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전자

모두 72항목의 전자와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 전자기 호환성(EMC), 도로 차량 장치, 공기질, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 어휘, 반도체 개별 장치, 회전 모터, 통신 장비용 부품 및 액세서리.


Society of Automotive Engineers (SAE), 전자

  • SAE J1752/3-1995 집적회로에서 방사성 방출 측정 - Tem/광대역 Tem(Gtem) 셀 방법, Tem Cell(150Khz~1Ghz), 광대역 Tem Cell(150Khz~8Ghz)
  • SAE J1752/3-2003 집적회로 TEM/광대역 TEM(GTEM) 단위 방식의 방사 방출 측정, TEM 셀(150kHz~1GHz), 광대역 TEM 셀(150kHz~8GHz)
  • SAE J1752/3-2011 집적회로 TEM/광대역 TEM(GTEM) 단위 방식을 이용한 방사 방출 측정, TEM 단위(150kHz~1GHz), 광대역 TEM 단위(150kHz~8GHz)
  • SAE J1113/24-2006 자기장 방사 간섭에 강함 10kHz ~ 200MHz Crawford TEM 배터리 및 10kHz ~ 5GHz 광대역 TEM 배터리
  • SAE J1113/24-2000 자기장 방사 간섭에 대한 저항성 10kHz~200MHz Crawford TEM 셀 및 10kHz~5GHz 광파 TEM 셀
  • SAE J1752/3-2017 집적 회로 EM/광대역 TEM(GTEM) 셀 방법에서 복사 방출 측정, TEM 셀(150kHz ~ 1GHz), 광대역 TEM 셀(150kHz ~ 8GHz)
  • SAE J1113/24-2010 방사 전자기장에 맞게 강화됨, 10kHz~200MHz Crawford TEM 셀 및 10kHz~5GHz 광대역 TEM 셀
  • SAE J1407-1995 대형 TEM 셀을 이용한 차량 전자파 민감도 테스트
  • SAE J1448-1995 Tem 셀을 이용한 차량 부품의 전자파 민감도 측정(14Khz~200Mhz)

SAE - SAE International, 전자

  • SAE J1752-3-2011 집적 회로에서 방사 방출 측정 EM/광대역 TEM(GTEM) 셀 방법, TEM 셀(150kHz ~ 1GHz) 광대역 TEM 셀(150kHz ~ 8GHz)
  • SAE J1113-24-2010 방사 전자기장에 맞게 강화됨, 10kHz~200MHz Crawford TEM 셀 및 10kHz~5GHz 광대역 TEM 셀
  • SAE J1113-24-2000 방사 전자기장에 맞게 강화됨, 10kHz~200MHz Crawford TEM 셀 및 10kHz~5GHz 광대역 TEM 셀
  • SAE J1113-24-2006 방사 전자기장에 맞게 강화됨, 10kHz~200MHz Crawford TEM 셀 및 10kHz~5GHz 광대역 TEM 셀
  • SAE J1407-1982 대형 TEM 셀을 이용한 차량 전자파 민감도 테스트
  • SAE J1407-1988 대형 TEM 셀을 이용한 차량 전자파 민감도 테스트
  • SAE J1448-1984 Tem 셀을 이용한 차량 부품의 전자파 민감도 측정(14Khz~200Mhz)
  • SAE J1752-3-1995 집적 회로의 전자파 적합성 측정 절차 집적 회로의 복사 방출 측정 절차 150kHz ~ 1000MHz TEM 셀 권장 사례(1995년 3월)

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자

  • ASTM D6281-98 투과 전자 현미경 직접 전달(TEM)에 의해 결정된 주변 및 실내 설정의 공기 중 석면 농도에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM D6281-15 투과전자현미경(TEM)을 통해 주변 및 실내 대기의 공기 중 석면 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법

American National Standards Institute (ANSI), 전자

  • ASTM D6281-23 투과 전자 현미경 직접 전송(TEM)을 통해 주변 및 실내 대기의 공기 중 석면 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법(표준 + 레드라인 PDF 패키지)

British Standards Institution (BSI), 전자

  • BS EN 62132-2:2011 집적 회로 전자기 내성 측정 방사성 내성 측정 TEM 장치 및 광대역 TEM 장치 방법
  • BS EN 61967-2:2005 집적 회로 150kHz ~ 1GHz의 전자기 복사 측정 파트 2: 복사 방출 측정 TEM 복사 챔버 및 광대역 TEM 복사 챔버 방법
  • BS ISO 11452-3:2016 도로 차량, 협대역 방출 전자기 에너지를 이용한 전자 간섭에 대한 구성요소 테스트 방법 횡전자기파(TEM) 챔버
  • BS EN 61000-4-20:2010 전자기 적합성(EMC) 테스트 및 측정 방법 횡 전자기(TEM) 도파관 방사선 및 내성 테스트
  • BS EN 61000-4-20:2011 전자기 호환성(EMC) 테스트 및 측정 방법 횡전자기(TEM) 도파관 방사선 및 내성 테스트
  • BS EN IEC 61000-4-20:2022 전자기 호환성(EMC) 테스트 및 측정 기술 횡 전자기(TEM) 도파관의 방출 및 내성 테스트
  • BS EN 61000-4-20:2003 전자기 적합성(EMC) 파트 4-20: 테스트 및 측정 방법 횡 전자기(TEM) 도파관 방사 및 내성 테스트

