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温度サイクル

温度サイクルは全部で 89 項標準に関連している。

温度サイクル 国際標準分類において、これらの分類：半導体ディスクリートデバイス、 総合電子部品、 光ファイバー通信、 航空宇宙エンジンおよび推進システム、 電気および電子試験、 電子および通信機器用の電気機械部品、 建築コンポーネント、 通信機器の部品および付属品、 航空宇宙用電気機器およびシステム、 電子機器、 バルブ、 プリント回路およびプリント回路基板、 建材、 環境試験、 航空宇宙製造に関連するめっきおよび関連プロセス、 ゴム、 光学機器、 塗装設備、 船内機器および計器類、 果物、野菜およびその製品、 パイプ部品とパイプ。


International Electrotechnical Commission (IEC), 温度サイクル

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 温度サイクル

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 温度サイクル

IEC - International Electrotechnical Commission, 温度サイクル

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 温度サイクル

SE-SIS, 温度サイクル

  • SIS SS 3550-1986 プラスチックパイプと付属品。 温度サイクル試験

American National Standards Institute （ANSI), 温度サイクル

  • ANSI/TIA/EIA 526-27-1998 システムレベルの温度サイクル耐久性テスト手順
  • ANSI/EIA 364-32F:2011 電気コネクタおよびレセプタクルの熱衝撃 (温度サイクル) 試験手順
  • ANSI/TIA-455-3B-2009 光ファイバーユニット、光ケーブル、およびその他の受動光ファイバーコンポーネントに対する温度サイクルの影響を測定する手順

Danish Standards Foundation, 温度サイクル

  • DS/INSTA 213:1990 プラスチックパイプとジョイントアクセサリー。 温度サイクル試験
  • DS/EN 60749-25:2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 25: 温度サイクル
  • DS/EN 4170:2007 航空宇宙用塗料およびワニスの低温亀裂耐性の温度サイクル測定の試験方法
  • DS/EN 3745-402:2006 航空宇宙シリーズ - 航空機用光ファイバーおよびケーブル - 試験方法 - パート 402: 温度サイクル

GM Daewoo, 温度サイクル

(U.S.) Telecommunications Industries Association , 温度サイクル

  • TIA-526-27-1998 OFSTP-27 システムレベルの温度サイクル耐久性テスト手順
  • TIA-455-244-2011 温度サイクルの影響による綾織バッファーチューブの光ファイバー透過率変化の測定方法
  • TIA-455-3B-2009 FOTP-3. 光ファイバーデバイス、光ファイバーケーブル、およびその他の受動光ファイバーコンポーネントに対する温度サイクルの影響の測定手順

Professional Standard - Aerospace, 温度サイクル

  • QJ 1149.2-1987 エレクトロニクス製品の高効率ストレススクリーニング法 温度サイクル
  • QJ 1217-1987 戦術ミサイル固体ロケットモーター温度サイクル試験方法

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 温度サイクル

  • IPC TM-650 2.6.6-1987 プリント配線板温度サイクル改訂 B 1987 年 12 月
  • IPC TM-650 5.5.4.5 試験片 C 回路の導通性、温度サイクル、熱サイクル、および構造の完全性

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 温度サイクル

  • GJB 5389.14-2005 砲発射ミサイル試験方法 第14部：温度サイクル試験
  • GJB 5895.20-2006 対戦車ミサイル試験方法 第20部：温度サイクル試験

British Standards Institution (BSI), 温度サイクル

  • BS EN 60749-25:2003 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、温度サイクル
  • BS EN 50289-4-6:2001 通信ケーブル 試験方法の仕様 環境試験方法 温度サイクル
  • 17/30345494 DC BS ISO 2100-617 電気接続および光接続を備えた航空宇宙コンポーネントの試験方法 パート 617 光学コンポーネントの温度サイクル パート 617: 光学コンポーネントの温度サイクル
  • BS EN 3745-402:2005 航空宇宙シリーズ 航空機用光ファイバーおよびケーブル 試験方法 温度サイクル
  • BS EN 4170:2007 航空宇宙シリーズ コーティングおよびワニス 低温亀裂保護の温度サイクル測定の試験方法。
  • BS ISO 3384-2:2013 加硫ゴムまたは熱可塑性ゴム 圧縮時の応力緩和の測定 温度サイクルによる試験
  • BS ISO 9022-19:1995 光学部品および光学機器の環境試験方法 正弦波またはランダム振動と組み合わせた温度サイクル
  • BS EN 1704:1997 プラスチック配管システムにおける熱可塑性バルブの曲げ温度サイクル後のバルブの完全性の試験方法
  • BS EN 2591-617:2002 航空宇宙シリーズ 光学・電子接続部品 試験方法 光学部品 温度サイクル試験
  • BS ISO 3384-2:2019 加硫ゴムまたは熱可塑性ゴム - 圧縮応力緩和の測定 パート 2: 温度サイクル試験

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 温度サイクル

  • CNS 10873-1984 光ファイバアセンブリの検査方法 – コネクタ温度サイクル（ホットショックおよびコールドショック）
  • CNS 5070-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 温度サイクル試験

American Society for Testing and Materials (ASTM), 温度サイクル

  • ASTM E2264-05 穴あき製品に対する温度サイクルの影響を判断するための標準的な手法
  • ASTM E2264-05(2013) 穴あき製品に対する温度サイクルの影響を判断するための標準的な手法
  • ASTM E2264-05(2021) 穴あき製品に対する温度サイクルの影響を判断するための標準的な手法
  • ASTM E2264-23 有窓製品に対する温度サイクルの影響を判断するための標準的な方法

