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X線回折 回折分析

X線回折 回折分析は全部で 334 項標準に関連している。

X線回折 回折分析 国際標準分類において、これらの分類:分析化学、 光学および光学測定、 非鉄金属、 耐火物、 放射線防護、 化学製品、 労働安全、労働衛生、 無機化学、 建材、 教育する、 非破壊検査、 プラスチック、 発電所総合、 複合強化素材、 空気の質、 非金属鉱物、 春、 金属材料試験、 粒度分析、スクリーニング、 半導体材料、 語彙、 表面処理・メッキ、 金属の生産、 塗料成分、 光学機器、 燃料、 水質、 ゴム・プラスチック製品、 セラミックス、 パイプ部品とパイプ、 塗料とワニス、 放射線測定、 ブラックメタル。


PT-IPQ, X線回折 回折分析

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線回折 回折分析

Professional Standard - Machinery, X線回折 回折分析

工业和信息化部, X線回折 回折分析

  • YS/T 1178-2017 アルミニウムスラグの相分析 X線回折法
  • YB/T 172-2020 X線回折法による珪石れんがの定量相分析
  • SH/T 1827-2019 X線回折法によるプラスチックの結晶化度の測定
  • YS/T 1344.3-2020 錫ドープ酸化インジウム粉末の化学分析法その3:相分析X線回折分析法
  • YB/T 5338-2019 X線回折装置による鋼中のオーステナイトの定量法
  • YB/T 5360-2020 X線回折法による金属材料の定量的極点図の測定
  • YS/T 1160-2016 工業用シリコン粉末の定量相分析 シリカ含有量の定量 X線回折K値法
  • HG/T 5705-2020 X線回折法による水素化触媒中の二酸化チタン相含有量の測定

Professional Standard - Agriculture, X線回折 回折分析

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, X線回折 回折分析

  • YB/T 172-2000 珪石れんがの定量相分析。 X線回折法
  • YB/T 5320-2006 X線回折K値法による金属材料の相定量分析
  • YB/T 5336-2006 X線回折法を用いたハイス中の炭化物相の定量分析
  • YB/T 5337-2006 金属格子定数の決定方法 X線回折装置法
  • YB/T 5338-2006 X線回折法を用いた鋼中の残留オーステナイトの定量

American National Standards Institute (ANSI), X線回折 回折分析

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X線回折 回折分析

  • GB/T 36923-2018 真珠粉の識別方法 X線回折分析
  • GB/T 40407-2021 ポルトランドセメントクリンカーの鉱物相のX線回折分析法
  • GB/T 39520-2020 ばね残留応力のX線回折試験方法
  • GB/T 37983-2019 結晶材料X線回折装置回転配向性試験方法
  • GB/T 41076-2021 マイクロビーム分析による鋼中のオーステナイトの定量分析電子後方散乱回折
  • GB/T 39860-2021 X線回折法を使用してラテックス製品の表面に残留する鉱物粉末を迅速に特定
  • GB/T 37054-2018 ナノテクノロジー X 線回折によるナノスケール二酸化チタン中のアナターゼとルチルの比率の決定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X線回折 回折分析

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線回折 回折分析

  • GB 16355-1996 X線回折装置および蛍光分析装置の放射線防護基準
  • GB/T 30904-2014 無機化学製品の結晶構造解析のためのX線回折法
  • GB/T 19501-2004 電子後方散乱回折分析法の一般原則
  • GB/T 19077.1-2003 粒度分析レーザー回折法
  • GB/T 19077-2016 粒度分析レーザー回折法
  • GB/T 42676-2023 半導体単結晶結晶品質検査X線回折法
  • GB/T 19501-2013 マイクロビーム解析の一般原理 電子後方散乱回折解析法
  • GB/T 30703-2014 マイクロビーム解析ガイドライン 後方散乱電子回折方位解析手法
  • GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
  • GB/T 23413-2009 ナノ材料の粒径と微視的ひずみの測定 X 線回折線拡大法
  • GB/T 24576-2009 GaAs基板上に成長させたAlGaAs中のAl組成の高分解能X線回折測定の試験方法
  • GB/T 18907-2013 マイクロビーム解析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡、選択電子回折分析法
  • GB/T 19421.1-2003 層状結晶性二ケイ酸ナトリウムの試験方法 デルタ相の定性分析 層状結晶性二ケイ酸ナトリウム X 線回折法
  • GB/T 38532-2020 マイクロビーム分析 電子後方散乱回折 平均粒径の決定
  • GB/T 30793-2014 二酸化チタン顔料中のアナターゼとルチルの比率を決定するための X 線回折法
  • GB/T 19077.1-2008 粒子径分析、レーザー回折法、パート 1: 一般原理
  • GB/T 21782.13-2009 粉体塗料 パート 13: レーザー回折による粒子サイズ分析
  • GB/T 6609.32-2009 アルミナの化学分析法と物性測定法 第32回 α-アルミナ含有量の測定 X線回折法
  • GB/T 42360-2023 水の表面化学分析 全反射蛍光X線分光分析

