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機器の校正方法

機器の校正方法は全部で 330 項標準に関連している。

機器の校正方法 国際標準分類において、これらの分類：工作機械設備、 障害のある人のための設備、 石油およびガス産業の機器、 放射線測定、 電気通信特殊測定器、 光ファイバー通信、 分析化学、 繊維、 放射線防護、 体積、質量、密度、粘度の測定、 光学および光学測定、 力、重力、圧力の測定、 金属材料試験、 電気工学総合、 電気および電子試験、 送配電網、 電気、磁気、電気および磁気測定、 騒音（人に関するもの）、 音響および音響測定、 機械的試験、 計測学と測定の総合、 振動、衝撃、振動の測定、 医療機器、 空気の質、 ガラス、 鉄鋼製品、 原子力工学、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 絶縁流体、 牛乳および乳製品、 トランス、リアクトル、インダクタ、 天然ガス、 電灯および関連器具、 道路車両装置、 教育する、 長さと角度の測定、 粒度分析、スクリーニング、 道路車両総合、 電磁両立性 (EMC)、 紙の製造工程。


US-FCR, 機器の校正方法

CZ-CSN, 機器の校正方法

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 機器の校正方法

  • JJG 802-2019 歪み計校正器
  • JJG 278-2002 オシロスコープ校正器の校正手順
  • JJG 1001-2005 自動車ロービーム検出器キャリブレータ
  • JJG(交通) 015-1999 車のヘッドライト検出器キャリブレータ（試用版）
  • JJG 967-2001 自動車ヘッドライト検出器および校正器の校正手順
  • JJG 967-2015 自動車ヘッドライト検出器および校正器の校正手順

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 機器の校正方法

Professional Standard - Petroleum, 機器の校正方法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 機器の校正方法

  • GJB 1692-1993 飛行試験計器の校正要件
  • GJB 8626-2015 第一級インボリュートおよびスパイラルモデル検証装置の校正仕様

American Gear Manufacturers Association, 機器の校正方法

American National Standards Institute （ANSI), 機器の校正方法

  • ANSI N323C-2009 放射線防護機器の試験および校正、大気監視機器
  • ANSI N323A-1997 放射線防護機器の試験と校正 携帯型測定器
  • ANSI N323A/B-2013 放射線防護機器の試験と校正 携帯型測定器
  • ANSI N323B-2003 設置された放射線防護計器のテストと校正 バックグラウンド近くでの操作のためのポータブル測定器

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 機器の校正方法

  • IEEE N323-1978 放射線防護機器の試験と校正
  • IEEE N323A ERTA-2004 放射線防護機器の試験および校正ポータブル測定機器
  • IEEE N323AB-2013 放射線防護機器の試験および校正ポータブル測定機器
  • IEEE N323B-2003 放射線防護計器のテストとバックグラウンドに近い動作のためのポータブル測定器の校正
  • IEEE P61869-105/D1-2018 計器用変圧器の校正不確かさの評価に関する IEEE/IEC 推奨慣行草案

