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xps および高エネルギー xps

xps および高エネルギー xpsは全部で 11 項標準に関連している。

xps および高エネルギー xps 国際標準分類において、これらの分類：分析化学。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, xps および高エネルギー xps

• GB/T 33502-2017 表面化学分析のための X 線光電子分光法 (XPS) データの記録とレポートの仕様要件

Association Francaise de Normalisation, xps および高エネルギー xps

• NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
• NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート

British Standards Institution (BSI), xps および高エネルギー xps

• BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
• BS ISO 16531:2013 表面化学分析、深さプロファイリング、光電子分光法 (XPS) および原子発光分光法 (AES) の深さプロファイリングにおけるイオン ビーム校正および電流または電流密度の関連測定方法。
• 19/30364173 DC BS ISO 22581 XPS による表面化学分析 X 線光電子分光法調査スキャンからのほぼリアルタイムの情報のデータ管理と処理 表面汚染の特定と修正のルール

International Organization for Standardization (ISO), xps および高エネルギー xps

• ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
• ISO/CD 5861 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色AlKa XPS装置強度校正法
• ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色Al Kα XPS装置強度校正法
• ISO 16531:2013 表面化学分析 深さプロファイリング 原子発光分光法 (AES) および光電子分光法 (XPS) における深さプロファイリングのためのイオン ビーム補正および電流または電流密度の関連測定方法。

RU-GOST R, xps および高エネルギー xps

• GOST R ISO 16243-2016 測定の一貫性を確保するための国家システム 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) データの記録と報告

その他：   XPSとAES, aes および xps のエネルギースペクトル, XPSとAES, aesとxps, aesとxps, XPS vs., aesとxps, xpsとx, aesとxps, xps および高エネルギー xps, XPSとAES.