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誘電率と誘電損失

誘電率と誘電損失は全部で 229 項標準に関連している。

誘電率と誘電損失 国際標準分類において、これらの分類：非金属鉱物、断熱材、周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、絶縁流体、通信機器の部品および付属品、ゴム、電気、磁気、電気および磁気測定、プリント回路およびプリント回路基板、総合電子部品、コンデンサ、採掘と発掘、ワイヤーとケーブル、絶縁、プラスチック、電気工学総合、電子および通信機器用の電気機械部品、トランス、リアクトル、インダクタ、ゴム・プラスチック製品、紙とボール紙、送配電網、抵抗器、有機化学、分析化学、回転モーター、燃料、繊維製品。

American Society for Testing and Materials (ASTM), 誘電率と誘電損失

ASTM D1082-17 マイカの誘電損失率及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D2149-13 固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）および誘電正接の標準試験方法
ASTM D150-18 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D150-87 固体電気絶縁材料の交流損失特性及び誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D3380-22 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
ASTM D3380-90(1995)e1 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
ASTM D3380-14 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）および電気正接の標準試験方法
ASTM D2149-97(2004) 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
ASTM D2149-97 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
ASTM D150-98(2004) 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
ASTM D150-98 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
ASTM D924-23 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D2149-13(2021) 周波数 10 MHz、温度 500°C における固体誘電体の誘電率と誘電正接の標準試験方法
ASTM D924-99e1 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D924-99e2 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D924-08 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）と誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D924-15 電気絶縁性液体の誘電正接（または力率）および誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D1082-00(2011) マイカの誘電正接および誘電率の標準試験方法
ASTM D924-04 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D924-03 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D924-03a 電気絶縁性液体の損失係数（または力率）および比誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D1531-01 液体置換法による誘電率および誘電正接の標準試験方法
ASTM D1531-01e1 液体置換法による誘電率および誘電正接の標準試験方法
ASTM D1531-95 液体置換法による誘電率および誘電正接の標準試験方法
ASTM D150-11 固体電気絶縁材料の交流損失特性および誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D1082-00 マイカの誘電正接および誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D1082-00(2005) マイカの誘電正接および誘電率（誘電率）の標準試験方法
ASTM D1673-94(2004) 電気絶縁用延伸多孔質ポリマーの比誘電率および誘電正接の標準試験方法
ASTM D1673-94(1998) 電気絶縁用延伸多孔質ポリマーの比誘電率および誘電正接の標準試験方法
ASTM D3380-10 ポリマーベースの高周波回路マトリックスの比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
ASTM D669-92(1997) 平行積層薄板および板積層体の誘電正接および誘電率の標準試験方法
ASTM D2520-21 マイクロ波周波数および 1650°C の温度における固体電気絶縁材料の複素誘電率 (誘電率) の標準試験方法
ASTM D669-92(2002) 積層シートおよび積層板の層に平行な散逸係数および誘電率の試験方法
ASTM D3380-90(2003) プラスチック系マイクロ波回路基板の相対透過率（誘電率）と誘電正接の試験方法
ASTM D1531-06 液体置換法による比誘電率および誘電正接の標準試験方法
ASTM D669-03 積層された薄板および中厚シートに平行な層の散逸係数および誘電率の標準試験方法
ASTM D4491/D4491M-20e1 誘電率によるジオテキスタイルの透磁率の決定
ASTM D4491/D4491M-20 誘電率によるジオテキスタイルの透磁率の決定
ASTM D4491/D4491M-21 誘電率によるジオテキスタイルの透磁率の決定
ASTM D4491/D4491M-17 誘電率によるジオテキスタイルの透磁率の決定
ASTM D5493-06(2011) 荷重下でのジオテキスタイルの誘電率の標準試験方法
ASTM D5493-93(2003) 荷重下でのジオテキスタイルの誘電率の標準試験方法

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 誘電率と誘電損失

IPC TM-650 2.5.5.3C-1987 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二流体セル法）
IPC TM-650 2.5.5.5C-1998 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験
IPC TM-650 2.5.5.5B-1995 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験
IPC TM-650 2.5.5.1B-1986 1MHzにおける絶縁材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（接触電極方式）
IPC TM-650 2.5.5.2A-1987 プリント基板材料の誘電率と誘電率 - クランプ方式
IPC TM-650 2.5.5A-1975 プリント配線材料の誘電率