British Standards Institution (BSI), 機器の校正方法

  • BS EN 62129-1:2016 波長校正・光周波数測定器、スペクトルアナライザ
  • BS 7935-2:2004 定振幅力の校正 非共振一軸動的検査システムの動的校正のための校正デバイスおよび機器の校正 方法
  • PD IEC TR 61948-4:2019 核医学器具。 定期的なテスト。 放射性核種校正器
  • BS EN 62129-2:2011 波長/光周波数測定器の校正 マイケルソン干渉計 単波長計
  • BS ISO 16063-42:2014 振動・衝撃センサーの校正方法 重力加速度を利用した高精度地震計校正
  • BS 8422:2003 力の測定、ひずみゲージ式ロードセルシステム、校正方法
  • PD ISO/TR 12148:2009 天然ガス炭化水素露点（液体）チルドミラー装置の校正
  • 18/30382086 DC BS EN 61452 核計装 放射性核種のガンマ線放射率の測定 ゲルマニウム分光計の校正と使用
  • 20/30412413 DC BS EN IEC 61452 核計装 放射性核種のガンマ線放射率の測定 ゲルマニウム分光計の校正と使用
  • 22/30394888 DC BS ISO 20956 放射線防護環境およびエリア監視機器の低線量率校正
  • BS PD IEC/TS 62129-3:2014 波長・光周波数測定器の校正 光周波数コムを使用した光周波数計
  • BS EN ISO 12179:2022 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面テクスチャ: プロファイル法による接触 (スタイラス) 機器の校正
  • 18/30378790 DC BS ISO 8769 基準源 表面汚染モニター用のアルファ、ベータ、フォトンエミッターの校正
  • BS IEC 61452:2021 核機器 ガンマ線放射性核種の放射能または放射率の測定 ゲルマニウムベースの分光計の校正と使用
  • BS EN ISO 12179:2001 製品の幾何学的仕様 (GPS)、表面構造、プロファイル法、接触 (スタイラス) 機器の校正
  • BS EN ISO 25178-701:2010 製品の幾何学的仕様（GPS） 表面性状：平坦 接触（スタイラス）機器の測定および校正基準
  • BS EN 55016-1-5:2004 無線干渉およびイミュニティ測定器および方法の仕様 無線干渉およびイミュニティ測定器 30 MHz ～ 1000 MHz のアンテナ校正試験装置
  • BS EN 55016-1-5:2005 電波干渉・イミュニティ測定器および方法、標準電波干渉・イミュニティ測定器、30MHz～1000MHzアンテナ校正試験装置
  • BS ISO 4094:2005 紙、板紙、パルプ 試験機器の国際校正 標準化および認可された試験所の受け入れおよび任命
  • 20/30397768 DC BS EN ISO 12179 幾何製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 輪郭法を使用した接触 (スタイラス) 機器の校正
  • BS EN 55016-1-5:2004+A1:2012 無線干渉およびイミュニティ測定器および方法の仕様 無線干渉およびイミュニティ測定器 30 MHz ～ 1000 MHz のアンテナ校正試験装置
  • BS EN ISO 25178-700:2023 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面の質感: エリアの校正、調整、検証 エリア地形測定器

American Society for Testing and Materials (ASTM), 機器の校正方法

  • ASTM E2719-09(2022) 蛍光装置の校正および認定標準ガイド
  • ASTM E2719-09 蛍光装置の校正および認定標準ガイド
  • ASTM D7642-12(2020) 綿分類機器の校正に関する標準的な方法
  • ASTM E2719-09(2014) 蛍光機器の校正と認定のための標準ガイド
  • ASTM E542-01(2012) 実験室用容積計器の標準的な校正方法
  • ASTM D8537-23 核機器校正データの分析のための標準ガイド
  • ASTM E74-18 力測定器の校正と検証の標準的な方法
  • ASTM E898-20 非自動計量器の校正の標準的な方法
  • ASTM E74-18e1 力測定器の校正と検証の標準的な方法
  • ASTM E542-01(2021) 研究室用容積計器の重量校正の標準的な方法
  • ASTM E542-22 研究室用容積計器の重量校正の標準的な方法
  • ASTM D7642-12 綿分級機器を使用して綿の判定を校正するための標準的な方法
  • ASTM A799/A799M-10 ステンレス鋼鋳物のフェライト含有量を推定するための機器の校正に関する標準実務
  • ASTM E74-00a 試験機の力表示の検証のための力測定器の校正に関する標準実務
  • ASTM D7282-06 放射性エネルギーの測定に使用される機器の設置、校正、品質管理に関する標準的な慣行
  • ASTM A799/A799M-04 鋳鋼中のフェライト含有量を推定するためのステンレス鋼機器の校正の標準慣行
  • ASTM A799/A799M-04(2009) 鋳鋼中のフェライト含有量を推定するためのステンレス鋼機器の校正の標準慣行
  • ASTM A799/A799M-92(2002) 鋳鋼中のフェライト含有量を推定するためのステンレス鋼機器の校正の標準慣行
  • ASTM A799/A799M-92(1997) 鋳鋼中のフェライト含有量を推定するためのステンレス鋼機器の校正の標準慣行
  • ASTM D7282-14 放射性エネルギーの測定に使用される機器の設置、校正、品質管理に関する標準的な慣行
  • ASTM A799/A799M-10(2020) 鋳鋼中のフェライト含有量を推定するためのステンレス鋼機器の校正の標準慣行
  • ASTM E2551-18 熱重量分析装置用湿度発生器の湿度校正 (または適合) の標準試験方法
  • ASTM E2551-20 熱重量分析装置用湿度発生器の湿度校正 (または適合) の標準試験方法
  • ASTM D7282-21 放射性物質の測定に使用される機器のセットアップ、校正、および品質管理に関する標準的な慣行
  • ASTM D7282-21e1 放射性物質の測定に使用される機器のセットアップ、校正、および品質管理に関する標準的な慣行
  • ASTM E1458-12 フォトマスクマスターを使用したレーザー回折粒度分布測定装置の校正および検証のための標準試験方法
  • ASTM E1458-92(2001) フォトマスクマスターを使用したレーザー回折式粒度分布測定装置の校正および検査の試験方法
  • ASTM E1458-12(2016) フォトマスクマスターを使用したレーザー回折式粒度分布測定装置の校正および検査の試験方法
  • ASTM F457-04 アナログまたはデジタル測定器を備えたタコメーターホイールの速度と距離を校正するための標準試験方法
  • ASTM F457-04(2010) アナログまたはデジタル測定器を備えたタコメーターホイールの速度と距離を校正するための標準試験方法