Association Francaise de Normalisation, 전자

  • NF EN 62132-2:2011 집적 회로 - 전자기 내성 측정 - 2부: 방사 내성 측정 - TEM 셀 방법 및 광대역 TEM 셀
  • NF C96-260-2*NF EN 61967-2:2006 집적 회로 150kHz ~ 1GHz의 전자기 복사 측정 2부: TEM 복사 챔버 및 광대역 TEM 복사 챔버 방법을 통한 복사 측정
  • NF EN 61967-2:2006 집적 회로 - 전자기 복사 측정, 150 kHz ~ 1 GHz - 2부: 복사 방출 측정 - TEM 챔버 방법 및 광대역 TEM 챔버
  • NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011 집적 회로 전자기 내성 결정 2부: 방사 간섭에 대한 내성 측정 TEM 방사선 챔버 및 광대역 TEM 방사선 챔버 방법
  • NF EN 61967-8:2012 집적 회로 - 전자기 방출 측정 - 8부: 방사 방출 측정 - IC 스트립라인 TEM 방법
  • NF EN IEC 61967-8:2023 집적 회로 - 전자기 방출 측정 - 파트 8: 방사 방출 측정 - 집적 회로용 TEM 스트립라인 방법
  • NF EN 62132-8:2013 집적 회로의 전자기 내성 측정 8부: 방사 내성 측정 집적 회로의 플레이트 TEM 라인 방법
  • NF ISO 11452-5:2004 도로 차량 - 방사된 협대역 전자기 에너지로부터 전기적 간섭을 받는 장비에 대한 테스트 방법 - 파트 5: 보드 TEM 라인
  • NF C91-004-20*NF EN 61000-4-20:2011 전자기 호환성(EMC) 4-20부: 테스트 및 측정 기술 횡단 전자기 복사 및 간섭 내성 테스트(TEM) 도파관.
  • NF C91-004-20*NF EN IEC 61000-4-20:2022 전자기 호환성(EMC) 파트 4-20: 테스트 및 측정 기술 횡 전자기(TEM) 도파관의 방출 및 내성 테스트
  • NF EN IEC 61000-4-20:2022 전자기 호환성(EMC) – 파트 4-20: 테스트 및 측정 기술 – TEM 도파관의 방출 및 내성 테스트

ES-UNE, 전자

  • UNE-EN 62132-2:2011 집적 회로의 전자기 내성 측정 2부: 방사 내성 측정 TEM 챔버 및 광대역 TEM 챔버 방법
  • UNE-EN 61967-2:2005 150kHz ~ 1GHz 집적 회로의 전자기 복사 측정 2부: 복사 방출 측정 TEM 챔버 및 광대역 TEM 챔버 방법
  • UNE-EN IEC 61000-4-20:2022 전자기 호환성(EMC) 파트 4-20: 테스트 및 측정 기술 횡 전자기(TEM) 도파관의 방출 및 내성 테스트

Danish Standards Foundation, 전자

  • DS/EN 62132-2:2011 집적 회로의 전자기 내성 측정 2부: 방사 내성 측정 TEM 셀 및 광대역 TEM 셀 방법
  • DS/EN 61967-2:2006 150kHz~1GHz 집적 회로의 전자기 방출 측정 2부: 복사 방출 측정 TEM 챔버 및 광대역 TEM 챔버 방법
  • DS/EN 61000-4-20:2011 전자기 호환성(EMC) 파트 4-20: 테스트 및 측정 기술 횡 전자기(TEM) 도파관의 방출 및 내성 테스트

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 전자

  • EN 62132-2:2011 집적 회로의 전자기 내성 측정 2부: 방사 내성 측정 TEM 셀 및 광대역 TEM 셀 방법
  • EN 61967-2:2005 집적 회로 150kHz ~ 1GHz의 전자기 방사선 측정 2부: 방사선 방출 측정 TEM 방사선 챔버 및 광대역 TEM 방사선 챔버 방법 IEC 61967-2:2005
  • EN 61000-4-20:2010 전자기 호환성(EMC) 파트 4-20: 테스트 및 측정 기술 횡 전자기(TEM) 도파관에 대한 방사선 및 내성 테스트
  • EN IEC 61000-4-20:2022 전자기 호환성(EMC) 파트 4-20: 테스트 및 측정 기술 횡 전자기(TEM) 도파관의 방출 및 내성 테스트