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, X線回折 回折分析

  • GBZ 115-2002 X線回折装置および蛍光分析装置の衛生保護基準

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線回折 回折分析

  • ASTM UOP905-20 X線回折による白金の凝集
  • ASTM UOP905-08 X線回折による白金の凝集
  • ASTM UOP905-91 X線回折による白金の凝集
  • ASTM E3294-22 粉末X線回折による地質物質の法医学分析のための標準ガイド
  • ASTM E3294-23 粉末X線回折による地質物質の法医学分析のための標準ガイド
  • ASTM E1426-14(2019)e1 X線回折技術を使用した残留応力測定のためのX線弾性定数の標準試験方法
  • ASTM D5380-93(2003) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
  • ASTM D5380-93(2021) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
  • ASTM E915-96 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証の試験方法
  • ASTM E915-16 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証の試験方法
  • ASTM E915-96(2002) 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証の試験方法
  • ASTM D5187-91(2007) X線回折による焙焼石油コークスの結晶サイズの測定方法
  • ASTM D934-80(2003) 水堆積物中の結晶性化合物を同定するためのX線回折法
  • ASTM D5187-91(2002) X線回折による焙焼石油コークスの結晶サイズの測定方法
  • ASTM D5187-91(1997) X線回折による焙焼石油コークスの結晶サイズの測定方法
  • ASTM E1426-14 X線回折法による残留応力測定におけるX線弾性定数の標準試験方法
  • ASTM D5357-98 X線回折によるゼオライトナトリウムの相対結晶化度を測定するための標準試験方法
  • ASTM E915-19 残留応力測定用X線回折装置の校正検証のための標準試験方法
  • ASTM E2860-12 X線回折を使用して軸受鋼の残留応力を測定する標準的な試験方法
  • ASTM E915-10 残留応力測定用X線回折装置の校正および検証のための標準試験方法
  • ASTM E915-21 残留応力測定用の X 線回折装置の校正と検証の標準的な方法
  • ASTM D8352-20 線回折によるゼオライト ベータの相対結晶化度を決定するための標準試験方法
  • ASTM D5357-03(2008)e1 X線回折によるゼオライトナトリウムの相対結晶化度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D5357-03(2013) X線回折によるゼオライトナトリウムの相対結晶化度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D5357-03 X線回折によるナトリウムゼオライトA型の相対結晶化度を測定するための標準試験方法
  • ASTM E2860-20 軸受鋼のX線回折による残留応力測定の標準試験方法
  • ASTM D5357-19 X線回折によるナトリウムゼオライトA型の相対結晶化度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D934-08 線回折を使用した水堆積物中の結晶化した化合物の測定の標準的な手法
  • ASTM D934-80(1999) X線回折によるヒドロホルム堆積物中の結晶性化合物の同定のための標準的な手法
  • ASTM F3419-22 線回折 (XRD) 技術を使用した馬の表面材料の鉱物学的特性の標準試験方法
  • ASTM D5758-01(2021) X線回折によるゼオライトZSM-5の相対結晶化度の標準試験方法
  • ASTM E1621-21 X線発光分光分析の標準ガイド
  • ASTM D5758-01(2011)e1 線回折を使用したゼオライト ZSM-5 の相対結晶化度を決定するための標準試験方法
