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クリプトン厚さ計

クリプトン厚さ計は全部で 132 項標準に関連している。

クリプトン厚さ計 国際標準分類において、これらの分類：原子力工学、 非破壊検査、 長さと角度の測定、 塗料とワニス、 化学装置、 産業用オートメーションシステム、 製紙業界の設備、 医療機器、 音響および音響測定、 流体の流れの測定、 表面処理・メッキ、 計測学と測定の総合、 繊維製品、 分析化学、 語彙、 放射線測定、 セラミックス。


Group Standards of the People's Republic of China, クリプトン厚さ計

Professional Standard - Chemical Industry, クリプトン厚さ計

Professional Standard - Light Industry, クリプトン厚さ計

工业和信息化部, クリプトン厚さ計

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, クリプトン厚さ計

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, クリプトン厚さ計

Professional Standard - Machinery, クリプトン厚さ計

  • JB/T 11604-2013 非破壊検査装置 超音波厚さ計
  • JB/T 8393-1996 磁気式および渦電流式膜厚計
  • JB/T 11602.2-2013 非破壊検査装置のX線管電圧の測定と評価その2：厚板フィルター法による耐久校正

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, クリプトン厚さ計

  • GB/T 37361-2019 塗膜厚さの測定 超音波膜厚計法
  • GB/T 40332-2021 非破壊検査 超音波検査 超音波厚さ計の性能特性と検査方法

German Institute for Standardization, クリプトン厚さ計

  • DIN CEN ISO/TS 19397:2018-05*DIN SPEC 55661:2018-05 塗膜厚さの測定には超音波膜厚計を使用します
  • DIN 50933:2015 膜厚測定 触針による差動測定による膜厚測定
  • DIN 50933:2015-08 塗膜厚さの測定 塗膜の厚さは、触針による差動測定によって測定されます。
  • DIN IEC 61336:1999-05 核計測用電離放射線を利用した厚さ測定システムの定義とテスト方法
  • DIN EN ISO 19397:2024-01 塗料およびワニス用の超音波測定器を使用したコーティングの膜厚の測定 (ISO/DIS 19397:2023)
  • DIN IEC 61336:1999 核測定器、電離放射線を用いた厚さ測定システム、定義と試験方法
  • PAS 1022-2004 エリプソメトリーを使用して材料および誘電体材料の特性をテストし、薄膜層の厚さを測定するための参照手順

The Society for Protective Coatings (SSPC), クリプトン厚さ計

  • SSPC PA 9-2015 超音波膜厚計を使用した乾燥膜厚の測定
  • SSPC PA 9-2008 超音波膜厚計を使用したセメント質基材の乾燥塗膜厚さの測定

SSPC - The Society for Protective Coatings, クリプトン厚さ計

  • PA 9-2015 超音波膜厚計を使用した乾燥膜厚の測定
  • PA 9-2008 超音波膜厚計を使用したセメント質基材の乾燥塗膜厚さの測定
  • PA GUIDE 9-2008 超音波膜厚計を使用したセメント質基材の乾燥塗膜厚さの測定

Association Francaise de Normalisation, クリプトン厚さ計

  • XP T30-129*XP CEN ISO/TS 19397:2018 超音波膜厚計を使用してコーティングの膜厚を測定します。
  • NF A91-114:1995 金属皮膜 皮膜厚さの測定 形状測定法
  • NF EN ISO 18452:2016 テクニカルセラミックス 接触式粗面計を使用したセラミックフィルムの厚さの測定
  • NF S11-684-1:1998 光学および光学機器 コンタクトレンズ 厚さの測定 パート 1: ハードコンタクトレンズ
  • NF S11-684-2:1999 光学および光学機器 コンタクト レンズ 厚さの測定 パート 2: ヒドロゲル コンタクト レンズ
  • NF A91-117*NF EN ISO 3868:1995 金属およびその他の無機コーティングのコーティング厚さの測定 フィゾーマルチビーム干渉計法
  • NF A92-810*NF EN ISO 18452:2016 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス） - 接触式表面形状計を使用したセラミック膜の厚さの測定

CEN - European Committee for Standardization, クリプトン厚さ計

International Organization for Standardization (ISO), クリプトン厚さ計

  • ISO/CD 19397:2023 超音波膜厚計を使用してコーティングの膜厚を測定します。
  • ISO 4518:1980 金属皮膜厚さ測定形状測定法
  • ISO 9339-1:1996 光学および光学機器 - コンタクトレンズの厚さの測定 - パート 1: 固定コンタクトレンズ
  • ISO 9339-2:1998 光学および光学機器 コンタクトレンズの厚さの決定 パート 2: ハイドロゲルコンタクトレンズ
  • ISO 3868:1976 金属およびその他の無機コーティングのコーティング厚さの測定 Pesso マルチビーム干渉計法
  • ISO 18452:2005 精密セラミックス (アドバンストセラミックス、アドバンスト工業用セラミックス) 接触プローブ形状計によるセラミックコーティングの厚さの測定
  • ISO 9339-2:1998/Cor 1:2000 光学および光学機器 コンタクト レンズの厚さの決定 パート 2: ヒドロゲル コンタクト レンズの技術訂正事項 1