SE-SIS, 機器の校正方法

  • SIS SS-ISO 5436:1990 校正サンプル。 スタイラス楽器。 サンプルの種類、校正、および使用

Group Standards of the People's Republic of China, 機器の校正方法

AGMA - American Gear Manufacturers Association, 機器の校正方法

  • 2113-A97-1997 測定器校正 ギアアライメント測定
  • 2010-A94-1994 測定器の校正 第 1 部 インボリュート測定
  • 2114-A98-1998 測定器はギアのピッチと振れの測定値を校正します
  • 2110-A94-1994 測定器の校正 第1部 インボリュート測定（メートル法）
  • 97FTM1-1997 歯車測定器の校正と製品歯車試験への応用
  • 931-A02-2002 歯車測定器の校正と製品歯車試験への応用

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 機器の校正方法

CN-STDBOOK, 機器の校正方法

  • 图书 3-9797 大学における分析方法と機器の校正仕様の一般原則 (1)

Professional Standard - Aviation, 機器の校正方法

Professional Standard - Machinery, 機器の校正方法

  • JB/T 7586-1994 部分放電検出器 皮相放電校正器
  • JB/T 8428-1996 鋼溶接用の超音波検査装置を校正するための標準テストブロック

Professional Standard - Electricity, 機器の校正方法

  • DL/T 1952-2018 変圧器巻線変形試験機の校正仕様書
  • DL/T 1694.4-2017 高電圧試験器および装置の校正仕様書 第4部 絶縁油耐電圧試験器
  • DL/T 1694.2-2017 高電圧試験機器および装置の校正仕様書 第 2 部：電源変圧器タップ切替試験器
  • DL/T 1694.5-2017 高電圧試験機器および装置の校正仕様パート 5: 酸化亜鉛アレスタ抵抗電流テスタ
  • DL/T 1400.3-2023 変圧器試験器の校正仕様書 第3部 油入変圧器温度測定装置
  • DL/T 1694.3-2017 高電圧試験機器および装置の校正仕様書パート 3: 高電圧スイッチ動作特性試験器
  • DL/T 1694.6-2020 高電圧試験器および装置の校正仕様書 第 6 部：電力ケーブル超低周波誘電損失試験器
  • DL/T 1694.7-2020 高電圧試験機器および装置の校正仕様書 第 7 部：総合保護計測および制御装置の電気測定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 機器の校正方法

  • GB/T 20485.41-2015 振動および衝撃センサーの校正方法 第 41 部: レーザー振動計の校正
  • GB/T 20013.4-2010 核医学機器の定期検査パート 4: 放射性核種校正器
  • GB/T 19600-2004 製品幾何量技術仕様書（GPS）の校正 表面構造プロファイル法 接触（スタイラス）式計器