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 誘電率と誘電損失

KS C 2150-2008(2018) 高周波（500mhz〜10ghz）誘電体膜の誘電率・誘電損失の測定方法
KS C 2135-1996(2021) 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率（誘電率）の試験方法
KS C 2150-2008 高周波帯域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率及び誘電損失の測定方法
KS C 2135-1996(2016) 固体電気絶縁体の交流損失特性と比誘電率の試験方法
KS C 2134-1996 積層体の誘電正接と誘電率の測定
KS C IEC 62631-2-1:2020 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性第 2-1 部：比誘電率と損失係数技術周波数 (0.1hz~10mhz) 交流法
KS C IEC 60250:2003 電力周波数、可聴周波数、および無線周波数（メーター波長を含む）における電気絶縁材料の誘電率および誘電損失係数を決定するための推奨方法
KS C 2134-1996(2021) 積層板材と平板材の積層時の損失係数と誘電率の試験方法
KS C 2134-1996(2016) 積層板および板に平行な材料の誘電正接および誘電率の試験方法
KS C 2136-1996(2021) 固体電気絶縁材料の高周波および高温における複素誘電率（誘電率）の試験方法
KS C 2136-1996(2016) 高周波および高温における固体絶縁材料の複素誘電率（誘電率）を試験する方法
KS C 2135-1996 固体絶縁材料の交流損失特性と誘電率の求め方
KS C 2117-1996 非金属磁性材料の複合誘電率の測定

RO-ASRO, 誘電率と誘電損失

STAS 2740-1969 電気絶縁材料。誘電率と誘電損失角の決定
STAS 12969-1991 熱力学的温度 70 度における固体電気絶縁材料の誘電率と損失正接を決定する方法
STAS 6799-1981 絶縁鉱物油。誘電率と誘電正接の測定

Association Francaise de Normalisation, 誘電率と誘電損失

NF EN 62562:2011 低損失誘電体板の複素誘電率を測定するための共振空洞法
NF C26-232*NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
NF EN 62810:2018 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
NF C26-296*NF EN 62562:2011 空洞共振器法は、低損失誘電体デバイスの合成誘電率の測定に使用されます。
NF EN 60247:2004 絶縁性液体 - 比誘電率、誘電正接（tanδ）、直流抵抗率の測定
NF EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための対称ディスク共振器法
NF EN IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電率と抵抗特性第2-2部：比誘電率と誘電正接高周波（1MHz～300MHz）交流法
NF C27-210*NF EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率（tanδ）、直流抵抗率の測定
NF EN 61620:1999 コンダクタンスとキャパシタンスの測定により誘電正接を決定するための液体絶縁体の試験方法
NF C26-631-2-1*NF EN IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性パート 2-1: 比誘電率と誘電正接技術周波数 (0.1 Hz ～ 10 MHz) AC 法
NF EN IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性パート 2-1: 比誘電率と誘電正接技術周波数 (0.1 Hz ～ 10 MHz) 交流法
NF C27-210:1979 絶縁流体の比誘電率、誘電損失、直流抵抗率の測定
NF C51-127-3*NF EN 60034-27-3:2016 回転電機第27-3回回転電機の固定子巻線絶縁の誘電損率測定

PL-PKN, 誘電率と誘電損失

PN E04403-1986 固体電気絶縁材料。誘電率・誘電損失率の測定
PN E04410-22-1986 電気絶縁ワニス。テスト方法。損失係数と誘電率の決定
PN-EN IEC 63185-2021-08 E 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)

Professional Standard - Electron, 誘電率と誘電損失

SJ/T 11043-1996 電子ガラスの高周波誘電損失および比誘電率の試験方法
SJ/T 1147-1993 コンデンサ用有機膜の誘電正接及び比誘電率の試験方法
SJ 20512-1995 マイクロ波大損失固体材料の複素誘電率および複素透磁率の試験方法
SJ/T 10143-1991 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法リエントリーキャビティ法
SJ/T 10142-1991 誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法同軸線路端子開放法

ES-UNE, 誘電率と誘電損失

UNE-EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
UNE-EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
UNE-EN 60247:2004 ERRATUM:2005 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定
UNE-EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板の複素誘電率測定のためのバランスディスク共振器法
UNE-EN IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電率と抵抗特性第2-2部：比誘電率と誘電正接高周波（1MHz～300MHz）AC方式
UNE-EN IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性パート 2-1: 比誘電率と誘電正接技術周波数 (0.1 Hz ～ 10 MHz) AC 法
UNE-EN 60034-27-3:2016 回転電機第27-3部回転電機の固定子巻線絶縁の誘電正接測定

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 誘電率と誘電損失

EN 62810:2015 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の合成誘電率測定
EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
EN 61620:1999 コンダクタンスとキャパシタンスを測定することにより絶縁液体の誘電正接を求める試験方法
EN 60034-27-3:2016 回転電機第27-3部回転電機の固定子巻線絶縁の誘電正接測定
EN IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性パート 2-1: 比誘電率と誘電正接技術周波数 (0 1 Hz ～ 10 MHz) AC 法
EN 60247:2004 絶縁性液体比誘電率、誘電正接 (tan $) および DC 抵抗率の測定 IEC 60247-2004