British Standards Institution (BSI), クリプトン厚さ計

  • PD CEN ISO/TS 19397:2018 超音波膜厚計を使用してコーティングの膜厚を測定します。
  • BS EN ISO 4518:1980 金属クラッド、クラッドの厚さの測定、プロファイラー法
  • BS IEC 61336:1996 核計測用電離放射線を利用した厚さ測定システムの定義とテスト方法
  • BS IEC 61336:1998 核計測機器、電離放射線を利用した厚さ測定システム、定義と試験方法
  • BS EN ISO 3868:1995 金属およびその他の無機コーティング コーティングの厚さ測定 フィゾーマルチビーム干渉計法
  • BS EN 1071-1:2003 先端工業用セラミックス セラミックコーティングの試験方法 触針式表面形状計によるセラミックコーティングの厚さの測定
  • BS EN ISO 18452:2016 精密セラミックス (アドバンストセラミックス、アドバンスト工業用セラミックス) 接触プローブ形状計によるセラミックコーティングの厚さの測定

HU-MSZT, クリプトン厚さ計

SE-SIS, クリプトン厚さ計

  • SIS SS IEC 577:1981 核実験装置。 電離放射線膜厚測定器
  • SIS SS IEC 769:1988 核実験装置。 厚さ測定にアナログまたはデジタル信号処理を適用する電離放射線測定システム

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, クリプトン厚さ計

  • GB/T 33888-2017 非破壊検査器超音波厚さ計の特性と検証
  • GB/T 33826-2017 ガラス基板上のナノフィルムの厚さを測定する触針式表面形状測定法

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, クリプトン厚さ計

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, クリプトン厚さ計

VN-TCVN, クリプトン厚さ計

  • TCVN 5241-1990 ミシン糸、シックネスゲージの直径の測定方法

Professional Standard - Nuclear Industry, クリプトン厚さ計

  • EJ 662-1992 浸透厚さ計用ストロンチウム 90/イットリウム 90β ソース

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), クリプトン厚さ計

  • JIS Z 2355-2:2016 非破壊検査 超音波厚さ測定 第2部 超音波厚さ計の性能特性の評価方法

American Society of Mechanical Engineers (ASME), クリプトン厚さ計

RU-GOST R, クリプトン厚さ計

  • GOST R 55614-2013 非破壊検査、超音波厚さ計、一般的な技術要件
  • GOST R 55613-2013 非破壊検査、厚さゲージをカバーする基準測定、一般原則
  • GOST R 8.862-2013 測定の一貫性を確保するための国家システム 超音波厚さ計 検証方法
  • GOST 8.171-1975 国家測定一貫性保証制度 放射線厚さ計の面密度の実務対応 一般仕様書

CZ-CSN, クリプトン厚さ計

  • CSN ISO 4518:1994 金属コーティング。 膜厚測定。 形状測定
  • CSN ISO 1879:1993 形状測定法を使用して表面の厚さを測定する装置です。 用語
  • CSN ISO 1880:1993 形状測定法を使用して表面の厚さを測定する装置です。 段階的に輪郭を変換する接触（スタイラス）タイプの機器。 プロファイルレコーダー
  • CSN ISO 3274:1994 形状測定法を使用して表面の厚さを測定する装置です。 等高線シーケンス変換機能を備えた接触（スタイラス）タイプの機器。 接触式表面形状計、システム M

ZA-SANS, クリプトン厚さ計

  • SANS 10834:2003 床材 カーペットベース上のパイル厚さの非破壊測定 WRONZ 厚さゲージの測定方法
  • SANS 4518:1980 金属メッキ。 塗膜厚さの測定。 表面光度測定プロフィロメトリー

未注明发布机构, クリプトン厚さ計

  • DIN 50933 E:2014-07 膜厚測定 - 触針による差分測定による膜厚測定
  • BS IEC 61336:1996(1999) 核計測機器 - 電離放射線を利用した厚さ測定システム - 定義と試験方法
  • BS EN ISO 9339-1:1998 光学および光学機器 コンタクトレンズの厚さの決定 その 1: ハードコンタクトレンズ
  • DIN EN ISO 18452 E:2015-11 精密セラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンスト工業用セラミックス） 接触式表面形状計によるセラミックス膜厚の決定（案）

