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半導体レーザー

半導体レーザーは全部で 34 項標準に関連している。

半導体レーザー 国際標準分類において、これらの分類：オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 情報技術の応用、 光ファイバー通信、 分析化学。


British Standards Institution (BSI), 半導体レーザー

  • BS IEC 60747-5-4:2022 半導体デバイス-光電子デバイス 半導体レーザー
  • BS IEC 60747-5-4:2006 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、光電子デバイス、半導体レーザー
  • BS EN 61207-7:2014 ガス分析計の性能表現 波長可変半導体レーザーガス分析計
  • BS ISO 17915:2018 光学的および光子的センシングのための半導体レーザーの測定方法
  • 19/30404095 DC BS EN IEC 60747-5-4 半導体デバイス パート 5-4 光電子デバイス 半導体レーザー
  • 23/30473272 DC BS IEC 60747-5-4 AMD 1. 半導体デバイス パート 5-4 光電子デバイス 半導体レーザー

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 半導体レーザー

  • GB/T 31358-2015 半導体レーザーの一般仕様
  • GB/T 31359-2015 半導体レーザーの試験方法
  • GB 15651.4-2017 半導体デバイス ディスクリートデバイス 第5-4部：光電子デバイス 半導体レーザー
  • GB/T 21548-2008 光通信用高速直接変調半導体レーザの測定方法

Group Standards of the People's Republic of China, 半導体レーザー

IET - Institution of Engineering and Technology, 半導体レーザー

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, 半導体レーザー

American National Standards Institute （ANSI), 半導体レーザー

Professional Standard - Electron, 半導体レーザー

  • SJ/T 11856.3-2022 光ファイバ通信用半導体レーザチップの技術仕様 第3部：光源用電力吸収変調半導体レーザチップ
  • SJ/T 11856.2-2022 光ファイバ通信用半導体レーザチップの技術仕様 第2部：光源用垂直共振器面発光半導体レーザチップ
  • SJ/T 11402-2009 光ファイバー通信用半導体レーザーチップの技術仕様
  • SJ/T 11856.1-2022 光ファイバ通信用半導体レーザチップの技術仕様 第1部 ファブリーペロー型と分布帰還型光源用半導体レーザチップ

International Electrotechnical Commission (IEC), 半導体レーザー

  • IEC 60747-5-4:2022 半導体デバイス パート 5-4: 光電子デバイス 半導体レーザー
  • IEC 60747-5-4:2006 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、パート 5-4: 光電子デバイス、半導体レーザー
  • IEC 61207-7:2013/COR1:2015 ガス分析計の性能表現 第 7 部: 波長可変半導体レーザーガス分析計; 正誤表 1

Professional Standard - Post and Telecommunication, 半導体レーザー

  • YD/T 1687.1-2007 光通信用高速半導体レーザ部品の技術仕様 第1部：2.5Gbit/s冷凍直接変調半導体レーザ部品
  • YD/T 1687.2-2007 光通信用高速半導体レーザ部品の技術仕様 第2部：2.5Gbit/s非冷却直接変調半導体レーザ部品

(U.S.) Telecommunications Industries Association , 半導体レーザー

International Organization for Standardization (ISO), 半導体レーザー

  • ISO/TS 17915:2013 光学およびオプトエレクトロニクス - センシング用の半導体レーザーの測定方法
  • ISO 17915:2018 光学およびフォトニクス - センシング用の半導体レーザーの測定方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 半導体レーザー

  • GB/T 15651.4-2017 半導体デバイス ディスクリートデバイス 第5-4部：光電子デバイス 半導体レーザー

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 半導体レーザー

  • GB/T 21548-2021 光通信用高速直接変調半導体レーザの測定方法

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 半導体レーザー

  • DB13/T 5120-2019 光通信用FPおよびDFB半導体レーザチップのDC性能試験仕様

Association Francaise de Normalisation, 半導体レーザー

European Committee for Standardization (CEN), 半導体レーザー

  • CWA 17857:2022 光ファイバーを赤外線半導体レーザーに接続するためのレンズベースのアダプター システム

RU-GOST R, 半導体レーザー

  • GOST R 59740-2021 低濃度物質に対する半導体レーザーの測定特性を決定するための光学およびフォトニクス方法

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