周波数領域における誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法
SJ/T 11457.1.4-2021 導波管型誘電体共振器第1-4部：総合情報と試験条件～ミリ波帯における誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法～

Professional Standard - Petroleum, 薄膜の誘電率測定

SY/T 6528-2002 岩石サンプルの誘電率測定方法
SY 6528-2002 岩石サンプルの誘電率測定方法

PL-PKN, 薄膜の誘電率測定

PN E04403-1986 固体電気絶縁材料。誘電率・誘電損失率の測定
PN-EN IEC 63185-2021-08 E 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)

Association Francaise de Normalisation, 薄膜の誘電率測定

NF EN 62562:2011 低損失誘電体板の複素誘電率を測定するための共振空洞法
NF C26-232*NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
NF C26-296*NF EN 62562:2011 空洞共振器法は、低損失誘電体デバイスの合成誘電率の測定に使用されます。
NF EN 60247:2004 絶縁性液体 - 比誘電率、誘電正接（tanδ）、直流抵抗率の測定
NF EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための対称ディスク共振器法
UTE C27-251:1987 液体の誘電率 - pH と抵抗を測定するための排ガス腐食規則 - 方法
NF EN 60811-301:2012 電気ケーブルおよび光ケーブルの非金属材料の試験方法パート 301: 電気試験 23oC フィラーの誘電率の測定

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 薄膜の誘電率測定

EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の合成誘電率測定
EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法

ES-UNE, 薄膜の誘電率測定

UNE-EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
UNE-EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
UNE-EN 60247:2004 ERRATUM:2005 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定
UNE-EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板の複素誘電率測定のためのバランスディスク共振器法

German Institute for Standardization, 薄膜の誘電率測定

DIN EN 62810:2015-12 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
DIN EN 62562:2011-10 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
DIN EN IEC 63185:2022-10 平衡ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定 (IEC 63185:2020)
DIN 53373:1970 プラスチックフィルムの検査 - 電子測定データ記録による穿刺試験
DIN EN 63185:2018 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するためのバランスディスク共振器法 (IEC 46F/415/CD:2018)
PAS 1022-2004 エリプソメトリーを使用して材料および誘電体材料の特性をテストし、薄膜層の厚さを測定するための参照手順
DIN EN 62562:2011 空洞共振器法を使用した低損失誘電体プレートの複素誘電率の測定 (IEC 62562-2010)、ドイツ語版 EN 62562-2011
DIN EN 62810:2015 円筒共振器法を使用した低損失誘電体ロッドの複素誘電率の測定 (IEC 62810-2015)、ドイツ語版 EN 62810-2015
DIN 51111:2023-04 車両電気駆動装置用の未使用および使用済みオイルの電気的特性比導電率、比誘電率の測定
DIN EN 61338-1-3:2000 導波管型誘電体共振器パート 1-3: 一般情報と試験条件マイクロ波誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法。
DIN EN 61338-1-4 Berichtigung 1:2007 導波管誘電体共振器パート 1-4: 一般情報と試験条件ミリ波周波数における誘電体共振器材料の比複素誘電率を測定する方法。

Danish Standards Foundation, 薄膜の誘電率測定

DS/EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
DS/EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損率（tanファイ）、直流抵抗率の測定
DS/IEC 247:1979 絶縁性液体の比誘電率、誘電正接、直流抵抗率の測定
DS/EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法

Group Standards of the People's Republic of China, 薄膜の誘電率測定

T/CEIA 002-2023 固体材料の高温複素誘電率の測定方法

British Standards Institution (BSI), 薄膜の誘電率測定

BS EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
BS EN 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
BS EN IEC 63185:2021 平衡ディスク共振器法による低損失誘電体基板の複素誘電率測定
18/30373795 DC BS EN 63185. 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための平衡ディスク共振器法
BS PD IEC TR 63307:2020 ノイズ抑制シートの複素比透磁率および誘電率の測定方法
PD IEC TR 63307:2020 ノイズ抑制シートの複素比透磁率および誘電率の測定方法
BS EN 61338-1-3:2000 導波管型誘電体共振器の概要と試験条件マイクロ波周波数誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法
BS EN 60811-301:2012 電気および光ケーブル非金属材料の試験方法電気試験 23°C での充填コンパウンドの誘電率の測定

International Electrotechnical Commission (IEC), 薄膜の誘電率測定

IEC PAS 62562:2008 空洞共振器法による低損失誘電体デバイスの合成誘電率測定
IEC 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
IEC 63185:2020 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
IEC TR 63307:2020 ノイズ抑制シートの複素比透磁率および誘電率の測定方法
IEC 61338-1-3:1999 導波管型誘電体共振器第 1-3 部：一般情報と試験条件マイクロ波誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法
IEC 61338-1-4:2005 導波管型誘電体共振器パート 1-4: 一般情報と試験条件ミリ波周波数における誘電体共振器材料の比複素誘電率を測定する方法。

RU-GOST R, 薄膜の誘電率測定

GOST 22372-1977 誘電体材料周波数帯域100Hz～5MHzにおける誘電率及び誘電正接の測定方法
GOST 8.358-1979 0.2～1GHzの周波数帯域における比誘電率および誘電正接角の測定方法
GOST R 8.623-2015 測定の一貫性を確保するための国家システム固体誘電体の比誘電率と損失係数マイクロ波周波数の測定手順
GOST R IEC 62562-2012 測定の一貫性を確保するための国家制度空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
GOST 8.544-1986 測定の一貫性を確保するための状態システム比誘電率固体誘電体の損失正接 9 度 10 から 10 度 Hz までの測定手順 10

AENOR, 薄膜の誘電率測定

UNE-EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定

Indonesia Standards, 薄膜の誘電率測定

SNI 04-6542-2001 絶縁性液体の比誘電率、誘電正接、直流抵抗率の測定

IEC - International Electrotechnical Commission, 薄膜の誘電率測定

PAS 62562-2008 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (バージョン 1.0)

Lithuanian Standards Office , 薄膜の誘電率測定

LST EN 62562-2011 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (IEC 62562:2010)
LST EN 60247-2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率 (tan) および DC 抵抗率の測定 (IEC 60247:2004)
LST EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)

ES-AENOR, 薄膜の誘電率測定

UNE 21-317-1989 絶縁性液体の誘電率、絶縁損失(tg5)、比抵抗(DC)の測定

未注明发布机构, 薄膜の誘電率測定

DIN EN IEC 63185:2022 対称ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定

Standard Association of Australia （SAA）, 薄膜の誘電率測定

AS 1767.2.2:2008 絶縁性液体の試験方法比誘電率、誘電正接（tan d）、直流抵抗率の測定

GOSTR, 薄膜の誘電率測定

GOST 8.015-1972 測定の一貫性を確保するための状態システム 9 ～ 10 GHz の周波数帯域における薄板材料からなる固体誘電体の比誘電率と誘電正接の誘電正接を測定する方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 薄膜の誘電率測定

ASTM D8153-22 誘電率プローブを使用した土壌水分含有量の標準試験方法
ASTM D5568-01 マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法
ASTM D5568-95 マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法
ASTM D5568-22a マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法
ASTM D5568-08 マイクロ波周波数における固体材料の比複素誘電率および透磁率を測定するための標準試験方法