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), クリプトン厚さ計

  • KS D ISO 4518-2012(2017) 金属皮膜 - 皮膜厚さ測定 - プロファイラー法
  • KS D ISO 4519:2009 金属皮膜 皮膜厚さの測定 表面測光法
  • KS D ISO 3497-2002(2017) 金属皮膜 - 皮膜厚さ測定 - X線分光法
  • KS B ISO 9339-1:2004 光学および光学機器 コンタクトレンズ 厚さの測定 パート 1: 直接コンタクトレンズ
  • KS B ISO 9339-1:2014 光学および光学機器 コンタクトレンズ 厚さの測定 パート 1: 直接コンタクトレンズ
  • KS B ISO 9339-1-2014(2019) 光学および光学機器 - コンタクト レンズ - 厚さの測定 - パート 1: リジッド コンタクト レンズ
  • KS B ISO 9339-2:2004 光学および光学機器 コンタクト レンズ 厚さの測定 パート 2: ヒドロゲル コンタクト レンズ
  • KS B ISO 9339-2:2014 光学および光学機器 コンタクト レンズ 厚さの測定 パート 2: ヒドロゲル コンタクト レンズ
  • KS B ISO 9339-2-2014(2019) 光学および光学機器 - コンタクト レンズ - 厚さの測定 - パート 2: ヒドロゲル コンタクト レンズ
  • KS D ISO 3868:2002 金属コーティングおよびその他の無機コーティング コーティングの厚さの測定 フィゾーマルチビーム干渉計法

IN-BIS, クリプトン厚さ計

YU-JUS, クリプトン厚さ計

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, クリプトン厚さ計

  • GB/T 11378-2005 金属皮膜膜厚測定形状測定法
  • GB/T 31225-2014 エリプソメトリーを使用してシリコン表面上の薄い二酸化シリコン層の厚さを測定する方法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, クリプトン厚さ計

  • GJB 8687-2015 光学フィルムの屈折率測定器と膜厚測定器の校正手順
  • GJB 3766-1999 インパクトディスク起爆装置の硬質爆発箔の厚さの測定方法 - 表面粗さ計法
  • GJB 3766-1999(XG1-2015) インパクトディスク起爆装置における硬質爆発性フォイルの厚さの測定方法 - 表面粗さ計法修正シート 1-2015

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, クリプトン厚さ計

  • GJB/J 5463-2005 光学フィルムの屈折率測定器と膜厚測定器の校正手順

American Society for Testing and Materials (ASTM), クリプトン厚さ計

  • ASTM D6132-13(2022) 超音波膜厚計を使用して塗布された有機塗料の乾燥膜厚を非破壊で測定する標準的な試験方法
  • ASTM D6132-13 超音波膜厚計を使用して塗布された有機塗料の乾燥膜厚を非破壊で測定する標準的な試験方法
  • ASTM D6132-13(2017) 超音波膜厚計を使用して塗布された有機塗料の乾燥膜厚を非破壊で測定するための標準的な試験方法
  • ASTM D4166-99(2004)e1 デジタル着磁試験機を用いた非磁性材料の厚み測定の標準的な試験方法
  • ASTM D4166-99 デジタル磁力計を使用して非磁性材料の厚さを測定する標準的な試験方法

European Committee for Standardization (CEN), クリプトン厚さ計

  • EN ISO 4518:2021 金属皮膜 皮膜厚さの測定 表面測光法
  • EN ISO 4518:1995 金属コーティング コーティングの厚さの測定 表面フォトプロフィロメータ法 (ISO 4518-1990)
  • EN ISO 9339-1:1998 光学および光学機器 - コンタクトレンズの厚さの測定 - パート 1: 固定コンタクトレンズ
  • EN ISO 9339-2:1998 光学および光学機器 コンタクトレンズの厚さの決定 パート 2: ハイドロゲルコンタクトレンズ
  • EN ISO 3868:1994 金属およびその他の無機コーティング コーティングの厚さの測定 Basso マルチビーム乾式放射線写真法 (ISO 3868-1976)
  • DD ENV 1071-1-1993 高度なテクニカルセラミックセラミックコーティングの試験方法パート 1: 接触プローブ表面形状計によるコーティング厚さの決定

Danish Standards Foundation, クリプトン厚さ計

  • DS/EN ISO 4518:1995 金属および酸化物コーティング。 被覆層の厚さ測定。 形状測定法
  • DS/EN 1071-1:2003 アドバンストテクニカルセラミックス上のセラミックコーティングの試験方法 第 1 部: 接触プローブ光度計によるコーティング厚さの測定

International Electrotechnical Commission (IEC), クリプトン厚さ計

  • IEC 61336:1996 原子力機器用の電離放射線を使用した厚さ測定システムの定義とテスト方法

BE-NBN, クリプトン厚さ計

  • NBN EN ISO 3868:1995 金属および非金属コーティング。 厚み測定。 フィゾーマルチビーム干渉計法（ISO 3868-1976）

SG-SPRING SG, クリプトン厚さ計

  • SS 373 Pt.5-1994 光学および光学機器の仕様。 コンタクトレンズ。 パート 5: ハードコンタクトレンズの厚さの決定

Lithuanian Standards Office , クリプトン厚さ計

  • LST EN 1071-1-2003 アドバンストテクニカルセラミックス上のセラミックコーティングの試験方法 第 1 部: 接触プローブ光度計によるコーティング厚さの測定

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