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低倍率と顕微鏡検査

低倍率と顕微鏡検査は全部で 81 項標準に関連している。

低倍率と顕微鏡検査 国際標準分類において、これらの分類：光学機器、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 工作機械設備、 バルブ、 金属材料試験、 光学および光学測定、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 分析化学、 潤滑剤、工業用油および関連製品、 長さと角度の測定、 電子表示装置、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 半導体ディスクリートデバイス。

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 低倍率と顕微鏡検査

• GJB 9890.1-2020 航空用GH4169合金の組織試験と評価 その1：低倍率および微細組織試験と評価

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 低倍率と顕微鏡検査

• JIS B 7254:2007 顕微鏡の倍率
• JIS B 7139-1:2008 実体顕微鏡 パート 1: 実体顕微鏡の最小要件
• JIS B 7144:1995 顕微鏡 透過光用集光レンズとサブステージ鏡筒の接続

British Standards Institution (BSI), 低倍率と顕微鏡検査

• BS ISO 8039:2014 顕微鏡の倍率、公差、記号
• BS 7012-10.2:1997 光学顕微鏡 実体顕微鏡の最小要件 高性能顕微鏡
• BS 7012-10.1:1998 光学顕微鏡 実体顕微鏡の最小要件 汎用実体顕微鏡
• BS ISO 11884-2:2007 光学とフォトニクス 実体顕微鏡の最小要件 高性能顕微鏡
• BS 7012-10.4:1998 光学顕微鏡、実体顕微鏡の最小要件、ユーザー向け情報
• BS ISO 11884-1:2006 光学とフォトニクス 実体顕微鏡の最小要件 一般的な実体顕微鏡
• BS ISO 19055:2015 顕微鏡 双眼鏡筒の最小要件
• BS ISO 19056-2:2019 顕微鏡照明特性の定義と測定 明視野顕微鏡における色関連照明特性
• BS ISO 29301:2017 分析電子顕微鏡用の周期構造を有する標準物質を使用して画像倍率を校正するためのマイクロビーム解析法
• BS ISO 29301:2023 分析電子顕微鏡用の周期構造を有する標準物質を使用して画像倍率を校正するためのマイクロビーム解析法
• 18/30339980 DC BS ISO 19056-2 顕微鏡における照明特性の定義と測定 パート 2: 明視野顕微鏡における色関連の照明特性

Association Francaise de Normalisation, 低倍率と顕微鏡検査

• NF A89-211:2013 金属材料の溶接部の破壊試験、溶接部の低倍率および顕微鏡検査
• NF A89-211:1996 金属材料の溶接部の破壊試験、溶接部の低倍率および顕微鏡検査 (欧州規格 EN 1321)
• NF A04-112:1980 鋼：沸騰鋼線材中の化学不純物を低倍率で表示および説明する方法
• NF A04-114:1984 鉄鋼 高炭素連続鋳造鋳塊鋼線材の不均一性を表示・説明するための低倍率検査方法
• NF A04-113:1984 鉄鋼製品 鋼塊から加工した高炭素鋼線材 化学的不純物の表示と説明のための低倍率試験方法

European Committee for Standardization (CEN), 低倍率と顕微鏡検査

• EN ISO 17639:2022 金属材料の溶接部の破壊試験、溶接部の低倍率および顕微鏡検査
• EN ISO 17639:2013 金属材料の溶接部の破壊試験、溶接部の低倍率および顕微鏡検査

American Society for Testing and Materials (ASTM), 低倍率と顕微鏡検査

• ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
• ASTM E1951-98 レチクルと光学顕微鏡の倍率を校正するための標準ガイド
• ASTM E1951-02 レチクルと光学顕微鏡の倍率を校正するための標準ガイド
• ASTM E1951-01 レチクルと光学顕微鏡の倍率を校正するための標準ガイド
• ASTM E1951-14(2019) レチクルと光学顕微鏡の倍率を校正するための標準ガイド
• ASTM E766-14(2019) 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
• ASTM E766-14e1 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
• ASTM D5770-02 16 倍率顕微鏡を使用した酸化試験における潤滑油の酸価を測定するための標準的な試験方法
• ASTM D5770-96 16 倍率顕微鏡を使用した酸化試験における潤滑油の酸価を測定するための標準的な試験方法
• ASTM D5770-02(2007) 16 倍率顕微鏡を使用した酸化試験における潤滑油の酸価を測定するための標準的な試験方法
• ASTM E2382-04 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムのガイド
• ASTM E3143-18a リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
• ASTM E3143-18 リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
• ASTM E3143-18b リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
• ASTM E2382-04(2012) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムの標準ガイド
• ASTM E2530-06 Si(111) 単一原子レベルを使用したサブナノメートル変位による原子間力顕微鏡の Z 倍率校正の標準手順

