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光波部品

光波部品は全部で 16 項標準に関連している。

光波部品 国際標準分類において、これらの分類：光ファイバー通信、太陽工学、オプトエレクトロニクス、レーザー装置。

工业和信息化部, 光波部品

YD/T 3541-2019 平面光導波路デバイス用光ファイバアレイ

British Standards Institution (BSI), 光波部品

BS EN 60904-8:1998 光電子デバイス、光電子デバイスの分光感度測定
BS EN 60904-8:2014 光電子デバイス、光電子デバイスの分光感度測定

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 光波部品

GJB 6459-2008 1000nm～1100nm帯における光ファイバデバイスのリターンロスの測定方法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 光波部品

GJB 8786-2015 1000nm～1100nm帯における光ファイバデバイスのリターンロスの測定方法
GJB 9563-2018 球面光学素子の波面誤差に対するフィゾー干渉検出法

Professional Standard - Electron, 光波部品

SJ 20986-2008 バルク波音響光学デバイスの一般仕様
SJ 20642.7-2000 半導体光電子デバイス GR1325J タイプ長波長発光ダイオードアセンブリの詳細仕様

International Telecommunication Union (ITU), 光波部品

ITU-T L.403-2007 光分岐コンポーネント (非波長選択性)

TIA - Telecommunications Industry Association, 光波部品

EIA/TIA-455-107-1989 FOTP-107 光ファイバーコンポーネントのリターンロス

American National Standards Institute （ANSI), 光波部品

ANSI/TIA/EIA 455-107A-1999 光ファイバーコンポーネントのリターンロス試験
ANSI/TIA-455-107A-1999 光ファイバーコンポーネントの反射波損失

American Society for Testing and Materials (ASTM), 光波部品

ASTM E1021-12 光電子デバイスのスペクトル応答を測定するための標準的な試験方法

Professional Standard - Post and Telecommunication, 光波部品

YD/T 2000.1-2014 平面光導波路集積光回路デバイスパート 1: 平面光導波路 (PLC) に基づく光パワースプリッター
YD/T 2000.1-2009 平面光導波路集積光回路デバイスその1: 平面光導波路(PLC)をベースとした光パワースプリッタ

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 光波部品

GB/T 28511.1-2012 平面光導波路集積光回路デバイスパート 1: 平面光導波路 (PLC) に基づく光パワースプリッター

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