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ポアソン比検定

ポアソン比検定は全部で 12 項標準に関連している。

ポアソン比検定 国際標準分類において、これらの分類：ガラス、 半導体ディスクリートデバイス、 電子および通信機器用の電気機械部品、 建材、 航空宇宙製造用の材料。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ポアソン比検定

• GB 7962.23-1987 無色光学ガラスの試験方法 ヤング率、せん断弾性率、ポアソン比の試験方法
• GB 5594.2-1985 電子部品の構造用セラミック材料の性能試験方法 ヤング弾性率 ポアソン比試験方法

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, ポアソン比検定

• EN 62047-21:2014 半導体デバイス 微小電気機械デバイス 第21回 薄膜MEMS材料のポアソン比試験方法

German Institute for Standardization, ポアソン比検定

• DIN EN 62047-21:2015 半導体デバイス - 微小電気機械デバイス - パート 21: 薄膜 MEMS 材料のポアソン比の試験方法 (IEC 62047-21:2014)、ドイツ語版 EN 62047-21:2014
• DIN EN 62047-21:2015-04 半導体デバイス - 微小電気機械デバイス - パート 21: 薄膜 MEMS 材料のポアソン比の試験方法 (IEC 62047-21:2014)

IN-BIS, ポアソン比検定

• IS 13838-1993 金属の機械的試験 ポアソン比の決定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), ポアソン比検定

• KS F 2438-2017 円筒形コンクリート供試体の圧縮静弾性率及びポアソン比の試験方法

Association Francaise de Normalisation, ポアソン比検定

• NF EN 62047-21:2014 半導体デバイス 微小電気機械デバイス 第21回：薄膜MEMS材料のポアソン比の試験方法

ES-UNE, ポアソン比検定

• UNE-EN 62047-21:2014 半導体デバイス 微小電気機械デバイス 第 21 部: 薄膜 MEMS 材料のポアソン比の試験方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), ポアソン比検定

• JIS A 1127:2010 共振法を用いたコンクリートの動弾性係数、剛性係数およびポアソン比を測定する試験方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), ポアソン比検定

• ASTM D6790-02(2007) ハニカムコアのポアソン比を決定するための標準試験方法
• ASTM D6790/D6790M-14 ハニカムコアのポアソン比を決定するための標準試験方法

その他：   ガラスのポアソン比, ガラスのポアソン比, ガラスのポアソン比, ポアソン比, ポアソン比試験規格, ソニック法 ポアソン比, セラミックのポアソン比, 金属のポアソン比, 金属のポアソン比, コンクリートのポアソン比試験, コンクリートのポアソン比, ポアソン比検定, セラミック材料のポアソン比試験, ポアソン比温度, ポアソン比検定, コンクリートのポアソン比, 標準ポアソン比, 耐火物のポアソン比, 薄膜のポアソン比, ポアソン比設計.