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レーザー安定性パラメータ

レーザー安定性パラメータは全部で 72 項標準に関連している。

レーザー安定性パラメータ 国際標準分類において、これらの分類：オプトエレクトロニクス、レーザー装置、非鉄金属、医療機器、語彙、放射線測定、太陽工学、半導体ディスクリートデバイス、環境試験、機械的試験、光ファイバー通信、分析化学。

British Standards Institution (BSI), レーザー安定性パラメータ

BS EN ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー関連機器レーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性
BS EN ISO 12005:2003 レーザーおよびレーザー関連機器レーザービームパラメータの試験方法偏光
BS EN ISO 12005:2022 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パラメータの試験方法偏光
21/30406472 DC BS EN ISO 12005 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法偏光
BS EN ISO 11990-2:2014 レーザーおよび関連レーザー装置気管内チューブのレーザー耐性の測定気管内チューブのカフ
BS EN ISO 11990-2:2010 レーザーおよび関連レーザー装置気管内チューブのレーザー耐性の測定気管内チューブのカフ
BS ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
BS ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), レーザー安定性パラメータ

KS B ISO 11670:2013 レーザーおよびレーザー装置レーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性
KS B ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー装置レーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性
KS B ISO 11670:2015 レーザーおよびレーザー装置のレーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性
KS B ISO 11670:2020 レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザービームパラメータ試験方法 - ビーム位置安定性
KS D ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

International Organization for Standardization (ISO), レーザー安定性パラメータ

ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー装置レーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性
ISO 11670:1999 レーザーおよびレーザー装置のレーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性
ISO 11670:2003/cor 1:2004 レーザーおよびレーザー関連機器レーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性技術訂正事項 1
ISO 11990:1999 光学および光学機器レーザーおよびレーザー機器カテーテルレーザー耐性の測定
ISO 11990:2003 光学および光学機器レーザーおよびレーザー装置気管幹のレーザー耐性の測定
ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

ES-UNE, レーザー安定性パラメータ

UNE-EN ISO 11670:2004/AC:2005 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パラメータの試験方法ビーム位置の安定性

German Institute for Standardization, レーザー安定性パラメータ

DIN EN ISO 11670:2003-10 レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザービームパラメータの試験方法 - ビーム位置の安定性
DIN EN ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー関連機器レーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性
DIN EN ISO 12005:2022-11 レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザービームパラメータの試験方法 - 偏光
DIN EN ISO 11670 Corrigendum 1:2005 レーザーおよびレーザー関連機器レーザービームパラメータの試験方法ビーム位置安定性 (ISO 11670: 2003) DIN EN ISO 11670: 2003-10 英語版正誤表 1
DIN EN ISO 12005:2021 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法偏光 (ISO/DIS 12005:2021)
DIN 58175-1:2013-07 レーザーおよびレーザー関連機器の超短レーザーパルス特性の決定第 1 部: 原理
DIN 58175-2:2021-04 レーザーおよびレーザー関連機器の超短レーザーパルス特性の求めその2：自己相関測定法

Association Francaise de Normalisation, レーザー安定性パラメータ

NF S10-122*NF EN ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー装置のレーザービームパラメーターのテスト方法: ビーム位置の安定性
NF EN ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法ビーム照準の安定性
NF EN ISO 12005:2022 レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザービームパラメータのテスト方法 - 偏光
NF EN 140401-804/A2:2019 仕様: 高度な安定性と散逸性 CMS のための固定抵抗長方形安定性カテゴリ 0,1 0,25

Danish Standards Foundation, レーザー安定性パラメータ

DS/EN ISO 11670/AC:2005 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パラメータの試験方法ビーム位置の安定性
DS/EN ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パラメータの試験方法ビーム位置の安定性
DS/EN ISO 12005:2003 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パラメータの試験方法偏光

未注明发布机构, レーザー安定性パラメータ

BS EN ISO 11670:2003(2005) レーザーおよびレーザー関連機器のレーザー光パラメータの試験方法ビーム位置の安定性

European Committee for Standardization (CEN), レーザー安定性パラメータ

EN ISO 11670:1999 レーザーおよびレーザー関連機器レーザー光パラメータの試験方法レーザー光の位置安定性
EN ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー関連機器レーザー光パラメータの試験方法レーザー光の位置安定性
EN ISO 11670:2003/AC:2004 レーザーおよびレーザー関連機器、レーザービームパラメータの試験方法、修正を含むレーザービーム位置安定性 AC、2004 年
prEN ISO 12005:2021 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法偏光 (ISO/DIS 12005:2021)
EN ISO 11990:1999 光学および光学機器レーザーおよびレーザー機器カテーテルレーザー耐性の測定