Hubei Provincial Standard of the People's Republic of China, 機器の校正方法

  • DB42/T 628-2010 電気測定器、送信機、ACサンプリングおよび校正装置の校正仕様

International Electrotechnical Commission (IEC), 機器の校正方法

  • IEC 62129-1:2016 測定器の波長・校正 その1：分光分析装置
  • IEC TR 61948-4:2019 核医学機器の定期検査パート 4: 放射性核種校正器
  • IEC TR 61948-4:2019 RLV 核医学機器の定期検査パート 4: 放射性核種校正器
  • IEC 61239:1993 核機器調査用のポータブルガンマ放射計および分光計の定義、要件、および校正
  • IEC 62129-2:2011 波長・測定器の校正 第2部 マイケルソン単波長計干渉計
  • CISPR 16-1-6-2014+AMD1-2017+AMD2-2022 CSV 無線干渉およびイミュニティ測定器および方法の仕様 パート 1-6: 無線干渉およびイミュニティ測定器 EMC アンテナ校正
  • CISPR 16-1-6-2014+AMD1-2017 CSV 無線干渉およびイミュニティ測定器および方法の仕様 パート 1-6: 無線干渉およびイミュニティ測定器 EMC アンテナ校正
  • CISPR 16-1-6:2014+AMD1:2017+AMD2:2022 CSV 無線干渉およびイミュニティ測定器および方法の仕様 パート 1-6: 無線干渉およびイミュニティ測定器 EMC アンテナ校正
  • CISPR 16-1-6:2014+AMD1:2017 CSV 無線干渉およびイミュニティ測定器および方法の仕様 パート 1-6: 無線干渉およびイミュニティ測定器 EMC アンテナ校正
  • CISPR 16-1-6-2017 無線干渉およびイミュニティ測定器および方法の仕様 パート 1-6: 無線干渉およびイミュニティ測定器 EMC アンテナ校正
  • IEC 61452:2021 核機器 ガンマ線放出放射性核種の放射能または放射率の測定 ゲルマニウムベースの分光計の校正と使用
  • CISPR 16-1-6:2014/AMD1:2017 修正 1. 無線干渉およびイミュニティの測定器および方法の仕様 パート 1-6: 無線干渉およびイミュニティの測定器 EMC アンテナの校正
  • CISPR 16-1-6-2014/AMD1-2017 修正 1. 無線干渉およびイミュニティの測定器および方法の仕様 パート 1-6: 無線干渉およびイミュニティの測定器 EMC アンテナの校正
  • CISPR 16-1-6-2014/AMD2-2022 変更 2. 無線干渉およびイミュニティの測定器および方法の仕様 パート 1-6: 無線干渉およびイミュニティの測定器 EMC アンテナの校正
  • CISPR 16-1-6:2014/AMD2:2022 変更 2. 無線干渉およびイミュニティの測定器および方法の仕様 パート 1-6: 無線干渉およびイミュニティの測定器 EMC アンテナの校正

Standard Association of Australia （SAA）, 機器の校正方法

  • AS/NZS 1591.4:1995 音響聴力測定器および骨振動計の校正用の機械式カプラー

未注明发布机构, 機器の校正方法

  • BS 7935-2:2004(2010) 定振幅力校正パート 2: 非共振一軸動的試験システムの動的校正のための校正装置 機器の校正方法
  • BS ISO 4965-2:2012(2013) 金属材料の一軸疲労試験のための動的力校正パート 2: 動的校正装置 (DCD) 機器
  • BS ISO 7503-3:2016(2018) 放射性測定面の汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
  • BS EN IEC 62129-3:2019 波長・光周波数測定器の校正 その3 基準周波数コム内蔵光周波数計

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 機器の校正方法

CN-QIYE, 機器の校正方法

  • Q/GDW 653-2011 変圧器空気および負荷損失試験器の校正仕様

Danish Standards Foundation, 機器の校正方法

  • DS/ISO 16063-41:2013 振動および衝撃センサーの校正方法 第 41 部: レーザー振動計の校正
  • DS/EN ISO 376:2011 機器の校正を確認するための金属材料用一軸試験機の校正
  • DS/EN 62129-2:2011 波長・光周波数測定器の校正 その2：マイケルソン干渉計単波長計
  • DS/EN ISO 12179/Corr. 1:2007 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: プロファイル法接触 (スタイラス) 機器の校正
  • DS/EN ISO 12179:2000 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: プロファイル法接触 (スタイラス) 機器の校正
  • DS/EN ISO 14577-3:2003 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
  • DS/EN ISO 25178-701:2010 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 平坦部 701: 接触 (スタイラス) 機器の校正および測定基準

