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光テスト電流

光テスト電流は全部で 12 項標準に関連している。

光テスト電流 国際標準分類において、これらの分類：オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 電灯および関連器具、 光ファイバー通信、 半導体ディスクリートデバイス。

Professional Standard - Electron, 光テスト電流

• SJ 2214.10-1982 半導体フォトダイオードおよび三極管の光電流のテスト方法
• SJ 2354.3-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードの暗電流の試験方法
• SJ 2355.3-1983 半導体発光素子の試験方法 逆電流試験方法
• SJ 1873-1981 ガスレーザーの最適動作電流の試験方法
• SJ 2214.3-1982 半導体フォトダイオードの暗電流試験方法
• SJ 2214.8-1982 半導体フォトトランジスタの暗電流試験方法

Group Standards of the People's Republic of China, 光テスト電流

• T/CSA 048-2019 一般照明用発光ダイオードの電流・温度可変光電特性試験方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 光テスト電流

• ASTM F448-18 定常状態の一次光電流を測定するための標準的な試験方法

British Standards Institution (BSI), 光テスト電流

• BS EN IEC 60794-1-404:2022 光ファイバケーブルの一般仕様 光ケーブルの基本試験手順 電気試験方法 電流温度試験方法 H4
• 21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16 半導体デバイス パート 5-16 光電子デバイス 発光ダイオード 光電流スペクトルに基づくフラットバンド電圧試験方法

Association Francaise de Normalisation, 光テスト電流

• NF C93-850-1-404*NF EN IEC 60794-1-404:2022 光ファイバーケーブル パート 1-404: 一般仕様 基本的な光ファイバーケーブルの試験手順 電気試験方法 電流温度試験、方法 H4

ES-UNE, 光テスト電流

• UNE-EN IEC 60794-1-404:2022 光ファイバーケーブル パート 1-404: 一般仕様 基本的な光ファイバーケーブルの試験手順 電気的試験方法 電流温度試験方法 H4

その他：   光電流, 光電流試験, 光電流試験方法, 光電流測定, 光テスト電流, 光テスト電流, 瞬間光電流, 光電流, 現在のテスト, 現在のテスト, 煙の光電流, 電流光電流, 光電流試験電流, 光起電力電流, 光電流のピーク, 光電流試験サンプルの準備, 光電流と電流の比, 光電流 カソード電流, 試験電流, 瞬間的な光電流電流.