  • ASTM F2024-10(2016) プラズマ溶射ハイドロキシアパタイト コーティングの相含有量を X 線回折で測定するための標準的な手法
  • ASTM F2024-10(2021) プラズマ溶射ハイドロキシアパタイト コーティングの相含有量を X 線回折で測定するための標準的な手法
  • ASTM D934-22 線回折による水性堆積物中の結晶性化合物の同定のための標準的な手法
  • ASTM D3906-19 軽石型ゼオライトを含む材料の相対 X 線回折強度を測定するための標準試験方法
  • ASTM F2024-00 ハイドロキシアパタイトプラズマ溶射層の相含有量の X 線回折測定の標準的な手法
  • ASTM D3906-03(2008) フォージャサイト型ゼオライト含有材料の相対X線回折強度を求める試験方法
  • ASTM D934-13 線回折による水堆積物中の結晶性化合物の同定のための標準的な手法
  • ASTM D5758-01(2015) X線回折によるZSM-5ゼオライトの相対結晶化度の標準試験方法
  • ASTM D5187-10(2015)e1 X線回折を使用した焙焼石油コークスの結晶サイズ(Lc)を測定するための標準試験方法
  • ASTM D5187-10 粒度の標準試験方法(X線回折によるか焼石油コークスのLc)
  • ASTM C1365-06(2011) 粉末X線回折分析によるポルトランドセメントおよびポルトランドセメントスラグステージ比を決定するための標準試験方法
  • ASTM C1365-06 粉末X線回折分析によるポルトランドセメントおよびポルトランドセメントスラグステージ比を決定するための標準試験方法
  • ASTM D3906-97 フォージャサイトを含む材料の相対 X 線回折強度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D3720-90(2005) X線回折による二酸化チタン顔料のアナターゼとルチルの比率を測定するための試験方法
  • ASTM E1426-98 有効弾性パラメータを決定するための残留応力の X 線回折測定の標準試験方法
  • ASTM E1426-98(2009)e1 有効弾性パラメータを決定するための残留応力の X 線回折測定の標準試験方法
  • ASTM F2024-10 スラリースプレーされたヒドロキシアパタイトコーティングの相含有量の X 線回折測定の標準的な手法
  • ASTM C1365-98 粉末X線回折分析によるポルトランドセメントおよびポルトランドセメントスラグの段階比率を決定するための標準試験方法
  • ASTM C1365-98(2004) 粉末X線回折分析によるポルトランドセメントおよびポルトランドセメントスラグの段階比率を決定するための標準試験方法
  • ASTM D3720-90(1999) X線回折による二酸化チタン顔料のアナターゼ対ルチル比を決定するための標準試験方法
  • ASTM D3906-03(2013) フォージャサイト型ゼオライト含有材料の相対 X 線回折強度を測定するための標準試験方法
  • ASTM D5187-21 X線回折によるか焼石油コークスの結晶子サイズ(Lc)を測定するための標準試験方法
  • ASTM D3720-90(2019) X線回折による二酸化チタン顔料のアナターゼ対ルチル比を測定するための標準試験方法
  • ASTM D3720-90(2011) X線回折による二酸化チタン顔料のアナターゼ対ルチル比を測定するための標準試験方法
  • ASTM C1365-18 粉末X線回折分析を使用したポルトランドセメントおよびポルトランドセメントクリンカー中の相の割合を決定するための標準試験方法

Universal Oil Products Company (UOP), X線回折 回折分析

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, X線回折 回折分析

Professional Standard - Education, X線回折 回折分析

  • JY/T 0587-2020 多結晶X線回折法の一般規則
  • JY/T 009-1996 回転ターゲット多結晶X線誘導体化法の一般原理
  • JY/T 0588-2020 単結晶X線回折装置を用いた低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理
  • JY/T 008-1996 円単結晶 X 線回折装置を使用した低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理。

