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誘電率損失

誘電率損失は全部で 43 項標準に関連している。

誘電率損失 国際標準分類において、これらの分類：断熱材、 プリント回路およびプリント回路基板、 絶縁流体、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 電気、磁気、電気および磁気測定、 総合電子部品、 ゴム。


American Society for Testing and Materials (ASTM), 誘電率損失

  • ASTM D2149-13 固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D3380-22 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D3380-90(1995)e1 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）と誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D2149-97(2004) 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
  • ASTM D2149-97 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
  • ASTM D2149-13(2021) 周波数 10 MHz、温度 500°C における固体誘電体の誘電率と誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D1673-94(2004) 電気絶縁用延伸多孔質ポリマーの比誘電率および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D1673-94(1998) 電気絶縁用延伸多孔質ポリマーの比誘電率および誘電正接の標準試験方法
  • ASTM D3380-14 ポリマーベースのマイクロ波回路基板の比誘電率（誘電率）および電気正接の標準試験方法

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 誘電率損失

  • IPC TM-650 2.5.5.3C-1987 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二流体セル法）
  • IPC TM-650 2.5.5.1B-1986 1MHzにおける絶縁材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（接触電極方式）
  • IPC TM-650 2.5.5.5C-1998 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験
  • IPC TM-650 2.5.5.5B-1995 Xバンドの誘電率と損失正接（誘電率と誘電正接）のストリップライン試験

Danish Standards Foundation, 誘電率損失

  • DS/EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損率（tanファイ）、直流抵抗率の測定

AENOR, 誘電率損失

  • UNE-EN 60247:2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率(tan d)、直流抵抗率の測定

ES-UNE, 誘電率損失

Association Francaise de Normalisation, 誘電率損失

  • NF EN 60247:2004 絶縁性液体 - 比誘電率、誘電正接（tanδ）、直流抵抗率の測定

HU-MSZT, 誘電率損失

  • MSZ 4803/36.lap-1969 絶縁ワニスをテストします。 誘電率と損失係数の決定
  • MSZ 15747/9-1982 セラミック電気切断装置の試験における比誘電率と損失係数の定義

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 誘電率損失

  • KS C 2150-2008(2018) 高周波（500mhz〜10ghz）誘電体膜の誘電率・誘電損失の測定方法
  • KS C 2150-2008 高周波帯域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率及び誘電損失の測定方法

CZ-CSN, 誘電率損失

  • CSN 72 5041-1973 焼成したセラミック材料の試験。 誘電率と誘電損失率の測定

Lithuanian Standards Office , 誘電率損失

  • LST EN 60247-2004 絶縁性液体の比誘電率、誘電損失率 (tan) および DC 抵抗率の測定 (IEC 60247:2004)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 誘電率損失

  • JIS C 2138:2007 電気絶縁材料、比誘電率、誘電損失率の求め方

RU-GOST R, 誘電率損失

  • GOST 8.358-1979 0.2～1GHzの周波数帯域における比誘電率および誘電正接角の測定方法
  • GOST 22372-1977 誘電体材料 周波数帯域100Hz～5MHzにおける誘電率及び誘電正接の測定方法
  • GOST R 8.623-2015 測定の一貫性を確保するための国家システム 固体誘電体の比誘電率と損失係数 マイクロ波周波数の測定手順

Standard Association of Australia （SAA）, 誘電率損失

  • AS 1767.2.2:2008 絶縁性液体の試験方法 比誘電率、誘電正接（tan d）、直流抵抗率の測定

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 誘電率損失

  • IPC TM-650 2.5.5.9-1998 MHz ～ 1.5 GHz の平行平板、誘電率および損失正接
  • IPC TM-650 2.5.5.2-1987 プリント基板材料の誘電率と誘電正接 - クリップ法
  • IPC TM-650 2.5.5.4-1985 プリント基板材料の誘電率と誘電正接 ミクロン法
  • IPC TM-650.2.5.7.2-2009 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法） 改訂 C 1987 年 12 月
  • IPC TM-650 2.5.5.3-1987 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法） 改訂 C 1987 年 12 月
  • IPC TM-650-2015 材料の誘電率（誘電率）と損失正接（誘電正接）（二液セル法） 改訂 C 1987 年 12 月
  • IPC TM-650 2.5.5.5-1998 リビジョン C、X バンドでの誘電率と損失正接 (誘電率と誘電正接) のストリップライン テスト
  • IPC TM-650 2.5.5.1-1986 MHz における絶縁材料の誘電率 (誘電率) および損失正接 (散逸率) (接触電極方式) 改訂 B 1986 年 5 月

RO-ASRO, 誘電率損失

  • STAS 2740-1969 電気絶縁材料。 誘電率と誘電損失角の決定
  • STAS 12969-1991 熱力学的温度 70 度における固体電気絶縁材料の誘電率と損失正接を決定する方法

KR-KS, 誘電率損失

  • KS C 2150-2008(2023) 高周波領域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率および誘電損失の測定方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 誘電率損失

未注明发布机构, 誘電率損失

  • BS 7663:1993(2000) シート状または管状の電気絶縁材料の誘電率および誘電正接を測定するための試験方法

British Standards Institution (BSI), 誘電率損失

  • BS EN IEC 62631-2-2:2022 固体絶縁材料の誘電特性と抵抗特性 比誘電率と損失係数 高周波 (1MHz ～ 300MHz) AC モード

Group Standards of the People's Republic of China, 誘電率損失

  • T/CSTM 00990-2023 ミリ波周波数帯における誘電率および誘電正接の試験方法 擬似光共振器法

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