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膜抵抗率

膜抵抗率は全部で 10 項標準に関連している。

膜抵抗率 国際標準分類において、これらの分類:半導体材料、 セラミックス、 コンデンサ。


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 膜抵抗率

  • KS L 1619-2013(2018) 4探針アレイ導電性セラミック薄膜抵抗率試験方法
  • KS L 1619-2013 導電性セラミックス薄膜の抵抗率の測定方法 4探針法
  • KS L 1619-2003 導電性セラミックス薄膜の抵抗率の測定方法 4探針法

KR-KS, 膜抵抗率

  • KS L 1620-2013(2023) ファンデルボー法による導電性セラミックス薄膜の抵抗率測定試験方法
  • KS L 1619-2013(2023) 4点プローブアレイを使用した導電性セラミック薄膜の抵抗率の検査方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 膜抵抗率

  • JIS R 1637:1998 四探針配置法による導電性ファインセラミックス薄膜の抵抗率測定方法

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 膜抵抗率

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 膜抵抗率

Professional Standard - Electron, 膜抵抗率

  • SJ/T 1146-1993 コンデンサ用有機薄膜の体積抵抗率の試験方法

CZ-CSN, 膜抵抗率





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