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 機器の校正方法

  • EN 62129-1:2016 波長・光周波数測定器の校正 その1：スペクトルアナライザ
  • EN IEC 62129-3:2019 波長・光周波数測定器の校正 その3 基準周波数コム内蔵光周波数計

Association Francaise de Normalisation, 機器の校正方法

  • NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 波長・光周波数測定器の校正 その1：スペクトルアナライザ
  • NF EN ISO 8222/A1:2022 石油測定システム用の容積測定容器、標準機器、および作動測定容器の校正
  • NF A03-003*NF EN ISO 376:2011 金属材料 一軸試験機で使用される力の検証 検証機器の校正
  • NF E05-056*NF EN ISO 12179:2022 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: プロファイル法接触 (スタイラス) 機器の校正
  • NF EN ISO 12179:2022 製品の幾何学的仕様 (GPS) - 表面状態: プロファイル法 - 接触機器 (プローブ) の校正
  • NF S30-007-4*NF EN ISO 389-4:1999 音響聴力測定機器の校正に関する参考資料 0 パート 4: 狭帯域マスキングノイズの参考レベル
  • NF E05-056:2000 幾何製品仕様 (GPS) 表面構造: プロファイル検出方法 接触 (スタイラス) 機器の校正
  • NF S30-007-3:1999 音響学. 聴力測定機器の校正基準 0. パート 3: 純音および骨バイブレーターの標準等価聴力閾値強度レベル
  • NF A03-155-3*NF EN ISO 14577-3:2015 金属材料 硬度と材料パラメータを決定するための機器による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
  • NF A03-155-3:2003 金属材料 硬度と材料パラメータを決定するための機器による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
  • NF EN ISO 25178-701:2010 幾何学的製品仕様 (GPS) - 表面仕上げ: 表面 - パート 701: 接触 (プローブ) 機器の校正および測定標準
  • NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011 スペクトラム・アナライザの校正、テストおよび測定手順、パート 2: パッシブ光ネットワーク (ATM-PON) トランシーバ
  • NF C93-846-13*NF EN IEC 62129-3:2019 波長・光周波数測定器の校正 その3 基準周波数コム内蔵光周波数計
  • NF S30-001-1:2000 音響学. 聴力測定機器の校正に関する参考資料 0. パート 1: 純音および超音波ヘッドフォンの基準等価閾値音圧レベル
  • NF E05-031-701*NF EN ISO 25178-701:2010 製品の幾何学的仕様 (GPS)、表面の質感: 平面、パート 701: 接触 (プローブ) 機器の測定および校正標準

ES-UNE, 機器の校正方法

  • UNE-EN 62129-1:2016 波長・光周波数測定器の校正 その1：スペクトルアナライザ
  • UNE-EN 62129-2:2011 波長・光周波数測定器の校正 その2：マイケルソン干渉計単波長計
  • UNE-EN ISO 12179:2023 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面テクスチャ: プロファイル法による接触 (スタイラス) 機器の校正
  • UNE-CEN/TR 17993:2023 非捕捉降水量測定器の校正と精度（2023年12月にスペイン標準化協会により認定）
  • UNE-EN IEC 62129-3:2019 波長・光周波数測定器の校正 その3 基準周波数コム内蔵光周波数計
  • UNE-EN ISO 14577-3:2016 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 3: 基準ブロックの校正

European Committee for Standardization (CEN), 機器の校正方法

  • CEN/TR 17993:2023 非捕捉型降水量測定器の校正と精度
  • prEN ISO 14577-3 rev 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
  • EN ISO 12179:2022 製品幾何量に関する技術仕様 (GPS) 表面構造: 等高線法 接触 (スタイラス) 機器の校正
  • EN ISO 12179:2000 製品幾何量に関する技術仕様 (GPS) 表面構造: 等高線法 接触 (スタイラス) 機器の校正
  • FprEN ISO 12179:2021 幾何製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: プロファイル法接触 (スタイラス) 機器の校正 (ISO/FDIS 12179:2021)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 機器の校正方法