International Electrotechnical Commission (IEC), 전자

  • IEC 61967-2:2005 집적 회로 150kHz ~ 1GHz의 전자기 복사 측정 2부: 복사 방출 측정 TEM 복사 챔버 및 광대역 TEM 복사 챔버 방법
  • IEC 61000-4-20:2010 전자기 적합성(EMC) 4-20부: 테스트 및 측정 기술 횡전자기 도파관(TEM) 방사 및 간섭 테스트
  • IEC 61000-4-20:2007 전자기 호환성(EMC) 파트 4-20: 테스트 및 측정 방법 횡 전자기(TEM) 도파관에 대한 방사 및 간섭 테스트
  • IEC 61000-4-20:2022 전자기 호환성(EMC) 4-20부: 테스트 및 측정 기술 횡 전자기(TEM) 도파관의 방출 및 내성 테스트

German Institute for Standardization, 전자

  • DIN EN 61967-2:2006-03 집적 회로 - 전자기 방출 측정, 150 kHz ~ 1 GHz - 2부: 방사 방출 측정 - TEM 챔버 및 광대역 TEM 챔버 방법(IEC 61967-2:2005)
  • DIN EN 61967-2:2006 집적 회로 150kHz ~ 1GHz의 전자기 방사선 측정 2부: 방사선 방출 측정 TEM 방사선 챔버 및 광대역 TEM 방사선 챔버 방법(IEC 61967-2-2005) 독일어 버전 EN 61967-2-2005
  • DIN EN 61000-4-20:2008 전자기 호환성(EMC) 파트 4-20: 테스트 및 측정 기술 횡 전자기(TEM) 도파관에 대한 방사선 및 간섭 테스트

Group Standards of the People's Republic of China, 전자

  • T/WHHLW 62-2023 IC 전자파 방사 테스트를 위한 새로운 TEM 챔버 기술 사양

Lithuanian Standards Office , 전자

  • LST EN 62132-2-2011 집적 회로의 전자기 내성 측정 2부: 방사 내성 측정 TEM 챔버 및 광대역 TEM 챔버 방법(IEC 62132-2:2010)
  • LST EN 61967-2-2005 집적 회로에서 전자기 방출 측정(150kHz ~ 1GHz) 2부: 복사성 방출 측정을 위한 TEM 챔버 및 광대역 TEM 챔버 방법(IEC 61967-2:2005)

International Organization for Standardization (ISO), 전자

  • ISO/CD 17297 마이크로빔 분석 "TEM 샘플 준비에 집속 이온빔의 응용" 용어집
  • ISO/AWI 11452-3:2018 도로 차량 - 협대역 방사 전자기 에너지의 전기 간섭에 대한 구성 요소 테스트 방법 - 3부: TEM(횡전자기) 챔버
  • ISO 11452-3:2001 도로 차량의 협대역 방사 전자기 에너지에 의해 생성된 전기 간섭 구성 요소에 대한 테스트 방법 3부: 횡전자기 모드(TEM) 구성 요소
  • ISO 11452-3:2016 도로 차량 협대역 방사 전자기 에너지의 전기 간섭 구성요소 테스트 방법 3부: TEM(횡전자기 모드) 요소

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전자

  • GB/T 33014.3-2016 협대역 방사 전자기 에너지에 대한 도로 차량 전기/전자 부품의 내성 테스트 방법 3부: 횡전자기파(TEM) 챔버 방법

Professional Standard - Post and Telecommunication, 전자

  • YD/T 1690.2-2007 통신장비 내부 전자기 방출 진단을 위한 기술 요구사항 및 측정 방법(150 kHz ~ 1 GHz) 제2부: 복사 방출 측정 TEM 챔버 및 광대역 TEM 챔버 방법

RU-GOST R, 전자

  • GOST R 51048-1997 산업 장비의 전자기 호환성 TEM 배터리를 사용한 전자기장 발생기 기술 요구 사항 및 테스트 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자

  • GB/T 17626.20-2014 전자기 호환성 테스트 및 측정 기술 횡 전자기(TEM) 도파관의 방출 및 내성 테스트

PH-BPS, 전자

  • PNS ISO 11452-3:2021 도로 차량 협대역 방사 전자기 에너지의 전기 간섭에 대한 구성 요소 테스트 방법 3부: 횡단 전자기(TEM) 챔버

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자

  • KS R ISO 11452-3-2013(2018) 도로 차량의 협대역 방사 전자기 에너지로 인한 전기 간섭에 대한 부품 테스트 방법 3부: 횡전자기(TEM) 챔버

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자

  • JIS C 61000-4-20:2006 전자기 호환성(EMC) 4-20부: 테스트 및 측정 기술 횡 전자기 도파관(TEM)에 대한 방사선 및 내성 테스트
  • JIS C 61000-4-20:2014 전자기 호환성(EMC) 4-20부: 테스트 및 측정 기술 횡 전자기 도파관(TEM)에 대한 방사선 및 내성 테스트

AENOR, 전자

  • UNE 26472-3:2001 도로 차량의 협대역 방사 전자기 에너지로 인해 발생하는 전기 간섭 구성 요소에 대한 테스트 방법 3부: 횡전자기 모드(TEM) 셀

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 전자

  • EN 61000-4-20:2003 전자기 호환성(EMC) 파트 4-20: 테스트 및 측정 기술 횡 전자기(TEM) 도파관에 대한 방사선 및 내성 테스트




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