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DE사인 비트 테스트
모두 12항목의 사인 비트 테스트와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 사인 비트 테스트와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 진동, 충격 및 진동 측정, 환경 테스트, 전기공학종합, 종합 전자 부품.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 사인 비트 테스트
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 사인 비트 테스트
German Institute for Standardization, 사인 비트 테스트
NL-NEN, 사인 비트 테스트
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 사인 비트 테스트
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 사인 비트 테스트
British Standards Institution (BSI), 사인 비트 테스트
Association Francaise de Normalisation, 사인 비트 테스트
International Electrotechnical Commission (IEC), 사인 비트 테스트
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 사인 비트 테스트
RU-GOST R, 사인 비트 테스트