  • KS B ISO 9342-2013(2018) 光学および光学機器のフォーカスメーターの校正用のテストレンズ
  • KS C IEC TR 61948-4:2017 核医学機器の定期検査パート 4: 放射性核種校正器
  • KS C IEC TR 61948-4:2021 核医学機器の定期検査パート 4: 放射性核種校正器
  • KS C IEC 61452:2017 核計測「放射性核種のガンマ線放射率の測定」ゲルマニウムエネルギー分光計の校正と使用
  • KS B ISO 16063-42:2017 振動・衝撃センサーの校正方法 第42回 重力加速度を利用した高精度地震計の校正
  • KS B ISO 16063-42-2017(2022) 振動・衝撃センサーの校正方法 第42回：重力加速度を利用した高精度地震計の校正
  • KS C IEC 61452-2017(2022) 核計測機器、放射性核種のガンマ線放射率の測定、ゲルマニウム分光計の校正と使用
  • KS B 0713-1-2012 振動センサーと衝撃センサーの校正方法 その 1: レーザー干渉計を使用した最初の振動校正
  • KS I ISO TR 12148:2011 天然ガス、炭化水素露点（液体組成）の冷却反射型計器の校正
  • KS A 0083-2013(2018) 質量分析計 (リーク型) 検出器のシステムを校正するための一般規則
  • KS A ISO 7503-3:2021 放射性測定面の汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
  • KS I ISO TR 12148-2011(2021) 天然ガス - 炭化水素露点 (液体生成) 冷却ミラー計器の校正
  • KS B ISO 12179-2014(2019) 幾何学的製品仕様 (GPS) - 表面テクスチャ: 輪郭法 - 接触 (スタイラス) 機器の校正
  • KS M ISO 4094:2016 国際的な試験機器の校正標準化と、紙、板紙、パルプの認定試験所の指定と受け入れ
  • KS B ISO 14577-3-2004(2009) 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
  • KS B ISO 12179:2004 製品の幾何学的仕様 (GPS)、表面構造: プロファイル法、接触 (スタイラス) 機器の校正
  • KS B ISO 12179:2014 製品の幾何学的仕様 (GPS)、表面構造: プロファイル法、接触 (スタイラス) 機器の校正
  • KS B ISO 14577-3:2004 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正
  • KS B ISO 14577-3:2017 金属材料の硬さと材料パラメータの機器押し込み試験 第 3 部: 硬さ標準ブロックの校正

KR-KS, 機器の校正方法

  • KS A 0083-2013(2023) 質量分析計（リーク型）検出器校正システムの一般規則
  • KS B ISO 9342-2023 光学および光学機器のフォーカスメーターの校正用のテストレンズ
  • KS C IEC TR 61948-4-2017 核医学機器の定期検査パート 4: 放射性核種校正器
  • KS C IEC TR 61948-4-2021 核医学機器の定期検査パート 4: 放射性核種校正器
  • KS B ISO 16063-42-2017 振動・衝撃センサーの校正方法 第42回 重力加速度を利用した地震計の高精度校正
  • KS C IEC 61452-2017 核機器 - 放射性核種のガンマ線放射率の測定 - ゲルマニウム分光計の校正と使用
  • KS A ISO 7503-3-2021 放射性測定面の汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
  • KS I ISO TR 12148-2022 クライオミラー装置を使用した天然ガス炭化水素露点 (液体の形成) の校正
  • KS M ISO 4094-2016 紙、ボール紙、パルプ?国際的な試験機器の校正標準化と認定試験所の指定と受け入れ

The American Road & Transportation Builders Association, 機器の校正方法

  • AASHTO PP8-1994 落下錘たわみ計の基準校正用の基準ロードセルの校正に関する標準実務 2000 年版
  • AASHTO PP7-1995 落錘偏向計用のロードセルと偏向センサーの校正に関する標準的な方法 2000 年版

Professional Standard - Coal, 機器の校正方法

  • MT 424-1995 光干渉メタン検出器校正器の一般的な技術条件
  • MT/T 424-1995 光干渉メタン検出器校正器の一般的な技術条件

Indonesia Standards, 機器の校正方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 機器の校正方法