German Institute for Standardization, X線回折 回折分析

  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
  • DIN EN 15305:2009-01 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
  • DIN EN 15305:2009 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法。
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 X線回折解析による非破壊検査 残留応力解析の検査方法
  • DIN ISO 13320:2022-12 粒度分析レーザー回折法
  • DIN EN 12698-2:2007 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析その2:X線回折(XRD)法
  • DIN EN 13925-2:2003 非破壊検査 多結晶および非晶質材料の X 線回折 パート 2: 手順
  • DIN EN 13925-1:2003 非破壊検査 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折 パート 1: 一般原理
  • DIN EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • DIN EN 13925-3:2005-07 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • DIN EN 13925-2:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 2: 手順
  • DIN ISO 13320:2022 粒子径分析レーザー回折法(ISO 13320:2020)
  • DIN EN 13925-1:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 1: 一般原理
  • DIN ISO 13067:2021-08 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 平均粒径測定
  • DIN EN 1330-11:2007-09 非破壊検査用語 第 11 部:多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • DIN 51418-1:2008 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (XRF) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN EN ISO 8130-13:2019-08 コーティングパウダー パート 13: レーザー回折粒度分析
  • DIN 51418-2:2015 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
  • DIN 51418-2:1996 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
  • DIN ISO 13067:2015 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、平均粒径測定 (ISO 13067-2011)
  • DIN ISO 24173:2013-04 マイクロビーム解析 後方散乱電子回折を使用した配向測定ガイド
  • DIN 51418-1:2008-08 放射線分光法 X 線放射および蛍光 X 線分析 (XRF) 第 1 部: 定義と基本原理
  • DIN 51418-1:1996 X 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN ISO 13067:2021 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 平均粒径の測定 (ISO 13067:2020)
  • DIN EN 1330-11:2007 非破壊検査. 用語. パート 11: 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折で使用される用語

Association Francaise de Normalisation, X線回折 回折分析

Society of Automotive Engineers (SAE), X線回折 回折分析

SAE - SAE International, X線回折 回折分析

国家质量监督检验检疫总局, X線回折 回折分析

Professional Standard - Petroleum, X線回折 回折分析

  • SY/T 5163-1995 堆積岩中の粘土鉱物の相対含有量のX線回折分析法
  • SY/T 5163-2010 堆積岩中の粘土鉱物および一般的な非粘土鉱物のX線回折分析法
  • SY/T 5983-1994 イライト・スメクタイト層間鉱物のX線回折同定法
  • SY/T 6210-1996 堆積岩中の全粘土鉱物と一般非粘土鉱物のX線回折定量分析法

未注明发布机构, X線回折 回折分析

  • BS EN 15305:2008(2009) 非破壊検査の試験方法 X線回折残留応力解析
  • BS ISO 20203:2005(2006) アルミニウム製造に使用される炭素質材料のX線回折法によるか焼石油コークスの結晶子サイズの測定

Professional Standard - Commodity Inspection, X線回折 回折分析

  • SN/T 3975-2014 ボーキサイト鉱物の同定方法 X線回折法
  • SN/T 4008-2013 粉末X線回折法を用いたタルクの迅速定性スクリーニング
  • SN/T 3231-2012 タルク中のアスベスト含有量の測定 偏光顕微鏡 - X 線回折分析
  • SN/T 2731-2010 非金属鉱物中のアスベストの定性法 X線回折顕微鏡観察
  • SN/T 2649.2-2010 輸出入化粧品中のアスベストの判定その2:X線回折・偏光顕微鏡法
  • SN/T 3011.1-2011 輸入金属鉱物固形廃棄物の相を同定するための X 線回折法 第 1 部:一般原則
  • SN/T 3514-2013 電磁鋼板の結晶方位・無配向の識別方法 集合組織判定のためのX線回折法
  • SN/T 2649.1-2010 輸出入化粧品中のアスベストの判定その1:X線回折・走査型電子顕微鏡法
  • SN/T 3131-2012 自転車ブレーキスキンのアスベスト含有量の測定 偏光顕微鏡-X線回折分光分析

Professional Standard - Public Safety Standards, X線回折 回折分析

Danish Standards Foundation, X線回折 回折分析

  • DS/EN 15305/AC:2009 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • DS/EN 15305:2008 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • DS/ISO 13320:2009 粒度分析レーザー回折法
  • DS/EN 13925-2:2003 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部:手順
  • DS/EN 13925-3:2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • DS/EN 13925-1:2003 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • DS/EN 1330-11:2007 非破壊検査用語 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • DS/EN ISO 8130-13:2011 コーティングパウダー その13: レーザー回折による粒度分析