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 低倍率と顕微鏡検査

• DB31/T 297-2003 走査型電子顕微鏡の倍率校正方法
• DB31/T 315-2004 透過型電子顕微鏡の倍率校正方法

Defense Logistics Agency, 低倍率と顕微鏡検査

• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 3-2006 40X ～ 60X 倍率のポケット固定焦点単眼光学顕微鏡
• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 2-2001 40X ～ 60X 倍率のポケット固定焦点単眼光学顕微鏡
• DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 1-1993 40X ～ 60X 倍率のポケット固定焦点単眼光学顕微鏡
• DLA A-A-50207 A-1988 40X ～ 60X 倍率のポケット固定焦点単眼光学顕微鏡
• DLA DSCC-VID-V62-04743-2005 マイクロ回路、リニア、低電力、低オフセット、クワッド電圧コンパレータ、モノリシック シリコン
• DLA DSCC-VID-V62-04745-2005 マイクロ回路、リニア、低電力、低オフセット、クワッド電圧コンパレータ、モノリシック シリコン
• DLA SMD-5962-91693 REV C-2001 シリコンモノブロックオペアンプ低消費電力クワッドリニアマイクロ回路
• DLA SMD-5962-95596 REV B-2006 単一電源低電力トリプルビデオアンプシリコンモノリシック回路リニアマイクロ回路
• DLA SMD-5962-86871 REV D-2006 シリコン モノリシック クワッド 2 入力正 NAND バッファ 高度な低消費電力ショットキー トランジスタ間論理回路、バイポーラ デジタル マイクロ回路
• DLA SMD-5962-88648 REV E-2002 シリコンモノリシッククワッド差動ラインドライバ低消費電力ショットキーにより二重偏波デジタルマイクロ回路を促進
• DLA SMD-5962-88649 REV E-2005 シリコンモノリシッククワッド差動ラインレシーバ低消費電力ショットキー促進二重偏波デジタルマイクロ回路
• DLA MIL-M-38510/20 D-2005 TTL低電力NANDゲートモノリシックシリコンデジタルマイクロ回路
• DLA MIL-M-38510/20 D VALID NOTICE 1-2010 マイクロ回路、デジタル、TTL、低電力、NAND ゲート、モノリシック シリコン

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 低倍率と顕微鏡検査

• GB/T 41398-2022 顕微鏡双眼鏡筒の最小要件

International Organization for Standardization (ISO), 低倍率と顕微鏡検査

• ISO 19055:2015 顕微鏡 双眼鏡筒の最小要件
• ISO 11884-2:2007 光学とフォトニクス 実体顕微鏡の最小要件 パート 2: 高性能顕微鏡
• ISO 11884-1:2006 光学とフォトニクス 実体顕微鏡の最小要件 パート 1: 一般的な実体顕微鏡
• ISO 11884-2:1997 光学および光学機器 実体顕微鏡の最小要件 パート 2: 高性能顕微鏡
• ISO 11884-1:1998 光学および光学機器 実体顕微鏡の最小要件 パート 1: 一般的な実体顕微鏡
• ISO/FDIS 29301:2023 マイクロビーム解析 周期構造を有する標準物質を使用した画像倍率の校正のための分析電子顕微鏡法
• ISO 29301:2023 マイクロビーム解析 周期構造を有する標準物質を使用した画像倍率の校正のための分析電子顕微鏡法
• ISO 27911:2011 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、近接場光学顕微鏡の横方向分解能の定義と校正
• ISO 19056-2:2019 顕微鏡 照明特性の定義と測定 パート 2: 明視野顕微鏡における色に関連する照明特性
• ISO/TR 14880-5:2010 光学とフォトニクス、顕微鏡レンズアレイ、パート 5: テストガイド

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 低倍率と顕微鏡検査

• KS B ISO 11884-2-2011(2016) 光学およびフォトニクスにおける実体顕微鏡の最小要件パート 2: 高性能顕微鏡
• KS B ISO 11884-2-2011(2021) 光学およびフォトニクスにおける実体顕微鏡の最小要件パート 2: 高性能顕微鏡
• KS B ISO 11884-2:2011 光学とフォトニクス 実体顕微鏡の最小要件 パート 2: 高性能顕微鏡

RU-GOST R, 低倍率と顕微鏡検査

• GOST 11200-1975 顕微鏡対物レンズと鏡筒の接続寸法
• GOST 8.003-1983 ГСИ. 工具顕微鏡. 校正方法と工具
• GOST 3361-1975 顕微鏡の接眼レンズと鏡筒の接続寸法

Professional Standard - Judicatory, 低倍率と顕微鏡検査

• SF/T 0135-2023 法医学マイクロハプロタイプ遺伝子マーカーのタイピングと応用に関する技術仕様

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 低倍率と顕微鏡検査

• GB/T 34002-2017 マイクロビーム解析透過型電子顕微鏡用周期構造標準物質を用いた像倍率の校正方法

IT-UNI, 低倍率と顕微鏡検査

• UNI 7686-1977 肉眼検査と顕微鏡検査の倍率。 金属組織低倍写真と金属組織顕微鏡写真の倍率と仕様。 写真技術的な推奨事項と運用ガイドライン

Association for Information and Image Management (AIIM), 低倍率と顕微鏡検査

• AIIM 10198-1994 顕微鏡写真。 16mmマイクロフィルム回転カメラ。 機械的および光学的特性

Group Standards of the People's Republic of China, 低倍率と顕微鏡検査

• T/CVIA 02-2017 健全なディスプレイ デバイス パート 2 ディスプレイ用の低ブルー ライト ディスプレイ デバイスの技術要件とテスト方法
• T/CVIA 62-2017 健全なディスプレイ デバイス パート 2 ディスプレイ用の低ブルー ライト ディスプレイ デバイスの技術要件とテスト方法
• T/CVIA 75-2019 ヘルス表示デバイス パート 3 低フリッカー表示デバイスの技術要件とテスト方法

Aerospace, Security and Defence Industries Association of Europe (ASD), 低倍率と顕微鏡検査

• ASD-STAN PREN 2950-2007 航空宇宙シリーズ。 可鍛性耐熱合金の試験方法。 半完成品および部品。 低倍率撮影および顕微鏡写真検査の条件。 構造と欠陥のアトラス、エディション P1

Professional Standard - Commodity Inspection, 低倍率と顕微鏡検査

• SN/T 3798-2014 建築および自動車材料中のアスベストの検出方法 偏光顕微鏡

その他：   金属組織学的低倍率および高倍率, 低倍率と顕微鏡検査.