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紫外線耐候性試験機

紫外線耐候性試験機は全部で 66 項標準に関連している。

紫外線耐候性試験機 国際標準分類において、これらの分類：繊維製品、光学および光学測定、ゴム、環境試験、道路工事、半導体ディスクリートデバイス、電子機器用機械部品、標準化の一般原則、消防。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 紫外線耐候性試験機

GB/T 31899-2015 繊維耐候性試験紫外線暴露
GB/T 16585-1996 加硫ゴムの人工耐候性試験方法（紫外線蛍光灯）
GB/T 8429-1998 繊維の色堅牢度試験風化に対する色堅牢度、屋外暴露
GB/T 14522-2008 機械工業製品に使用されるプラスチック、コーティング、ゴム材料の人工気候老化の試験方法蛍光 UV ランプ
GB/T 4937.3-2012 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 3: 外部目視検査
GB/T 19183.5-2003 電子機器、屋外エンクロージャの機械構造パート 3; キャビネットとエンクロージャの気候、機械的テスト、および安全要件

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 紫外線耐候性試験機

CNS 11230-1985 UVカーボンアークランプ耐候性試験機

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 紫外線耐候性試験機

KS K 0706-2007 繊維の耐候堅牢度試験：老化試験機法
KS K ISO 105-B03:2011 テキスタイル. 色堅牢度のテスト. パート B03: 耐候性に対する色堅牢度: 屋外暴露
KS C IEC 60749-3:2002 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 3: 目視検査
KS C IEC 60749-3:2021 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 3: 外部目視検査
KS C IEC 61969-3-2003(2008) 電子機器の屋外エンクロージャの機械構造パート 3: キャビネットとエンクロージャの気候、機械的試験、および安全面に関する部分仕様
KS C IEC 61969-3:2003 電子機器の機械構造屋外密閉エンクロージャパート 3: サブ仕様エンクロージャとシャーシの耐候性、機械的試験および安全条件
KS C IEC 61969-3:2014 電子機器の機械構造の屋外密閉エンクロージャのパート 3: 筐体とシャーシの耐候性、機械的試験および安全条件に関する標準以下の仕様

British Standards Institution (BSI), 紫外線耐候性試験機

BS EN ISO 105-B03:1997 テキスタイル、色堅牢度テスト、耐候性色堅牢度、屋外暴露
BS EN 60749-21:2011 半導体デバイス、機械的および耐気候性の試験方法、はんだ付け性
BS EN 60749-14:2003 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、端子の耐久性
BS EN 60749-29:2011 半導体デバイス、機械的および耐気候性の試験方法、ラッチアップ効果の試験
BS EN 60749-24:2004 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、加速耐湿性、不バイアス HAST
BS EN 60749-33:2004 半導体デバイス機械的および気候的試験方法加速耐湿性不偏オートクレーブ
BS EN 60749-15:2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 - スルーホール実装機器のはんだ付け温度に対する耐性
BS EN 60749-15:2003 半導体デバイス機械的および気候的試験方法スルーホール実装機器のはんだ付け温度に対する耐性
BS EN 60749-15:2010 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、スルーマウント機器のはんだ付け温度耐性
BS EN 60749-32:2003 半導体デバイス機械的および気候試験方法プラスチック封止デバイスの可燃性 (外部誘導)
BS EN 60749-32:2003+A1:2010 半導体デバイス機械的および気候的試験方法プラスチック密閉デバイスの可燃性 (外部誘導)
BS EN 60749-7:2011 半導体デバイス、機械的および耐候性の試験方法、その他の残留ガスの内部湿度の測定および分析
BS EN 60749-30+A1:2006 半導体デバイスの機械的および耐気候性の試験方法非密閉型表面実装機器の信頼性試験前の事前調整。
BS EN 60749-30:2005+A1:2011 半導体デバイス機械的および耐気候性の試験方法非密閉型表面実装機器の信頼性試験前のプレコンディショニング

VN-TCVN, 紫外線耐候性試験機

TCVN 5468-2007 テキスタイル. 色堅牢度のテスト. パート B03: 耐候性に対する色堅牢度: 屋外暴露

European Committee for Standardization (CEN), 紫外線耐候性試験機

EN ISO 105-B03:2017 テキスタイル. 色堅牢度のテスト. パート B03: 耐候性に対する色堅牢度: 屋外暴露
EN 14187-8:2017 冷間用ジョイントシーラント - 試験方法 - パート 8: 人工気候に対する紫外線の影響の測定
EN ISO 105-B03:1997 テキスタイル. 色堅牢度試験. パート B03: 耐候性に対する色堅牢度: 屋外暴露 [ISO 105-B03-1994]