Lithuanian Standards Office , X線回折 回折分析

  • LST EN 15305-2008 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • LST EN 15305-2008/AC-2009 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • LST EN 13925-3-2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • LST EN 13925-2-2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部:手順
  • LST EN 13925-1-2004 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • LST EN 1330-11-2007 非破壊検査用語 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語

AENOR, X線回折 回折分析

  • UNE-EN 15305:2010 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • UNE-EN 13925-2:2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部:手順
  • UNE-EN 13925-3:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • UNE-EN 13925-1:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • UNE-EN 1330-11:2008 非破壊検査用語 第 11 部:多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語

Professional Standard - Electricity, X線回折 回折分析

  • DL/T 1151.22-2012 火力発電所におけるスケール生成物および腐食生成物の分析方法 第22部:蛍光X線分析法とX線回折分析法

British Standards Institution (BSI), X線回折 回折分析

  • BS EN 15305:2008 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法
  • BS ISO 16258-2:2015 職場の空気 X 線回折を用いた呼吸可能な石英の分析 間接分析法
  • BS ISO 13320:2020 粒度分析レーザー回折法
  • BS ISO 16258-1:2015 職場の空気 X 線回折を使用した呼吸可能な石英の分析 直接濾過法
  • BS ISO 13320:2010 粒度分析 レーザー回折法
  • BS ISO 13320:2009 粒度分析 - レーザー回折法
  • BS EN 13925-2:2003(2008) 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
  • BS EN 13925-3:2005(2009) 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
  • BS EN 13925-2:2003 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
  • BS EN 13925-3:2005 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
  • BS EN 13925-1:2003(2008) 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折、一般原理
  • BS EN 13925-1:2003 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折、一般原理
  • 19/30333249 DC BS ISO 13320 粒子サイズ分析のためのレーザー回折法
  • BS EN 1330-11:2007 非破壊検査 用語 多結晶および非晶質材料の X 線回折に関する用語。
  • BS ISO 17867:2015 粒子径分析、小角X線散乱
  • BS ISO 22262-3:2016 大気質、バルク物質、X線回折によるアスベストの定量
  • BS ISO 13320-1:2000 粒度分析、レーザー回折法、一般規則
  • BS ISO 13067:2011 マイクロビーム分析、反射電子回折、平均粒径測定
  • BS ISO 13067:2020 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 平均粒径の測定
  • BS EN 12698-2:2007 炭化ケイ素耐火物に結合した窒化物の化学分析 光線回折 (XRD) 法
  • BS ISO 17867:2020 粒子径分析 小角 X 線散乱 (SAXS)
  • DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線散乱
  • BS ISO 23749:2022 マイクロビーム分析による鋼中のオーステナイトの定量的測定 後方散乱電子回折
  • BS EN ISO 8130-13:2010 粉体塗料 レーザー回折による粒度分析
  • BS EN ISO 8130-13:2001 レーザー回折を使用した粉体塗料の粒径分析
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 粒子径分析 小角X線散乱法
  • BS ISO 24173:2009 マイクロビーム解析、後方散乱電子回折を使用した方位角測定の基準
  • BS EN ISO 8130-13:2019 レーザー回折によるコーティング粉末の粒度分析
  • 19/30365236 DC BS ISO 13067 マイクロビーム分析 後方散乱電子回折 平均粒径の測定
  • BS ISO 20289:2018 表面化学分析 水の全反射蛍光X線分析
  • BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • 21/30398224 DC BS ISO 23749 マイクロビーム分析による後方散乱電子回折による鋼中のオーステナイトの定量的測定
  • BS ISO 22278:2020 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンストテクノロジーセラミックス) 平行X線ビームX線回折法を用いた単結晶薄膜(ウエハ)の結晶品質判定試験方法
  • 23/30435799 DC BS ISO 24173 マイクロビーム分析による後方散乱電子回折を使用した配向測定のガイド

GOSTR, X線回折 回折分析

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