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一定一定

一定一定は全部で 26 項標準に関連している。

一定一定 国際標準分類において、これらの分類：非金属鉱物、絶縁流体、断熱材、ゴム、総合電子部品、プリント回路およびプリント回路基板、スポーツ用品と施設。

American Society for Testing and Materials (ASTM), 一定一定

ASTM D1082-17 マイカの誘電損失率及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D924-23 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D2149-13 固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）および誘電正接の標準試験方法
ASTM D150-18 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D150-87 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D3380-22 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
ASTM F498-77(2006) アルペンスキーの中心バネ定数とバネ定数バランスの標準試験方法
ASTM F498-77(1998) アルペンスキーの中心バネ定数とバネ定数バランスの標準試験方法
ASTM F498-19 アルペンスキーの中心バネ定数とバネ定数バランスの標準試験方法
ASTM F498-12 アルペンスキーの中間部弾性定数および弾性定数バランスの標準試験方法
ASTM D2520-21 マイクロ波周波数および 1650°C の温度における固体電気絶縁材料の複素誘電率 (誘電率) の標準試験方法
ASTM D3380-90(1995)e1 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 一定一定

IPC TM-650 2.5.5.3C-1987 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二流体セル法）
IPC TM-650 2.5.5.2A-1987 プリント基板材料の誘電率と誘電率 - クランプ方式
IPC TM-650 2.5.5.1B-1986 1MHzにおける絶縁材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（接触電極方式）
IPC TM-650 2.5.5.5C-1998 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験
IPC TM-650 2.5.5.5B-1995 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 一定一定

KS C 2135-1996(2021) 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率（誘電率）の試験方法
KS C 2136-1996(2021) 固体電気絶縁材料の高周波および高温における複素誘電率（誘電率）の試験方法
KS C 2136-1996(2016) 高周波および高温における固体絶縁材料の複素誘電率（誘電率）を試験する方法

American National Standards Institute （ANSI), 一定一定

ANSI/ASTM D150:2018 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率（誘電率）の標準試験方法

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 一定一定

IPC TM-650.2.5.7.2-2009 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法）改訂 C 1987 年 12 月
IPC TM-650 2.5.5.3-1987 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法）改訂 C 1987 年 12 月
IPC TM-650-2015 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法）改訂 C 1987 年 12 月
IPC TM-650 2.5.5.1-1986 MHz における絶縁材料の誘電率 (誘電率) および損失正接 (散逸率) (接触電極方式) 改訂 B 1986 年 5 月

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 一定一定

IEEE Std 178-1958*ANSI C83.23-1960 圧電結晶に関する IEEE 規格: 弾性圧電定数および誘電率電気機械結合係数の決定、1958 年

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