German Institute for Standardization, 誘電率と誘電損失

DIN EN 62810:2015-12 低損失誘電体棒の複素誘電率を測定するための円筒空洞法
DIN EN 62562:2011-10 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
DIN EN IEC 63185:2022-10 平衡ディスク共振器法を用いた低損失誘電体基板の複素誘電率の測定 (IEC 63185:2020)
DIN EN 63185:2018 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するためのバランスディスク共振器法 (IEC 46F/415/CD:2018)
DIN EN 62562:2011 空洞共振器法を使用した低損失誘電体プレートの複素誘電率の測定 (IEC 62562-2010)、ドイツ語版 EN 62562-2011
DIN 57472-505:1983 ケーブル、導体、コードの試験、誘電正接、誘電損失係数、漏れ率 (VDE 仕様)
DIN EN 62810:2015 円筒共振器法を使用した低損失誘電体ロッドの複素誘電率の測定 (IEC 62810-2015)、ドイツ語版 EN 62810-2015
DIN EN 60247:2005 絶縁性液体比誘電率、誘電損失率（tanδ）、直流抵抗率の測定
DIN EN 61620:1999 絶縁液体導電率と静電容量の測定による誘電損率の決定試験方法
DIN EN IEC 62631-2-1:2018-12 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 - パート 2-1: 比誘電率と誘電正接 - 技術周波数 (0.1 Hz ～ 10 MHz) - AC 法 (IEC 62631-2-1:2018)

Danish Standards Foundation, 誘電率と誘電損失

DS/EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
DS/EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損率（tanファイ）、直流抵抗率の測定
DS/EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
DS/IEC 247:1979 絶縁性液体の比誘電率、誘電正接、直流抵抗率の測定
DS/EN 61620:1999 コンダクタンスとキャパシタンスを測定することにより絶縁液体の誘電正接を求める試験方法

American National Standards Institute （ANSI), 誘電率と誘電損失

ANSI/ASTM D150:2018 固体電気絶縁体の交流損失特性と誘電率（誘電率）の標準試験方法
ANSI/ASTM D150:2011 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性と比誘電率の試験方法
ANSI/ASTM D3380:2010 プラスチック系マイクロ波回路基板の相対透過率（誘電率）と誘電正接の試験方法

RU-GOST R, 誘電率と誘電損失

GOST 22372-1977 誘電体材料周波数帯域100Hz～5MHzにおける誘電率及び誘電正接の測定方法
GOST 8.358-1979 0.2～1GHzの周波数帯域における比誘電率および誘電正接角の測定方法
GOST 25495-1982 岩石の誘電率及び誘電正接角の求め方
GOST R 8.623-2015 測定の一貫性を確保するための国家システム固体誘電体の比誘電率と損失係数マイクロ波周波数の測定手順
GOST R IEC 62562-2012 測定の一貫性を確保するための国家制度空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
GOST R IEC 61620-2013 絶縁性液体コンダクタンスとキャパシタンスを測定することによる誘電正接の決定
GOST 8.544-1986 測定の一貫性を確保するための状態システム比誘電率固体誘電体の損失正接 9 度 10 から 10 度 Hz までの測定手順 10
GOST 26127-1984 電気絶縁紙周波数50Hzにおける誘電損失の接線角の求め方
GOST 16746-1983 コンデンサ用紙工業用周波数における誘電損失および誘電係数の接線角の決定方法
GOST 6433.4-1971 固体電気絶縁材料誘電力率および電力（50Hz）周波数誘電率の評価方法
GOST R IEC 60247-2013 絶縁性液体比誘電率、誘電正接 (tan d)、直流抵抗率の測定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 誘電率と誘電損失

JIS C 2138:2007 電気絶縁材料、比誘電率、誘電損失率の求め方

CZ-CSN, 誘電率と誘電損失

CSN 72 5041-1973 焼成したセラミック材料の試験。誘電率と誘電損失率の測定
CSN 34 6466-1983 電気絶縁材料の誘電率と誘電損失率の求め方
CSN 34 6317-1984 電気材料やセラミックスの検査。誘電率と誘電損失率の求め方

International Electrotechnical Commission (IEC), 誘電率と誘電損失

IEC PAS 62562:2008 空洞共振器法による低損失誘電体デバイスの合成誘電率測定
IEC 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
IEC 63185:2020 低損失誘電体基板平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法
IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性パート 2-2: 比誘電率と損失係数高周波 (1MHz ～ 300MHz) AC 方式
IEC 61196-1-125:2022 同軸通信ケーブル第 1-125 部：電気試験方法等価誘電率および誘電体の等価誘電率の試験
IEC 61620:1998 絶縁性液体のコンダクタンスとキャパシタンスを測定して誘電損率を求める試験方法
IEC 60247:1978 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率、直流抵抗率の測定
IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性パート 2-1: 比誘電率と散逸係数技術周波数 (0.1hz ～ 10 MHz) AC 方式
IEC 60247:2004 液体絶縁材料、比誘電率、誘電損失率（tan）、直流抵抗率の測定
IEC 61338-1-3:1999 導波管型誘電体共振器第 1-3 部：一般情報と試験条件マイクロ波誘電体共振器材料の複素比誘電率の測定方法