  • GB/T 12810-2021 容量校正と実験用ガラス器具の使用 ガラス測定
  • GB/T 25917.2-2019 一軸疲労試験システム パート 2: 動的校正装置用の機器

RU-GOST R, 機器の校正方法

  • GOST R 8.908-2015 測定の一貫性を確保するための国家システム 石油および石油製品の体積流量を測定する機器 校正器の試験、検証および校正

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Professional Standard - Energy, 機器の校正方法

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  • DL/T 1694.8-2021 高電圧試験機器および装置の校正仕様パート 8: 電力容量およびインダクタンス テスター

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  • LST EN 62129-2-2011 波長・光周波数測定器の校正 第2部：マイケルソン干渉計単波長計（IEC 62129-2:2011）
  • LST IEC 61239:2008 核機器探査用のポータブルガンマ線放射計および分光計の定義、要件および校正 (IEC 61239:1993、同)
  • LST EN ISO 376:2011 金属材料を使用した一軸試験機の検証のための力検証装置の校正 (ISO 376:2011)
  • LST EN ISO 12179:2001 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: プロファイル法を使用した接触 (スタイラス) 機器の校正 (ISO 12179:2000)

VN-TCVN, 機器の校正方法

  • TCVN 1044-2007 実験用ガラス器具、ガラス量の容量校正と使用

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 機器の校正方法

  • GJB/J 6203-2008 第一級インボリュートおよびスパイラルモデル検証装置の校正仕様

International Organization for Standardization (ISO), 機器の校正方法

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  • ISO/FDIS 20956:2023 放射線防護環境およびエリア監視機器の低線量率校正
  • ISO 20956:2023 放射線防護環境およびエリア監視機器の低線量率校正
  • ISO 16063-42:2014 振動・衝撃センサーの校正方法 第42回：重力加速度を利用した高精度地震計の校正
  • ISO/TR 12148:2009 天然ガス、炭化水素露点（液体組成）の冷却反射型計器の校正
  • ISO 12179:2021 製品の幾何学的仕様 (GPS)、表面構造: プロファイル法、接触 (スタイラス) 機器の校正
  • ISO 14577-3:2002 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正
  • ISO 14577-3:2015 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正
  • ISO 4094:2005 紙、板紙、パルプ 試験機器の国際校正 標準化および認可された試験所の受け入れおよび任命
  • ISO 4094:1991 パルプ、紙、板紙試験装置の国際校正標準化と認定試験所の承認と任命
  • ISO 12179:2000 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面構造: プロファイル法の校正 接触 (スタイラス) 機器
  • ISO/CD 14577-3:2023 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 3: 基準ブロックの校正

German Institute for Standardization, 機器の校正方法

  • DIN 12836-3:1975 乳製品分析用の機器 校正済み測定範囲 0 ～ 10% 乳脂肪計
  • DIN EN 62129-2:2012-03 波長・光周波数測定器の校正 その2：マイケルソン干渉計単波長計
  • DIN EN ISO 376:2011-09 金属材料 - 一軸試験機の検証に使用される力測定器の校正
  • DIN EN ISO 12179:2023-04 製品の幾何学的仕様 (GPS) - 表面テクスチャー: 等高線法 - 接触 (スタイラス) 機器の校正
  • DIN 12836-2:1966 乳製品分析機器、測定範囲 0 ～ 4% の校正済み乳製品クリーム メーター
  • DIN IEC 61453:2008 核機器、放射性核種分析用シンチレーションガンマ線検出器システム、校正および機能試験
  • DIN EN 62129-1:2016 波長/光周波数測定機器の校正 パート 1: スペクトル アナライザー (IEC 62129-1-2016)、ドイツ語版 EN 62129-1-2016
  • DIN 6855-11:2016-08 核医学機器の安定性試験 パート 11: 放射性核種校正器 (IEC/TR 61948-4:2006 修正)
  • DIN EN ISO 12179:2000 製品の幾何学的仕様 (GPS)、表面構造: プロファイル法、接触 (スタイラス) 機器の校正
  • DIN EN ISO 14577-3:2003 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正
  • DIN IEC 61452:2023-02 核機器 ガンマ線放出放射性核種の放射能または放射率の測定 ゲルマニウムベースの分光計の校正と使用
  • DIN EN ISO 12179:2023 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 輪郭法を使用した接触 (スタイラス) 機器の校正 (ISO 12179:2021)
  • DIN EN ISO 14577-3:2015-11 金属材料 - 硬度と材料パラメータの計測機器による押し込み試験 - パート 3: 基準ブロックの校正

