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チップテストの要件

チップテストの要件は全部で 9 項標準に関連している。

チップテストの要件 国際標準分類において、これらの分類:モバイルサービス、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 光ファイバー通信、 道路車両総合、 トラム、 半導体ディスクリートデバイス。


Professional Standard - Post and Telecommunication, チップテストの要件

  • YD/T 1886-2009 携帯端末チップのセキュリティ技術要件と試験方法

工业和信息化部, チップテストの要件

  • YD/T 1886-2015 携帯端末チップのセキュリティ技術要件と試験方法

Group Standards of the People's Republic of China, チップテストの要件

  • T/CSAE 260-2022 インテリジェントコネクテッドカー視覚認識コンピューティングチップの技術要件とテスト方法
  • T/CSAE 224-2021 純粋な電気乗用車通信チップの機能安全要件とテスト方法
  • T/CSAE 223-2021 純粋な電気乗用車制御チップの機能安全要件とテスト方法

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, チップテストの要件

  • ES 59008-5-1-2001 半導体チップのデータ要件 パート 5-1: チップ タイプの特定の要件と推奨事項 ベア チップ
  • ES 59008-5-3-2001 半導体チップのデータ要件 パート 5-3: チップ タイプの特別要件と推奨される最小パッケージ チップ

Danish Standards Foundation, チップテストの要件

  • DS/ES 59008-5-1:2001 半導体チップのデータ要件 パート 5-1: チップ タイプの特定の要件と推奨事項 ベア チップ

British Standards Institution (BSI), チップテストの要件

  • PD ES 59008-4-1:2001 半導体チップのデータ要件 特定の要件と推奨事項 テストと品質




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