British Standards Institution (BSI), 誘電率と誘電損失

BS EN 62562:2011 空洞共振器法による低損失誘電体板の複素誘電率測定
BS EN 62810:2015 円筒共振空洞法を用いた低損失誘電体棒の複素誘電率の測定
BS IEC 61196-1-125:2022 同軸通信ケーブルの電気試験方法誘電体の等価誘電率および等価損失率試験
BS EN IEC 63185:2021 平衡ディスク共振器法による低損失誘電体基板の複素誘電率測定
18/30373795 DC BS EN 63185. 低損失誘電体基板の複素誘電率を測定するための平衡ディスク共振器法
BS EN IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性比誘電率と損失係数高周波 (1MHz ～ 300MHz) AC モード
21/30435996 DC BS IEC 61196-1-125 同軸通信ケーブルパート 1-125 電気的試験方法誘電体の等価誘電率および等価散逸損失試験
20/30425177 DC BS IEC 62631-2-2 固体絶縁材料の誘電特性および抵抗特性 Part 2-2 比誘電率および誘電正接高周波 (1 MHz ～ 300 MHz) AC 方式
BS EN 60512-25-2:2002 電子機器用コネクタ試験および測定試験 25b. 減衰 (挿入損失) セクション 2: 減衰 (挿入損失)
BS EN IEC 62631-2-1:2018 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性比誘電率と誘電正接技術周波数 (0.1 Hz ～ 10 MHz) AC 方式
BS EN 61620:1999 絶縁液体のコンダクタンスとキャパシタンスを測定することにより誘電正接を決定する試験方法
BS EN 60247:2004 絶縁性液体比誘電率、誘電損失率（tan）、直流抵抗率の測定
BS EN 60034-27-3:2016 回転電機回転電機の固定子巻線絶縁の誘電損率の測定。
BS EN 61189-2-719:2016 電気材料、プリント基板およびその他の相互接続構造およびアセンブリの試験方法相互接続構造の材料の試験方法比誘電率および誘電正接値 (500 MHz ～ 10 GHz)

KR-KS, 誘電率と誘電損失

KS C 2150-2008(2023) 高周波領域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率および誘電損失の測定方法
KS C IEC 62631-2-1-2020 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性第 2-1 部：比誘電率と損失係数技術周波数 (0.1hz~10mhz) 交流法

IEC - International Electrotechnical Commission, 誘電率と誘電損失

PAS 62562-2008 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (バージョン 1.0)

AENOR, 誘電率と誘電損失

UNE-EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定
UNE 21322:1977 主電源、オーディオ周波数、無線周波数における電気絶縁材料の誘電率と誘電正接を決定する方法

Lithuanian Standards Office , 誘電率と誘電損失

LST EN 62562-2011 低損失誘電体プレートの複素誘電率を測定するための空洞共振器法 (IEC 62562:2010)
LST EN 60247-2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率 (tan) および DC 抵抗率の測定 (IEC 60247:2004)
LST EN IEC 63185:2021 低損失誘電体基板上の平衡ディスク共振器の複素誘電率の測定方法 (IEC 63185:2020)
LST EN 61620-2001 コンダクタンスとキャパシタンスを測定することにより絶縁性液体の誘電正接を決定するための試験方法 (IEC 61620:1998)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 誘電率と誘電損失

GB/T 1693-2007 加硫ゴムの誘電率及び誘電正接の求め方
GB/T 14217-1993 コンデンサー紙の誘電損失率（tanδ）測定方法
GB/T 5597-1999 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法
GB/T 5594.4-2015 電子部品用構造用セラミック材料の性能試験方法第4部誘電率及び誘電正接の試験方法
GB 7265.1-87 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法摂動法
GB 7265.1-1987 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法摂動法
GB 7265.2-1987 固体誘電体のマイクロ波複素誘電率の試験方法「オープンキャビティ」法
GB/T 11297.11-2015 焦電材料の誘電率の試験方法
GB/T 3334-1999 ケーブルペーパーの誘電正接（tgδ）試験方法（ブリッジ法）
GB/T 21216-2007 絶縁性液体のコンダクタンスとキャパシタンスを測定して誘電損率を求める試験方法
GB/T 5654-2007 液体絶縁材料の比誘電率、誘電損失率、直流抵抗率の測定
GB/T 11297.9-2015 焦電材料の誘電正接tanδの試験方法
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