International Organization for Standardization (ISO), 紫外線耐候性試験機

ISO 105-B03:2017 テキスタイル. 色堅牢度のテスト. パート B03: 耐候性に対する色堅牢度: 屋外暴露
ISO 105-B03:1994 繊維製品の色堅牢度のテストパート B03: 耐候性に対する色堅牢度: 屋外暴露
ISO 105-B03:1988 テキスタイル. 色堅牢度のテスト. パート B03: 耐候性に対する色堅牢度: 屋外暴露

International Electrotechnical Commission (IEC), 紫外線耐候性試験機

IEC 60749-3:2002 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 3: 目視検査
IEC 60749-3:2002/COR1:2003 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 3: 目視検査
IEC 60749-5:2003 半導体デバイス機械的および気候的試験方法第5部定常温湿度偏差耐久試験
IEC 60749-5:2017 半導体デバイス機械的および気候的試験方法第5部定常温湿度偏差耐久試験
IEC 61969-3:2001 電子機器用の機械構造部品、屋外エンクロージャパート 3: エンクロージャおよびエンクロージャの気候、機械的試験、および安全面に関する標準以下の仕様
IEC 60749-15:2020 RLV 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 15: スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性
IEC 60749-15:2020 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 15: スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性

German Institute for Standardization, 紫外線耐候性試験機

DIN EN 60749-3:2003 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 3: 目視検査
DIN EN ISO 105-B03:1997 テキスタイル色の堅牢度のテストパート B03: 耐候性の影響に対する色の堅牢度: 屋外暴露
DIN EN 14187-8:2003 冷間用シール剤第8部紫外線照射法による人工耐候性の判定試験方法
DIN EN 60749-9:2003 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 9: マーキング耐久性
DIN EN 14187-8:2017 冷間用シーラント、試験方法、パート 8: 紫外線放射法による人工耐候性の測定、ドイツ語版 EN 14187-8-2017

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 紫外線耐候性試験機

EN 60749-3:2017 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 3: 目視検査
EN 60749-4:2017 半導体デバイス機械的および気候的試験方法第 4 部: 定常状態の温湿度偏差耐久性試験
EN 60749-5:2017 半導体デバイス機械的および気候的試験方法第5部定常温湿度偏差耐久試験
EN 60749-5:2003 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 5: 定常状態の温度および湿度偏差耐久性試験 IEC 60749-5-2003
EN IEC 60749-15:2020 半導体デバイスの機械的及び気候的試験方法第15部：スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性
EN 60749-15:2010 半導体デバイスの機械的及び気候的試験方法第15部：スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性

Danish Standards Foundation, 紫外線耐候性試験機

DS/EN 60749-3:2003 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法第 3 部: 外観検査
DS/EN 60749-3/Corr.1:2004 半導体デバイスの機械的・気候的試験方法第3部：外観目視検査
DS/EN 60749-15/AC:2011 半導体デバイスの機械的及び気候的試験方法第15部：スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性
DS/EN 60749-15:2011 半導体デバイスの機械的及び気候的試験方法第15部：スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性

Association Francaise de Normalisation, 紫外線耐候性試験機

NF C96-022-3*NF EN 60749-3:2017 半導体デバイスの機械的・気候的試験方法第3部：外観目視検査
NF G07-012-3:1997 テキスタイル、色堅牢度のテスト、パート B03: 耐候性に対する色堅牢度: 屋外暴露 (欧州規格 EN ISO 105-B03)
NF C93-476-3:2001 電子機器の機械構造屋外エンクロージャパート 3: サブ仕様エンクロージャとエンクロージャの気候、機械的試験、および安全性の側面

KR-KS, 紫外線耐候性試験機

KS C IEC 60749-3-2021 半導体デバイス機械的および気候的試験方法パート 3: 外部目視検査

AENOR, 紫外線耐候性試験機

UNE-EN 60749-24:2005 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法パート 24: 加速耐湿性不バイアス HAST
UNE-EN 60749-15:2011 半導体デバイスの機械的及び気候的試験方法第15部：スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性

RU-GOST R, 紫外線耐候性試験機

GOST 30630.2.1-2013 「機械、器具、その他工業製品の気候環境耐久性試験方法温度安定効果試験」
GOST R 51368-2011 機械、器具、メーターなどの工業製品の気候環境耐久性試験方法温度安定性の影響試験

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 紫外線耐候性試験機

GB/T 4937.15-2018 半導体デバイスの機械的及び気候的試験方法第15部スルーホール実装デバイスのはんだ耐熱性