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電荷スペクトル

電荷スペクトルは全部で 20 項標準に関連している。

電荷スペクトル 国際標準分類において、これらの分類：電気、磁気、電気および磁気測定、 分析化学。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電荷スペクトル

• GB/T 31472-2015 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
• GB/T 25185-2010 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電荷スペクトル

• KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光法 帯電制御・帯電補正法レポート
• KS D ISO 19318:2005 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告

International Organization for Standardization (ISO), 電荷スペクトル

• ISO 29081:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、帯電制御および帯電調整のためのレポート方法。
• ISO 19318:2004 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告
• ISO 19318:2021 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告

British Standards Institution (BSI), 電荷スペクトル

• BS ISO 29081:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、帯電制御および帯電調整のためのレポート方法。
• BS ISO 19318:2005 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告
• BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法のレポート
• 20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法の報告

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 電荷スペクトル

• GB/T 32998-2016 表面化学分析のためのオージェ電子分光法による帯電制御および補正方法の報告に関する仕様要件

Association Francaise de Normalisation, 電荷スペクトル

• NF ISO 29081:2010 表面化学分析におけるオージェ電子分光法の帯電制御と補正に使用する方法の表示
• NF X21-068*NF ISO 29081:2010 表面化学分析のためのオージェ電子分光法の帯電制御および校正方法に関する報告

Standard Association of Australia （SAA）, 電荷スペクトル

• AS ISO 19318:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。 充電制御および充電調整の報告方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電荷スペクトル

• ASTM E1523-97 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
• ASTM E1523-15 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
• ASTM E1523-03 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
• ASTM E1523-09 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 電荷スペクトル

• GJB/Z 40.1-1993 軍用真空電子機器シリーズスペクトル空間電荷制御電子管

その他：   充電抵抗, mkチャージ, 電荷減衰, 充電, 電荷スペクトル, 充電ピーク, チャージ+, 表面電荷, 電荷スペクトル, スペースチャージ, 充電, 電荷の蓄積, 電荷集中, 電荷集中, チャージチャージ, 荷電イオン, 片側荷電スペクトル, 電荷密度, 充電ピーク, 多重電荷スペクトル.