Lithuanian Standards Office , レーザー安定性パラメータ

LST EN ISO 11670:2004 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性 (ISO 11670:2003)
LST EN ISO 11670:2004/AC:2005 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法ビーム位置安定性 (ISO 11670:2003/Cor.1:2004)

AENOR, レーザー安定性パラメータ

UNE-EN ISO 11670:2004 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性 (ISO 11670:2003)

RU-GOST R, レーザー安定性パラメータ

GOST R ISO 11670-2010 レーザーおよびレーザー関連機器レーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性
GOST R 51106-1997 インジェクションレーザー、レーザーヘッド、レーザーダイオードマトリックス、レーザーダイオード、パラメータの測定方法
GOST 25918-1983 連続動作レーザー放射周波数の不安定性の測定方法
GOST 25786-1983 レーザー: レーザー放射の平均パワー、パルス平均パワー、および平均パワーの相対的な不安定性を測定する方法。
GOST 24453-1980 レーザー放射のパラメータおよび特性の大きさに関する測定用語、定義、およびアルファベット記号
GOST 17038.1-1979 電離線シンチレーション検出器検出器のシンチレーションパラメータを決定するための非線形で不安定な測定方法
GOST 8.444-1981 ГСИ. パルスレーザー放射コンバーターの動的パラメータを測定するための標準測定機器、校正方法とツール
GOST 11612.11-1985 光電子増倍管.不安定性の測定方法
GOST 17772-1988 半導体光検出器および受光器、光電パラメータの測定および特性の決定方法
GOST R 51805-2001 機械、器具、その他の工業製品の機械的環境安定性を試験する方法定常状態に対するホルモンの影響の試験
GOST 8.198-1985 国家測定均一性保証システムパルスレーザー放射粉末および波長 0.4 ～ 10.6um のレーザー検出器の動的パラメーターの試験方法国家特別基準および同盟全体の識別表

KR-KS, レーザー安定性パラメータ

KS B ISO 11670-2020 レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザービームパラメータ試験方法 - ビーム位置安定性

Group Standards of the People's Republic of China, レーザー安定性パラメータ

T/GDCKCJH 021-2020 単一周波数ファイバーレーザーの主要パラメータの測定方法
T/CI 102-2023 希土類レーザー蛍光セラミックスの熱安定性の測定
T/GDCKCJH 022-2020 超短パルスファイバーレーザーの主要パラメータの測定方法

Professional Standard - Electron, レーザー安定性パラメータ

SJ 1876-1981 ガスレーザー出力安定性試験方法

AT-ON, レーザー安定性パラメータ

OENORM EN ISO 12005:2021 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービームパラメータの試験方法偏光 (ISO/DIS 12005:2021)

CEN - European Committee for Standardization, レーザー安定性パラメータ

EN ISO 11990:2003 光学および光学機器レーザーおよびレーザー機器カテーテルレーザー耐性の測定
EN ISO 11990:2018 光学および光学機器レーザーおよびレーザー機器カテーテルレーザー耐性の測定

GOSTR, レーザー安定性パラメータ

GOST 24469-1980 レーザー放射パラメータを測定するための機器の一般的な技術要件

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), レーザー安定性パラメータ

IEEE P2065/D5, Sep 2020 IEEE が承認した産業用ファイバーレーザーのパラメータ要件とテスト方法に関するガイドライン草案

American Society for Testing and Materials (ASTM), レーザー安定性パラメータ

ASTM E1143-05 テストパラメータに基づいて光電子デバイスパラメータの線形性を決定するための標準的なテスト方法
ASTM E1143-99 テストパラメータに基づいて光電子デバイスパラメータの線形性を決定するための標準的なテスト方法
ASTM E1143-05(2010) テストパラメータに基づいて光電子デバイスパラメータの線形性を決定するための標準的なテスト方法
ASTM E1143-05(2015) テストパラメータに基づいて光電子デバイスパラメータの線形性を決定するための標準的なテスト方法
ASTM E1143-05(2019) 試験パラメータに対する太陽光発電デバイスパラメータの直線性を判定するための標準試験方法

American National Standards Institute （ANSI), レーザー安定性パラメータ

ANSI/ASTM E1143:1999 太陽光発電デバイスの試験パラメータの直線性を測定する方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), レーザー安定性パラメータ

JIS C 6122-6:1998 光ファイバ増幅器試験方法パート 6: ポンプ漏れパラメータの試験方法
JIS K 0162:2010 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明