German Institute for Standardization, 温度サイクル

  • DIN EN 12119:1997 プラスチック配管システム ポリエチレン (PE) パイプ 温度サイクル耐性試験方法
  • DIN EN 1108:1999 防水ソフトボード 屋根シーリングアスファルトボード 温度サイクル形状安定性判定
  • DIN EN 60749-25:2004 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 25: 温度サイクル
  • DIN EN 60749-25:2004-04 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 25: 温度サイクル
  • DIN EN 4170:2008 航空宇宙シリーズ コーティングおよびワニス 低温亀裂保護の温度サイクル測定の試験方法。
  • DIN EN 3745-402:2006-12 航空宇宙シリーズ航空機用光ファイバーおよびケーブルの試験方法パート 402: 温度サイクル
  • DIN EN 1055:1996 プラスチック配管システム 建物の排水および下水用の熱可塑性配管システム 温度サイクル耐性の試験方法

Group Standards of the People's Republic of China, 温度サイクル

  • T/CSTM 00989-2023 高温、低温、温度サイクル、湿度負荷におけるマイクロ波パラメータの試験方法

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 温度サイクル

  • EIA_ECA-364-32D-2006 TP-32D 電気コネクタおよびレセプタクルの熱衝撃 (温度サイクル) 試験手順
  • ECA EIA-364-32G-2014 TP-32G 電気コネクタおよびレセプタクルの熱衝撃 (温度サイクル) 試験手順
  • ECA EIA-364-32E-2008 TP-32E 電気コネクタおよびソケットの熱衝撃 (温度サイクル) 試験手順

ECIA - Electronic Components Industry Association, 温度サイクル

  • EIA-364-32E-2008 TP-32E 電気コネクタおよびレセプタクルの熱衝撃 (温度サイクル) 試験手順
  • EIA/ECA-364-32D-2006 TP-32D 電気コネクタおよびレセプタクルの熱衝撃 (温度サイクル) 試験手順
  • EIA-364-32C-2000 TP-32C 電気コネクタおよびレセプタクルの熱衝撃 (温度サイクル) 試験手順
  • EIA-364-32F-2011 TP-32F 電気コネクタおよびレセプタクルの熱衝撃 (温度サイクル) 試験手順

Association Francaise de Normalisation, 温度サイクル

AENOR, 温度サイクル

  • UNE-EN 60749-25:2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 25: 温度サイクル
  • UNE-EN 50289-4-6:2002 通信ケーブルの試験方法の仕様書パート 4-6: 環境試験方法温度サイクル

TIA - Telecommunications Industry Association, 温度サイクル

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 温度サイクル

  • EN 50289-4-6:2001 通信ケーブル 試験方法の仕様 パート 4-6: 環境試験方法 温度サイクル
  • EN 60749-25:2003 半導体デバイス、機械的および気候的試験方法、パート 25: 温度サイクル IEC 60749-25-2003

Electronic Industrial Alliance (U.S.), 温度サイクル

  • EIA SP 5168-2007 電子コネクタおよびソケットの温度サージ (温度サイクル) テスト手順 ANSI/EIA/ECA-364-32E 規格として発行

Lithuanian Standards Office , 温度サイクル

  • LST EN 4170-2007 航空宇宙用塗料およびワニスの低温亀裂耐性の温度サイクル測定の試験方法
  • LST EN 3745-402-2006 航空宇宙シリーズ - 航空機用光ファイバーおよびケーブル - 試験方法 - パート 402: 温度サイクル
  • LST EN 60749-25-2004 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法パート 25: 温度サイクル (IEC 60749-25:2003)

European Committee for Standardization (CEN), 温度サイクル

  • EN 4170:2007 航空宇宙シリーズ コーティングおよびワニス 低温亀裂保護の温度サイクル測定の試験方法。
  • EN 3745-402:2005 航空宇宙シリーズ 航空機で使用される光ファイバーおよびケーブルの試験方法 パート 402: 温度サイクル

European Association of Aerospace Industries, 温度サイクル

  • AECMA PREN 4170-2006 航空宇宙シリーズ、塗料およびコーティングの抵抗測定、コールドクラック温度サイクルの試験方法、P1 版
  • AECMA PREN 2591-617-1997 航空宇宙シリーズ、光電子接続コンポーネントのテスト方法、パート 617: 光学コンポーネントの温度サイクル
  • AECMA PREN 3745-402-1997 航空宇宙シリーズ 航空宇宙用光ケーブルおよび光ファイバーの試験方法 パート 402: 温度サイクル

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, 温度サイクル

  • PREN 4170-2006 航空宇宙用塗料およびワニスの低温亀裂耐性の温度サイクル測定の試験方法（P.1 バージョン）

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 温度サイクル

  • GB/T 15972.52-2008 光ファイバーの試験方法の仕様 パート 52: 環境性能の測定方法および試験手順 温度サイクル

International Organization for Standardization (ISO), 温度サイクル

  • ISO 3384-2:2019 加硫ゴムまたは熱可塑性ゴムの圧縮応力緩和の測定その2：温度サイクル試験

ES-UNE, 温度サイクル

  • UNE-EN 3745-402:2005 航空宇宙シリーズ 航空機用光ファイバーおよびケーブルの試験方法 パート 402: 温度サイクル

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