AENOR, 機器の校正方法

  • UNE 500530:2003 自動気象観測所ネットワーク機器の特性評価 自動気象観測所のメンテナンス基準とセンサーの校正
  • UNE-EN ISO 376:2011 金属材料を使用した一軸試験機の検証のための力検証装置の校正 (ISO 376:2011)
  • UNE-EN ISO 12179:2001 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 接触 (スタイラス) 機器のプロファイル法による校正 (ISO 12179:2000)

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 機器の校正方法

  • EN 62129-2:2011 波長・光周波数測定器の校正 その2：マイケルソン干渉計単波長計

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 機器の校正方法

  • DB44/T 1496.2-2016 LED 試験装置の校正方法 パート 2: ゴニオ測光試験システム
  • DB44/T 1496.1-2014 LED試験器の校正方法その1：積分球スペクトル試験システム

BE-NBN, 機器の校正方法

API - American Petroleum Institute, 機器の校正方法

  • API MPMS 4.5-2011 石油計量標準マニュアル第 4.5 章マスター機器校正器 (第 3 版、ERTA: 2014 年 6 月)
  • API MPMS 4.9.3-2010 石油計量標準マニュアル 第 4 章「流量システム セクション 9」 変位および容積タンクの校正方法 第 3 部「一次機器校正測定法を使用した変位校正器の容積の決定」

NZ-SNZ, 機器の校正方法

  • SAA/SNZ HB 86.2-1998 工業用計測器の選定・保守・校正・検査の手引き 第2部 簡易長さ・角度測定器
  • AS/NZS 1591.1:1995 音響聴力測定器 パート 1: 純音骨伝導聴力計の校正のための基準点
  • SAA/SNZ HB 86.1-1996 工業用計測器の選定・保守・校正・検査の手引き 第1部 一般原則

DE-VDA, 機器の校正方法

  • VDA 280-5-1998 自動車の測色、反射率測定用の測色器の校正

Professional Standard - Education, 機器の校正方法

  • JY/T 0404-2010 義務教育段階における聾学校の教育及び医療リハビリテーション設備の設置基準

教育部, 機器の校正方法

  • JY/T 0403-2010 義務教育段階における盲学校の教育及び医療リハビリテーション設備の設置基準
  • JY/T 0405-2010 義務教育段階における沛志学校の教育および医療リハビリテーション設備の設置基準

AWS - American Welding Society, 機器の校正方法

  • A4.2-1974 オーステナイト系ステンレス鋼溶接金属のフェライト含有量を測定するための磁気機器を校正するための標準手順
  • A4.2-1986 オーステナイト系ステンレス鋼溶接金属のフェライト含有量を測定するための磁気機器を校正するための標準手順

PL-PKN, 機器の校正方法

  • PN Z70074-1990 地下鉱山における植物の放射線防護。 潜在ラドンエネルギー濃縮装置の測定。 機器の校正

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 機器の校正方法

  • ASHRAE 4029-1997 冷水の熱特性と流量特性の改善 パート 1: 材料の選択と機器の校正 (RP-801)

RO-ASRO, 機器の校正方法

  • SR ISO 4094:1996 紙、ボール紙、パルプ。 実験器具の国際校正。 標準検査機関および認定検査機関の指定と受諾

Association of German Mechanical Engineers, 機器の校正方法

  • VDI/VDE 2602 Blatt 4-2014 表面測定では、粗さ測定の校正、測定の不確かさのために接触（スタイラス）機器を使用します。

IEC - International Electrotechnical Commission, 機器の校正方法

  • TS 62129-3-2014 波長・光周波数測定器の校正 その3 光周波数コムを用いた光周波数計（バージョン1.0）

ZA-SANS, 機器の校正方法

  • SANS 216-1-5:2004 無線干渉およびイミュニティの測定機器および方法の仕様。 パート 1.5: 無線干渉およびイミュニティの測定器。 30MHz～1000MHzアンテナ校正テストサイト

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