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半導体図

半導体図は全部で 33 項標準に関連している。

半導体図 国際標準分類において、これらの分類：集積回路、マイクロエレクトロニクス、 熱力学と温度測定、 電気、磁気、電気および磁気測定、 半導体ディスクリートデバイス、 総合電子部品、 グラフィックシンボル、 ソフトウェア開発とシステム文書化。

CZ-CSN, 半導体図

• CSN 01 3347-1989 半導体デバイスの図記号
• CSN 01 3368-1990 半導体デバイスの図記号

YU-JUS, 半導体図

• JUS N.R1.520-1988 半導体デバイス。 図面の準備
• JUS N.A3.500-1980 半導体装置。 グラフィックシンボル

RO-ASRO, 半導体図

• STAS 1590/10-1974 半導体デバイスの図記号
• STAS 11381/13-1981 電気図のグラフィック シンボル。 半導体デバイス

Defense Logistics Agency, 半導体図

• DLA SMD-5962-90727 REV A-1993 シリコンモノリシックデジタル相補型金属酸化膜半導体グラフィックス処理システムプロセッサ、デジタルマイクロ回路

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 半導体図

• DB13/T 5293-2020 半導体特性のグラフィカルな機器メンテナンス仕様

IN-BIS, 半導体図

• IS 5001-1969 半導体デバイス描画ガイド
• IS 5001 Pt.1-1969 半導体デバイス描画ガイド

Professional Standard - Electron, 半導体図

• SJ/T 10229-1991 XJ4810 半導体管特性グラフ計測器
• SJ/T 10149-1991 電子部品グラフィックスライブラリ、半導体ディスクリートデバイスグラフィックス
• SJ/Z 9021.1-1987 半導体デバイスの機械的標準化 第1部：半導体デバイスのパターン図
• SJ 20236-1993 GH2050/51 半導体管特性グラフィック機器校正器の校正手順
• SJ/T 11777-2021 半導体管特性図校正器の技術要件と測定方法

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 半導体図

• IEEE 426-1958 半導体デバイスの図記号に関する標準案

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 半導体図

• AIEE No 426-1958 AIEE 半導体デバイスの図記号に関する標準案
• IEEE 660-1986 半導体メモリのテストパターン言語

SE-SIS, 半導体図

• SIS SEN 01 26 51-1969 半導体の電気回路図記号
• SIS SS IEC 617-5:1987 概略図記号。 半導体と電子管

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 半導体図

• GB/T 13974-1992 半導体チューブ特性図形測定器試験方法
• GB/T 13973-2012 半導体管特性グラフ装置の一般仕様
• GB/T 13973-1992 半導体管特性グラフ装置の一般技術条件

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 半導体図

• JJF 1236-2010 半導体管特性測定器の校正仕様書
• JJF 1894-2021 半導体管特性の校正仕様 グラフィカル機器校正器

International Electrotechnical Commission (IEC), 半導体図

• IEC 60191-1:1966 半導体デバイスの機械的標準化 第1部：半導体デバイスのグラフィック描画
• IEC 60191-1A:1969 半導体デバイスの機械的標準化 第 1 部：半導体デバイスの図形描画 追補 1
• IEC 60191-1C:1974 半導体デバイスの機械的標準化 第 1 部：半導体デバイスの図作図補足 3

JP-JEITA, 半導体図

• JEITA ED 7300A-2008 半導体パッケージ外形図作成の標準推奨作法

PL-PKN, 半導体図

• PN E01200-05-1992 グラフのグラフィック シンボル。 半導体デバイスと電子管

RU-GOST R, 半導体図

• GOST 2.730-1973 ЕСКД. 回路図内の図記号. 半導体デバイス

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 半導体図

• CNS 13802-5-1997 電気工学図面記号（半導体、電子管）
• CNS 13802.5-1997 電気工学図面記号（半導体、電子管）

その他：   インピーダンスプロット, チュチュ調整, 画像サイズ, 図 試験装置図, チャートのヒストグラム, グラフ クロマトグラム, グラフ クロマトグラム, 図 バンド図, 図サンプルeis図, 図サンプルクロマトグラム, クロマトグラム, 変数グラフ グラフ, グラフ分析チャート, ダイアグラム, 図関係図, グラフ関数図, 半導体図, スペクトルスペクトル, 図マップ, 半導体UV画像.